JPH05209819A - 表面エネルギーの測定方法 - Google Patents

表面エネルギーの測定方法

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JPH05209819A
JPH05209819A JP26467992A JP26467992A JPH05209819A JP H05209819 A JPH05209819 A JP H05209819A JP 26467992 A JP26467992 A JP 26467992A JP 26467992 A JP26467992 A JP 26467992A JP H05209819 A JPH05209819 A JP H05209819A
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foil
roller
measuring
force
surface energy
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JP26467992A
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Gerhard Arlt
アールト ゲルハルト
Bertram Dr Rapp
ラップ ベルトラム
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A F S ENTOBITSUKURUNGUSU FUERU
A F S ENTOBITSUKURUNGUSU FUERUTORIIBUSU GmbH
AFS ENTWICKL VERTRIEBS GmbH
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A F S ENTOBITSUKURUNGUSU FUERU
A F S ENTOBITSUKURUNGUSU FUERUTORIIBUSU GmbH
AFS ENTWICKL VERTRIEBS GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N19/00Investigating materials by mechanical methods
    • G01N19/04Measuring adhesive force between materials, e.g. of sealing tape, of coating

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  • Pathology (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 箔の表面エネルギーを連続的に簡単に測定す
る方法を提供する。 【構成】 表面力を測定することによって一方向(4)
に移動する箔の表面エネルギーを測定する方法であっ
て、表面力を測定するために少なくとも第一ローラー
(1)上にそして次にガイドユニット上に箔(3)を導
き、該第一ローラーと該ガイドユニットとの間で最も短
い可能な箔の通路(7)からの実際の箔の通路(8)の
偏差を少なくとも1点において測定し、そして該第一ロ
ーラー(1)と接触する箔(3)の側の表面エネルギー
の測定値として該偏差を使用することを特徴とする方
法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一方向に移動する箔の
表面エネルギーを、表面力の測定により測定する方法に
関する。本発明は特に、高エネルギー処理によって影響
される箔の表面特性を測定手段により決定する方法に関
する。以下においてポリマー箔についてのみ言及する
が、本発明に他のウエブ材料の表面特性を測定手段によ
って決定するためにも同様に使用することができる。こ
れらは例えば紙又は金属から成る。
【0002】箔、特にポリオレフィルから製造されたも
のは、それらの製造の後比較的わずかな表面エネルギー
を有する。これは例えばその表面上に置かれた1つの液
滴の球状外観により知覚される。多くの場合、特に包装
工等において、これらの表面はインクにより印刷される
か又は接着剤で被覆されると予想される。このことは、
表面の低い表面エネルギーによりその揆水性の結果とし
て、直接行うことができない。被覆液又はインクは表面
上のビーズを形成し、そして一緒になって滴を形成す
る。
【0003】プラスチック箔を湿潤性又は印刷許容性に
するためにはその表面エネルギーを上昇させなければな
らない。このことは通常表面の高エネルギー処理により
行われる。例えば、箔を強力な紫外線で照射し、火炎処
理し、又はプラズマ環境に暴露する。広く一般に行われ
ておりそして箔製造工程に組み込まれ得る1つの方法は
コロナ処理である。この場合、押出器又はローラーから
直接来る箔は、その全長にわたって伸びるコロナ放電の
中を通過する。
【0004】この種の高エネルギー処理のため、箔は湿
潤性で且つ印刷適性となる。この印刷適性の程度を測定
するための非常に一般的な方法はいわゆる試験インクを
用いて行われる。試験インクは特定の表面張力を有する
液体である。測定のためには、試験されるべき箔に低下
する界面活性を有する複数の試験インクを次々に付着さ
せる。正しい値が得られるまで線を引いて滴を形成せし
める。現在の定義によれば線は少なくとも2秒間保持さ
れなければならない。次に、この試験インクの表面張力
が箔の所望の界面エネルギーを生成する。
【0005】この方法は満足すべき測定結果を与える
が、非常に不便である。実際、技術者は規則的なできる
だけ短かい間隔で、進行する箔に対してこの測定を行
う。試験インクの挙動を評価するため、技術者は箔にそ
って動かなければならず、このことは、数メートル/秒
の箔速度及び種々のインクの逐次適用にあたっては非常
に便利でありそして時間を要する。しかも、箔はこの方
法における試験インクにより汚れ、これはしばしばその
後の使用を妨げる。しかしながら、処理された箔の表面
エネルギーが所望の価を有するように前処理装置、すな
わち例えばコロナ発生器の性能を設定するために、前処
理の期間中の連続測定が必要である。
【0006】
【従来の技術】DE−OS2225946は、材料の表
面の接着性の連結的相対的測定のため、特にポリマーフ
ィルムのコロナ処理における使用のための器機を記載し
ている。この装置はコロナ発生器を制御する制御器及び
この制御器に付加された2個のプローブから成る。ポリ
マー箔がコロナ処理装置を通過する前又は後にこれらの
プローブが適用される。これらのプローブのそれぞれの
測定された値を加工してコロナ発生器を制御するための
結果を得る。コロナ処理の間に変化する材料温度、又は
静電的張力又は力が測定された変数として記録される。
【0007】DE−OS2225946に記載されてい
る方法は、幾つかの理由により、表面エネルギー、又は
コロナ処理による生ずる箔の表面エネルギーの差異を測
定するために適当でない。表面エネルギーを測定するた
めの実際の問題、すなわちセンサーの構造の記載は存在
しない。箔の表面エネルギーの変化及びその温度の上昇
との間に定義できる関連が存在しないので、記録される
温度速度は適当でない。静電張力又は力の測定によって
表面エネルギーの変化を確かめることは適当な方法では
ない。なぜなら、このために必要な非常に鋭敏な方法
を、高速箔及び多くの電磁気的攪乱を伴う製造環境にお
いて使用することができないからである。
【0008】DE3216053A1は加工機械におい
て材料変形を測定するための光電子測定法を記載してお
り、この方法においては、光ビーム、例えばレーザービ
ームが加工された材料上で反射し、そして例えばダイオ
ードラインカメラにより検出される。検出器により測定
される光ビームの位置は材料の変更についての測定であ
る。検出器の出力がマイクロプロセサーに供給され、次
にこのマイクロプロセサーは変形具を制御する。いかに
材料の変形が光学的に見出できるかはDE321605
2A1に見られるが、しかしこれは、この様な方法が箔
の表面エネルギーを測定するために使用され得ることを
示すものを含まない。
【0009】米国特許No.4,910,688は幾つ
かの検出器による材料ウエブの材料特性の同時測定のた
めの方法及び装置を記載している。米国特許No.4,
901,688は表面エネルギーを測定するための何ら
の示唆も与えていない。DE−AS1012760は2
つのドラムの間で下がる紙ウエブを記載している。さら
に、このたれ下がりを測定するための電気的ピックアッ
プを記載している。しかしながら、この場合も箔の表面
エネルギーを測定するためにそれを使用することを示し
ていない。
【0010】
【発明の概要】従って本発明は、表面力を測定すること
によって一方向(4)に移動する箔の表面エネルギーを
測定する方法であって、表面力を測定するために少なく
とも第一ローラー(1)上にそして次にガイドユニット
上に箔(3)を導き、該第一ローラーと該ガイドユニッ
トとの間で最も短い可能な箔の通路(7)からの実際の
箔の通路(8)の偏差を少なくとも1点において測定
し、そして該第一ローラー(1)と接触する箔(3)の
側の表面エネルギーの測定値として該偏差を使用するこ
とを特徴とする方法を提供しようとするものである。
【0011】本発明はさらに、一方向に移動する箔
(3)の表面エネルギーを表面力の測定により測定する
方法であって、表面力を測定するために該箔(3)を該
箔(3)の速度とは異なる周速度を有する第一ローラー
(1)上に導き、該箔(3)と該第一ローラー(1)と
の間の滑り摩擦力を測定し、そして該第一ローラー
(1)と接触する箔(3)の側の表面エネルギーの測定
値として該滑り摩擦力を用いることを特徴とする方法を
提供する。
【0012】本発明はまた、一方向に移動する箔(3)
の表面エネルギーを表面力の測定により測定する方法で
あって、表面力を測定するために、該箔(3)を試験片
(19)の表面にそって摩擦するように滑らせ、そして
該箔の方向と平行に作用し且つ該箔(3)から該試験片
(19)に伝達される滑り摩擦力を測定しその測定値を
該試験片(19)と接触する箔(3)の側の表面エネル
ギーの測定値として使用することを特徴とする方法を提
供する。
【0013】
【具体的な説明】次に、図面に言及しながら本発明をさ
らに具体的に説明する。本発明の第一の態様を図1及び
図2に示す。図1は2つのローラー、すなわち第一ロー
ラー1及び第二ローラー3、並びにこれらの上を通る箔
3の断面を示す。この箔3の動く方向を矢印4により示
す。通常、ローラー1及び2はそれらの周速度が箔3の
通過速度と同一となる回転速度で回転する。この回転の
動きは矢印5及び6で示される。第一ローラー1は測定
ローラーとして使用され、他方第二ローラー2はガイド
ローラーとして使用される。
【0014】第一ローラー1と箔表面との間に牽引相互
作用が存在しなければ、箔は破線で示されるように、2
個のローラー1及び2の上を最も短い可能な箔の通路7
を通って動くであろう。2個のローラー1及び2の間
で、この箔通路7はローラー1及び2の両者に共通の接
線を有する直線である。しかしながら、第一ローラー1
と箔表面との間に牽引相互作用が存在すれば、箔3は、
点9で示される最も早い可能な点において第一ローラー
を離れないであろう。
【0015】むしろ、それは点9の後においても第一ロ
ーラーの表面に付着し続け、そして臨界点10において
前記ローラー1から離れるであろう。点10の正確な位
置はローラー1及び箔3の表面の仕上がり並びに引取り
力により影響されるであろう。箔3は本質上点11にお
いて第二ローラー2に再び達しなければならないから、
それはローラー1及び2の間に曲った実際の箔通路8を
有する。
【0016】引取り力が一定に保持されそしてローラー
1の表面上で変化がなければ、ローラー1及び2の間の
最も短い可能な箔の通路7からの実際の通路8の偏差
は、箔の表面エネルギーの測定値である。第一ローラー
1の表面への箔3の付着は、Van−der−Waol
s力である分散力(dspersive force
s)に帰せられる。さらに双極子力(dipolor
force)も付着中に役割を演じ得る。
【0017】ともかく、箔3の表面上又は第一ローラー
1上に遊離電荷が存在しないことに注意すべきである。
これらの遊離電荷は、存在すれば、静電的吸引力のため
に測定結果を害するかも知れない。箔3の表面エネルギ
ーが高くなるに従って、この箔が第一ローラー1に付着
する距離が長くなる。従って、他のパラメーターがすべ
て一定に保持された場合、実際の箔の通路8は箔3の表
面エネルギーの測定結果である。幾つかのパラメータ
ー、例えば湿度、温度又は引取り力が一定に保持されな
くても、これらのパラメーターが検出されそして測定シ
グナルの調製において考慮されれば、この方法はなお使
用可能である。例えば金属又はプラスチックが第一ロー
ラー1の表面を被覆するための材料として適当である。
【0018】実際の箔の通路8は最も短い可能な箔の通
路7に対して種々の方法で検出され得る。図2に光学的
方法が示されており、この方法においては、箔3が第一
ローラー1を離れた後にレーザー12のレーザービム1
3が該箔3を照射し、そしてその上で反射される。この
場合、入射面はローラー1及び2の軸に対して直角であ
る。背後から斜めに来るレーザービーム13は14の方
向に反射され、そして適当な間隔で配置された光ダイオ
ードの列により検出される。箔の通路の変化は反対角
α′又はα″にかなりの影響を与える。
【0019】しかしながら、各反射角αは光ダイオード
の列の特定の光ダイオードに帰属される。箔3の2つの
異なる表面エネルギーに対応する2つの可能な光路が図
2に示されている。第一ローラー1の表面と箔3との間
に牽引相互作用が全く又はわずかしか存在しない場合、
最も短い可能な箔通路7が妥当する。レーザービーム1
3はビーム15として反射され、そして光ダイオードの
例16中の光ダイオード20に当る。牽引相互作用の場
合、箔3の実際の箔通路8が妥当する。この場合、入射
レーザービーム13はビーム14として反射され、そし
て光ダイオードの列16中の光ダイオード21に当る。
【0020】すべての中間ケースにおいて、反射の角度
は2つの値α′及びα″の間であり、そして反射された
ビームは光ダイオードの列中の光ダイオード20と21
との間の光ダイオードの1つに当る。こうして、箔3の
表面エネルギーと光ダイオードの列16中の個々の光ダ
イオードの作動との関係が達成される。光ダイオードの
出力シグナルはシグナル処理ユニット17に導かれ、こ
のシグナル処理ユニット17はさらにこの方法に意味の
ある他の上記のパラメーター(温度、湿度、引取り力
等)の一次要素を含むことができる。測定シグナルはこ
こで処理され、そして標示され又は処理された形で制御
目的のために使用される。
【0021】光学的測定法の類似の態様(示していな
い)において、入射面は箔3の通路に対して本質的に直
角である。すなわち、レーザービームは上から及び側方
から箔3の表面に当り、そして箔3の他の面に上方に再
び反射される。箔の曲った実際の通路8のため、入射面
は最も短い可能な箔通路7に向う傾向があり、これは今
度は箔3の表面エネルギーの測定結果を示す。入射面の
傾斜、そしてそれ故に反射したビームの傾斜は上記のよ
うにして光ダイオードの列により検出することができ
る。
【0022】図3に示す本発明の他の態様においては、
実際の箔の通路8は、最も短い可能な箔の通路7との比
較において間接的に、箔3と第一ローラー1との接触表
面の測定により間接的に測定される。箔表面と第一ロー
ラー1の表面との間に相互作用が存在しなければ、箔3
は点9において第一ローラーを離れ、そして最も短い箔
の通路7を通って次のローラーに達する。箔3の幅は一
定であるから、この接触表面は図3中の扇形Aの弧に対
応する。後の箔3は第一ローラー1の表面を離れる。
【0023】すなわち、付着効果が大きくなるに従っ
て、箔3の表面と第一ローラー1の表面との接触面積が
大きくなる。箔3がより大きな表面エネルギーを有する
場合、それは点10まで第一ローラーを離れず、その結
果接触表面に対応する弧は扇形Bの弧だけ増加する。こ
の増加は例えば点10の光学的決定により測定すること
ができる。他の可能性は接触表面の静電容量測定であ
り、この場合第一ローラー1が1つの電極を構成し、そ
して追加の電極(示されていない)がその反対側に置か
れる。この場合、箔3はこれら2つの電極の間を通り、
そして誘電体を構成する。
【0024】記載すべきすべての方法において、ローラ
ー1及び2は好ましくは、これらのローラーの周速度が
箔3の速度に相当する回転速度で回転するのが好まし
い。しかしながら、これは前提条件ではない。記載され
た付着効果はまた、ローラーが回転しない時、又はそれ
らの周速度が箔3の速度より低い時にも観察されるべき
である。
【0025】測定中に目的とする値「箔の表面エネルギ
ー」のみが検出されるように、測定に影響を与える可能
性のあるすべての他の量が決定され、そして測定シグナ
ルを処理する際に考慮されなければならない。このこと
を達成するため、シグナル処理ユニットにそれらのアウ
トプットシグナルを供給する装置の領域に種々の検出器
が用意される。例えば温度及び湿度をセンサーにより検
出することができる。例えば、引取り速度をローラーの
回転速度を介して測定することができ、引取り速度の測
定のためにいわゆる力量計ローラー(dynamome
ter)が使用される。
【0026】さらなる他の態様においては、箔3は第一
ローラー1上に導かれそしてその案内行動によりこの第
一ローラー1から離れる。箔3から第一ローラー1に伝
達されるトルクが第一ローラー1において測定される。
例えばこれは常に、箔3の移動速度が特定の量だけ第一
ローラー1の周速度と異なる程度に第一ローラー1を遅
くすることにより達成され得る。第一ローラー1を制動
するために必要な制動力又は対応するトルクが伝達され
たトルクの測定値である。ローラー表面の滑り摩擦は箔
3のより高い表面エネルギーそしてそれ故に伝達された
トルクにおいて増加する。従って、このトルク検出器の
アウトプットシグナルは箔3の表面エネルギーの測定値
として使用され得る。
【0027】やはり滑り摩擦の測定に基く測定原理が図
4に示される態様において使用される。試験片19、好
ましくはフラップ極物体、例えば追加の箔が、箔3がほ
とんど直線的に進む時に箔3に密接に接触される。好ま
しくは、これは試験片19の重力により生ずる。試験片
19の端に力量計18が存在し、これが箔3から試験片
19に伝達される摩擦力を測定する。
【0028】これは、連続的に動く箔3に基く滑り摩擦
力である。この滑り摩擦力の大きさは試験されるべき箔
の表面エネルギーのレベルと共に増加する。力量計18
のアウトプットシグナルはシグナル処理ユニット17に
供給され、ここでやはり既知の方法で処理され、そして
箔の表面エネルギーの測定値として使用される。
【0029】記載したすべての測定方法は箔に対する前
処理、例えばコロナ放電、の影響を決定するために使用
され得る。コロナ放電の影響のより良い決定のために、
コロナステーションの前の測定装置の1つの後に第二の
装置を置くことができる。次に、個々の測定装置のアウ
トプットシグナルは、シグナル処理ユニットによる処理
の後、表面エネルギーが調整可能な値に一定に保持され
るように、コロナ発生器の出力を制御するためにその調
節器に供給される。
【0030】特に幅の広い箔の場合、該箔の幅にわたっ
て複数の点において測定を行うことが推奨される。これ
は同時に又は逐次に行うことができる。例えば光学測定
法において、レーザービームが箔の表面をその幅にわた
って走査することができ、言うまでもなくその後に検出
器が存在しなければならない。機械的方法において、幾
つかの測定装置を箔の幅にそって配置することができ
る。この場合も測定をコロナステーションの前及び後に
おいて行うことができる。
【0031】得られるアウトプットシグナルのすべてが
シグナル処理ユニットに供給され、そしてそこで処理さ
れる。箔の幅にわたって種々の表面エネルギーが測定さ
れる場合、コロナ発生器の出力を制限された領域におい
て調整することができ、又はコロナ放電の放電のすき間
を配列することができる。
【0032】非ポリマー箔の表面特性を、記載した方法
による測定によって決定することができる。例えば、そ
れを改良された被覆能力の高エネルギー測定にかけられ
る低のウエブにおいて使用することができる。金属箔、
例えばアルミ箔の表面を試験することもできる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、2個のガイドローラー上の箔の通路の
断面を示す。
【図2】図2は、図1の断面を光学測定装置と共に模式
的に示す。
【図3】図3は、図1と同じ断面図であり、箔の通路へ
の接触面積の依存性を示す。
【図4】図4は、2つのガイドローラー上の箔の通路及
び滑り摩擦測定装置の断面図である。
【符号の説明】
1…第一ローラー 2…第二ローラー 3…箔 4…箔3の移動方向 5…第一ローラー1の回転方向 6…第二ローラー2の回転方向 7…最も短い可能な箔の通路 8…実際の箔の通路 12…レーザー光源 13…レーザービーム 18…力量計 19…滑り摩擦測定片

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 表面力を測定することによって一方向
    (4)に移動する箔の表面エネルギーを測定する方法で
    あって、表面力を測定するために少なくとも第一ローラ
    ー(1)上にそして次にガイドユニット上に箔(3)を
    導き、該第一ローラーと該ガイドユニットとの間で最も
    短い可能な箔の通路(7)からの実際の箔の通路(8)
    の偏差を少なくとも1点において測定し、そして該第一
    ローラー(1)と接触する箔(3)の側の表面エネルギ
    ーの測定値として該偏差を使用することを特徴とする方
    法。
  2. 【請求項2】 前記ガイドユニットが第二ローラー
    (2)であることを特徴とする、請求項1に記載の方
    法。
  3. 【請求項3】 前記最も短い可能な箔の通路(7)から
    の実際の箔の通路(8)の偏差の測定を、箔(3)が前
    記第一ローラー(1)を去った後に該箔の表面の一点に
    おける光ビームの反射によって行うことを特徴とする、
    請求項1又は2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記光ビームとしてレーザービーム(1
    3)を使用することを特徴とする、請求項3に記載の方
    法。
  5. 【請求項5】 前記最も短い可能な箔の通路(7)から
    の実際の箔の通路(8)の偏差を、箔(3)と第一ロー
    ラー(1)との接触表面を測定することにより行うこと
    を特徴とする、請求項1又は2に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記接触表面の測定を静電容量的に行う
    ことを特徴とする、請求項5に記載の方法。
  7. 【請求項7】 測定の間前記第一ローラー(1)が停止
    することを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項に
    記載の方法。
  8. 【請求項8】 測定の間第一ローラー(1)が回転して
    いることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか1項に
    記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記第一ローラー(1)の周速度が前記
    箔(3)の速度と等しいことを特徴とする、請求項8に
    記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記箔(3)の引取り力を検出しそし
    て表面エネルギーの計算の際に考慮することを特徴とす
    る、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
  11. 【請求項11】 力量計の引取り力を測定するために前
    記第一ローラー(1)又は第二ローラー(2)が設計さ
    れていることを特徴とする、請求項10に記載の方法。
  12. 【請求項12】 一方向に移動する箔(3)の表面エネ
    ルギーを表面力の測定により測定する方法であって、表
    面力を測定するために該箔(3)を該箔(3)の速度と
    は異なる周速度を有する第一ローラー(1)上に導き、
    該箔(3)と該第一ローラー(1)との間の滑り摩擦力
    を測定し、そして該第一ローラー(1)と接触する箔
    (3)の側の表面エネルギーの測定値として該滑り摩擦
    力を用いることを特徴とする方法。
  13. 【請求項13】 前記箔(3)から前記第一ローラー
    (1)に伝達されるトルクを測定することにより前記滑
    り摩擦力を測定することを特徴とする、請求項12に記
    載の方法。
  14. 【請求項14】 前記箔(3)上に作用する引取り力を
    測定することにより前記滑り摩擦力を測定することを特
    徴とする、請求項12に記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記箔(3)の速度と前記第一ローラ
    ー(1)の周速度との差が一定値であると仮定される点
    でのトルクにより該第一ローラーを制動し、そして該箔
    (3)から該第一ローラー(1)に伝達されるトルクの
    測定値として前記トルクを用いることを特徴とする請求
    項13に記載の方法。
  16. 【請求項16】 一方向に移動する箔(3)の表面エネ
    ルギーを表面力の測定により測定する方法であって、表
    面力を測定するために、該箔(3)を試験片(19)の
    表面にそって摩擦するように滑らせ、そして該箔の方向
    と平行に作用し且つ該箔(3)から該試験片(19)に
    伝達される滑り摩擦力を測定しその測定値を該試験片
    (19)と接触する箔(3)の側の表面エネルギーの測
    定値として使用することを特徴とする方法。
  17. 【請求項17】 前記試験片(19)として箔片又はフ
    ラップ状物体を用いることを特徴とする、請求項16に
    記載の方法。
  18. 【請求項18】 所望により処理された測定シグナルを
    実際の値としてコロナステーションに導き、そこで各目
    値と比較し、そして次にコロナ発生器の出力を得られた
    偏差に基いて調整することを特徴とする請求項1〜16
    のいずれか1項に記載の方法。
  19. 【請求項19】 前記箔(3)の動きの方向に対して斜
    めに、複数の点において測定を行い、そしてこれらの測
    定シグナルをコロナ発生器に供給して、次に位置に依存
    して出力を調整することを特徴とする、請求項18に記
    載の方法。
  20. 【請求項20】 ポリマー性の箔(3)の表面エネルギ
    ーを測定する、請求項1〜19のいずれか1項に記載の
    方法。
  21. 【請求項21】 低のウエブの表面エネルギーを測定す
    るための、請求項1〜19のいずれか1項に記載の方
    法。
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