JPH0519964U - プローブ用接触子 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 バレルの内部に中仕切りを設け、この中仕切
りの上部と下部とにそれぞれ独立したスプリングを装着
し、この二つのスプリングによってプランジャに対して
２段階の接触圧を与える。 【効果】 プランジャが基板に接触するときの圧力を小
さくし、測定を行うときの圧力を大きくすることができ
るため、プランジャの先端部が測定点において横方向に
滑るのを防止することができ、しかも測定のときの接触
圧を確保できる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電子機器の論理回路基板やアナログ回路基板を試験するための試験 装置に使用するプローブ用の接触子に関する。

【０００２】

【従来の技術】

電子機器の論理回路基板やアナログ回路基板を試験するための試験装置に使用 する従来のプローブ用の接触子（プローブ用接触子）は、図３に示すように、天 井板と底面板とを有する中空の円筒形のバレル１３と、バレル１３の内部で上下 運動を行う頭部を有するプランジャ１２と、バレル１３の天井板とプランジャ１ ２の頭部との間に装着したスプリング１４とを有しており、スプリング１４によ ってプランジャ１２に対して一定の接触圧を与える構成となっている。

【０００３】 このよう構成したプローブ用接触子を用いて論理回路基板やアナログ回路基板 を試験するときは、図４に示すように、基板１１の測定点１０にプランジャ１２ の先端部１６を接触させ、バレル１３を下方（矢印Ｂ方向）に動かすことによっ てスプリング１４を圧縮してプランジャ１２に対して所定の接触圧を与えている 。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

上述したような従来のプローブ用接触子は、プランジャ１２の基板１１に対す る接触圧が、スプリング１４によってのみ決定されるため、プランジャ１２の先 端部１６を基板１１の測定点１０に接触させたとき、先端部１６が測定点１０に おいて横方向（矢印Ｃ方向）に滑って正確な測定ができなくなることがあるとい う欠点を有している。これを回避するためスプリング１４の圧力を弱くすると、 測定のときの接触圧が不足して接触不良を起すという問題点がある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】 本考案のプローブ用接触子は、内部の中央部に中仕切りを有するバレルと、前 記バレルの前記中仕切りおよび底面板とのそれぞれに対応した上部プランジャ部 および下部プランジャ部を有するプランジャと、前記上部プランジャ部と前記バ レルの天井板との間に装着した上部スプリングと、前記下部プランジャ部と前記 バレルの前記中仕切りとの間に装着した下部スプリングとを備え、前記上部スプ リングと前記下部スプリングとによって前記プランジャに対して２段階の接触圧 を与えるようにしたものである。

【０００６】

【実施例】

次に、本考案の実施例について図面を参照して説明する。

【０００７】 図１は本考案の一実施例を示す断面図、図２は図１の実施例の動作状態を示す 断面図である。

【０００８】 図１に示すプローブ用接触子は、内部の中央部に設けた中仕切り８と、天井板 ２ａと、底面板２ｂとを有する中空の円筒形のバレル２と、バレル２の中仕切り ８および底面板２ｂとのそれぞれに対応した上部プランジャ部５および下部プラ ンジャ部６を有するプランジャ１と、上部プランジャ部５とバレル２の天井板２ ａとの間に装着した上部スプリング３と、下部プランジャ部６とバレル２の中仕 切り８との間に装着した下部スプリング４とを備えており、プランジャ１の先端 部７において測定対象の基板の接触点に接触する構成となっている。

【０００９】 このように構成したプローブ用接触子を用いて論理回路基板やアナログ回路基 板を試験するときは、図２（ａ）に示すように、基板１１の測定点１０にプラン ジャ１の先端部７を接触させ、バレル２を下方（矢印Ｂ方向）に動かす。これに よって上部スプリング３が圧縮されてプランジャ１に対して第一段階の接触圧が 与えられる。このとき、下部スプリング４は、まだ中仕切り８と接触していない ため、自由の状態にある。この状態から引続いてバレル２を下方（矢印Ｂ方向） に動かすと、図２（ｂ）に示すように、上部スプリング３が更に圧縮されて下部 スプリング４が中仕切り８と接触し、上部スプリング３と下部スプリング４が共 に圧縮されてプランジャ１に対して第二段階の接触圧が与えられる。

【００１０】 このようにして、プランジャ１の先端部７を基板１１の測定点１０に接触させ るときと、測定を行うときとの圧力を異なる圧力とすることにより、プランジャ １の先端部７を基板１１の測定点１０に接触させるときに、先端部７が測定点１ ０において横方向に滑るのを防止することができる。

【００１１】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案のプローブ用接触子は、バレルの内部に中仕切り を設け、この中仕切りの上部と下部とにそれぞれ独立したスプリングを装着し、 この二つのスプリングによってプランジャに対して２段階の接触圧を与えること により、プランジャが基板に接触するときの圧力を小さくし、測定を行うときの 圧力を大きくすることができるため、プランジャの先端部が測定点において横方 向に滑るのを防止することができ、しかも測定のときの接触圧を確保できるとい う効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示す断面図である。

【図２】図１の実施例の動作状態を示す断面図である。

【図３】従来のプローブ用接触子の一例を示す断面図で
ある。

【図４】図３の例の動作状態を示す断面図である。

【符号の説明】

１ プランジャ ２ バレル ２ａ 天井板 ２ｂ 底面板 ３ 上部スプリング ４ 下部スプリング ５ 上部プランジャ部 ６ 下部プランジャ部 ７ 先端部 ８ 中仕切り １０ 測定点 １１ 基板 １２ プランジャ １３ バレル １４ スプリング

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 内部の中央部に中仕切りを有するバレル
   と、前記バレルの前記中仕切りおよび底面板とのそれぞ
   れに対応した上部プランジャ部および下部プランジャ部
   を有するプランジャと、前記上部プランジャ部と前記バ
   レルの天井板との間に装着した上部スプリングと、前記
   下部プランジャ部と前記バレルの前記中仕切りとの間に
   装着した下部スプリングとを備え、前記上部スプリング
   と前記下部スプリングとによって前記プランジャに対し
   て２段階の接触圧を与えるようにしたことを特徴とする
   プローブ用接触子。