JPH05191728A - 赤外線撮像装置 - Google Patents
赤外線撮像装置Info
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- JPH05191728A JPH05191728A JP4002389A JP238992A JPH05191728A JP H05191728 A JPH05191728 A JP H05191728A JP 4002389 A JP4002389 A JP 4002389A JP 238992 A JP238992 A JP 238992A JP H05191728 A JPH05191728 A JP H05191728A
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- infrared
- short
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- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Photovoltaic Devices (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 太陽光の影響を適切に抑圧する為の赤外線撮
像装置に関し、太陽光の影響が変化しても、この変化に
応じて目標からのエネルギーを正確に抽出することを目
的とする。 【構成】 最初に太陽光の状態を検出しておき、この太
陽光の状態に応じて遮断短波長帯の異なった波長フィル
タの中で最適な短波長フィルタを決定し、その最適なフ
ィルタを光学系と赤外固体撮像素子との間に挿入し、適
宜波長フィルタを更新する様に構成する。
像装置に関し、太陽光の影響が変化しても、この変化に
応じて目標からのエネルギーを正確に抽出することを目
的とする。 【構成】 最初に太陽光の状態を検出しておき、この太
陽光の状態に応じて遮断短波長帯の異なった波長フィル
タの中で最適な短波長フィルタを決定し、その最適なフ
ィルタを光学系と赤外固体撮像素子との間に挿入し、適
宜波長フィルタを更新する様に構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は赤外線撮像装置に関し、
特に太陽光の影響を適切に抑圧する為の赤外線撮像装置
に関するものである。
特に太陽光の影響を適切に抑圧する為の赤外線撮像装置
に関するものである。
【０００２】一般に赤外線領域に於いては、太陽光の放
射特性より所望の目標を抽出しようとする場合、目標か
らの赤外線エネルギーとその背景からの赤外線エネルギ
ーとの差を利用して行う為、太陽光の反射・散乱は背景
からの赤外線エネルギーを増大させるので目標抽出を困
難にさせており、この為、太陽光の影響を抑圧すること
が必要となる。
射特性より所望の目標を抽出しようとする場合、目標か
らの赤外線エネルギーとその背景からの赤外線エネルギ
ーとの差を利用して行う為、太陽光の反射・散乱は背景
からの赤外線エネルギーを増大させるので目標抽出を困
難にさせており、この為、太陽光の影響を抑圧すること
が必要となる。
【０００３】
【従来の技術】従来の赤外線撮像装置に於いては、図６
に示す様に、光学系１と、この光学系１からの赤外線エ
ネルギーを検出して電気エネルギーに変換する赤外固体
撮像素子との間に所定の短波長帯を遮断する短波長フィ
ルタ３を挿入して太陽光の影響を抑圧している。
に示す様に、光学系１と、この光学系１からの赤外線エ
ネルギーを検出して電気エネルギーに変換する赤外固体
撮像素子との間に所定の短波長帯を遮断する短波長フィ
ルタ３を挿入して太陽光の影響を抑圧している。
【０００４】即ち、赤外固体撮像素子２の応答波長帯は
約２．０〜５．５μｍであり、この波長帯の中から不必
要な太陽光の影響を強く受ける２．０〜３．７μｍの波
長帯を遮断する事により太陽光の影響を抑圧している。
約２．０〜５．５μｍであり、この波長帯の中から不必
要な太陽光の影響を強く受ける２．０〜３．７μｍの波
長帯を遮断する事により太陽光の影響を抑圧している。
【０００５】図７は太陽光のエネルギーと目標からのエ
ネルギーとの相関関係を波長とエネルギーとの関係で示
しており、このグラフからも分かる様に、点Ｘより短い
波長帯域では太陽光のエネルギーが大きくなる為、この
短波長帯を遮断する必要があり、この点Ｘより長い波長
帯に於いてのみ目標からのエネルギーが太陽光のエネル
ギーに対して大きくなる為、図６に示した短波長フィル
タ３の遮断波長帯を点Ｘ以下の波長帯に設定すれば、相
対的に太陽光のエネルギーが小さくなり目標の赤外線撮
像が可能となることが分かる。
ネルギーとの相関関係を波長とエネルギーとの関係で示
しており、このグラフからも分かる様に、点Ｘより短い
波長帯域では太陽光のエネルギーが大きくなる為、この
短波長帯を遮断する必要があり、この点Ｘより長い波長
帯に於いてのみ目標からのエネルギーが太陽光のエネル
ギーに対して大きくなる為、図６に示した短波長フィル
タ３の遮断波長帯を点Ｘ以下の波長帯に設定すれば、相
対的に太陽光のエネルギーが小さくなり目標の赤外線撮
像が可能となることが分かる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、太陽光
は時刻、雲の状態等により変化し、また図８に示すよう
に海面等での反射は赤外線撮像装置の見る角度により波
長が変化する為、太陽光のエネルギーに対する目標から
のエネルギーが相対的に大きくなる点（図７に示す点
Ｘ）が変動してしまい、図６に示す様に一定の波長帯の
みを遮断する短波長フィルタ３だけでは太陽光の影響を
適切に抑圧出来ないと言う問題点があった。
は時刻、雲の状態等により変化し、また図８に示すよう
に海面等での反射は赤外線撮像装置の見る角度により波
長が変化する為、太陽光のエネルギーに対する目標から
のエネルギーが相対的に大きくなる点（図７に示す点
Ｘ）が変動してしまい、図６に示す様に一定の波長帯の
みを遮断する短波長フィルタ３だけでは太陽光の影響を
適切に抑圧出来ないと言う問題点があった。
【０００７】従って本発明は、太陽光の影響が変化して
も、この変化に応じて目標からのエネルギーを正確に抽
出することを目的とする。
も、この変化に応じて目標からのエネルギーを正確に抽
出することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係る赤外線撮像装置では、図１に原理的に
示すように、光学系１と赤外固体撮像素子２との間に挿
入されて光学系１からの赤外線の波長帯の内、該赤外固
体撮像素子２の応答波長域内の太陽光の影響を最も受け
易い短波長帯だけを透過させる１つの試験用短波長フィ
ルタ３−１及び該短波長帯から順次長くなる波長帯をそ
れぞれ遮断する複数の遮断用短波長フィルタ３−２〜３
−ｎと、いずれかの短波長フィルタを選択挿入する制御
部４と、該制御部４が最初に該試験用短波長フィルタ３
−１を選択挿入したとき該赤外固体撮像素子２から出力
される映像データの内の少なくとも部分画面の加算平均
を取って該加算平均値に対応した最適な遮断用短波長フ
ィルタを決定し制御部４に知らせるデータ処理部５とを
備えている。
め、本発明に係る赤外線撮像装置では、図１に原理的に
示すように、光学系１と赤外固体撮像素子２との間に挿
入されて光学系１からの赤外線の波長帯の内、該赤外固
体撮像素子２の応答波長域内の太陽光の影響を最も受け
易い短波長帯だけを透過させる１つの試験用短波長フィ
ルタ３−１及び該短波長帯から順次長くなる波長帯をそ
れぞれ遮断する複数の遮断用短波長フィルタ３−２〜３
−ｎと、いずれかの短波長フィルタを選択挿入する制御
部４と、該制御部４が最初に該試験用短波長フィルタ３
−１を選択挿入したとき該赤外固体撮像素子２から出力
される映像データの内の少なくとも部分画面の加算平均
を取って該加算平均値に対応した最適な遮断用短波長フ
ィルタを決定し制御部４に知らせるデータ処理部５とを
備えている。
【０００９】また本発明では、上記の赤外線撮像装置に
おいて、制御部４はいずれの短波長フィルタも挿入しな
い場合と、各遮断用短波長フィルタ３−２〜３−ｎを挿
入する場合とを行い、データ処理部５がそれぞれの場合
に赤外固体撮像素子２から出力される映像データの内の
少なくとも部分画面の加算平均を取り更に各加算平均値
間の差分を取ることにより該差分に対応した最適な短波
長フィルタを決定し制御部４に知らせるようにすること
ができる。
おいて、制御部４はいずれの短波長フィルタも挿入しな
い場合と、各遮断用短波長フィルタ３−２〜３−ｎを挿
入する場合とを行い、データ処理部５がそれぞれの場合
に赤外固体撮像素子２から出力される映像データの内の
少なくとも部分画面の加算平均を取り更に各加算平均値
間の差分を取ることにより該差分に対応した最適な短波
長フィルタを決定し制御部４に知らせるようにすること
ができる。
【００１０】更に本発明では、上記の赤外線撮像装置に
おいて、データ処理部５は決定された遮断用短波長フィ
ルタを制御部４により挿入したときの該加算平均値を求
め、この加算平均値と試験用短波長フィルタ３−１を挿
入したときの加算平均値との差分を求め、該差分と設定
値との関係により該遮断用短波長フィルタの決定が正し
いか否かを判定し、正しく無いときには最適な遮断用短
波長フィルタを決定して制御部４に知らせることができ
る。
おいて、データ処理部５は決定された遮断用短波長フィ
ルタを制御部４により挿入したときの該加算平均値を求
め、この加算平均値と試験用短波長フィルタ３−１を挿
入したときの加算平均値との差分を求め、該差分と設定
値との関係により該遮断用短波長フィルタの決定が正し
いか否かを判定し、正しく無いときには最適な遮断用短
波長フィルタを決定して制御部４に知らせることができ
る。
【００１１】更に本発明では、上記の赤外線撮像装置に
おいて、データ処理部５が最適な遮断用短波長フィルタ
は不要であると判定したとき制御部４がいずれの波長フ
ィルタも挿入しないようにすることもできる。
おいて、データ処理部５が最適な遮断用短波長フィルタ
は不要であると判定したとき制御部４がいずれの波長フ
ィルタも挿入しないようにすることもできる。
【００１２】更に本発明では、上記の赤外線撮像装置に
おいて、タイマ６を設け、該タイマ６の周期によりデー
タ処理部５及び制御部４が最適な遮断用短波長フィルタ
の決定及び挿入をそれぞれ行うことができる。
おいて、タイマ６を設け、該タイマ６の周期によりデー
タ処理部５及び制御部４が最適な遮断用短波長フィルタ
の決定及び挿入をそれぞれ行うことができる。
【００１３】
【作用】図１に示す本発明の赤外線撮像装置に於いて
は、制御部４がまず試験用短波長フィルタ３−１を光学
系１と赤外固体撮像素子２との間に挿入し、この時に赤
外固体撮像素子２から出力される映像データ（温度デー
タ）がデータ処理部５に取り込まれる。
は、制御部４がまず試験用短波長フィルタ３−１を光学
系１と赤外固体撮像素子２との間に挿入し、この時に赤
外固体撮像素子２から出力される映像データ（温度デー
タ）がデータ処理部５に取り込まれる。
【００１４】このデータ処理部５では、取り込んだ映像
データの一画面分の少なくとも一部分の画面の加算平均
を取り、この加算平均値に対応した最適なフィルタを遮
断用短波長フィルタ３−２〜３−ｎの中から決定し、こ
の結果を制御部４に知らせる。すると、制御部４は最適
な遮断用短波長フィルタを光学系１と赤外固体撮像素子
２との間に挿入する様に制御を行う。
データの一画面分の少なくとも一部分の画面の加算平均
を取り、この加算平均値に対応した最適なフィルタを遮
断用短波長フィルタ３−２〜３−ｎの中から決定し、こ
の結果を制御部４に知らせる。すると、制御部４は最適
な遮断用短波長フィルタを光学系１と赤外固体撮像素子
２との間に挿入する様に制御を行う。
【００１５】この様にして太陽光の影響が最も大きい波
長帯を透過させる様にして目標のエネルギーに含まれる
太陽エネルギーを検出し、この太陽エネルギーに対応し
た遮断用短波長フィルタを挿入する事により、よりエネ
ルギーの影響を抑圧した形で目標エネルギーを得ること
ができる。
長帯を透過させる様にして目標のエネルギーに含まれる
太陽エネルギーを検出し、この太陽エネルギーに対応し
た遮断用短波長フィルタを挿入する事により、よりエネ
ルギーの影響を抑圧した形で目標エネルギーを得ること
ができる。
【００１６】上記の場合には試験用短波長フィルタ３−
１を最初に挿入したが、いずれの短波長フィルタも挿入
せずにまずデータ処理部５で光学系１から直接赤外固体
撮像素子２に与えられる赤外線を検出してその加算平均
をとり、更に制御部４が各遮断用短波長フィルタ３−２
〜３−ｎを順次挿入し、それぞれの場合に於ける同様の
加算平均値を求める。そして、これら加算平均値間の差
分を取ることによりこの差分に対応した最適な短波長フ
ィルタを決定して制御部４に知らせる。
１を最初に挿入したが、いずれの短波長フィルタも挿入
せずにまずデータ処理部５で光学系１から直接赤外固体
撮像素子２に与えられる赤外線を検出してその加算平均
をとり、更に制御部４が各遮断用短波長フィルタ３−２
〜３−ｎを順次挿入し、それぞれの場合に於ける同様の
加算平均値を求める。そして、これら加算平均値間の差
分を取ることによりこの差分に対応した最適な短波長フ
ィルタを決定して制御部４に知らせる。
【００１７】これにより制御部４は最適な遮断用短波長
フィルタを光学系１と赤外固体撮像素子２との間に挿入
する。
フィルタを光学系１と赤外固体撮像素子２との間に挿入
する。
【００１８】更に本発明では上記の様な場合の他に、決
定された遮断用短波長フィルタを制御部４が光学系１と
赤外固体撮像素子２との間に挿入しておき、この時の加
算平均値と試験用短波長フィルタ３−１を挿入した時の
加算平均値との差分を求め、この差分と設定値との関係
により上記の決定した遮断用短波長フィルタが正しい選
択であったか否かを判定すると共に正しい決定で無いと
いうことが分かった時には別の最適な遮断用短波長フィ
ルタを決定して制御部４に知らせる様にしている。
定された遮断用短波長フィルタを制御部４が光学系１と
赤外固体撮像素子２との間に挿入しておき、この時の加
算平均値と試験用短波長フィルタ３−１を挿入した時の
加算平均値との差分を求め、この差分と設定値との関係
により上記の決定した遮断用短波長フィルタが正しい選
択であったか否かを判定すると共に正しい決定で無いと
いうことが分かった時には別の最適な遮断用短波長フィ
ルタを決定して制御部４に知らせる様にしている。
【００１９】尚、上記のいずれの場合に於いてもデータ
処理部５は、最適な遮断用短波長フィルタは不要である
と判定した時には、いずれの短波長フィルタも挿入しな
い旨制御部４に知らせることができる。
処理部５は、最適な遮断用短波長フィルタは不要である
と判定した時には、いずれの短波長フィルタも挿入しな
い旨制御部４に知らせることができる。
【００２０】更に上記の場合に於いて、図１に点線で示
す様にタイマ６を設けこのタイマによって規定される周
期によりデータ処理部５及び制御部４が最適な遮断用短
波長フィルタの決定及び挿入を行う様にさせることが出
来る。
す様にタイマ６を設けこのタイマによって規定される周
期によりデータ処理部５及び制御部４が最適な遮断用短
波長フィルタの決定及び挿入を行う様にさせることが出
来る。
【００２１】
【実施例】図２は図１に示した本発明に係る赤外線撮像
装置に用いるデータ処理部５の実施例（その１）を示し
たフローチャートであり、以下、このフローチャートに
沿ってデータ処理部５の動作を説明する。尚、以下の実
施例では、試験用短波長フィルタ３−１を２．０〜２．
６μｍの波長域だけを透過する光学的フィルタとし、遮
断用短波長フィルタとして３つ（ｎ＝３）のフィルタ３
−２〜３−４を用い、それぞれ２．０〜２．８μｍ、
２．０〜３．２μｍ、２．０〜３．７μｍだけを遮断す
る光学的フィルタを用いるものとする。
装置に用いるデータ処理部５の実施例（その１）を示し
たフローチャートであり、以下、このフローチャートに
沿ってデータ処理部５の動作を説明する。尚、以下の実
施例では、試験用短波長フィルタ３−１を２．０〜２．
６μｍの波長域だけを透過する光学的フィルタとし、遮
断用短波長フィルタとして３つ（ｎ＝３）のフィルタ３
−２〜３−４を用い、それぞれ２．０〜２．８μｍ、
２．０〜３．２μｍ、２．０〜３．７μｍだけを遮断す
る光学的フィルタを用いるものとする。
【００２２】まずデータ処理部５は制御部４に制御信号
を送り、試験用短波長フィルタ３−１だけを挿入する様
に制御する（ステップＳ１）。
を送り、試験用短波長フィルタ３−１だけを挿入する様
に制御する（ステップＳ１）。
【００２３】これにより光学系１からの赤外線は最も太
陽光のエネルギーが大きい２．０〜２．６μｍの波長の
赤外線のみが通過して赤外固体撮像素子２を介しデータ
処理部５に取り込まれることとなる（ステップＳ２）。
陽光のエネルギーが大きい２．０〜２．６μｍの波長の
赤外線のみが通過して赤外固体撮像素子２を介しデータ
処理部５に取り込まれることとなる（ステップＳ２）。
【００２４】そしてデータ処理部５では、図３に示す様
に一画面分の少なくともゲートを設定した領域について
のみ映像データを取り出し、その加算を行う（ステップ
Ｓ３）。
に一画面分の少なくともゲートを設定した領域について
のみ映像データを取り出し、その加算を行う（ステップ
Ｓ３）。
【００２５】そして、この加算値の平均値Ａｖｅ(1) を
求め（ステップＳ４）、この平均値Ａｖｅ(1) を予め設
定した値Ａ１，Ｂ１，Ｃ１と比較する（ステップＳ
５）。これらの設定値Ａ１，Ｂ１，Ｃ１は図示の様な大
小関係に設定されており、この様な設定値との大小関係
を求めることにより遮断用短波長フィルタ３−２，３−
３，３−４のいずれか又はこれらの遮断用短波長フィル
タの不使用を決定することが出来る（ステップＳ６）。
求め（ステップＳ４）、この平均値Ａｖｅ(1) を予め設
定した値Ａ１，Ｂ１，Ｃ１と比較する（ステップＳ
５）。これらの設定値Ａ１，Ｂ１，Ｃ１は図示の様な大
小関係に設定されており、この様な設定値との大小関係
を求めることにより遮断用短波長フィルタ３−２，３−
３，３−４のいずれか又はこれらの遮断用短波長フィル
タの不使用を決定することが出来る（ステップＳ６）。
【００２６】即ち、ステップＳ６１〜Ｓ６３に示すよう
に、平均値Ａｖｅ(1) が設定値Ａ１以下である時には太
陽光エネルギーは小さく、従って特別にフィルタを使用
する必要が無くなり、Ａｖｅ(1) がＡ１より大きい時に
は更に設定値Ｂ１と比較し、Ｂ１以下であれば遮断用短
波長フィルタ３−２を使用し、設定値Ｂ１以上であれば
更に大きい設定値Ｃ１と比較し、この設定値Ｃ１以下で
あれば遮断用短波長フィルタ３−３を使用し、設定値Ｃ
１より大きければ最も波長帯が長いフィルタ３−４を使
用することが決定される。
に、平均値Ａｖｅ(1) が設定値Ａ１以下である時には太
陽光エネルギーは小さく、従って特別にフィルタを使用
する必要が無くなり、Ａｖｅ(1) がＡ１より大きい時に
は更に設定値Ｂ１と比較し、Ｂ１以下であれば遮断用短
波長フィルタ３−２を使用し、設定値Ｂ１以上であれば
更に大きい設定値Ｃ１と比較し、この設定値Ｃ１以下で
あれば遮断用短波長フィルタ３−３を使用し、設定値Ｃ
１より大きければ最も波長帯が長いフィルタ３−４を使
用することが決定される。
【００２７】そして、最後にデータ処理部５は制御部４
を制御して試験用短波長フィルタ３−１を抜き、上記の
決定した最適な短波長フィルタを挿入する（ステップＳ
７）。
を制御して試験用短波長フィルタ３−１を抜き、上記の
決定した最適な短波長フィルタを挿入する（ステップＳ
７）。
【００２８】尚、タイマ６を用いれば、これによって規
定される周期毎に図示の点線で示す様にステップＳ７か
らステップ１に戻り同じ動作が繰り返されることとな
る。
定される周期毎に図示の点線で示す様にステップＳ７か
らステップ１に戻り同じ動作が繰り返されることとな
る。
【００２９】図４はデータ処理部５の実施例（その２）
を示したフローチャート図であり、この実施例の場合に
はデータ処理部５はまず制御部４に対して短波長フィル
タを挿入させないようにし、この状態で映像データを赤
外固体撮像素子２から取り出してこの状態での平均値Ａ
ｖｅ(N) を算出する（ステップＳ１１）。
を示したフローチャート図であり、この実施例の場合に
はデータ処理部５はまず制御部４に対して短波長フィル
タを挿入させないようにし、この状態で映像データを赤
外固体撮像素子２から取り出してこの状態での平均値Ａ
ｖｅ(N) を算出する（ステップＳ１１）。
【００３０】次に、データ処理部５は制御部４に対して
各遮断用短波長フィルタ３−２，３−３，３−４を順次
挿入するように制御し、それぞれ挿入した時の加算平均
値Ａｖｅ(2),Ａｖｅ(3),Ａｖｅ(4) を算出する（ステッ
プＳ１２〜１４）。
各遮断用短波長フィルタ３−２，３−３，３−４を順次
挿入するように制御し、それぞれ挿入した時の加算平均
値Ａｖｅ(2),Ａｖｅ(3),Ａｖｅ(4) を算出する（ステッ
プＳ１２〜１４）。
【００３１】この後、データ処理部５は、ステップＳ１
５に示す様に平均値Ａｖｅ(N) とＡｖｅ(2) との差分値
Ａｖｅ(N-2) と、Ａｖｅ(2) とＡｖｅ(3) との差分値Ａ
ｖｅ(2-3) と、Ａｖｅ(3) とＡｖｅ(4) との差分値Ａｖ
ｅ(3-4) とをそれぞれ演算しステップＳ１５）、これら
を設定値Ａ２，Ｂ２，Ｃ２と比較する（ステップＳ１
６）。
５に示す様に平均値Ａｖｅ(N) とＡｖｅ(2) との差分値
Ａｖｅ(N-2) と、Ａｖｅ(2) とＡｖｅ(3) との差分値Ａ
ｖｅ(2-3) と、Ａｖｅ(3) とＡｖｅ(4) との差分値Ａｖ
ｅ(3-4) とをそれぞれ演算しステップＳ１５）、これら
を設定値Ａ２，Ｂ２，Ｃ２と比較する（ステップＳ１
６）。
【００３２】そして、これらの設定値Ａ２，Ｂ２，Ｃ２
とステップＳ１５で求めた差分値とを比較する事によ
り、いずれかの遮断用短波長フィルタを用いるか又はい
ずれの遮断用短波長フィルタも用いるべきでないかを決
定する。
とステップＳ１５で求めた差分値とを比較する事によ
り、いずれかの遮断用短波長フィルタを用いるか又はい
ずれの遮断用短波長フィルタも用いるべきでないかを決
定する。
【００３３】即ち、上記のステップＳ６で述べた様に、
加算平均値Ａｖｅ(N-2) と設定値Ａ２とをまず比較し、
次にＡｖｅ(2-3) と次に大きい設定値Ｂ２とを比較し、
更に平均値Ａｖｅ(3-4) と最も大きい設定値Ｃ２とを比
較し、図示の様にフィルタを使用しない場合と遮断用短
波長フィルタ３−２を使用する場合と、遮断用短波長フ
ィルタ３−３を使用する場合と、遮断用短波長フィルタ
３−４を使用する場合とに切り分ける。
加算平均値Ａｖｅ(N-2) と設定値Ａ２とをまず比較し、
次にＡｖｅ(2-3) と次に大きい設定値Ｂ２とを比較し、
更に平均値Ａｖｅ(3-4) と最も大きい設定値Ｃ２とを比
較し、図示の様にフィルタを使用しない場合と遮断用短
波長フィルタ３−２を使用する場合と、遮断用短波長フ
ィルタ３−３を使用する場合と、遮断用短波長フィルタ
３−４を使用する場合とに切り分ける。
【００３４】この実施例に於いてもタイマ６によりステ
ップＳ１１からＳ１７の動作を繰り返すことができる。
ップＳ１１からＳ１７の動作を繰り返すことができる。
【００３５】図５はデータ処理部５の実施例（その３）
を示したフローチャートで、この実施例の場合にはまず
データ処理部５は図２に示した実施例により決定される
最適なフィルタ（この場合、例えば仮に遮断用短波長フ
ィルタ３−３とする）を光学系１と赤外固体撮像素子２
との間に挿入する様に制御部４を制御する（ステップＳ
２１）。
を示したフローチャートで、この実施例の場合にはまず
データ処理部５は図２に示した実施例により決定される
最適なフィルタ（この場合、例えば仮に遮断用短波長フ
ィルタ３−３とする）を光学系１と赤外固体撮像素子２
との間に挿入する様に制御部４を制御する（ステップＳ
２１）。
【００３６】そして、ステップＳ４で求めた試験用短波
長フィルタ３−１による平均値Ａｖｅ(1) と、上記の最
適フィルタ３−３による平均値Ａｖｅ(3) との差分値Ａ
ｖｅ(1-3) を算出し（ステップＳ２２）、この平均差分
値Ａｖｅ(1-3) を設定値Ａ３及びＢ３と比較する（ステ
ップＳ２３）。これは、現在選択されている最適フィル
タ３−３による平均値Ａｖｅ(3) が試験用短波長フィル
タ３−１による平均値Ａｖｅ(1) に対してどの程度の差
が在るかどうかを吟味するためである。
長フィルタ３−１による平均値Ａｖｅ(1) と、上記の最
適フィルタ３−３による平均値Ａｖｅ(3) との差分値Ａ
ｖｅ(1-3) を算出し（ステップＳ２２）、この平均差分
値Ａｖｅ(1-3) を設定値Ａ３及びＢ３と比較する（ステ
ップＳ２３）。これは、現在選択されている最適フィル
タ３−３による平均値Ａｖｅ(3) が試験用短波長フィル
タ３−１による平均値Ａｖｅ(1) に対してどの程度の差
が在るかどうかを吟味するためである。
【００３７】この結果、差分値Ａｖｅ(1-3) が設定値Ｂ
３以下であり設定値Ａ３より大きい時には、ステップＳ
２１で挿入した短波長フィルタ３−３は正しいものであ
ったとしてそのままとする（ステップＳ２４）が、設定
値Ｂ３以上である時には（ステップＳ２５）、より波長
帯が長い短波長フィルタ３−４の方がより適していると
してフィルタ３−４を挿入する様に制御部４を制御する
（ステップＳ２６）。
３以下であり設定値Ａ３より大きい時には、ステップＳ
２１で挿入した短波長フィルタ３−３は正しいものであ
ったとしてそのままとする（ステップＳ２４）が、設定
値Ｂ３以上である時には（ステップＳ２５）、より波長
帯が長い短波長フィルタ３−４の方がより適していると
してフィルタ３−４を挿入する様に制御部４を制御する
（ステップＳ２６）。
【００３８】また、差分値Ａｖｅ(1-3) が設定値Ａ３よ
り小さい時（ステップＳ２７）には、最も波長の短いフ
ィルタ３−２を挿入する様に制御部４を制御する（ステ
ップＳ２８）。
り小さい時（ステップＳ２７）には、最も波長の短いフ
ィルタ３−２を挿入する様に制御部４を制御する（ステ
ップＳ２８）。
【００３９】但し、この時点ではいずれの短波長フィル
タも使用しない場合が考慮されておらず短波長フィルタ
３−２が最適であるかどうかはまだ分からないので、
「仮挿入」状態とし、この時の平均値Ａｖｅ(2) と上記
の平均値Ａｖｅ(3) との差分値Ａｖｅ(2-3) を求め（ス
テップＳ２９）、この差分値Ａｖｅ(2-3) と設定値Ｃ３
とを比較し、この設定値Ｃ３以下である時には短波長の
太陽光の影響が最も少ないとして試験用短波長フィルタ
３−１を抜く（ステップＳ３１）が、そうでない時には
ステップＳ２８で決定し且つ仮挿入した短波長フィルタ
３−２が最適であるとしてそのままにする（ステップＳ
３２）。
タも使用しない場合が考慮されておらず短波長フィルタ
３−２が最適であるかどうかはまだ分からないので、
「仮挿入」状態とし、この時の平均値Ａｖｅ(2) と上記
の平均値Ａｖｅ(3) との差分値Ａｖｅ(2-3) を求め（ス
テップＳ２９）、この差分値Ａｖｅ(2-3) と設定値Ｃ３
とを比較し、この設定値Ｃ３以下である時には短波長の
太陽光の影響が最も少ないとして試験用短波長フィルタ
３−１を抜く（ステップＳ３１）が、そうでない時には
ステップＳ２８で決定し且つ仮挿入した短波長フィルタ
３−２が最適であるとしてそのままにする（ステップＳ
３２）。
【００４０】尚、この実施例の場合も、タイマ６の指示
によりステップＳ２１以降の動作が繰り返されることと
なる。
によりステップＳ２１以降の動作が繰り返されることと
なる。
【００４１】
【発明の効果】以上説明した様に本発明に係る赤外線撮
像装置によれば、最初に太陽光の状態を検出しておき、
この太陽光の状態に応じて遮断短波長帯の異なった波長
フィルタの中で最適な短波長フィルタを決定し、その最
適なフィルタを光学系と赤外固体撮像素子との間に挿入
し、適宜波長フィルタを更新する様に構成したので、目
標物と背景からの赤外線エネルギーの比を最適にするこ
とが出来、より目標物の検出を正確なものにすることが
出来る。
像装置によれば、最初に太陽光の状態を検出しておき、
この太陽光の状態に応じて遮断短波長帯の異なった波長
フィルタの中で最適な短波長フィルタを決定し、その最
適なフィルタを光学系と赤外固体撮像素子との間に挿入
し、適宜波長フィルタを更新する様に構成したので、目
標物と背景からの赤外線エネルギーの比を最適にするこ
とが出来、より目標物の検出を正確なものにすることが
出来る。
【図１】本発明に係る赤外線撮像装置の原理構成を示し
たブロック図である。
たブロック図である。
【図２】本発明に係る赤外線撮像装置に用いるデータ処
理装置の実施例（その１）を示すフローチャート図であ
る。
理装置の実施例（その１）を示すフローチャート図であ
る。
【図３】本発明に係る赤外線撮像装置で取り出される画
面データを説明する為の図である。
面データを説明する為の図である。
【図４】本発明に係る赤外線撮像装置に用いるデータ処
理装置の実施例（その２）を示すフローチャート図であ
る。
理装置の実施例（その２）を示すフローチャート図であ
る。
【図５】本発明に係る赤外線撮像装置に用いるデータ処
理装置の実施例（その３）を示すフローチャート図であ
る。
理装置の実施例（その３）を示すフローチャート図であ
る。
【図６】従来例を示したブロック図である。
【図７】太陽光のエネルギーと目標からのエネルギーと
の相対関係を示すグラフ図ある。
の相対関係を示すグラフ図ある。
【図８】赤外線撮像装置の配置例を示した図である。
１ 光学系 ２ 赤外固体撮像素子 ３−１ 試験用短波長フィルタ ３−２〜３−ｎ 遮断用短波長フィルタ ４ 制御部 ５ データ処理部 ６ タイマ 図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０１Ｌ 31/0232 31/052 31/18 7210−4Ｍ 7376−4Ｍ Ｈ０１Ｌ 31/04 Ｇ
Claims (5)
- 【請求項１】 光学系(1) と赤外固体撮像素子(2) との
間に挿入されて該光学系(1) からの赤外線の波長帯の
内、該赤外固体撮像素子(2) の応答波長域内の太陽光の
影響を最も受け易い短波長帯だけを透過させる１つの試
験用短波長フィルタ(3-1) 及び該短波長帯から順次長く
なる波長帯をそれぞれ遮断する複数の遮断用短波長フィ
ルタ(3-2〜3-n)と、 いずれかの短波長フィルタを選択挿入する制御部(4)
と、 該制御部(4) が最初に該試験用短波長フィルタ(3-1) を
選択挿入したとき該赤外固体撮像素子(2) から出力され
る映像データの内の少なくとも部分画面の加算平均を取
って該加算平均値に対応した最適な遮断用短波長フィル
タを決定し該制御部(4) に知らせるデータ処理部(5)
と、 を備えたことを特徴とする赤外線撮像装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の赤外線撮像装置におい
て、該制御部(4) はいずれの短波長フィルタも挿入しな
い場合と、各遮断用短波長フィルタ(3-2〜3-n)を挿入す
る場合とを行い、該データ処理部(5) がそれぞれの場合
に該赤外固体撮像素子(2) から出力される映像データの
内の少なくとも部分画面の加算平均を取り更に各加算平
均値間の差分を取ることにより該差分に対応した最適な
短波長フィルタを決定し該制御部(4) に知らせることを
特徴とした赤外線撮像装置。 - 【請求項３】 請求項１に記載の赤外線撮像装置におい
て、該データ処理部(5) が該決定された遮断用短波長フ
ィルタを該制御部(4) により挿入したときの該加算平均
値を求め、この加算平均値と該試験用短波長フィルタ(3
-1) を挿入したときの加算平均値との差分を求め、該差
分と設定値との関係により該遮断用短波長フィルタの決
定が正しいか否かを判定し、正しく無いときには最適な
遮断用短波長フィルタを決定して該制御部(4) に知らせ
ることを特徴とした赤外線撮像装置。 - 【請求項４】 請求項１乃至３のいずれかに記載の赤外
線撮像装置において、該データ処理部(5) が最適な遮断
用短波長フィルタは不要であると判定したとき該制御部
(4) がいずれの短波長フィルタも挿入しないことを特徴
とした赤外線撮像装置。 - 【請求項５】 請求項１乃至４のいずれかに記載の赤外
線撮像装置において、タイマ(6) を設け、該タイマ(6)
の周期により該データ処理部(5) 及び制御部(4) が最適
な遮断用短波長フィルタの決定及び挿入をそれぞれ行う
ことを特徴とした赤外線撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4002389A JPH05191728A (ja) | 1992-01-09 | 1992-01-09 | 赤外線撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4002389A JPH05191728A (ja) | 1992-01-09 | 1992-01-09 | 赤外線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05191728A true JPH05191728A (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11527880
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4002389A Withdrawn JPH05191728A (ja) | 1992-01-09 | 1992-01-09 | 赤外線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05191728A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5986785A (en) * | 1996-03-14 | 1999-11-16 | Nec Corporation | Electronic apparatus with optical communication capability |
| JP2016517970A (ja) * | 2013-04-10 | 2016-06-20 | ディーシージー システムズ、 インコーポレイテッドＤｃｇ Ｓｙｓｔｅｍｓ Ｉｎｃ． | Ｖｌｓｉ装置用の最適波長光子放射顕微鏡［関連出願の参照］本出願は、２０１３年４月１０日に出願された米国仮出願第６１／８１０，６４５号の優先権利益を主張し、そのすべての内容が本明細書に参考として援用される。 |
| CN106842537A (zh) * | 2015-10-05 | 2017-06-13 | Fei公司 | 用于超大规模集成电路设备的经优化的波长光子发射显微镜 |
| WO2019124084A1 (ja) * | 2017-12-18 | 2019-06-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 誘導加熱装置 |
| US10514418B2 (en) | 2013-04-10 | 2019-12-24 | Fei Company | Optimized wavelength photon emission microscope for VLSI devices |
-
1992
- 1992-01-09 JP JP4002389A patent/JPH05191728A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5986785A (en) * | 1996-03-14 | 1999-11-16 | Nec Corporation | Electronic apparatus with optical communication capability |
| JP2016517970A (ja) * | 2013-04-10 | 2016-06-20 | ディーシージー システムズ、 インコーポレイテッドＤｃｇ Ｓｙｓｔｅｍｓ Ｉｎｃ． | Ｖｌｓｉ装置用の最適波長光子放射顕微鏡［関連出願の参照］本出願は、２０１３年４月１０日に出願された米国仮出願第６１／８１０，６４５号の優先権利益を主張し、そのすべての内容が本明細書に参考として援用される。 |
| US10514418B2 (en) | 2013-04-10 | 2019-12-24 | Fei Company | Optimized wavelength photon emission microscope for VLSI devices |
| CN106842537A (zh) * | 2015-10-05 | 2017-06-13 | Fei公司 | 用于超大规模集成电路设备的经优化的波长光子发射显微镜 |
| WO2019124084A1 (ja) * | 2017-12-18 | 2019-06-27 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 誘導加熱装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |