JPH05172760A - 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 - Google Patents

光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置

Info

Publication number
JPH05172760A
JPH05172760A JP34530491A JP34530491A JPH05172760A JP H05172760 A JPH05172760 A JP H05172760A JP 34530491 A JP34530491 A JP 34530491A JP 34530491 A JP34530491 A JP 34530491A JP H05172760 A JPH05172760 A JP H05172760A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
defect
pattern
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP34530491A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazunari Maeda
和成 前田
Yasuyuki Fujita
康之 藤田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTN Corp
Original Assignee
NTN Corp
NTN Toyo Bearing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NTN Corp, NTN Toyo Bearing Co Ltd filed Critical NTN Corp
Priority to JP34530491A priority Critical patent/JPH05172760A/ja
Publication of JPH05172760A publication Critical patent/JPH05172760A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 この発明はセンサを中間調の欠陥の検出しや
すい角度に取付けて中間調の欠陥を欠陥と判別できるよ
うな光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供するこ
とを主要な特徴とする。 【構成】 可動ステージ2の上に液晶ディスプレイ3を
設置し、液晶ディスプレイ3にパターンジェネレータ1
1から発生された表示パターンを発生させ、可動ステー
ジ2を一方方向に移動し、液晶ディスプレイ3上の表示
パターン上方に取付けられたCCDユニット4および斜
め上方に取付けられたCCDユニット5によって読取
る。パーソナルコンピュータ6はその読取値と標準のパ
ターンとを比較し、欠陥および中間調の欠陥を判別す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイの画素
の欠陥を光学的に検査するような光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】最近では、各種電子機器に液晶ディスプ
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示部の間の配線パターンを細く
する必要がある。ところが、パターンの密度を高める
と、パターンのエッチング工程などで、隣接するパター
ン同士が電気的に接続されてしまうことがある。このよ
うな液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パ
ネルになった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを
光学的に読取って標準のデータと比較し、一致していな
ければ欠陥であると判別する方法が考えられる。
【0003】従来は、このような欠陥を検出するため
に、目視で検査したり、電極にピンを立てて電流を流
し、接触の有無を調べるというプロービングの方法が用
いられていた。しかしながら、目視による方法では、検
査に長時間を要し、プロービングの方法では、その都度
電極にピンを立てる必要があり、検査に要する労力が多
大であった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】そこで、テーブルの上
に液晶ディスプレイを設置し、テーブルを一方方向に移
動させながら液晶ディスプレイに検査のためのパターン
を表示し、イメージセンサを用いてそのパターンを読取
り、その読取出力と標準データとを比較し、一致してい
れば良品と判断し、一致していなければ不良品と判別し
て液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法が考えられ
る。
【0005】ところが、液晶ディスプレイには、見る角
度によって表示状態が異なるいわゆる視角特性がある。
欠陥画素についても同様であり、適切な角度から見た場
合に完全な欠陥と判断されるものであっても角度が異な
ると中間調となり、誤判定の原因となり得る。この中間
調の欠陥を視角に応じて適切な斜め上方より見ると、非
常にはっきりと見ることができる。
【0006】それゆえに、この発明の主たる目的は、セ
ンサを中間調の欠陥の検出しやすい角度に取付けて、中
間調の欠陥を欠陥と判別できるような光学式液晶ディス
プレイ欠陥検査装置を提供することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】この発明は液晶ディスプ
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方および斜め上方あるいはそのいずれか一
方から液晶ディスプレイの表示パターンを読取るイメー
ジセンサと、イメージセンサの読取値より液晶ディスプ
レイの欠陥を判別する判別手段とを備えて構成される。
【0008】
【作用】この発明に係る光学式液晶ディスプレイ欠陥検
査装置は、イメージセンサを液晶ディスプレイの上方お
よび斜め上方に設置し、液晶ディスプレイ上のパターン
を上方および斜め上方から読取り、両方あるいはいずれ
か一方のセンサ出力と予め定める表示パターンとを比較
して欠陥および中間調の欠陥を判別する。
【0009】
【実施例】図1はこの発明の一実施例の概略ブロック図
であり、図2は図1に示した上方および斜め上方より読
取るイメージセンサの外観図である。
【0010】図1および図2を参照して、テーブル1の
上に可動ステージ2が設けられる。可動ステージ2は液
晶ディスプレイ3を一方方向および逆方向に移動させる
ものであって、たとえばリニアモータあるいはボールね
じによって駆動される。可動ステージ2の上方にはCC
Dユニット4および5が設けられる。CCDユニット4
は可動ステージ2によって一方方向に移動する液晶ディ
スプレイ3の表示パターンを真上から読取るものであ
り、CCDユニット5は液晶ディスプレイ3のパターン
を斜め上方から読取るものであって、それぞれたとえば
CCDイメージセンサが用いられる。
【0011】全体の制御を行なうために、パーソナルコ
ンピュータ6が設けられる。パーソナルコンピュータ6
はCCDユニット4および5を制御するために、CCD
制御回路7からCCD駆動回路8に制御信号を出力さ
せ、CCD駆動回路8はその制御信号に応じてCCDユ
ニット4および5を駆動する。CCDユニット4および
5の読取出力はパーソナルコンピュータ6に与えられ
る。さらに、パーソナルコンピュータ6はパルス発生器
9からパルス信号を発生させ、このパルス信号はテーブ
ル位置決めユニット10に与えられ、テーブル位置決め
ユニット10はそのパルス信号に応じて可動ステージ2
を一方方向に順次移動させ、可動ステージ2の位置決め
を行なう。
【0012】パーソナルコンピュータ6はさらにパター
ンジェネレータ11から検査のための表示パターンデー
タを発生させる。このパターンデータは液晶ディスプレ
イ駆動回路12に与えられる。液晶ディスプレイ駆動回
路12は液晶ディスプレイ3を駆動し、与えられたパタ
ーンデータに応じてそのパターンを表示させる。
【0013】図3はこの発明の一実施例の具体的な動作
を説明するためのフロー図である。次に、図1ないし図
3を参照して、この発明の一実施例の具体的な動作につ
いて説明する。まず、液晶ディスプレイ3を可動ステー
ジ2の上にローディングする。パーソナルコンピュータ
6はパターンジェネレータ11からパターンデータを発
生させる。このパターンデータは、たとえば市松模様な
どの明画素,暗画素がほぼ同数となるような表示パター
ンが用いられる。液晶ディスプレイ駆動回路12はその
パターンデータに応じて液晶ディスプレイ3の市松模様
の表示パターンを表示させる。パーソナルコンピュータ
6はパルス発生器9からパルス信号を発生させ、テーブ
ル位置決めユニット10はそのパルス信号に応じて可動
ステージ2を一方方向に順次移動せさる。パーソナルコ
ンピュータ6はCCD制御回路7から制御信号を発生さ
せ、CCD駆動回路8はその制御信号に応じてCCDユ
ニット4および5を駆動する。CCDユニット4および
5は順次移動する可動ステージ2上の液晶ディスプレイ
3に表示されたパターンを上方および斜め上方あるいは
いずれか一方より読取り、その読取り出力をパーソナル
コンピュータ6に与える。このとき、液晶ディスプレイ
3を斜め上方から見ることによって、中間調の欠陥を非
常にはっきりと読取ることができる。
【0014】パーソナルコンピュータ6はCCDユニッ
ト4および5あるいはいずれか一方の読取出力と標準デ
ータとの一致を判別する。不一致であれば、検査した液
晶ディスプレイ3が不良品であると判断して処理し、一
致していれば良品の処理をし、その結果をプリンタに印
字したり、CRTディスプレイに表示させる。その後、
パーソナルコンピュータ6は可動ステージ2を逆方向に
移動させ、もとの位置に戻ると液晶ディスプレイ3をア
ンローディングする。そして、上述の動作を繰り返し、
次の液晶ディスプレイの検査を行なう。
【0015】なお、図1に示した実施例では、液晶ディ
スプレイ3として反射式のものを用いたが、これに限る
ことなく、透過式のものであってもよい。その場合に
は、テーブル1の下側に光源を設け、光源から液晶ディ
スプレイ3に光を照射するようにすればよい。
【0016】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、可動
ステージの上に設置された液晶ディスプレイに検査のた
めのパターンを表示し、可動ステージの上方および斜め
上方あるいはそのいずれか一方から液晶ディスプレイの
表示パターンを読取り、その読取値より液晶ディスプレ
イの欠陥を判別するようにしたので、中間調の欠陥の見
落しが減少し、検出率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図2】図1に示した上方および斜め上方に取付けられ
たCCDユニットの外観図である。
【図3】この発明の一実施例の動作を説明するためのフ
ロー図である。
【符号の説明】
1 テーブル 2 可動ステージ 3 液晶ディスプレイ 4,5 CCDユニット 6 パーソナルコンピュータ 7 CCD制御回路 8 CCD駆動回路 9 パルス発生器 10 テーブル位置決めユニット 11 パターンジェネレータ 12 液晶ディスプレイ駆動回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液晶ディスプレイの欠陥を検査するため
    の光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、 前記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可
    動ステージ、 前記液晶ディスプレイに検査のためのパターンを表示さ
    せる表示制御手段、 前記可動ステージの上方および斜め上方あるいはそのい
    ずれか一方から前記液晶ディスプレイの表示パターンを
    読取るイメージセンサ、および前記イメージセンサの読
    取値より、前記液晶ディスプレイの欠陥を判別する判別
    手段を備えた、光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置。
JP34530491A 1991-12-26 1991-12-26 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 Withdrawn JPH05172760A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34530491A JPH05172760A (ja) 1991-12-26 1991-12-26 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34530491A JPH05172760A (ja) 1991-12-26 1991-12-26 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05172760A true JPH05172760A (ja) 1993-07-09

Family

ID=18375691

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34530491A Withdrawn JPH05172760A (ja) 1991-12-26 1991-12-26 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05172760A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003140111A (ja) * 2001-11-01 2003-05-14 Seiko Epson Corp 空間光変調素子、画像表示装置、照度分布均一化光学素子、照明装置、表示欠陥補助装置およびプロジェクタ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003140111A (ja) * 2001-11-01 2003-05-14 Seiko Epson Corp 空間光変調素子、画像表示装置、照度分布均一化光学素子、照明装置、表示欠陥補助装置およびプロジェクタ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR0150689B1 (ko) 평면형 표시패널 검사장치
US5432461A (en) Method of testing active matrix liquid crystal display substrates
KR101384518B1 (ko) 도전패턴 검사장치 및 검사방법
KR20040107439A (ko) 전자부품 실장용 프린트 배선판의 검사장치 및 패턴불량의 확인방법
KR100516620B1 (ko) 액정 셀의 검사방법 및 검사장치
JPH05172760A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JPH05256794A (ja) アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査装置および検査装置用電気光学素子
JPH0611455A (ja) 光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置
JPH05172759A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JP3220633B2 (ja) 液晶表示装置のクロストーク検査方法及びクロストーク検査装置
JPH04244931A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JPH06308036A (ja) 液晶表示画像検査方法
JPH06138051A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JPH0797086B2 (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JPH04244932A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JP3053653B2 (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JPH04244929A (ja) 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置
JP2004045763A (ja) 液晶表示パネル検査方法及びその検査装置
JPH06308530A (ja) 基板の検査装置
JPH08220014A (ja) Lcdパネル検査装置及びこの装置を用いたlcdパネル検査方法
JP2006084496A (ja) 点灯検査装置
JP2000214423A (ja) 液晶表示装置の検査方法および検査装置
JP3177330B2 (ja) アクティブマトリクス表示装置の検査装置及び検査方法
JP3189966B2 (ja) 液晶ディスプレイ検査装置
JP2004004740A (ja) 液晶セルの検査方法および検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990311