JPH0520132A - 間欠障害の表示方法 - Google Patents
間欠障害の表示方法Info
- Publication number
- JPH0520132A JPH0520132A JP3176427A JP17642791A JPH0520132A JP H0520132 A JPH0520132 A JP H0520132A JP 3176427 A JP3176427 A JP 3176427A JP 17642791 A JP17642791 A JP 17642791A JP H0520132 A JPH0520132 A JP H0520132A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- fault
- failure
- intermittent
- circuit
- unit
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】効率的に障害診断を行い障害の修理時間を短く
でき、同時に、間欠障害が頻繁に発生した場合にもこの
障害が論理回路動作に影響を与えることを防止できる間
欠障害の表示方法を提供すること。 【構成】エラーチェックシステムを持つ回路部１０ｉ
（以下ｉ＝１〜ｎとする）で構成する論理回路部１と、
エラーチェックシステムにより設定されるＥＩＦ２０ｉ
の集合であるエラーインディケータフリップフロップ群
２と、ＥＩＦ２０ｉの点灯履歴を記憶する点灯履歴記憶
部３０ｉの集合である点灯履歴記憶部群３と、点灯履歴
記憶部３０ｉとＥＩＦ２０ｉの状態により固定障害を発
生させるか否かの判定を行うプロセッサ部４と、論理回
路部１内に設けるプロセッサ部４の判定を基に固定障害
を発生させる固定障害発生部５とを備えている。固定障
害発生部５の構成は、電源ライン６から選択的に切断可
能とヒューズ５ｉを介して回路部１０ｉに対し電力を供
給している。
でき、同時に、間欠障害が頻繁に発生した場合にもこの
障害が論理回路動作に影響を与えることを防止できる間
欠障害の表示方法を提供すること。 【構成】エラーチェックシステムを持つ回路部１０ｉ
（以下ｉ＝１〜ｎとする）で構成する論理回路部１と、
エラーチェックシステムにより設定されるＥＩＦ２０ｉ
の集合であるエラーインディケータフリップフロップ群
２と、ＥＩＦ２０ｉの点灯履歴を記憶する点灯履歴記憶
部３０ｉの集合である点灯履歴記憶部群３と、点灯履歴
記憶部３０ｉとＥＩＦ２０ｉの状態により固定障害を発
生させるか否かの判定を行うプロセッサ部４と、論理回
路部１内に設けるプロセッサ部４の判定を基に固定障害
を発生させる固定障害発生部５とを備えている。固定障
害発生部５の構成は、電源ライン６から選択的に切断可
能とヒューズ５ｉを介して回路部１０ｉに対し電力を供
給している。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は間欠障害の表示方法に関
する。
する。
【０００２】
【従来の技術】従来の間欠障害の表示方法は、障害が顕
在している間は障害を表示し、論理的に切り離しを行っ
たり、他の同様な機能を持つ部分により機能を肩代りす
るように働かせるか、間欠障害箇所を復旧すれば障害表
示を中止していた。
在している間は障害を表示し、論理的に切り離しを行っ
たり、他の同様な機能を持つ部分により機能を肩代りす
るように働かせるか、間欠障害箇所を復旧すれば障害表
示を中止していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の間欠障
害の表示方法は、間欠障害が発生しなくなると間欠障害
の発生箇所が不明瞭になってしまい、障害解析時に間欠
障害箇所を特定できなくなるという問題点がある。又、
間欠障害が頻繁に発生すると、その都度該当の回路部を
使用する動作が中断され、論理回路の動作に影響を与え
るという問題点もある。
害の表示方法は、間欠障害が発生しなくなると間欠障害
の発生箇所が不明瞭になってしまい、障害解析時に間欠
障害箇所を特定できなくなるという問題点がある。又、
間欠障害が頻繁に発生すると、その都度該当の回路部を
使用する動作が中断され、論理回路の動作に影響を与え
るという問題点もある。
【０００４】本発明の目的は、効率的に障害診断を行い
障害の修理時間を短くでき、同時に、間欠障害が頻繁に
発生した場合にもこの障害が論理回路動作に影響を与え
ることを防止できる間欠障害の表示方法を提供すること
にある。
障害の修理時間を短くでき、同時に、間欠障害が頻繁に
発生した場合にもこの障害が論理回路動作に影響を与え
ることを防止できる間欠障害の表示方法を提供すること
にある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の間欠障害の表示
方法は、それぞれが障害検出機能を持つ複数の回路部で
構成する論理回路の間欠障害の表示方法において、前記
回路部に対応して障害を記憶するエラーインディケータ
フリップフロップと前記エラーインディケータフリップ
フロップの状態の履歴を記憶する記憶部分とを含むエラ
ーインディケータフリップフロップ群を設け、前記記憶
部分が障害を記憶しているとき障害を表示する構成であ
る。
方法は、それぞれが障害検出機能を持つ複数の回路部で
構成する論理回路の間欠障害の表示方法において、前記
回路部に対応して障害を記憶するエラーインディケータ
フリップフロップと前記エラーインディケータフリップ
フロップの状態の履歴を記憶する記憶部分とを含むエラ
ーインディケータフリップフロップ群を設け、前記記憶
部分が障害を記憶しているとき障害を表示する構成であ
る。
【０００６】本発明の間欠障害の表示方法は、記憶部分
は障害を記憶している状態で再度該当の回路部に障害が
発生するとこの障害発生を計数し記憶してもよい。
は障害を記憶している状態で再度該当の回路部に障害が
発生するとこの障害発生を計数し記憶してもよい。
【０００７】本発明の間欠障害の表示方法は、複数の回
路部のそれぞれに固定障害発生部と、記憶部分の障害発
生回数を確認し予め定める回数を越えた場合に前記固定
障害発生部を起動し固定障害を発生させるプロセッサ部
とを備えてもよい。
路部のそれぞれに固定障害発生部と、記憶部分の障害発
生回数を確認し予め定める回数を越えた場合に前記固定
障害発生部を起動し固定障害を発生させるプロセッサ部
とを備えてもよい。
【０００８】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【０００９】図１は本発明の一実施例のブロック図であ
る。
る。
【００１０】本実施例のシステムは、それぞれがエラー
チェックシステムを持つ回路部１０１，１０２，…１０
ｉ，…１０ｎで構成する論理回路部１と、エラーチェッ
クシステムにより設定されるエラーインディケータフリ
ップフロップ（以下ＥＩＦと記す）２０１，２０２，…
２０ｉ，…２０ｎの集合であるエラーインディケータフ
リップフロップ群２と、ＥＩＦ２０１，２０２，…２０
ｉ，…２０ｎの点灯履歴を記憶する点灯履歴記憶部３０
１，３０２，…３０ｉ，…３０ｎの集合である点灯履歴
記憶部群３と、点灯履歴記憶部３０１，３０２，…３０
ｉ，…３０ｎとＥＩＦ２０１，２０２，…２０ｉ，…２
０ｎの状態により固定障害を発生させるか否かの判定を
行うプロセッサ部４と、論理回路部１内に設けるプロセ
ッサ部４の判定を基に固定障害を発生させる固定障害発
生部５とを備えている。固定障害発生部５の構成は、電
源ライン６からヒューズ５１，５２，…５ｉ，…５ｎを
介して回路部１０１，１０２，…１０ｉ，…１０ｎに対
し電力を供給し、このヒューズ５１，５２，…５ｉ，…
５ｎを選択的に切断可能としている。
チェックシステムを持つ回路部１０１，１０２，…１０
ｉ，…１０ｎで構成する論理回路部１と、エラーチェッ
クシステムにより設定されるエラーインディケータフリ
ップフロップ（以下ＥＩＦと記す）２０１，２０２，…
２０ｉ，…２０ｎの集合であるエラーインディケータフ
リップフロップ群２と、ＥＩＦ２０１，２０２，…２０
ｉ，…２０ｎの点灯履歴を記憶する点灯履歴記憶部３０
１，３０２，…３０ｉ，…３０ｎの集合である点灯履歴
記憶部群３と、点灯履歴記憶部３０１，３０２，…３０
ｉ，…３０ｎとＥＩＦ２０１，２０２，…２０ｉ，…２
０ｎの状態により固定障害を発生させるか否かの判定を
行うプロセッサ部４と、論理回路部１内に設けるプロセ
ッサ部４の判定を基に固定障害を発生させる固定障害発
生部５とを備えている。固定障害発生部５の構成は、電
源ライン６からヒューズ５１，５２，…５ｉ，…５ｎを
介して回路部１０１，１０２，…１０ｉ，…１０ｎに対
し電力を供給し、このヒューズ５１，５２，…５ｉ，…
５ｎを選択的に切断可能としている。
【００１１】次に、動作について説明する。
【００１２】論理回路部１内の任意の回路Ｘで障害が発
生すると、この回路Ｘを含む回路部１０ｉが障害表示を
設定し、対応したエラーインディケータフリップフロッ
プ群２の中にあるＥＩＦ２０ｉを点灯状態とする。ＥＩ
Ｆ２０ｉに対応する点灯履歴記憶部群３の中の点灯記憶
部３０ｉは、ＥＩＦ２０ｉが点灯状態となったことを記
憶する。回路Ｘが例えば再度立ち上げ時の初期設定等に
より、障害状態でなくなると、ＥＩＦ２０ｉは消灯状態
となる。このとき、点灯履歴記憶部３０ｉは、ＥＩＦ２
０ｉの点灯した履歴を記憶している。
生すると、この回路Ｘを含む回路部１０ｉが障害表示を
設定し、対応したエラーインディケータフリップフロッ
プ群２の中にあるＥＩＦ２０ｉを点灯状態とする。ＥＩ
Ｆ２０ｉに対応する点灯履歴記憶部群３の中の点灯記憶
部３０ｉは、ＥＩＦ２０ｉが点灯状態となったことを記
憶する。回路Ｘが例えば再度立ち上げ時の初期設定等に
より、障害状態でなくなると、ＥＩＦ２０ｉは消灯状態
となる。このとき、点灯履歴記憶部３０ｉは、ＥＩＦ２
０ｉの点灯した履歴を記憶している。
【００１３】次に、回路Ｘで再度障害が発生すると、こ
の回路Ｘを含む回路部１０ｉが障害表示を設定し、対応
したエラーインディケータフリップフロップ群２の中に
あるＥＩＦ２０ｉを再度点灯状態とする。ＥＩＦ２０ｉ
が点灯状態になると、プロセッサ部４はＥＩＦ２０ｉに
対応する点灯履歴記憶部３０ｉの記憶内容を調べる。こ
のとき、点灯履歴記憶部３０ｉは、ＥＩＦ２０ｉの以前
点灯した履歴を記憶している。プロセッサ部４は、点灯
履歴記憶部３０ｉが予め規定された回数の点灯状態を記
憶している場合には、ＥＩＦ２０ｉの表示する回路部１
０ｉは障害が間欠的によく発生する箇所と判断し、固定
障害発生部５にＥＩＦ２０ｉの表示する回路部１０ｉの
障害を固定化するよう指示する。この指示により固定障
害発生部５は、回路部１０ｉの障害を固定化するため、
例えば、論理回路部１の電源ライン６から回路部１０ｉ
に電力を供給しているヒューズ５ｉを切るなどして、回
路部１０ｉの機能を停止させ、障害を固定化する。
の回路Ｘを含む回路部１０ｉが障害表示を設定し、対応
したエラーインディケータフリップフロップ群２の中に
あるＥＩＦ２０ｉを再度点灯状態とする。ＥＩＦ２０ｉ
が点灯状態になると、プロセッサ部４はＥＩＦ２０ｉに
対応する点灯履歴記憶部３０ｉの記憶内容を調べる。こ
のとき、点灯履歴記憶部３０ｉは、ＥＩＦ２０ｉの以前
点灯した履歴を記憶している。プロセッサ部４は、点灯
履歴記憶部３０ｉが予め規定された回数の点灯状態を記
憶している場合には、ＥＩＦ２０ｉの表示する回路部１
０ｉは障害が間欠的によく発生する箇所と判断し、固定
障害発生部５にＥＩＦ２０ｉの表示する回路部１０ｉの
障害を固定化するよう指示する。この指示により固定障
害発生部５は、回路部１０ｉの障害を固定化するため、
例えば、論理回路部１の電源ライン６から回路部１０ｉ
に電力を供給しているヒューズ５ｉを切るなどして、回
路部１０ｉの機能を停止させ、障害を固定化する。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、それぞ
れが障害検出機能を持つ複数の回路部で構成する論理回
路の回路部に対応して、障害を記憶するエラーインディ
ケータフリップフロップとエラーインディケータフリッ
プフロップの状態の履歴を記憶する記憶部分とを含むエ
ラーインディケータフリップフロップ群を設け、記憶部
分が障害を記憶しているとき障害を表示し、記憶部分は
障害を記憶している状態で再度該当の回路部に障害が発
生するとこの障害発生を計数し記憶し、複数の回路部の
それぞれに固定障害発生部と、記憶部分の障害発生回数
を確認し予め定める回数を越えた場合に固定障害発生部
を起動し固定障害を発生させるプロセッサ部とを備える
ことにより、効率的に障害診断を行い障害の修理時間を
短くでき、同時に、間欠障害が頻繁に発生した場合にも
この障害が論理回路動作に影響を与えることを防止でき
るという効果が有る。
れが障害検出機能を持つ複数の回路部で構成する論理回
路の回路部に対応して、障害を記憶するエラーインディ
ケータフリップフロップとエラーインディケータフリッ
プフロップの状態の履歴を記憶する記憶部分とを含むエ
ラーインディケータフリップフロップ群を設け、記憶部
分が障害を記憶しているとき障害を表示し、記憶部分は
障害を記憶している状態で再度該当の回路部に障害が発
生するとこの障害発生を計数し記憶し、複数の回路部の
それぞれに固定障害発生部と、記憶部分の障害発生回数
を確認し予め定める回数を越えた場合に固定障害発生部
を起動し固定障害を発生させるプロセッサ部とを備える
ことにより、効率的に障害診断を行い障害の修理時間を
短くでき、同時に、間欠障害が頻繁に発生した場合にも
この障害が論理回路動作に影響を与えることを防止でき
るという効果が有る。
【図１】本発明の一実施例のブロック図である。
１ 論理回路部
２ エラーインディケータフリップフロップ群
３ 点灯履歴記憶部群
４ プロセッサ部
５ 固定障害発生部
６ 電源ライン
５１，５２，…５ｉ，…５ｎ ヒューズ
１０１，１０２，…１０ｉ，…１０ｎ 回路部
２０１，２０２，…２０ｉ，…２０ｎ エラーインデ
ィケータフリップフロップ（ＥＩＦ） ３０１，３０２，…３０ｉ，…３０ｎ 点灯履歴記憶
部
ィケータフリップフロップ（ＥＩＦ） ３０１，３０２，…３０ｉ，…３０ｎ 点灯履歴記憶
部
Claims (3)
- 【請求項１】 それぞれが障害検出機能を持つ複数の回
路部で構成する論理回路の間欠障害の表示方法におい
て、前記回路部に対応して障害を記憶するエラーインデ
ィケータフリップフロップと前記エラーインディケータ
フリップフロップの状態の履歴を記憶する記憶部分とを
含むエラーインディケータフリップフロップ群を設け、
前記記憶部分が障害を記憶しているとき障害を表示する
ことを特徴とする間欠障害の表示方法。 - 【請求項２】 記憶部分は障害を記憶している状態で再
度該当の回路部に障害が発生するとこの障害発生を計数
し記憶することを特徴とする請求項１記載の間欠障害の
表示方法。 - 【請求項３】 複数の回路部のそれぞれに固定障害発生
部と、記憶部分の障害発生回数を確認し予め定める回数
を越えた場合に前記固定障害発生部を起動し固定障害を
発生させるプロセッサ部とを備えることを特徴とする請
求項１記載の間欠障害の表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3176427A JPH0520132A (ja) | 1991-07-17 | 1991-07-17 | 間欠障害の表示方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3176427A JPH0520132A (ja) | 1991-07-17 | 1991-07-17 | 間欠障害の表示方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0520132A true JPH0520132A (ja) | 1993-01-29 |
Family
ID=16013516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3176427A Pending JPH0520132A (ja) | 1991-07-17 | 1991-07-17 | 間欠障害の表示方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0520132A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5883820A (en) * | 1994-01-13 | 1999-03-16 | Citizen Watch Co., Ltd. | Computer system |
| JP2011128709A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Nec Corp | 情報処理装置およびプロセッサの処理方法 |
-
1991
- 1991-07-17 JP JP3176427A patent/JPH0520132A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5883820A (en) * | 1994-01-13 | 1999-03-16 | Citizen Watch Co., Ltd. | Computer system |
| JP2011128709A (ja) * | 2009-12-15 | 2011-06-30 | Nec Corp | 情報処理装置およびプロセッサの処理方法 |
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