JPH051987A - 水分または揮発分の測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 高精度の測定を行うべく皿上の試料量を多く
して試料層が厚くなっても、試料が満遍なく加熱され、
試料表面が変質することなく短時間で水分率等の測定が
可能な装置を提供する。 【構成】 皿１１の上方に配設される試料加熱手段のほ
かに、皿自体を加熱する手段を設けることにより、皿上
の試料を上下双方から加熱し、試料の下層部分への水分
等の残留をなくす。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】 本発明は、粉体、食品、あるい
は薬品工業等の分野で扱われる、物質中の水分や揮発分
を測定する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】 物質中の水分や揮発分を測定する装置
として、加熱乾燥方式の水分計と称される装置がある。
この方式の装置では、電子はかり等の重量測定装置の皿
上に試料を載せ、その試料に対してその上方からヒータ
やランプ等を用いた照射加熱を行うことにより、試料中
の水分または揮発分を蒸発させ、乾燥前後の試料重量か
ら水分率や揮発分率等を求めるのが一般的である。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】 ところで、上述のよ
うな従来の装置においては、水分率等の測定精度を向上
させるためには、試料をできるだけ多く皿上に載せる必
要がある。一方、皿上の試料の厚さはできるだけ薄くす
る必要がある。その理由は、試料の層が厚くなると、表
面部分が加熱による変質等が生じているにもかかわら
ず、下層部分にはまだ水分等が含まれている状態となる
場合があるからである。

【０００４】ところで、以上の要求を同時に満足させる
ためには、皿の面積を大きくすればいいわけであるが、
当然のことながら現実的には限界があり、従って、従来
の方式によれば、測定精度を向上させるべく試料を多く
皿上に載せると、上記したように試料表面が加熱により
変質しているにもかかわらず、下層部分に水分が残留
し、正確な測定ができないという問題がある。

【０００５】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
ので、多量の試料を皿上に載せても、試料が満遍なく加
熱され、短時間のもとに正確で高精度の水分率や揮発分
量等を測定することのできる装置の提供を目的としてい
る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】 この目的を達成するた
め、本発明では、皿の上方に配設され、皿上の試料を乾
燥させるための加熱手段とは別個に、この皿自体を加熱
する手段を設けている。

【０００７】

【作用】 皿上の試料は、通常の加熱手段による上方か
らの加熱と同時に、皿と接する部分、つまり下層部分か
らも加熱されることになり、下層部分での水分の残留の
可能性が少なくなって、試料量を多くしても効率的に正
確な測定が可能となる。

【０００８】

【実施例】 図１は本発明実施例の全体構成を示すブロ
ック図である。重量測定装置１は電子はかりまたは電子
天びんにより構成され、皿１１上に載せられた試料の重
量を測定することができる。すなわち、皿１１は皿受け
１２を介して内蔵するロードセルや電磁力平衡機構等の
荷重センサに係合しており、この荷重センサからの刻々
の荷重データが、同じく内蔵のマイクロコンピュータを
主体とする演算制御部により平均化されて重量値に変換
されるように構成されている。

【０００９】皿１１の上方には、上部加熱照射ヒータ２
が配設されており、この上部加熱照射ヒータ２は、重量
測定装置１内のマイクロコンピュータからの指令に基づ
いて上部ヒータ用制御回路３により駆動制御され、皿１
１上の試料をその上方から加熱照射するようになってい
る。一方、皿１２は、その周囲に設けられた４個の皿加
熱ヒータ４・・４により加熱される。

【００１０】すなわち、皿１１には、図２に皿受け１２
に載せられた状態での皿１１近傍の正面縦断面図（Ａ）
とその平面図（Ｂ）を示すように、周囲に４本の加熱用
軸１１ａ・・１１ａが形成されている。皿加熱ヒータ４・・
４は、図３にその拡大斜視図を示すように、全体として
略円筒形をしたヒータで、重量測定装置１のベース等に
支持される半円筒形の固定部４ａに対して、蝶番４ｂに
より開閉自在の半円筒形の蓋部４ｃが装着された構造と
なっている。そして、各蓋部４ｃを開けた状態で、各固
定部４ａの内部に皿１１の各加熱用軸１１ａ・・１１ａが
嵌まり込むように皿１１を皿受け１２に載せた後、この
蓋部４ｃを閉じることにより、各加熱用軸１１ａ・・１１
ａは各皿加熱ヒータ４・・４の内側に、非接触の状態で収
まるように構成されている。この各皿加熱ヒータ４・・４
は、重量測定装置１内のマイクロコンピュータからの指
令に基づき、皿加熱ヒータ用制御回路５により駆動制御
される。

【００１１】なお、皿１１と皿受け１２との間には、断
熱材６が挿入されている。以上の本発明実施例におい
て、水分率または揮発分量等を測定する場合、従来のこ
の種の装置と同様に、皿１１上に乾燥前の試料を載せて
スタートキー等を押す。これにより、試料の乾燥前の重
量がマイクロコンピュータ内に採り込まれてメモリに記
憶される。その後、基本的には従来の装置と同様に、試
料を乾燥させるべくヒータが駆動され、これにより試料
の重量は水分等の蒸発等によって減少していくが、刻々
の重量がマイクロコンピュータに採り込まれていき、重
量変化が停止すると乾燥完了と判断してその重量と、先
に記憶している乾燥前の試料重量とから、試料に含まれ
ていた水分または揮発分の量、ないしは率が自動的に算
出されて表示される。

【００１２】本発明実施例においては、試料乾燥のため
の加熱が、上部加熱照射ヒータ２と皿加熱ヒータ４の双
方を駆動して、試料の上方からの輻射による加熱と、皿
１１を介した伝導による試料の下層からの加熱とが同時
に行われる点に特徴がある。これにより、試料は上下双
方から加熱されることになり、試料の層を厚くしても下
層に水分等が残ることなく効率的に乾燥される。

【００１３】ここで、皿１１と皿受け１２間に断熱材６
を挿入しておくことにより、皿１１の熱が重量測定装置
１側に伝達することが防止され、重量測定装置１の重量
測定値に影響を与えないと同時に、試料の加熱効率が向
上する。また、上部加熱照射ヒータ２と皿加熱ヒータ３
・・３による加熱は、測定すべき試料の種類等に応じて、
最適な乾燥が行われるよう実験等によってそれぞれの温
度およびその時間的変化等を決定することが望ましい。

【００１４】なお、皿１１の上方からの加熱および皿自
体の加熱は、上述の実施例のようにヒータを用いるほ
か、マイクロ波加熱や誘導加熱法、あるいは熱風を用い
る方法も採用することができる。また、試料の加熱量が
概略でもよい用途にあっては、上部加熱照射ヒータおよ
び皿加熱ヒータの温度制御を省き、単にＯＮ・ＯＦＦ駆
動を行うように構成することもできる。

【００１５】更に、本発明と、皿の底面に金属網を敷い
て皿と試料との間に空隙を開ける実公昭６４−５２２９
号の技術とを併用することにより、より効率的な乾燥を
行うことができる。

【００１６】

【発明の効果】 以上説明したように、本発明によれ
ば、皿上の試料をその上方から加熱する手段のほうに、
皿自体を加熱する手段を設けたので、皿上の試料は上下
双方から加熱されることになり、皿上の試料層全体が満
遍なく加熱されることになる。その結果、従来に比して
乾燥時間が短縮されるばかりでなく、試料の量を多くし
てその厚さを大きくしても試料の下層部分に水分等が残
留することが少なくなって、乾燥前に試料表面が変質し
てしまうことが防止でき、高精度で正確な水分率等の測
定が行えるようになった。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明実施例の全体構成を示すブロック図

【図２】 皿受け１２上に載せられた状態の皿１１近傍
の正面断面図（Ａ）とその平面図（Ｂ）

【図３】 本発明実施例の皿加熱ヒータ４の拡大斜視図

【符号の説明】

１・・・・重量測定装置 １１・・・・皿 １１ａ・・１１ａ・・・・加熱用軸 １２・・・・皿受け ２・・・・上部加熱照射ヒータ ３・・・・上部ヒータ用制御回路 ４・・４・・・・皿加熱ヒータ ４ａ・・・・固定部 ４ｂ・・・・蝶番 ４ｃ・・・・蓋部 ５・・・・皿加熱ヒータ用制御回路 ６・・・・断熱材

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 【請求項１】 皿上の荷重を検出して皿上重量を測定す
   る重量測定手段と、上記皿の上方に配設され、この皿上
   の試料を乾燥させるための加熱手段を備え、皿上の試料
   の乾燥前の重量と乾燥後の重量とから水分率または揮発
   分重量等を測定する装置において、上記皿上の試料の加
   熱手段のほかに、当該皿自体を加熱する手段を備えたこ
   とを特徴とする水分または揮発分の測定装置。