JPH05174414A - 光ピックアップ装置 - Google Patents

光ピックアップ装置

Info

Publication number
JPH05174414A
JPH05174414A JP3354372A JP35437291A JPH05174414A JP H05174414 A JPH05174414 A JP H05174414A JP 3354372 A JP3354372 A JP 3354372A JP 35437291 A JP35437291 A JP 35437291A JP H05174414 A JPH05174414 A JP H05174414A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser beam
light
beam splitter
monitor
reflected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3354372A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Goto
博志 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
Priority to JP3354372A priority Critical patent/JPH05174414A/ja
Publication of JPH05174414A publication Critical patent/JPH05174414A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ピックアップ装置の光学系を小型化し、部
品点数を削減して、コストを低下する。 【構成】 ビームスプリッタ20に、分割面20aで反
射されたモニタ用レーザビームを反射する面20bを、
モニタ用レーザビームの入射方向について、その法線が
傾斜するように設けた。したがって、モニタ用レーザビ
ームを反射するための鏡を不要にし、光学系を小型化で
きるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子から
出力されるレーザビームをビームスプリッタを用いて分
割し、信号光として記録媒体方向に進行するレーザビー
ムと、半導体レーザ素子の出力レベルを監視するための
モニタ用レーザビームを形成する光ピックアップ装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、光ディスク装置において、デー
タを記録/再生(/消去)するための光ピックアップ装
置には、光源として半導体レーザ素子が用いられてい
る。この半導体レーザ素子の一例を図3に示す。
【0003】同図において、半導体レーザ素子は、半導
体レーザチップ1と、半導体レーザチップ1を取り付け
る基板2と、半導体レーザチップ1の後方へき開面から
放射されるレーザ光を受光するモニタ用受光素子3を、
同一の外囲器4に収容してなる。
【0004】そして、モニタ用受光素子3からの受光信
号に基づいて半導体レーザチップ1の前方へき開面から
出力される出力光のレベルを監視して、出力光が一定の
レベルになるように半導体レーザチップ1の駆動電流を
制御して、安定した動作が行なえるようにしている。
【0005】さて、光ピックアップ装置の光学系では、
半導体レーザ素子から出力されるレーザ光を平行ビーム
に変換した後に光ディスクに集束し、その光ディスクか
らの反射光を検出光学系に導くことで、種々の信号を得
るようにしているが、この光学系では、光ディスクにお
けるレーザビームの集束点と、半導体レーザ素子が相互
に結像位置関係にあるため、光ディスクからの反射光の
一部が半導体レーザチップ1に戻る。
【0006】このような戻り光が半導体レーザ素子に入
射すると、半導体レーザ素子の出力制御を安定して行な
えなくなる。例えば、戻り光がない場合、半導体レーザ
素子に対する駆動電流と光出力、および、光出力とモニ
タ用受光素子3の受光信号(モニタ電流)との関係が図
4に実線で示したようなものであるとき、戻り光がある
場合には、半導体レーザ素子に対する駆動電流と光出
力、および、光出力とモニタ用受光素子3のモニタ電流
との関係が、同図に破線で示したように変動する。
【0007】このために、モニタ電流が所定値になるよ
うに、駆動電流を制御した場合、戻り光がない場合に
は、その制御状態が図4に点Aで示した態様になるのに
対して、戻り光がある場合には、その制御状態が同図に
点Bで示した態様となる。すなわち、この場合、戻り光
があると半導体レーザ素子の出力レベルが低下する。
【0008】このような不都合を解消するために、従
来、図5に示すような光学系の光ピックアップ装置が実
用されている。なお、この光学系は、非点収差法を用い
て、フォーカシング誤差およびトラッキング誤差を検出
するものである。
【0009】同図において、半導体レーザ素子10から
出力されるレーザ光は、カップリングレンズ11により
平行なレーザビームに変換され、このレーザビームは、
ビームスプリッタ12に入射されて、その分割面12a
で、分割面12aを透過する成分と、反射する成分に分
割される。
【0010】ビームスプリッタ12を透過したレーザビ
ームは、対物レンズ13により光ディスク14の記録面
に集束される。光ディスク14の記録面からの反射光
は、ビームスプリッタ12に戻り、再度、分割面12a
で透過する成分と反射する成分に分割される。
【0011】そして、分割面12aで反射された光ディ
スク14の記録面からの反射光は、凸レンズ15および
シリンドリカルレンズ16を通過した後に、4分割受光
面をもつ検出受光素子17に入射される。
【0012】一方、カップリングレンズ11から入射さ
れたレーザビームのうち、ビームスプリッタ12の分割
面12aで反射された成分は、反射面がビームスプリッ
タ12の面12bと傾斜している鏡18により反射さ
れ、この鏡18からの反射光のうちビームスプリッタ1
2を透過した成分は、凸レンズ15およびシリンドリカ
ルレンズを通過した後に、検出受光素子17と同一基板
に設けられたモニタ用受光素子19に入射される。
【0013】したがって、モニタ用受光素子19には、
半導体レーザ素子10から出力されたレーザ光に基づく
成分の光のみが入射されるので、モニタ用受光素子19
から出力される受光信号(モニタ電流)は、戻り光の影
響を受けず、その結果、半導体レーザ素子10の出力制
御を安定して行なうことができる。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来装置では、鏡17を固定するための固定部材が
必要となり、光学系が大きくなるとともに、部品点数が
増え、コストが大きいという不都合を生じていた。
【0015】本発明は、かかる従来装置の不都合を解消
するためになされたものであり、光学系を小型に構成で
き、また、部品点数を減少し、コストを低減できる光ピ
ックアップ装置を提供することを目的としている。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、半導体レーザ
素子から出力されるレーザビームをビームスプリッタを
用いて分割し、信号光として記録媒体方向に進行するレ
ーザビームと、半導体レーザ素子の出力レベルを監視す
るためのモニタ用レーザビームを形成する光ピックアッ
プ装置において、上記ビームスプリッタに、上記モニタ
用レーザビームを反射する反射面を設けたものである。
また、前記反射面は、前記モニタ用レーザビームの入射
方向に対してその法線を傾斜するように形成されてい
る。
【0017】また、半導体レーザ素子から出力されるレ
ーザビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光
として記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体
レーザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レー
ザビームを形成するとともに、記録媒体からの反射光を
入射する検出受光素子を備えた光ピックアップ装置にお
いて、上記ビームスプリッタに設けられ上記モニタ用レ
ーザビームを反射する反射面と、上記検出受光素子と同
一基板に設けられて上記反射面からの反射光を受光する
モニタ用受光素子を備えたものである。
【0018】
【作用】したがって、ビームスプリッタの一面に、モニ
タ用レーザビームを反射する反射面を設けているので、
この反射面を構成する鏡を必要とせず、これにより、部
品点数を削減して低コスト化が実現できるとともに、装
置を小型化できる。
【0019】
【実施例】以下、添付図面を参照しながら、本発明の実
施例を詳細に説明する。
【0020】図1は、本発明の一実施例にかかる光ピッ
クアップ装置の光学系を示している。なお、同図におい
て、図5と同一部分、および、相当する部分には、同一
符号を付している。
【0021】同図において、半導体レーザ素子10から
出力されるレーザ光は、カップリングレンズ11により
平行なレーザビームに変換され、このレーザビームは、
ビームスプリッタ20に入射されて、その分割面20a
で、分割面20aを透過する成分と、反射する成分に分
割される。
【0022】ビームスプリッタ20を透過したレーザビ
ームは、対物レンズ13により光ディスク14の記録面
に集束される。光ディスク14の記録面からの反射光
は、ビームスプリッタ20に戻り、再度、分割面20a
で透過する成分と反射する成分に分割される。
【0023】そして、分割面20aで反射された光ディ
スク14の記録面からの反射光は、凸レンズ15および
シリンドリカルレンズ16を通過した後に、4分割受光
面をもつ検出受光素子17に入射される。
【0024】一方、ビームスプリッタ20において、カ
ップリングレンズ11から入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ20の分割面20aで反射された
成分が入射する面20bには、増反射膜がコーティング
されているとともに、この面20bは、その法線が入射
されるレーザビームの方向に対して傾斜するように、形
成されている。
【0025】したがって、カップリングレンズ11から
入射されたレーザビームのうち、ビームスプリッタ20
の分割面20aで反射された成分は、面20bで反射さ
れ、再度に分割面20aを透過した後に、凸レンズ15
およびシリンドリカルレンズを通過して、モニタ用受光
素子19に入射される。
【0026】このようにして、本実施例では、モニタ用
レーザビームを、ビームスプリッタ20の面20bで反
射するようにしているので、従来装置に必要であった鏡
を設けなくてよくなり、光学系を構成する部品点数を低
減できる。また、光学系を小型で安価に実現することが
できる。
【0027】また、検出受光素子17とモニタ用受光素
子19を同一基板上に構成しているので、それぞれを別
々に備える場合に比べて、装置構成を小型化できる。
【0028】図2は、本発明の他の実施例にかかる光ピ
ックアップ装置の光学系を示している。なお、同図にお
いて、図1と同一部分、および、相当する部分には、同
一符号を付している。
【0029】同図において、半導体レーザ素子10から
出力されるレーザ光は、カップリングレンズ11により
平行なレーザビームに変換され、このレーザビームは、
ビームスプリッタ21に入射されて、その分割面21a
で、分割面21aを透過する成分と、反射する成分に分
割される。
【0030】ビームスプリッタ21を反射したレーザビ
ームは、ビームスプリッタ21の傾斜面21bより出射
されて対物レンズ13に導かれ、この対物レンズ13に
より光ディスク14の記録面に集束される。光ディスク
14の記録面からの反射光は、ビームスプリッタ21に
戻って傾斜面21bより入射し、再度、分割面21aで
透過する成分と反射する成分に分割される。
【0031】そして、分割面21aを透過した光ディス
ク14の記録面からの反射光は、凸レンズ15およびシ
リンドリカルレンズ16を通過した後に、4分割受光面
をもつ検出受光素子17に入射される。
【0032】一方、ビームスプリッタ21において、カ
ップリングレンズ11から入射されたレーザビームのう
ち、ビームスプリッタ21の分割面21aを透過した成
分が入射する面21cには、増反射膜がコーティングさ
れているとともに、この面21cは、その法線が入射さ
れるレーザビームの方向に対して傾斜するように、形成
されている。
【0033】したがって、カップリングレンズ11から
入射されたレーザビームのうち、ビームスプリッタ21
の分割面21aを透過した成分は、面21cで反射さ
れ、に分割面21aで反射された後に、凸レンズ15お
よびシリンドリカルレンズを通過して、モニタ用受光素
子19に入射される。
【0034】ところで、上述した実施例では、非点収差
法を用いてフォーカシング誤差およびトラッキング誤差
を検出する光学系を備えた光ピックアップ装置につい
て、本発明を適用しているが、それ以外の光学系を備え
た光ピックアップ装置についても、本発明を同様にして
適用することができる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビームスプリッタの一面に、モニタ用レーザビームを反
射する反射面を設けているので、この反射面を構成する
鏡を必要とせず、これにより、部品点数を削減して低コ
スト化が実現できるとともに、装置を小型化できるとい
う効果を得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例にかかる光ピックアップ装置
の光学系を示す概略図。
【図2】本発明の他の実施例にかかる光ピックアップ装
置の光学系を示す概略図。
【図3】半導体レーザ素子の構成例を示す概略断面図。
【図4】戻り光の影響を説明するためのグラフ図。
【図5】光ピックアップ装置の光学系の従来例を示す概
略図。
【符号の説明】
20,21 ビームスプリッタ 20b,21c 面

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザ素子から出力されるレーザ
    ビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光とし
    て記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体レー
    ザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レーザビ
    ームを形成する光ピックアップ装置において、上記ビー
    ムスプリッタに、上記モニタ用レーザビームを反射する
    反射面を設けたことを特徴とする光ピックアップ装置。
  2. 【請求項2】 前記反射面は、前記モニタ用レーザビー
    ムの入射方向に対してその法線が傾斜していることを特
    徴とする請求項1記載の光ピックアップ装置。
  3. 【請求項3】 半導体レーザ素子から出力されるレーザ
    ビームをビームスプリッタを用いて分割し、信号光とし
    て記録媒体方向に進行するレーザビームと、半導体レー
    ザ素子の出力レベルを監視するためのモニタ用レーザビ
    ームを形成するとともに、記録媒体からの反射光を入射
    する検出受光素子を備えた光ピックアップ装置におい
    て、上記ビームスプリッタに設けられ上記モニタ用レー
    ザビームを反射する反射面と、上記検出受光素子と同一
    基板に設けられて上記反射面からの反射光を受光するモ
    ニタ用受光素子を備えたことを特徴とする光ピックアッ
    プ装置。
JP3354372A 1991-12-20 1991-12-20 光ピックアップ装置 Pending JPH05174414A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3354372A JPH05174414A (ja) 1991-12-20 1991-12-20 光ピックアップ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3354372A JPH05174414A (ja) 1991-12-20 1991-12-20 光ピックアップ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05174414A true JPH05174414A (ja) 1993-07-13

Family

ID=18437114

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3354372A Pending JPH05174414A (ja) 1991-12-20 1991-12-20 光ピックアップ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05174414A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100641088B1 (ko) * 1998-12-12 2007-07-10 엘지전자 주식회사 광픽업장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100641088B1 (ko) * 1998-12-12 2007-07-10 엘지전자 주식회사 광픽업장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4733067A (en) Semiconductor laser apparatus for optical head
JP2508478B2 (ja) 光学ヘツド
US4985880A (en) Optical information recording and reproducing apparatus
US6463023B1 (en) Optical head and method for monitoring light source output in optical head
US5146449A (en) Optical disc apparatus
US6317400B1 (en) Optical pickup apparatus
EP0671732B1 (en) Optical system
JPH0478029A (ja) 光学的情報記録再生装置
JPH05174414A (ja) 光ピックアップ装置
JPS61162838A (ja) 光デイスク記録再生装置の光源駆動装置
JPH0321973B2 (ja)
US6097689A (en) Optical pickup system incorporated therein a polarizing film and a pair of 1/4 wavelength plates
US5822295A (en) Optical head device to maximize the effective diameter of an objective lens
JPS60234247A (ja) 光ヘツド
JP2002319699A (ja) 光学装置
JP3350946B2 (ja) 光ディスク装置
JPH0636330A (ja) 光ピックアップ装置
JP3122346B2 (ja) 光ピックアップ装置
JP2001202651A (ja) 光学ピックアップ装置及び光ディスク装置
JP4000388B2 (ja) 光学装置および光ピックアップ装置
JP3120780B2 (ja) 光ヘッド
KR100421458B1 (ko) 광 픽업장치
KR100463427B1 (ko) 광 픽업장치
JPS59185045A (ja) 光ピツクアツプ装置
EP0608842A1 (en) Optical pick-up device