JPH05188082A - 半導体検出装置 - Google Patents

半導体検出装置

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JPH05188082A
JPH05188082A JP2474292A JP2474292A JPH05188082A JP H05188082 A JPH05188082 A JP H05188082A JP 2474292 A JP2474292 A JP 2474292A JP 2474292 A JP2474292 A JP 2474292A JP H05188082 A JPH05188082 A JP H05188082A
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JP
Japan
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hybrid
sensor package
circuit board
hole
guide
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JP2474292A
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Masayoshi Onishi
正義 大西
Naoto Umemaru
尚登 梅丸
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Mitsubishi Electric Corp
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Mitsubishi Electric Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 平面上の占有スペースを小さくし、半導体セ
ンサパッケージとハイブリッドIC部の雰囲気温度差を
なくし、高精度な特性を維持する。また、ハイブリッド
ICの回路基板への組立てを容易にする。 【構成】 回路基板10上の半導体センサパッケージ1
1の側周を囲って案内体24を回路基板10に係止手段
で固定し、配線板下面に装着したIC部22をセンサパ
ッケージ上方に近接させたハイブリッドIC20のリー
ド23を、案内体24の案内穴24dに入口の傾斜導入
部24eを経て通し、回路基板10のスルーホール10
bに挿入している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、回路基板にセンサパ
ッケージとハイブリッドICを組立てた、半導体検出装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図3は例えば実開昭62−192234
号公報に示された、従来の半導体圧力検出装置の断面図
である。1は合成樹脂成形品からなる基台、2はこの基
台上に気密に取付けられたカバー、3は基台1上に固定
された回路基板、4は回路基板上に取付けられた半導体
圧力センサパッケージで、大気導入孔1aからの大気が
上部から導入され、導通孔1bから被検出の圧力気体が
下方から導かれ、圧力を検出する。5は回路基板3上に
固定され増幅回路をなすハイブリッドICである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の半
導体圧力検出装置では、回路基板3上に圧力センサパッ
ケージ4とハイブリッドIC5が平面方向に装着されて
おり、高さ方向は比較的低くできるが、平面方向の占有
スペースが大きくなるという問題点があった。また、圧
力センサパッケージ4とハイブリッドIC5との間に雰
囲気温度差が生じやすく、センサとハイブリッドIC5
を精密に特性合わせ込みの調整しても、実機使用で雰囲
気温度差が生じ、精度を低下するという問題点があっ
た。さらに、ハイブリッドIC5はリードが多数出され
ており、取扱い中にリードが小角度倒れることがある。
このため、リードを回路基板3のスルーホールに差込む
のに合わないことがあり、組立ての作業性を低下すると
いう問題点があった。
【0004】この発明は、このような問題点を解決する
ためになされたもので、平面上の占有スペースを小さく
し、半導体センサパッケージとハイブリッドIC部の雰
囲気温度差をなくし、高精度な特性が維持され、また、
ハイブリッドICの回路基板への組立ての作業性を向上
した半導体検出装置を得ることを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明にかかる半導体
検出装置は、回路基板上に半導体センサパッケージを装
着し、このセンサパッケージの側周を囲い案内体を回路
基板に係止手段で固定し、ハイブリッドICの配線板下
面に装着されたIC部をセンサパッケージ上方に近接さ
せ、配線板の両端から下方に出された各リードを、案内
体の対応する各傾斜導入部に沿わせ案内穴に通し回路基
板の各スルーホールに挿入するようにしたものである。
【0006】
【作用】この発明においては、半導体センサパッケージ
上方に近接してハイブリッドICのIC部が配置されて
おり、平面上の占有スペースが小さくなるとともに、双
方の雰囲気温度がほぼ同一となり、高精度な特性が得ら
れる。さらに、ハイブリッドICのリードに倒れがあっ
ても、入口の各傾斜導入部に導かれて案内穴に通され、
回路基板の各スルーホールに容易に挿入され、組立ての
作業性が向上される。
【0007】
【実施例】図1はこの発明の一実施例による半導体検出
装置を示し、(A)は正面断面図で、(B)は側面断面図であ
る。図において、10は回路基板、11は半導体センサ
パッケージ(以下「センサパッケージ」と称する)で、
半導体センサとして加速度センサの場合を示し、次のよ
うに構成されている。12は半導体チップで、基板13
上に固着された台座14上に一端が固着され、他端に重
り15が固着されている。16は基板13上に固着され
たカバーである。センサパッケージ11は絶縁板18を
介し回路基板10上に固着され、複数のリード17がガ
ラス絶縁封止されて下方に出されている。
【0008】次に、20はハイブリッドICで、電子部
品(図示は略す)を装着した配線板21の下部には、I
C部22が固着され、センサパッケージ11上方に近接
している。配線板21の両端から多数のリード23が下
方に出されている。
【0009】24は合成樹脂成形品からなる案内体で、
穴部24aでセンサパッケージ16の側周を囲ってい
る。案内体24の両端から下方に出された1対の係合爪
部24bが、回路基板10に設けられた1対の係止穴1
0aに挿入されてから、下面に係止され固定されてい
る。
【0010】図2に案内体24を平面図で示し、両側に
上方に突出する案内突起部24cが設けられ、下部側に
は各リード23を通す多数の案内穴24dが設けられ、
この入口側には上方が広くされた傾斜導入部24eが形
成されている。
【0011】回路基板10上へセンサパッケージ11と
ハイブリッドIC20を組立てるには、次のようにす
る。図1のように、まず、回路基板10上へ絶縁板18
を介しセンサパッケージ11を固定し、各リード17を
下方に出す。つづいて、案内体24を穴部24aでカバ
ー16の側周にはめ、下部のつば部を押付け、両係合爪
部24bを回路基板10の係止穴10aに通し、下面に
係止する。ついで、ハイブリッドIC20を下降し、各
リード23を対応する各案内穴24dの傾斜導入部24
eに差込む。各リード23の先端部は入口の傾斜導入部
24eに案内され案内穴24dに通され、回路基板10
の各スルーホル10bに容易に挿入される。各リード2
3の先端は、回路基板10下面の配線にそれぞれはんだ
付け接合される。
【0012】ハイブリッドIC20の各リード23は、
取扱い中に少し倒れることがある。これを図1(C)に示
し、リード23の先端側が実線のように角度θ倒れてい
る。ハイブリッドIC20を下降すると、各リード23
の下端部は案内体24の傾斜導入部24eに導かれて案
内穴24dに通され倒れが矯正され、スルーホール10
bに円滑に挿入される。
【0013】回路基板10にセンサパッケージ11、ハ
イブリッドIC20が組立てられた半導体検出装置は、
合成樹脂成形品からなる基台とカバーとによる容器に収
容されるが、図示は略する。
【0014】なお、上記実施例ではセンサパッケージ1
1は半導体センサとして、加速度センサの場合を示した
が、これに限らず、例えば半導体圧力センサの場合にも
適用できるものである。
【0015】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、回路
基板上にセンサパッケージを装着し、このセンサパッケ
ージの側周を囲って案内体を回路基板に係止手段で固定
し、ハイブリッドICのIC部をセンサパッケージ上方
に近接して配置し、ハイブリッドICの各リードの先端
部を案内体の各案内穴に入口の傾斜案内部を経て通し、
回路基板のスルーホールに挿入するようにしたので、横
方向の外形が縮小され、また、センサパッケージの半導
体センサとハイブリッドICのIC部との雰囲気温度差
がほぼ同一となり、高精度な特性が維持される。さら
に、ハイブリッドICの組込みの作業性が向上される。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例による半導体検出装置を示
し、(A)は正面断面図、(B)は(A)のB−B線における断
面図、(C)は(A)の案内体の案内穴部のリードの案内を示
す拡大断面図である。
【図2】(A)は図1(A)の案内体の平面図、(B)は(A)のB
−B線における拡大断面図である。
【図3】従来の半導体圧力検出装置の正面断面図であ
る。
【符号の説明】
10 回路基板 10a 係止穴 10b スルーホール 11 半導体センサパッケージ 20 ハイブリッドIC 21 配線板 22 IC部 23 リード 24 案内体 24b 係止爪部 24c 案内突起部 24d 案内穴 24e 傾斜導入部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回路基板、この回路基板上に装着された
    半導体センサパッケージ、合成樹脂成形品からなり、上
    記半導体センサパッケージの側周を囲い、両側の上方に
    突出する案内突起部に多数の案内穴が設けられ、この案
    内穴には上部側に入口側を広くした傾斜導入部が形成さ
    れており、上記回路基板に係止手段により固定された案
    内体、及び電子部品が装着された配線板と、この配線板
    の下面に取付けられ、上記半導体センサパッケージ上方
    に近接するIC部と、上記配線板の両端からそれぞれ下
    方に出された多数のリードとからなるハイブリッドIC
    を備え、このハイブリッドICの各リードは先端部が、
    上記案内体の対応する傾斜導入部に導かれ案内穴に通さ
    れ、上記回路基板の各スルーホールに挿入されたことを
    特徴とする半導体検出装置。
JP2474292A 1992-01-14 1992-01-14 半導体検出装置 Expired - Fee Related JP2840154B2 (ja)

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