JPH05177371A - レーザ装置 - Google Patents

レーザ装置

Info

Publication number
JPH05177371A
JPH05177371A JP3358813A JP35881391A JPH05177371A JP H05177371 A JPH05177371 A JP H05177371A JP 3358813 A JP3358813 A JP 3358813A JP 35881391 A JP35881391 A JP 35881391A JP H05177371 A JPH05177371 A JP H05177371A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
light
reflection mirror
mirror
laser beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3358813A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2781823B2 (ja
Inventor
Kaoru Nakayama
薫 中山
Shingo Harada
真吾 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Miyachi Technos Corp
Original Assignee
Miyachi Technos Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miyachi Technos Corp filed Critical Miyachi Technos Corp
Priority to JP3358813A priority Critical patent/JP2781823B2/ja
Publication of JPH05177371A publication Critical patent/JPH05177371A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2781823B2 publication Critical patent/JP2781823B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Lasers (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)

Abstract

(57)【要約】 [目的]反射ミラーを透過する光を利用してレーザ出力
を測定する機能を備えたレーザ装置において、変動が小
さく高精度な測定値を得るようにする。 [構成]反射ミラー10の光反射膜12を設けた前側境
界面10aは、出力ミラー208に対してほぼ平行に向
き合い、後側境界面10bは前側境界面10aに対して
θ(たとえば1゜)だけ傾いたテーパ面に構成され、光
電変換素子102の受光面に対して斜めに向き合う。Y
AGロッド202側より反射ミラー10内に入ったレー
ザ光LB1 のうちの一部(LB2 )は、レーザ光軸に沿
って反射ミラー10の後側境界面10bを通り抜け、後
方の光電変換素子102の受光面に入射する。反射ミラ
ー10内で内部反射を繰り返して反射ミラー10の後側
境界面10bより外へ出た光LB4 は、レーザ光軸に対
して大きく傾いた角度で斜め方向に進み、レーザ光軸上
の光電変換素子102の受光面には入射しない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ発振器より出力
されるレーザ光の出力を測定する機能を備えたレーザ装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ光を利用して溶接、切断等の加工
を行うレーザ加工装置等では、加工品質を管理するため
に、レーザ発振器より出力されるレーザ光の光強度(パ
ワー)を測定し、そのレーザ光強度測定値を表示パネル
に表示したり、監視値と比較したり、あるいはレーザ出
力制御のフィードバックに用いたりしている。
【0003】この種のレーザ装置においては、レーザ発
振器より出力される強力なレーザ光を光電変換素子等の
光検出手段に直接受光させるわけにはいかないので、レ
ーザ光の一部を取り出してそれを受光させるようにして
いる。このようなモニタ方式として、出力ミラーより外
のレーザ光路上にガラス板を斜めに傾けて挿入し、レー
ザ光の一部を該ガラス板にて所定方向に反射させ、その
反射光を光検出手段に受光させる方式(第1の方式)、
あるいは反射ミラーの後方の光軸上に光検出手段を配置
して、反射ミラーより漏れた(反射ミラーを透過した)
レーザ光を光検出手段に受光させる方式(第2の方式)
がよく用いられている。
【0004】図6に、第2のモニタ方式を用いる従来の
レーザ装置の要部の構成を示す。図6において、202
はレーザ媒体たとえばYAGロッド、206は反射ミラ
ー、102はレーザ光の光強度を測定するための光検出
手段(光センサ)たとえば光電変換素子である。YAG
ロッド202は、励起ランプ(図示せず)からの光によ
ってレーザ発振し、両端面よりレーザ光を出射する。Y
AGロッド202の両端面より出たレーザ光は、反射ミ
ラー206と出力ミラー(図示せず)との間で反射を繰
り返して増幅され、出力ミラーから抜け出るようになっ
ている。
【0005】反射ミラー206のYAGロッド202と
対向する面には、光反射性の膜210が設けられ、YA
Gロッド202からのレーザ光LBの大部分はこの光反
射膜210の表面でロッド102側へ反射される。しか
し、わずかであるが、レーザ光LBの一部がこの反射膜
210を透過し、その透過したレーザ光LB’は反射ミ
ラー206の後側境界面206bからレーザ光軸上に出
て後方の光電変換素子102の受光面に入射する。
【0006】光電変換素子102は、受光したレーザ光
LB’の光強度に対応した電流(光電流)の信号を出力
する。光電変換素子102の出力信号は、レーザ光LB
の光強度測定値を求めるための信号処理回路(図示せ
ず)へ供給される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、反射ミ
ラー206表面の光反射膜210を透過したレーザ光の
うち、大部分(LB’)が反射ミラー206の後側境界
面206bをそのまま通り抜けてレーザ光軸上に出る
が、一部は反射ミラー206の後側境界面206bでミ
ラー内側へ反射され、その反射光が光反射膜210の裏
面でミラー内側へ反射され、このような内部反射が反射
ミラー206内で繰り返される。そして、ミラー後側境
界面206bより外へ抜け出た光LBn が、レーザ光路
に沿って直進し、光電変換素子102の受光面に入射す
る。
【0008】このように、反射ミラー206内での内部
反射に起因する光が本来のレーザ光と一緒に光電変換素
子102に受光されることで、光電変換素子102の出
力信号が変動し、結果としてレーザ光強度測定値の精度
が低下し、ひいてはレーザ出力フィードバック制御の安
定性・信頼性が低下するおそれがあった。
【0009】図7にその様子を示す。図7の(A),(B),
(C) は、レーザ発振器200よりレーザ光を発振出力さ
せたときに、従来のレーザ装置において得られるレーザ
光強度測定値(図7の(A) )、レーザパワーメータより
得られるレーザ光強度測定値(図7の(B) )、およびレ
ーザ発振器200内の冷却水の温度(図7の(C) )の変
化をそれぞれ示す。レーザパワーメータは、レーザ出力
光をたとえばサーモパイルからなるレーザ光吸収体に直
接入射せしめ、レーザ光吸収体で吸収したレーザ光の熱
エネルギを電気信号に変換して所定の演算によりレーザ
光強度測定値を求めるものである。
【0010】図7において、レーザパワーメータによる
測定値の変動は、冷却水温度の変動と同程度で、比較的
小さい。つまり、レーザ発振器200より発生されるレ
ーザ光LBの光強度の変動は小さい。これに対して、従
来のレーザ装置において得られる測定値の変動はかなり
大きい。このことから、反射ミラー206内での内部反
射に起因して光電変換素子102の受光面に入射する不
所望な光の変動が測定値精度に大きく影響していること
がわかる。
【0011】本発明は、かかる問題点に鑑みてなされた
もので、変動が小さく高精度なレーザ光強度測定値が得
られるレーザ装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明のレーザ装置は、レーザ媒体の両端側に反射
ミラーと出力ミラーとを配設してなるレーザ装置におい
て、前記反射ミラーの両面を互いに非平行な面とし、前
記反射ミラーの後方の光軸上に前記レーザ光の出力を測
定するための光検出手段を設ける構成とした。
【0013】
【作用】レーザ媒体の端面より出射されたレーザ光が反
射ミラーに入射すると、レーザ光の大部分はレーザ光軸
と垂直なミラー表面の光反射膜によってレーザ媒体側へ
反射されるが、わずかに一部が光反射膜を通り抜けて反
射ミラー内に入る。反射ミラー内に入ったレーザ光のう
ち、一部は反射ミラーの後側境界面を通り抜け、後方の
光検出手段の受光面に入射する。光検出手段は、受光し
た光の光強度に対応した光検出信号を出力する。
【0014】光反射膜を通り抜けて反射ミラー内に入っ
た光のうち、一部は反射ミラーの後側境界面でミラー内
に反射する。後側境界面はレーザ光軸に対して斜めに傾
いているため、この反射光はレーザ光軸に対して斜め方
向に進行し、反射ミラーの前側境界面で反射した光もレ
ーザ光軸に対して斜め方向に進行する。このような内部
反射の結果、反射ミラーの後側境界面より外へ出た光は
レーザ光軸に対して大きく傾いて斜め方向に進み、レー
ザ光軸上に配置されている光検出手段の受光面に入射す
ることはない。
【0015】したがって、光検出手段は、反射ミラーの
前側境界面を透過し、そのまま反射ミラーの後側境界面
を通り抜けた光(レーザ光強度測定に必要な光)だけを
受光し、反射ミラー内の内部反射に起因する不要な光を
受光しないので、変動の少ない高精度な光検出信号を出
力する。この光検出信号から、信頼性の高いレーザ光強
度測定値を得ることができる。
【0016】
【実施例】以下、図1〜図5を参照して本発明の実施例
を説明する。図1は、本発明の一実施例によるレーザ装
置の構成を示す。このレーザ装置において、レーザモニ
タ部は、反射ミラー10、光電変換素子102、光電流
−電圧変換回路104、A/D変換器106、モニタ演
算部108およびモニタ表示部110からなる。
【0017】レーザ発振器200は、レーザ媒体とし
て、たとえばYAGロッド202を有し、レーザ電源装
置300からの電力により励起ランプ204を点灯させ
て、そのランプ光でYAGロッド202を励起してレー
ザ発振させる。レーザ発振したYAGロッド202の両
端面より出たレーザ光は、反射ミラー10と出力ミラー
208との間で反射を繰り返して増幅され、出力ミラー
208を抜け出る。出力ミラー208より出力されたレ
ーザ光LBは、所定の光学系を通って、たとえばレーザ
加工を受けるべきワークの加工点に照射される。
【0018】反射ミラー10のYAGロッド202と対
向する面10aには、光反射性の膜12が設けられ、Y
AGロッド202からのレーザ光LBの大部分はこの光
反射膜12の表面でロッド102側へ反射される。しか
し、わずかであるが、レーザ光LBの一部がこの反射膜
12を透過し、その透過したレーザ光LB’は反射ミラ
ー10の後側境界面10bからレーザ光軸上に出て後方
の光電変換素子102の受光面に入射する。
【0019】光電変換素子102は、受光したレーザ光
LB’の光強度に対応した電流(光電流)の信号を出力
する。光電変換素子102の出力信号は、変換回路10
4で電圧に変換され、A/D変換器106でディジタル
信号に変換されたうえで、モニタ演算部108に与えら
れる。モニタ演算部108は、所定の係数および演算式
を用いて、入力した信号を校正・演算し、レーザ発振器
200より出力されるレーザ光LBの光強度測定値を求
める。モニタ演算部108より得られたレーザ光強度測
定値は、測定値表示を行うモニタ表示部110に送られ
るとともに、レーザ出力フィードバック制御のための帰
還信号としてレーザ電源装置300に送られる。
【0020】図2は、本実施例のレーザ装置の要部を拡
大して示す。このレーザの反射ミラー10において、光
反射膜12を設けた前側境界面10aは、出力ミラー2
08に対してほぼ平行に向き合う。反射ミラー10の後
側境界面10bは前側境界面10aに対してθ(たとえ
ば1゜)だけ傾いたテーパ面に構成され、光電変換素子
102の受光面に対して斜めに向き合う。
【0021】かかる構成において、YAGロッド202
の端面より出たレーザ光LBは、反射ミラー10前面の
光反射膜12に入射すると、ここで大部分(LB0 )が
YAGロッド202側へ反射されるが、一部(LB1 )
が光反射膜12を透過して反射ミラー10内に入る。反
射ミラー10内に入ったレーザ光LB1 のうちの一部
(LB2 )は、レーザ光軸に沿って反射ミラー10の後
側境界面10bを通り抜け、後方の光電変換素子102
の受光面に入射する。光電変換素子102は、受光した
レーザ光LB2 の光強度に対応した電流(光電流)の信
号を出力する。
【0022】さて、光反射膜12より反射ミラー10内
に入ったレーザ光LB1 のうち、一部(LB3 )は反射
ミラー10の後側境界面10bでミラー内に反射する。
後側境界面10bはレーザ光軸に対して斜めに傾いてい
るため、この反射光LB3 はレーザ光軸に対して斜め方
向に進行し、反射ミラー10の前側境界面10aで光反
射膜12の裏面に入射する。そして、光反射膜12の裏
面でミラー内に反射した光LB4 はレーザ光軸に対して
反射光LB3 よりもさらに傾いた角度で斜め方向に進行
して反射ミラー10の後側境界面10bに達し、ここで
一部(LB5 )がそのまま外へ出て、残り(LB6 )が
反射ミラー10の内側へ反射する。反射ミラー10の後
側境界面10bより外へ出た光LB4 は、レーザ光軸に
対して大きく傾いた角度で斜め方向に進み、レーザ光軸
上の光電変換素子102の受光面には入射しない。
【0023】このように、本実施例によれば、反射ミラ
ー10の前面の光反射膜12を透過し、そのまま反射ミ
ラー10の後側境界面10bを通り抜けた光だけが光電
変換素子102の受光面に入射し、反射ミラー10内の
内部反射に起因して後側境界面10bより外へ抜け出た
光は、光電変換素子102の受光面に入射することはな
い。したがって、光電変換素子102は、レーザ光強度
測定に必要な光だけを受光し、不要な光を受光しないの
で、変動の小さい高精度な光検出信号を出力する。この
結果、モニタ演算部108からは変動の小さい高精度な
レーザ光強度測定値が得られ、レーザ電源装置300に
おけるレーザ出力フィードバック制御の安定性・信頼性
も向上する。
【0024】図3に本実施例による効果を示す。図3の
(A),(B),(C) はそれぞれ図7の(A),(B),(C) に対応する
ものである。すなわち、レーザ発振器200よりレーザ
光を発振出力させたときに、本実施例において得られる
レーザ光強度測定値(図3の(A) )、出射ミラーより外
に配置されたレーザパワーメータより得られるレーザ光
強度測定値(図3の(B) )、およびレーザ発振器200
内の冷却水の温度(図3の(C) )の変化をそれぞれ示
す。図3から、本実施例による測定値の変化は、レーザ
パワーメータによる測定値の変化および冷却水の温度の
変化に対応し、レーザ光LBの光強度を正確に表すもの
であることがわかる。
【0025】図4および図5は本実施例の変形例を示
す。図4に示す変形例は、反射ミラー10の後側境界面
10bを湾曲させたものである。図5に示す変形例は、
反射ミラー10の後側境界面10bに溝を設けたもので
ある。これら2つの変形例以外にも、前側境界面10a
と非平行になるよう後側境界面10bの形状、角度を種
々変形することが可能である。なお、前側境界面10a
と後側境界面10bとの間の非平行な関係はレーザ光軸
付近で成立すればよく、ミラーの周縁部付近で両境界面
が互いに平行であっても構わない。
【0026】上述した実施例では、光検出手段として光
電変換素子を用いたが、熱電対やサーモパイル等のよう
にレーザ光の熱エネルギを電気に変換する素子、あるい
は光伝導セル、光起電力セルなどの素子を用いることも
可能である。また、上述した実施例におけるレーザ発振
器はレーザ媒体としてYAGロッドを用いる固体レーザ
であったが、炭酸ガスレーザ等の他のレーザ媒体を用い
るレーザ発振器にも本発明は適用可能である。
【0027】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザ装
置によれば、レーザ発振器内で発生されるレーザ光の一
部を後方の光検出手段側へ与える反射ミラーの両面を互
いに非平行な面とすることにより、反射ミラー内の内部
反射に起因する不要な光を光検出手段に受光させないよ
うにしたので、変動が少なく高精度で信頼性の高い光強
度測定値を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるレーザ装置の構成を示
す斜視図である。
【図2】実施例のレーザ装置の要部の構成を示す拡大図
である。
【図3】実施例による時間−レーザ光強度測定値の特性
を示す図である。
【図4】一変形例によるレーザ装置の要部の構成を示す
平面図である。
【図5】別の変形例によるレーザ装置の要部の構成を示
す平面図である。
【図6】従来のレーザ装置の要部の構成を示す斜視図で
ある。
【図7】従来のレーザ装置による時間−レーザ光強度測
定値の特性を示す図である。
【符号の説明】
10 反射ミラー 10a 反射ミラーの前側境界面 10b 反射ミラーの後側境界面 12 光反射膜 102 光電変換素子 202 YAGロッド 208 出力ミラー

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ媒体の両端側に反射ミラーと出力
    ミラーとを配設してなるレーザ装置において、 前記反射ミラーの両面を互いに非平行な面に構成し、前
    記反射ミラーの後方の光軸上に前記レーザ光の出力を測
    定するための光検出手段を設けたことを特徴とするレー
    ザ装置。
JP3358813A 1991-12-27 1991-12-27 レーザ装置 Expired - Lifetime JP2781823B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3358813A JP2781823B2 (ja) 1991-12-27 1991-12-27 レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3358813A JP2781823B2 (ja) 1991-12-27 1991-12-27 レーザ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05177371A true JPH05177371A (ja) 1993-07-20
JP2781823B2 JP2781823B2 (ja) 1998-07-30

Family

ID=18461244

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3358813A Expired - Lifetime JP2781823B2 (ja) 1991-12-27 1991-12-27 レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2781823B2 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5310282U (ja) * 1976-07-09 1978-01-27
JPS62104088A (ja) * 1985-10-30 1987-05-14 Nippei Toyama Corp レ−ザ出力制御装置
JPS62172166U (ja) * 1986-04-21 1987-10-31

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5310282U (ja) * 1976-07-09 1978-01-27
JPS62104088A (ja) * 1985-10-30 1987-05-14 Nippei Toyama Corp レ−ザ出力制御装置
JPS62172166U (ja) * 1986-04-21 1987-10-31

Also Published As

Publication number Publication date
JP2781823B2 (ja) 1998-07-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7180595B2 (en) Gas detection method and gas detector device
JP2003194526A (ja) 断面形状計測装置
JP2009047677A (ja) レーザ式ガス分析計
JPWO2006093264A1 (ja) レーザ加熱装置およびレーザ加熱方法
WO2020238386A1 (zh) 一种痕量气体的探测方法及探测装置
JPH0481132B2 (ja)
JP2796650B2 (ja) 多種ガス検出装置
JP2781823B2 (ja) レーザ装置
CN110031432B (zh) 一种定日镜反射率的测量方法及装置
JP3691329B2 (ja) ガス濃度測定装置
JPH106064A (ja) レーザはんだ付け方法およびその装置
JP2792782B2 (ja) ガス濃度測定方法およびその測定装置
JP3281857B2 (ja) 燃焼器内の温度分布計測装置
JPH0616012B2 (ja) ガス濃度測定方式
JPH05169284A (ja) レーザ装置
JPS6015351Y2 (ja) イオンレ−ザ装置
JP2537571Y2 (ja) レーザ装置
CN218496762U (zh) 基于量子级联激光器的痕量气体探测装置
JPS639842A (ja) ガス検出装置
JPH06237028A (ja) レーザモニタ装置
JPH07154034A (ja) 半導体レーザモジュール
JP6414257B2 (ja) 濃度測定装置及び濃度測定方法
JP2001168428A (ja) ガスレーザ装置
JPS6245036B2 (ja)
JPH0411315B2 (ja)