JPH05190097A - 電子銃検査装置 - Google Patents
電子銃検査装置Info
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- JPH05190097A JPH05190097A JP631092A JP631092A JPH05190097A JP H05190097 A JPH05190097 A JP H05190097A JP 631092 A JP631092 A JP 631092A JP 631092 A JP631092 A JP 631092A JP H05190097 A JPH05190097 A JP H05190097A
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- Japan
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- electron gun
- interval
- cathode
- gun assembly
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Abstract
(57)【要約】
【目的】
【構成】 各電極を位置決めしてなる電子銃組立体を固
定保持する固定保持部９と、第１電極および第２電極の
各電子ビーム通過孔を出入移動する測定ノズル８と、上
記電子銃組立体の第１電極３と第２電極４の間隔を測定
するマイクロメータ１０と、上記電子銃組立体の陰極１
と第１電極３の間隔を測定する上記マイクロメータ１０
とエアーマイクロメータ１６により構成されている。 【効果】 第１電極と第２電極の間隔のばらつきによる
検査精度の劣化がなく、高精度の検査が可能で、第１電
極の孔径の小さくても検査できる。
定保持する固定保持部９と、第１電極および第２電極の
各電子ビーム通過孔を出入移動する測定ノズル８と、上
記電子銃組立体の第１電極３と第２電極４の間隔を測定
するマイクロメータ１０と、上記電子銃組立体の陰極１
と第１電極３の間隔を測定する上記マイクロメータ１０
とエアーマイクロメータ１６により構成されている。 【効果】 第１電極と第２電極の間隔のばらつきによる
検査精度の劣化がなく、高精度の検査が可能で、第１電
極の孔径の小さくても検査できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、たとえば、陰極線管
に内装される電子銃を検査する場合に用いられる電子銃
検査装置に関するものである。
に内装される電子銃を検査する場合に用いられる電子銃
検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図５は従来の電子銃検査装置の概略図で
あり、同図において、１は陰極、３は第１電極、４は第
２電極、５，６は第３電極、第４電極で、上記陰極１は
陰極サポート２を介してビードガラス７に位置決めし、
かつその他の電極３〜６はビードガラス７に、直接、そ
れぞれ位置決め保持することにより、電子銃組立体１７
を構成している。１６はエアーマイクロメータで、測定
ノズル８に接続されている。電子銃組立体の固定保持部
９は上記測定ノズル８と一体となっている。
あり、同図において、１は陰極、３は第１電極、４は第
２電極、５，６は第３電極、第４電極で、上記陰極１は
陰極サポート２を介してビードガラス７に位置決めし、
かつその他の電極３〜６はビードガラス７に、直接、そ
れぞれ位置決め保持することにより、電子銃組立体１７
を構成している。１６はエアーマイクロメータで、測定
ノズル８に接続されている。電子銃組立体の固定保持部
９は上記測定ノズル８と一体となっている。
【０００３】つぎに、上記構成の動作を図６により説明
する。電子銃組立体１７に測定ノズル８（固定保持部
９）を挿入する。図６で明示するように、第２電極４の
第３電極５側で電子銃組立体１７を保持し、エアーマイ
クロメータ１６の計測値、つまり、測定ノズル８の先端
部８ａから陰極１までの距離（ＬＫ）を測定し、検査す
る。これは、第２電極４から陰極１までの距離（Ｌ４）
を測定検査するのとほぼ同じことを意味する。
する。電子銃組立体１７に測定ノズル８（固定保持部
９）を挿入する。図６で明示するように、第２電極４の
第３電極５側で電子銃組立体１７を保持し、エアーマイ
クロメータ１６の計測値、つまり、測定ノズル８の先端
部８ａから陰極１までの距離（ＬＫ）を測定し、検査す
る。これは、第２電極４から陰極１までの距離（Ｌ４）
を測定検査するのとほぼ同じことを意味する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】電子銃組立体１７の第
２電極４と陰極１の間隔が一定であっても、第１電極３
と第２電極４の間隔が設定間隔から大きくずれた場合に
は、カットオフ不良となるか、従来の電子銃検査装置に
おいては、これを検出することができないという不都合
があった。
２電極４と陰極１の間隔が一定であっても、第１電極３
と第２電極４の間隔が設定間隔から大きくずれた場合に
は、カットオフ不良となるか、従来の電子銃検査装置に
おいては、これを検出することができないという不都合
があった。
【０００５】この発明は、上記の課題を解決するために
なされたもので、第１電極と第２電極の間隔が、設定間
隔から大きくずれた場合でも、これを検出することがで
き、高精度の検査を可能とした電子銃検査装置を提供す
ることを目的とする。
なされたもので、第１電極と第２電極の間隔が、設定間
隔から大きくずれた場合でも、これを検出することがで
き、高精度の検査を可能とした電子銃検査装置を提供す
ることを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、この発明による電子銃検査装置では、陰極、第１電
極、第２電極およびその他の電極を位置決めしてなる電
子銃組立体を固定保持する手段と、上記電子銃組立体の
第１電極と第２電極の各電子ビーム通過孔をその先端が
出入移動可能となった測定ノズルと、この測定ノズルを
移動させるための駆動装置と、上記電子銃組立体の第１
電極と第２電極の間隔を測定する手段と、上記電子銃組
立体の陰極と第１電極の間隔を測定する手段と、それら
の測定手段により得た測定値を演算する手段とを具備
し、上記第１電極と第２電極の間隔と、陰極と第１電極
の間隔を測定し、それらの測定値を演算できるように構
成してある。
め、この発明による電子銃検査装置では、陰極、第１電
極、第２電極およびその他の電極を位置決めしてなる電
子銃組立体を固定保持する手段と、上記電子銃組立体の
第１電極と第２電極の各電子ビーム通過孔をその先端が
出入移動可能となった測定ノズルと、この測定ノズルを
移動させるための駆動装置と、上記電子銃組立体の第１
電極と第２電極の間隔を測定する手段と、上記電子銃組
立体の陰極と第１電極の間隔を測定する手段と、それら
の測定手段により得た測定値を演算する手段とを具備
し、上記第１電極と第２電極の間隔と、陰極と第１電極
の間隔を測定し、それらの測定値を演算できるように構
成してある。
【０００７】
【作用】この発明によれば、電子銃組立体の第１電極と
第２電極の間隔と、陰極と第１電極の間隔を測定し、そ
れらの測定値を演算し、検査するため、電子銃組立体の
第１電極と第２電極の間隔のばらつきによる検査精度の
劣化がなく、従来に比べて検査精度が向上する。
第２電極の間隔と、陰極と第１電極の間隔を測定し、そ
れらの測定値を演算し、検査するため、電子銃組立体の
第１電極と第２電極の間隔のばらつきによる検査精度の
劣化がなく、従来に比べて検査精度が向上する。
【０００８】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面により説明
する。図１はこの発明の一実施例による電子銃検査装置
の概略構成図、図２は電子銃組立体の断面図である。
する。図１はこの発明の一実施例による電子銃検査装置
の概略構成図、図２は電子銃組立体の断面図である。
【０００９】同図において、１は陰極、３は第１電極、
４は第２電極、５，６は第３、第４電極で、上記陰極１
は陰極サポート２を介してビードガラス７に位置決め
し、かつその他の電極３〜６は図３で示すように、ビー
ドガラス７に、直接、それぞれの位置決め保持すること
により、電子銃組立体１７を構成している。
４は第２電極、５，６は第３、第４電極で、上記陰極１
は陰極サポート２を介してビードガラス７に位置決め
し、かつその他の電極３〜６は図３で示すように、ビー
ドガラス７に、直接、それぞれの位置決め保持すること
により、電子銃組立体１７を構成している。
【００１０】９は電子銃組立体を固定保持するための固
定保持部で、図２で示す電子銃組立体１７を位置決めす
る筒状の位置決め軸９Ａと、後述するマイクロメータ１
０の取付フランジ部９Ｂとからなる。８は測定ノズル
で、上記筒状の位置決め軸９Ａ内にあり、その先端が図
２で示す第１電極３、第２電極４の電子ビーム通過孔３
ａ，４ａに対して入出できるように、図１で示す駆動装
置１２を介して矢印（Ｘ−Ｙ）方向に移動可能に構成さ
れている。１６はエアーマイクロメータで、上記測定ノ
ズル８に接続されている。
定保持部で、図２で示す電子銃組立体１７を位置決めす
る筒状の位置決め軸９Ａと、後述するマイクロメータ１
０の取付フランジ部９Ｂとからなる。８は測定ノズル
で、上記筒状の位置決め軸９Ａ内にあり、その先端が図
２で示す第１電極３、第２電極４の電子ビーム通過孔３
ａ，４ａに対して入出できるように、図１で示す駆動装
置１２を介して矢印（Ｘ−Ｙ）方向に移動可能に構成さ
れている。１６はエアーマイクロメータで、上記測定ノ
ズル８に接続されている。
【００１１】１０はマイクロメータで、上記固定保持部
９の取付フランジ部９Ｂに取り付けられるとともに、演
算装置１１が接続されている。１３は光源で、第１電極
３と第２電極４との間の一側部に配置されている。
９の取付フランジ部９Ｂに取り付けられるとともに、演
算装置１１が接続されている。１３は光源で、第１電極
３と第２電極４との間の一側部に配置されている。
【００１２】１４は撮像装置で、光源１３と反対側の一
側部に配置されており、１５は上記撮像装置１４に接続
された画像表示部としてのモニタである。
側部に配置されており、１５は上記撮像装置１４に接続
された画像表示部としてのモニタである。
【００１３】つぎに、上記構成の動作について説明す
る。電子銃組立体１７に、固定保持部９の位置決め軸９
Ａを挿入することにより、この電子銃組立体１７を固定
保持部９に位置決め固定保持する。
る。電子銃組立体１７に、固定保持部９の位置決め軸９
Ａを挿入することにより、この電子銃組立体１７を固定
保持部９に位置決め固定保持する。
【００１４】この状態で、駆動装置１２を介して測定ノ
ズル８を矢印Ｘ方向に移動させ、図３で示すように、測
定ノズル８の先端部８ａから中間部８ｂを第１電極３、
第２電極４の電子ビーム通過孔３ａ，４ａに挿入する。
ズル８を矢印Ｘ方向に移動させ、図３で示すように、測
定ノズル８の先端部８ａから中間部８ｂを第１電極３、
第２電極４の電子ビーム通過孔３ａ，４ａに挿入する。
【００１５】このとき、モニタ１５上に、光源１３から
の光が第２電極４の面に反射してできる図４で示すよう
な電子ビーム通過孔４ａの像１９から測定ノズル８の先
端部８ａのシルエット１７がわずかに見えるようにす
る。
の光が第２電極４の面に反射してできる図４で示すよう
な電子ビーム通過孔４ａの像１９から測定ノズル８の先
端部８ａのシルエット１７がわずかに見えるようにす
る。
【００１６】上記の測定ノズル８のシルエット１７の先
端１７ａと第１電極３のシルエット１８との距離（Ｉ）
が零となるまでの距離、すなわち、図３で明示したよう
に、第１電極３と第２電極４との対抗面の間隔（Ｌ１）
をマイクロメータ１０で測定し、その測定データを演算
装置１１に印加する。
端１７ａと第１電極３のシルエット１８との距離（Ｉ）
が零となるまでの距離、すなわち、図３で明示したよう
に、第１電極３と第２電極４との対抗面の間隔（Ｌ１）
をマイクロメータ１０で測定し、その測定データを演算
装置１１に印加する。
【００１７】つづいて、駆動装置１２を介して上記測定
ノズル８を矢印Ｘ方向に移動させ、エアーマイクロメー
タ１６の計測値があらかじめ、決められた値（ｎ）にな
るまでの距離、すなわち、図３で明示したように、陰極
１と第１電極３との対抗面の間隔（Ｌ２）に第１電極３
の板厚（ｔ）を加算し、一定値（ｍ）を減算した値（Ｌ
３）をマイクロメータ１０で測定し、その測定データを
演算装置１１に印加する。
ノズル８を矢印Ｘ方向に移動させ、エアーマイクロメー
タ１６の計測値があらかじめ、決められた値（ｎ）にな
るまでの距離、すなわち、図３で明示したように、陰極
１と第１電極３との対抗面の間隔（Ｌ２）に第１電極３
の板厚（ｔ）を加算し、一定値（ｍ）を減算した値（Ｌ
３）をマイクロメータ１０で測定し、その測定データを
演算装置１１に印加する。
【００１８】一定値（ｍ）とは、エアーマイクロメータ
１６の値が（ｎ）となったときの測定ノズルの先端８ａ
と陰極１の端面１ａとの間隔であり、一度測定しておけ
ばよい。
１６の値が（ｎ）となったときの測定ノズルの先端８ａ
と陰極１の端面１ａとの間隔であり、一度測定しておけ
ばよい。
【００１９】上記した２つの測定データおよび第１電極
３の板厚（ｔ）と孔径（φＤ）からカットオフ回帰予想
電圧値（ＣＯＥＣ２）を、演算装置１１により計算し、
検査する。
３の板厚（ｔ）と孔径（φＤ）からカットオフ回帰予想
電圧値（ＣＯＥＣ２）を、演算装置１１により計算し、
検査する。
【００２０】なお、第１電極３の板厚（ｔ）と孔径（φ
Ｄ）を個々に測定するのは困難であるため、実用上、第
１電極３の製造ロット毎にサンプリングし、平均値を求
め、そのロットを使用した電子銃組立体１７を検査する
場合には、その平均値を使用する。カットオフ回帰予想
電圧値は、次式で表される。
Ｄ）を個々に測定するのは困難であるため、実用上、第
１電極３の製造ロット毎にサンプリングし、平均値を求
め、そのロットを使用した電子銃組立体１７を検査する
場合には、その平均値を使用する。カットオフ回帰予想
電圧値は、次式で表される。
【００２１】ＣＯＥＣ２＝Ｋ＊ｔ／ＫφＤ＾３＊（Ｌ１
＋Ａ）＊（Ｌ２−ｔ＋Ｂ）＋Ｃ
＋Ａ）＊（Ｌ２−ｔ＋Ｂ）＋Ｃ
【００２２】また、第１電極３または第２電極４の電子
ビーム通過孔３ａ，４ａの孔径が小さくなると、測定ノ
ズル８の孔径も小さくなるため、エアーマイクロメータ
１６の感応範囲（測定範囲）が小さくなり、従来の検査
方法では、第１電極３または第２電極４の電子ビーム通
過孔３ａ，４ａの孔径の小さな電子銃組立体１７に対し
ては、実用的でないなどの不都合があったが、この検査
方法では、測定ノズル８は図１の矢印（ＸＹ）方向に移
動可能であるため、第１電極３または第２電極４の電子
ビーム通過孔３ａ，４ａの孔径が小さくても十分検査可
能である。
ビーム通過孔３ａ，４ａの孔径が小さくなると、測定ノ
ズル８の孔径も小さくなるため、エアーマイクロメータ
１６の感応範囲（測定範囲）が小さくなり、従来の検査
方法では、第１電極３または第２電極４の電子ビーム通
過孔３ａ，４ａの孔径の小さな電子銃組立体１７に対し
ては、実用的でないなどの不都合があったが、この検査
方法では、測定ノズル８は図１の矢印（ＸＹ）方向に移
動可能であるため、第１電極３または第２電極４の電子
ビーム通過孔３ａ，４ａの孔径が小さくても十分検査可
能である。
【００２３】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、電子
銃組立体を、高精度に検査することができるとともに、
第１電極または第２電極の電子ビーム通過孔の孔径が小
さくても十分検査可能となるという効果がある。
銃組立体を、高精度に検査することができるとともに、
第１電極または第２電極の電子ビーム通過孔の孔径が小
さくても十分検査可能となるという効果がある。
【図１】この発明の一実施例による電子銃検査装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【図２】電子銃組立体の断面図である。
【図３】検査動作を説明するための要部の拡大断面図で
ある。
ある。
【図４】モニタ上の映像図である。
【図５】従来の電子銃検査装置の概略図である。
【図６】従来の検査動作を説明するための要部の拡大断
面図である。
面図である。
１ 陰極 ３ 第１電極 ４ 第２電極 ８ 測定ノズル ９ 固定保持部 １０ マイクロメータ １１ 演算装置 １６ エアーマイクロメータ
Claims (1)
- 【請求項１】 陰極、第１電極、第２電極およびその他
の電極を位置決めしてなる電子銃組立体を固定保持する
手段と、上記電子銃組立体の第１電極と第２電極の各電
子ビーム通過孔をその先端が出入移動可能となった測定
ノズルと、この測定ノズルを移動させるための駆動装置
と、上記電子銃組立体の第１電極と第２電極の間隔を測
定する手段と、上記電子銃組立体の陰極と第１電極の間
隔を測定する手段と、それらの測定手段により得た測定
値を演算する手段とを具備したことを特徴とする電子銃
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP631092A JP2807116B2 (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 電子銃検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP631092A JP2807116B2 (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 電子銃検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05190097A true JPH05190097A (ja) | 1993-07-30 |
| JP2807116B2 JP2807116B2 (ja) | 1998-10-08 |
Family
ID=11634802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP631092A Expired - Fee Related JP2807116B2 (ja) | 1992-01-17 | 1992-01-17 | 電子銃検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2807116B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000034113A (ko) * | 1998-11-27 | 2000-06-15 | 김영남 | 칼라음극선관의 전자총 제2그리드와 캐소드의 간격 자동측정장치 |
-
1992
- 1992-01-17 JP JP631092A patent/JP2807116B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000034113A (ko) * | 1998-11-27 | 2000-06-15 | 김영남 | 칼라음극선관의 전자총 제2그리드와 캐소드의 간격 자동측정장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2807116B2 (ja) | 1998-10-08 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
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