JPH05160262A - Method of verifying integrated circuit mask pattern - Google Patents

Method of verifying integrated circuit mask pattern

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JPH05160262A
JPH05160262A JP3348891A JP34889191A JPH05160262A JP H05160262 A JPH05160262 A JP H05160262A JP 3348891 A JP3348891 A JP 3348891A JP 34889191 A JP34889191 A JP 34889191A JP H05160262 A JPH05160262 A JP H05160262A
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JP
Japan
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signal path
gate
mask pattern
connection information
gates
Prior art date
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Application number
JP3348891A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Jinbo
安男 神保
Yuichi Kanetaka
裕一 金高
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Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide integrated circuit mask pattern verifying method which reduces the burden of network retrieval and that allows accurate comparison. CONSTITUTION:A mask pattern S2 is designed based on a circuit chart S1. Connecting information S4 extracted from the mask pattern is compared with connecting information S5 extracted from the circuit chart for verification. Based on text information, the identification S6 of the bonding wire parts of S4 and S5 is performed and connecting information comparison S13 is performed permitting the identification S6 as a retrieval starting point. Based on signal path tables S7 and S8, the extraction of S9 and S10 of a floating signal path independent from the bonding wire part is performed and the identification 11 of a corresponding gate is carried out. The identified same gates are used as the additional retrieval starting points.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は集積回路マスクパターン
の検証方法、特に、作成された集積回路マスクパターン
がもとの回路図と一致するか否かを検証する方法に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for verifying an integrated circuit mask pattern, and more particularly to a method for verifying whether a created integrated circuit mask pattern matches the original circuit diagram.

【0002】[0002]

【従来の技術】集積回路を設計する場合、まず回路図か
ら集積回路マスクパターンを設計することになる。とこ
ろが、集積回路の集積度が向上してくると、集積回路マ
スクパターンも非常に複雑になり、もともとの回路図と
等価なパターンになっているか否かの検証を人手で行う
のは非常に困難である。従来から、このような検証に
は、コンピュータを用いた方法が用いられている。すな
わち、設計されたマスクパターンをデジタイズしてマス
クパターンデータ(またはベクトルデータ)として取り
込み、これに図形演算を施して素子相互の接続情報を抽
出するのである。一方では、回路図に基づいて素子相互
の接続情報を取り込み、両者を比較照合し、不一致の有
無を確認している。
2. Description of the Related Art When designing an integrated circuit, first, an integrated circuit mask pattern is designed from a circuit diagram. However, as the degree of integration of integrated circuits improves, the integrated circuit mask pattern becomes very complicated, and it is very difficult to manually verify whether or not the pattern is equivalent to the original circuit diagram. Is. Conventionally, a method using a computer has been used for such verification. In other words, the designed mask pattern is digitized and fetched as mask pattern data (or vector data), and a graphic operation is performed on this to extract connection information between elements. On the other hand, based on the circuit diagram, the connection information between the elements is fetched, the two are compared and collated, and the presence or absence of inconsistency is confirmed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】回路図から抽出した第
1の接続情報と、マスクパターンから抽出した第2の接
続情報と、を比較照合する場合、まず、両者間において
同一箇所の同定を行う必要がある。すなわち、第1の接
続情報における節点P1と、第2の接続情報における節
点P1´とが同一箇所であるといった基準となる同一箇
所の認識が行われていることを前提として、両者の比較
照合作業が行われる。節点P1とP1´とが同一箇所で
あることが認識できれば、これらの点を探索開始点とし
て、これに接続されている回路網の探索が両者で行われ
ることになる。
When the first connection information extracted from the circuit diagram and the second connection information extracted from the mask pattern are compared and collated, first, the same location is identified between them. There is a need. That is, on the assumption that the node P1 in the first connection information and the node P1 ′ in the second connection information are the same point, which is the same point as a reference, the comparison and collation work between them is performed. Is done. If it is possible to recognize that the nodes P1 and P1 'are the same location, both of these points are used as search start points to search the circuit network connected to them.

【0004】従来の方法では、この基準となる同一箇所
としては、あらかじめテキストが付与された節点(具体
的にはボンディングパッドの位置)が用いられていた。
各ボンディングパッドには、外部接続端子としての何ら
かの端子名を示すテキストが付与される。そこで、第1
の接続情報と第2の接続情報との間で、同じ端子名のテ
キストが付与された節点は同一の節点であるとして同定
を行っている。
In the conventional method, a node to which a text is added in advance (specifically, the position of the bonding pad) is used as the reference same position.
Text indicating some terminal name as an external connection terminal is attached to each bonding pad. So the first
Between the connection information and the second connection information, the nodes to which the text of the same terminal name is added are identified as the same node.

【0005】しかしながら、このようなテキスト情報に
基づいて同定された箇所のみを探索開始点として比較照
合を行った場合、回路網の探索に多大な時間を要すると
いう問題がある。また、テキスト情報の入力にミスが生
じると、正しい同定を行うことができないため、探索不
能な箇所が生じる可能性がある。更に、マスクパターン
のうちの一部を除外して検証を行うような場合、検証の
対象となる回路網が途中で分断されるため、どのボンデ
ィングパッドにも繋がっていないような部分が発生す
る。このような部分は、どの探索開始点にも繋がってい
ないので、探索することはできなくなる。
However, when the comparison and collation is performed using only a portion identified based on such text information as a search starting point, there is a problem that it takes a lot of time to search the circuit network. In addition, if an error occurs in the input of text information, correct identification cannot be performed, and there is a possibility that an unsearchable portion may occur. Furthermore, when the verification is performed by excluding a part of the mask pattern, the circuit network to be verified is divided in the middle, so that a part which is not connected to any bonding pad occurs. Such a part cannot be searched because it is not connected to any search start point.

【0006】そこで本発明は、回路網探索処理の負担を
軽減し、確実な比較照合を行うことのできる集積回路マ
スクパターンの検証方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Therefore, an object of the present invention is to provide a method for verifying an integrated circuit mask pattern which can reduce the burden of circuit network search processing and can perform reliable comparison and verification.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】(1) 本願第1の発明
は、回路図に基づいて設計された集積回路マスクパター
ンが、もとの回路図と等価か否かを検証する集積回路マ
スクパターンの検証方法において、回路図から各素子の
接続情報を第1の接続情報として抽出する段階と、集積
回路マスクパターンから各素子の接続情報を第2の接続
情報として抽出する段階と、第1の接続情報と第2の接
続情報との間で、付与されたテキスト情報に基づいて同
一箇所を同定する段階と、第1の接続情報に基づいて、
各信号路ごとに、その信号路に接続されているゲートに
対する入出力属性を示す、第1の信号路テーブルを作成
する段階と、第2の接続情報に基づいて、各信号路ごと
に、その信号路に接続されているゲートに対する入出力
属性を示す、第2の信号路テーブルを作成する段階と、
第1の信号路テーブルにおいて、入力または出力のいず
れか一方の属性しか示されていない信号路を第1の浮き
信号路として抽出する段階と、第2の信号路テーブルに
おいて、入力または出力のいずれか一方の属性しか示さ
れていない信号路を第2の浮き信号路として抽出する段
階と、第1の浮き信号路に接続されているゲートと、第
2の浮き信号路に接続されているゲートと、の間で同一
ゲートの同定を行う段階と、同定された同一箇所および
同一ゲートを探索開始点として、第1の接続情報と第2
の接続情報とを比較照合する段階と、を行うようにした
ものである。
(1) A first invention of the present application is an integrated circuit mask pattern for verifying whether an integrated circuit mask pattern designed based on a circuit diagram is equivalent to the original circuit diagram. In the verification method of step 1, extracting connection information of each element from the circuit diagram as first connection information, extracting connection information of each element from the integrated circuit mask pattern as second connection information, and Between the connection information and the second connection information, a step of identifying the same place based on the added text information, and based on the first connection information,
For each signal path, a step of creating a first signal path table showing input / output attributes for gates connected to the signal path, and for each signal path based on the second connection information, Creating a second signal path table showing input / output attributes for gates connected to the signal path;
In the first signal path table, a step of extracting a signal path showing only one of the attributes of input or output as a first floating signal path, and in the second signal path table, either input or output. Extracting a signal path showing only one of the attributes as a second floating signal path, a gate connected to the first floating signal path, and a gate connected to the second floating signal path And a step of identifying the same gate between the first connection information and the second connection information using the identified same location and the same gate as a search start point.
The step of comparing and collating with the connection information of (1) is performed.

【0008】(2) 本願第2の発明は、上述の第1の発
明に係る検証方法において、第1の浮き信号路に接続さ
れているゲート以外の残存ゲートと、第2の浮き信号路
に接続されているゲート以外の残存ゲートと、の間で同
一ゲートの同定を行う段階を更に付加したものである。
(2) The second invention of the present application is the verification method according to the first invention, wherein the remaining gates other than the gates connected to the first floating signal path and the second floating signal path are connected. The step of identifying the same gate between the remaining gates other than the connected gates is further added.

【0009】(3) 本願第3の発明は、上述の第1また
は第2の発明に係る検証方法において、ゲートの同定を
1対1で行うことができない場合に、n個(nは2以上
の自然数)のゲートからなるグループ間についてn対n
のグループ単位の同定を行っておき、比較照合の段階で
新たに同定できた同一ゲートの情報に基づき、グループ
構成ゲート数nを順次減少させるようにしたものであ
る。
(3) The third aspect of the present invention is the verification method according to the first or second aspect of the invention, in which n gates (n is 2 or more) are identified when the gates cannot be identified on a one-to-one basis. N of groups between groups of
The identification of each group is performed in advance, and the number n of the gates forming the group is sequentially decreased based on the information of the same gate that was newly identified in the comparison and collation stage.

【0010】(4) 本願第4の発明は、上述の第1〜第
3のいずれかに記載の検証方法において、ゲート同士の
同定を、ゲートのタイプおよび各信号路に対する接続関
係を参照することにより行うようにしたものである。
(4) In the fourth aspect of the present invention, in the verification method according to any one of the first to third aspects, the identification of the gates is made by referring to the type of the gate and the connection relation to each signal path. This is done by

【0011】[0011]

【作 用】本発明の集積回路マスクパターンの検証方法
によれば、回路網の探索の起点となる探索開始点が従来
の方法よりも増えることになる。すなわち、従来の方法
では、ボンディングパッドなどテキスト情報が付与され
た箇所のみを同定し、これを探索開始点としていた。本
発明による方法では、ある信号路に接続されているすべ
てのゲートについて、入力または出力のいずれか一方の
属性しか示さないような信号路を浮き信号路と定義し、
この浮き信号路に接続されているゲート同士での同定を
行い、同一と認識されたゲートが新たな探索開始点とし
て加えられることになる。このように、より多数の探索
開始点を用いた探索を行うことにより、回路網探索処理
の負担が軽減し、確実な比較照合を行うことができるよ
うになる。
[Operation] According to the integrated circuit mask pattern verification method of the present invention, the number of search starting points, which are the starting points for searching the network, is increased more than in the conventional method. That is, in the conventional method, only a portion such as a bonding pad to which text information is added is identified, and this is used as a search starting point. In the method according to the present invention, for all gates connected to a signal path, a signal path that shows only one of the attributes of input and output is defined as a floating signal path,
The gates connected to this floating signal path are identified, and the gates recognized as the same are added as a new search start point. In this way, by performing the search using a larger number of search start points, the load of the circuit network search processing is reduced, and reliable comparison and collation can be performed.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。はじめに、従来の一般的な検証方法の手順を、
図1の流れ図に基づいて説明しておく。まず、ステップ
S1において回路設計がなされ、原回路図が作成され
る。この原回路図に基づいてステップS2においてマス
クパターンが設計される。ここで述べる検証方法は、ス
テップS1で作成された回路図とステップS2で設計さ
れたマスクパターンとが、等価であるか否かを照合する
ことを目的とするものである。そこで、ステップS2で
設計されたマスクパターンを、ステップS3においてデ
ジタイズする。すなわち、設計されたマスクパターンを
デジタルデータとしてコンピュータに取り込む作業を行
う。続いて、ステップS4において、このデジタルデー
タに基づいて、マスクパターンの接続情報が抽出され
る。これはデジタルデータで表現された図形情報に対し
て、図形演算を施し、各素子の認識および各節点の位相
関係の認識を行うことによりなされる。各素子の認識を
行うためには、たとえば、ある特定の拡散層だけからな
る領域は抵抗素子、ある特定の拡散層にポリシリコン層
が重なっている領域はトランジスタ、などの条件設定が
必要であるが、この種の図形演算は公知であるため、こ
こでは詳しい説明は省略する。同様に、ステップS5に
おいて、ステップS1で作成された回路図に基づいて、
回路図の接続情報が抽出される。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below based on illustrated embodiments. First, the procedure of the conventional general verification method is
A description will be given based on the flowchart of FIG. First, in step S1, a circuit is designed and an original circuit diagram is created. A mask pattern is designed in step S2 based on this original circuit diagram. The verification method described here is intended to verify whether or not the circuit diagram created in step S1 and the mask pattern designed in step S2 are equivalent. Therefore, the mask pattern designed in step S2 is digitized in step S3. That is, the designed mask pattern is loaded into a computer as digital data. Then, in step S4, the connection information of the mask pattern is extracted based on this digital data. This is done by performing a graphic operation on the graphic information represented by digital data to recognize each element and the phase relationship of each node. In order to recognize each element, it is necessary to set conditions such as a resistance element in a region consisting of only a certain diffusion layer and a transistor in a region where a polysilicon layer overlaps with a certain diffusion layer. However, since this kind of graphic operation is known, detailed description thereof is omitted here. Similarly, in step S5, based on the circuit diagram created in step S1,
The connection information of the circuit diagram is extracted.

【0013】次に、ステップS6において、テキスト情
報に基づく同一箇所の同定が行われる。たとえば、ステ
ップS5で抽出された回路図の接続情報が図2(a) に示
すようなものであり、ステップS4で抽出されたマスク
パターンの接続情報が図2(b) に示すようなものであっ
たとする。各接続情報は、信号路S1,S2,S3ある
いはS1´,S2´,S3´と、ゲートG1,G2,G
3あるいはG1´,G2´,G3´によって構成されて
いるが、各信号路および各ゲートの対応関係は、これだ
けの情報からでは決定できない。ここで、信号路S1の
端点P1に位置するボンディングパッドに端子名「AP
PLE」なるテキスト情報が付与されており、信号路S
1´の端点P1´に位置するボンディングパッドに同一
の端子名「APPLE」なるテキスト情報が付与されて
いたものとする。この場合、付与されたテキスト情報か
ら、回路図の接続情報(図2(a) )上の端点P1とマス
クパターンの接続情報(図2(b) )上の端点P1´と
は、同一点であると認識できる。このように同一箇所の
同定が行われていれば、同定された同一箇所を探索開始
点として回路網の探索処理を行い、両接続情報の比較照
合処理を行うことができる。図1の流れ図における最後
のステップS13(後述する図4に合わせるため、ステ
ップ番号は飛んでいる)に示す処理がこの処理である。
具体的には、まず、端点P1に接続されている信号路S
1と、端点P1´に接続されている信号路S1´とが同
一の信号路であると認識できる。このように、探索開始
点P1,P1´から回路網の探索を行うことにより、信
号路S1,S1´の同定、ゲートG1,G1´の同定、
信号路S2,S2´の同定、ゲートG2,G2´の同
定、信号路S3,S3´の同定、ゲートG3,G3´の
同定、と順次行われてゆくことになる。
Next, in step S6, the same portion is identified based on the text information. For example, the connection information of the circuit diagram extracted in step S5 is as shown in FIG. 2 (a), and the connection information of the mask pattern extracted in step S4 is as shown in FIG. 2 (b). Suppose The connection information includes signal paths S1, S2, S3 or S1 ', S2', S3 'and gates G1, G2, G.
3 or G1 ', G2', G3 ', but the correspondence between each signal path and each gate cannot be determined from such information. Here, the terminal name "AP" is attached to the bonding pad located at the end point P1 of the signal path S1.
The text information "PLE" is added to the signal path S
It is assumed that the bonding pad located at the end point P1 'of 1'has the text information of the same terminal name "APPLE". In this case, from the added text information, the end point P1 on the connection information of the circuit diagram (FIG. 2 (a)) and the end point P1 'on the connection information of the mask pattern (FIG. 2 (b)) are the same point. I can recognize it. If the same location is identified in this way, the network location can be searched using the identified location as the search start point, and the comparison and collation processing of both connection information can be performed. This is the process shown in the last step S13 in the flowchart of FIG. 1 (step numbers are skipped to match FIG. 4 described later).
Specifically, first, the signal path S connected to the end point P1
It can be recognized that 1 and the signal path S1 ′ connected to the end point P1 ′ are the same signal path. In this way, by searching the network from the search starting points P1 and P1 ′, the signal paths S1 and S1 ′ are identified, the gates G1 and G1 ′ are identified,
The signal paths S2 and S2 'are identified, the gates G2 and G2' are identified, the signal paths S3 and S3 'are identified, and the gates G3 and G3' are identified.

【0014】しかしながら、既に従来技術の問題点とし
て述べたように、テキスト情報に基づいて同定された同
一箇所のみを探索開始点とすると、探索処理の演算負担
はかなり重くなる。また、探索不能の箇所が発生するこ
ともある。たとえば、図3に示すように、回路内の所定
領域にRAMが構成されており、このRAM内の接続情
報については検証を行わないような場合を考える。この
ような場合、図にハッチングを施したRAM領域につい
ては、接続情報の抽出が行われないので、この領域の境
界線において回路網は分断されることになる。ここで、
RAM領域の境界上にある節点Q1については、探索開
始点P1からの探索ルートR1によって探索可能であ
り、同じく節点Q2については、探索開始点P2からの
探索ルートR2によって探索可能であるが、節点Q3と
Q4とは、両者間を結ぶルートR3にのみ繋がっている
ので、探索開始点P1からもP2からも探索することは
できなくなる。このような場合、回路図とマスクパター
ンとが事実上一致していたとしても、比較照合の結果は
不一致となる。
However, as already described as a problem of the prior art, if only the same portion identified based on the text information is used as the search start point, the calculation load of the search processing becomes considerably heavy. In addition, there are cases where unsearchable parts occur. For example, as shown in FIG. 3, consider a case where a RAM is configured in a predetermined area in the circuit and the connection information in this RAM is not verified. In such a case, since the connection information is not extracted for the RAM area hatched in the figure, the circuit network is divided at the boundary line of this area. here,
The node Q1 on the boundary of the RAM area can be searched by the search route R1 from the search start point P1, and the node Q2 can be searched by the search route R2 from the search start point P2. Since Q3 and Q4 are connected only to the route R3 connecting them, it is not possible to search from the search start point P1 or P2. In such a case, even if the circuit diagram and the mask pattern actually match, the result of the comparison and collation does not match.

【0015】図3において、ボンディングパッドとして
テキスト情報が付与された端点P1,P2に加え、回路
網内部の節点Q1〜Q4を探索開始点とすることができ
れば、ルートR3の探索も可能になり、しかも探索の演
算負担も軽減できる。本発明は、このような基本思想に
基づくものである。本明細書では、節点Q1〜Q4のよ
うに、途中で分断された節点に至る信号路を「浮き信号
路」と呼ぶことにする。本発明は、この浮き信号路に接
続されているゲート同士で同定を行い、同一のゲートと
認識された場合には、この同一ゲートを新たに探索開始
点に加えようとするものである。
In FIG. 3, if the nodes Q1 to Q4 in the circuit network can be used as the search start points in addition to the end points P1 and P2 to which the text information is added as the bonding pads, the route R3 can be searched, Moreover, the calculation load of the search can be reduced. The present invention is based on such a basic idea. In the present specification, signal paths reaching nodes that are divided in the middle, like the nodes Q1 to Q4, are referred to as “floating signal paths”. According to the present invention, the gates connected to the floating signal path are identified with each other, and when the gates are recognized as the same gate, the same gate is newly added to the search start point.

【0016】以下、本発明による検証方法を、図4に示
す流れ図に基づいて説明する。図4の流れ図におけるス
テップS1〜S6までは、図1に示す流れ図におけるス
テップS1〜S6と同じ手順である。すなわち、ステッ
プS1において回路設計がなされ、原回路図が作成され
る。ここでは、たとえば、図5に示すような回路をその
一部に含む原回路図が作成されたものとして以下の説明
を続けることにする。ステップS2では、この原回路図
に基づいてマスクパターンが設計され、このマスクパタ
ーンはステップS3でデジタイズされてコンピュータに
図形データとして取り込まれる。そして、ステップS4
およびステップS5において、それぞれ接続情報が抽出
される。図5に示す回路図を用いた場合、ステップS5
において抽出される回路図の接続情報は、たとえば、図
6に示すようなものとなり、ステップS4において抽出
されるマスクパターンの接続情報は、たとえば、図7に
示すようなものとなる。各接続情報は、信号路S1〜S
23あるいはS1´〜S23´と、ゲートG1〜G15
あるいはG1´〜G15´と、によって構成されてい
る。信号路はいずれも信号の伝達方向に関する情報をも
ち、特定のゲートに対する入力信号か出力信号かが認識
できる。また、各ゲートは、この実施例では、4つのゲ
ートタイプのいずれかに属する。図6に示す接続情報と
図7に示す接続情報とは、実際には等価なものである
が、この時点では両者が等価かどうかは認識できていな
い。たとえば、図6における信号路S1が、図7のどの
信号路と同一であるのかはまだ特定できない。
The verification method according to the present invention will be described below with reference to the flow chart shown in FIG. Steps S1 to S6 in the flowchart of FIG. 4 are the same as steps S1 to S6 in the flowchart of FIG. That is, in step S1, a circuit is designed and an original circuit diagram is created. Here, for example, the following description will be continued assuming that an original circuit diagram including a circuit shown in FIG. In step S2, a mask pattern is designed based on this original circuit diagram, and this mask pattern is digitized in step S3 and taken in as computer graphic data. Then, step S4
Then, in step S5, the connection information is extracted. When the circuit diagram shown in FIG. 5 is used, step S5
For example, the connection information of the circuit diagram extracted in step S4 is as shown in FIG. 6, and the connection information of the mask pattern extracted in step S4 is as shown in FIG. Each connection information includes signal paths S1 to S
23 or S1 'to S23' and gates G1 to G15
Alternatively, it is composed of G1 'to G15'. Each of the signal paths has information regarding the signal transmission direction, and can recognize whether it is an input signal or an output signal for a specific gate. Also, each gate belongs to one of four gate types in this embodiment. The connection information shown in FIG. 6 and the connection information shown in FIG. 7 are actually equivalent, but it is not known at this point whether or not they are equivalent. For example, it cannot be specified yet which signal path in FIG. 7 the signal path S1 in FIG. 6 is identical to.

【0017】次に、ステップS6において、テキスト情
報に基づく同一箇所の同定が行われる。これは、前述し
たように、ボンディングパッドなど特定の節点につい
て、回路図の接続情報とマスクパターンの接続情報との
間で、同一であると認識する処理である。図5に示す回
路は、いずれもボンディングパッドには繋がっていない
孤立した部分であるため、図6に示す接続情報および図
7に示す接続情報には、ステップS6における同定が行
われる同一箇所は含まれていない。
Next, in step S6, the same portion is identified based on the text information. As described above, this is a process of recognizing that the connection information of the circuit diagram and the connection information of the mask pattern are the same at a specific node such as a bonding pad. Since the circuit shown in FIG. 5 is an isolated portion that is not connected to any bonding pad, the connection information shown in FIG. 6 and the connection information shown in FIG. It is not.

【0018】続くステップS7以降の手順が本発明の特
徴となる処理である。まず、ステップS7において、回
路図の接続情報(図6)に基づいて、第1の信号路テー
ブル(図8)と第1のゲートテーブル(図9)が作成さ
れる。第1の信号路テーブルは、各信号路ごとに、接続
ゲート数、各接続ゲート名、ゲートタイプ、入出力属
性、をそれぞれまとめたテーブルである。たとえば、信
号路S1については、1つのゲートG1のみが接続され
ており、このゲートG1はゲートタイプ1であり、信号
路S1はこのゲートG1に対して入力Iの入出力属性を
もつ。同様に、信号路S2については、2つのゲートG
1,G2が接続されており、一方のゲートG1はゲート
タイプ1であり、信号路S2はこのゲートG1に対して
出力Oの入出力属性をもち、他方のゲートG2はゲート
タイプ1であり、信号路S2はこのゲートG2に対して
入力Iの入出力属性をもつ。図6と図8とを参照すれ
ば、図6の接続情報に基づいて図8のテーブルが容易に
作成しうることが理解できよう。これに対して、図9に
示す第1のゲートテーブルは、各ゲートごとに、ゲート
タイプ、接続信号路数、信号路名、入出力属性、をそれ
ぞれまとめたテーブルである。たとえば、ゲートG1に
ついては、ゲートタイプ1であり、接続信号路数は2で
あり、一方の信号路S2はこのゲートG1に対して出力
Oの入出力属性をもち、他方の信号路S1はこのゲート
G1に対して入力Iの入出力属性をもつ。図6と図9と
を参照すれば、図6の接続情報に基づいて図9のテーブ
ルが容易に作成しうることが理解できよう。全く同様
に、ステップS8では、マスクパターンの接続情報(図
7)に基づいて、第2の信号路テーブル(図10)と第
2のゲートテーブル(図11)が作成される。
The procedure following step S7 is a process which is a feature of the present invention. First, in step S7, a first signal path table (FIG. 8) and a first gate table (FIG. 9) are created based on the connection information (FIG. 6) of the circuit diagram. The first signal path table is a table in which the number of connection gates, each connection gate name, gate type, and input / output attribute are summarized for each signal path. For example, for signal path S1, only one gate G1 is connected, this gate G1 is of gate type 1, and signal path S1 has an input / output attribute of input I to this gate G1. Similarly, for signal path S2, two gates G
1, G2 are connected, one gate G1 is of gate type 1, the signal path S2 has an input / output attribute of output O with respect to this gate G1, and the other gate G2 is of gate type 1. The signal path S2 has the input / output attribute of the input I with respect to this gate G2. It will be understood from FIG. 6 and FIG. 8 that the table of FIG. 8 can be easily created based on the connection information of FIG. On the other hand, the first gate table shown in FIG. 9 is a table in which the gate type, the number of connection signal paths, the signal path name, and the input / output attribute are summarized for each gate. For example, for the gate G1, the gate type is 1, the number of connection signal paths is 2, one signal path S2 has an input / output attribute of the output O with respect to this gate G1, and the other signal path S1 has this It has an input / output attribute of input I with respect to the gate G1. It will be understood from reference to FIGS. 6 and 9 that the table of FIG. 9 can be easily created based on the connection information of FIG. In the same manner, in step S8, the second signal path table (FIG. 10) and the second gate table (FIG. 11) are created based on the mask pattern connection information (FIG. 7).

【0019】続いて、ステップS9において、第1の浮
き信号路が抽出される。前述のように、「浮き信号路」
とは、途中で分断された節点に至る信号路である。この
ような第1の浮き信号路は、図8に示す第1の信号路テ
ーブルから次のようにして抽出できる。すなわち、この
テーブルに示された各信号路の中で、入出力属性が入力
Iまたは出力Oのいずれか一方の属性しか示されていな
い信号路を抽出すれば、それが第1の浮き信号路であ
る。たとえば、図8のテーブルにおいて、信号路S1の
入出力属性は入力Iのみであるため、信号路S1は浮き
信号路として抽出される。ところが、信号路S2の入出
力属性は出力Oと入力Iとの双方があるため、信号路S
2は浮き信号路にはならない。また、信号路S14は、
3つのゲートに接続されているにもかかわらず、その入
出力属性は3つともに入力Iであるから、浮き信号路と
して抽出される。こうして、図8に示す第1の信号路テ
ーブルの中から、浮き信号路のみを抽出すれば、図12
に示す第1の浮き信号路テーブルが作成できる。なお、
この図12に示すテーブルは、後述する同定作業の便宜
を考えて、接続ゲート数ごとに分類して示してある。ス
テップS10では、全く同様にして、第2の浮き信号路
が抽出される。すなわち、図10に示す第2の信号路テ
ーブルの中から、入出力属性が入力Iまたは出力Oのい
ずれか一方の属性しか示されていない信号路を抽出する
ことにより、図13に示す第2の浮き信号路テーブルが
得られる。
Then, in step S9, the first floating signal path is extracted. As mentioned above, "floating signal path"
Is a signal path leading to a node that is divided on the way. Such a first floating signal path can be extracted from the first signal path table shown in FIG. 8 as follows. That is, if a signal path whose input / output attribute shows only one of the input I and the output O is extracted from among the signal paths shown in this table, it is extracted as the first floating signal path. Is. For example, in the table of FIG. 8, since the input / output attribute of the signal path S1 is only the input I, the signal path S1 is extracted as the floating signal path. However, since the input / output attribute of the signal path S2 has both output O and input I, the signal path S2
2 does not serve as a floating signal path. Further, the signal path S14 is
Despite being connected to the three gates, all three of its input / output attributes are inputs I, so that they are extracted as floating signal paths. Thus, if only the floating signal path is extracted from the first signal path table shown in FIG.
The first floating signal path table shown in can be created. In addition,
The table shown in FIG. 12 is classified according to the number of connection gates for the convenience of identification work described later. In step S10, the second floating signal path is extracted in exactly the same manner. That is, the second signal path table shown in FIG. 13 is extracted by extracting from the second signal path table shown in FIG. 10, the signal path whose input / output attribute shows only one of the input I and output O attributes. The floating signal path table of is obtained.

【0020】次に、ステップS11において、浮き信号
路に基づく同一ゲートの同定が行われる。すなわち、第
1の浮き信号路に接続されているゲート(図12のテー
ブルのゲート名欄に掲載されているゲート)と、第2の
浮き信号路に接続されているゲート(図13のテーブル
のゲート名欄に掲載されているゲート)と、の間で、同
一のものを認識する同定処理を行うのである。この同定
は、各ゲートのゲートタイプと入出力属性とを参照する
ことにより行うことができる。たとえば、図12におい
て、ゲートG1はゲートタイプ1であり、入出力属性は
Iとなっている。そこで、これを「1I」と略記する。
このように「1I」と略記できるゲートは、ゲートG
1,G5,G7,G10の4つである。一方、図13に
おいて「1I」と略記できるゲートは、ゲートG1´,
G5´,G7´,G10´の4つである。したがって、
ゲートG1,G5,G7,G10の4つのゲートからな
るグループとゲートG1´,G5´,G7´,G10´
の4つのゲートからなるグループとは、いずれかのゲー
ト同士を1対1に対応させることができるグループであ
り、グループ単位での同定を示す情報が得られたことに
なる。ただ、これだけの情報では、どのゲートとどのゲ
ートとが対応するのか、ゲート単位での同定はできな
い。これに対し、図12におけるゲートG9に着目して
みよう。このゲートG9はゲートタイプ2であり、入出
力属性はOとなっている。すなわち、略記すれば、「2
O」である。図12のテーブル内には、「2O」と略記
できるゲートは、このゲートG9のみである。一方、図
13のテーブルにおいても、「2O」と略記できるゲー
トはゲートG9´のみである。したがって、ゲートG9
とゲートG9´とは、同一のゲートであると認識するこ
とができる。以下、同一ゲートと認識できた組み合わせ
については、等号を用いて、G9=G9´のように表す
ことにする。
Next, in step S11, the same gate is identified based on the floating signal path. That is, the gate connected to the first floating signal path (the gate listed in the gate name column of the table of FIG. 12) and the gate connected to the second floating signal path (of the table of FIG. 13). Gates listed in the gate name column) and an identification process for recognizing the same. This identification can be performed by referring to the gate type and input / output attribute of each gate. For example, in FIG. 12, the gate G1 is of gate type 1, and the input / output attribute is I. Therefore, this is abbreviated as “1I”.
The gate that can be abbreviated as “1I” is the gate G
These are 1, G5, G7, and G10. On the other hand, in FIG. 13, the gate which can be abbreviated as “1I” is a gate G1 ′,
They are G5 ', G7', and G10 '. Therefore,
A group of four gates G1, G5, G7 and G10 and gates G1 ', G5', G7 'and G10'.
The group consisting of four gates is a group in which any one of the gates can be associated with each other in a one-to-one relationship, and it means that information indicating identification in group units is obtained. However, with such information, it is not possible to identify which gate corresponds to which gate on a gate-by-gate basis. On the other hand, let's focus on the gate G9 in FIG. This gate G9 is of gate type 2, and the input / output attribute is O. That is, in short, "2
"O". This gate G9 is the only gate that can be abbreviated as "20" in the table of FIG. On the other hand, also in the table of FIG. 13, the gate that can be abbreviated as "2O" is only the gate G9 '. Therefore, the gate G9
It can be recognized that the gate and the gate G9 'are the same gate. Hereinafter, combinations that can be recognized as the same gate will be expressed as G9 = G9 ′ using an equal sign.

【0021】同様にして、図12のテーブル内では、
「2I」と略記できるゲートは、ゲートG6,G11の
2つだけであり、図13のテーブル内では、「2I」と
略記できるゲートは、ゲートG6´,G11´の2つだ
けである。したがって、これらについても、グループ単
位での同定を示す情報が得られることになる。
Similarly, in the table of FIG.
Only two gates G6 and G11 can be abbreviated as “2I”, and in the table of FIG. 13, only two gates G6 ′ and G11 ′ can be abbreviated as “2I”. Therefore, also for these, information indicating identification in group units can be obtained.

【0022】図12のテーブルと図13のテーブルとを
対比する上で、更に、接続ゲート数を参照するようにす
れば、同定可能なゲートはより多くなる。たとえば、図
12において、信号路S14は接続ゲート数が3であ
り、ゲートG10,G11,G12が接続されている。
そこで、接続ゲート数、ゲートタイプ、入出力属性、の
順にデータを並べて略記すると、ゲートG10は「31
I」、ゲートG11は「32I」、ゲートG12は「3
3I」、とそれぞれ略記できる。一方、図13におい
て、ゲートG10´は「31I」、ゲートG11´は
「32I」、ゲートG12´は「33I」、とそれぞれ
略記できる。しかも、同じように略記できるゲートは他
には存在しない。したがって、これらのゲートは1対1
に対応し、G10=G10´、G11=G11´、G1
2=G12´、なる同定を行うことができる。
If the table of FIG. 12 and the table of FIG. 13 are compared and the number of connected gates is referred to, the number of identifiable gates increases. For example, in FIG. 12, the signal path S14 has three connection gates, and the gates G10, G11, and G12 are connected.
Therefore, when the data is arranged and abbreviated in the order of the number of connected gates, the gate type, and the input / output attribute, the gate G10 is "31".
I ", the gate G11 is" 32I ", and the gate G12 is" 3 ".
3I ”, respectively. On the other hand, in FIG. 13, the gate G10 'can be abbreviated as "31I", the gate G11' as "32I", and the gate G12 'as "33I". Moreover, no other gate can be abbreviated in the same way. Therefore, these gates are 1: 1
Corresponding to G10 = G10 ′, G11 = G11 ′, G1
2 = G12 'can be identified.

【0023】かくして、とりあえず、G9=G9´、G
10=G10´、G11=G11´、G12=G12
´、なる4組のゲートが同定される。ここで、G11=
G11´なる同定が行われたことにより、ゲートG6,
G11からなるグループとゲートG6´,G11´から
なるグループとの間で得られたグループ単位の同定に基
づき、G6=G6´なるゲート単位の同定が可能にな
る。これらのゲートは、同一のゲートとして認識された
のであるから、後の比較照合処理における探索開始点と
して用いることができる。結局、ステップS11を行う
ことにより、新たな探索開始点を5つ設定することがで
きるようになる。
Thus, for the time being, G9 = G9 ', G
10 = G10 ', G11 = G11', G12 = G12
', 4 sets of gates are identified. Where G11 =
Since the identification G11 'is performed, the gate G6
Based on the identification of the group unit obtained between the group consisting of G11 and the group consisting of the gates G6 'and G11', the identification of the gate unit G6 = G6 'becomes possible. Since these gates are recognized as the same gate, they can be used as a search start point in the subsequent comparison and collation processing. After all, by performing step S11, it becomes possible to set five new search start points.

【0024】なお、前述のように、ゲートG1,G5,
G7,G10の4つのゲートからなるグループとゲート
G1´,G5´,G7´,G10´の4つのゲートから
なるグループとは、グループ単位の同定が行われてい
た。このようなグループ単位の同定は、それだけでは新
たな探索開始点の設定には寄与しないが、後に、グルー
プの構成メンバーであるゲートについてゲート単位の同
定が行われた場合には、新たなゲート単位の同定に寄与
できる。たとえば、前述のように、G10=G10´な
る同定が既に行われているので、グループの構成メンバ
ーからゲートG10およびG10´が除外され、グルー
プの大きさは、ゲートG1,G5,G7の3つのゲート
からなるグループと、ゲートG1´,G5´,G7´の
3つのゲートからなるグループと、に縮小される。ここ
で、仮に、G1=G1´、G5=G5´なるゲート単位
の同定が将来行われれば、このグループ単位の同定を利
用して、G7=G7´なるゲート単位の同定を行うこと
ができる。このように、グループ単位の同定情報は、ゲ
ート単位の同定を行うための候補を示す情報として利用
することができるのである。
As described above, the gates G1, G5,
The group consisting of four gates G7 and G10 and the group consisting of four gates G1 ′, G5 ′, G7 ′, and G10 ′ have been identified in group units. Although such identification of a group unit does not contribute to setting a new search start point by itself, if a gate unit identification is performed later on a gate that is a member of the group, a new gate unit identification is performed. Can contribute to the identification of For example, as described above, since the identification G10 = G10 ′ has already been performed, the gates G10 and G10 ′ are excluded from the members of the group, and the size of the group is three of the gates G1, G5, and G7. It is reduced to a group of gates and a group of three gates G1 ', G5' and G7 '. Here, if the identification of the gate unit G1 = G1 ′ and G5 = G5 ′ is performed in the future, the identification of the gate unit G7 = G7 ′ can be performed using the identification of the group unit. In this way, the identification information in group units can be used as information indicating candidates for identifying gate units.

【0025】本発明の基本原理は、ステップS11にお
いて行われたように、浮き信号路に基づいて同一ゲート
の同定を行う点にある。続くステップS12の処理は、
この基本原理を逆に利用し、浮き信号路に関連しないゲ
ートについての同定を行うものである。この同定方法を
以下に説明する。図12に示す第1の浮き信号路テーブ
ルのゲート名欄には、浮き信号路に接続されているゲー
トが掲載されている。一方、図9に示す第1のゲートテ
ーブルには、すべてのゲートが掲載されている。そこ
で、図9のテーブルに掲載されているゲートであって、
図12のテーブルに掲載されていないゲートを残存ゲー
トとして抽出する。具体的には、ゲートG2,G3,G
13の3つが残存ゲートとして抽出される。これをゲー
トタイプごとに分けて示したのが図14(a) のテーブル
である。同様に、図13に示す第2の浮き信号路テーブ
ルのゲート名欄には、浮き信号路に接続されているゲー
トが掲載されており、図11に示す第2のゲートテーブ
ルには、すべてのゲートが掲載されている。そこで、図
11のテーブルに掲載されているゲートであって、図1
3のテーブルに掲載されていないゲートを残存ゲートと
して抽出する。具体的には、ゲートG2´,G3´,G
13´の3つが残存ゲートとして抽出される。これをゲ
ートタイプごとに分けて示したのが図14(b)のテーブ
ルである。ステップS12における同定は、これら残存
ゲートの中から同一のゲートを認識する処理である。図
14の(a) ,(b) を比較すれば、残存ゲート中、ゲート
タイプ4のものはゲートG13,G13´の1組しか存
在しない。すなわち、G13=G13´なる同定が可能
である。また、残ったゲートG2,G3とゲートG2
´,G3´については、グループ単位での同定が可能で
ある。
The basic principle of the present invention resides in that the same gate is identified based on the floating signal path, as performed in step S11. The process of the subsequent step S12 is
This basic principle is used in reverse to identify gates not related to the floating signal path. This identification method will be described below. In the gate name column of the first floating signal path table shown in FIG. 12, gates connected to the floating signal path are listed. On the other hand, all the gates are listed in the first gate table shown in FIG. So, for the gates listed in the table in Figure 9,
Gates not listed in the table of FIG. 12 are extracted as remaining gates. Specifically, the gates G2, G3, G
Three of 13 are extracted as remaining gates. This is shown in the table of FIG. 14 (a), which is shown separately for each gate type. Similarly, the gates connected to the floating signal path are listed in the gate name column of the second floating signal path table shown in FIG. 13, and all the gates connected to the floating signal path are listed in the second gate table shown in FIG. The gate is posted. Therefore, the gates listed in the table of FIG.
Gates not listed in the table of No. 3 are extracted as remaining gates. Specifically, the gates G2 ', G3', G
Three of 13 'are extracted as remaining gates. This is shown in the table of FIG. 14 (b), which is divided into gate types. The identification in step S12 is a process of recognizing the same gate among these remaining gates. When (a) and (b) of FIG. 14 are compared, among the remaining gates, the gate type 4 has only one set of the gates G13 and G13 '. That is, the identification of G13 = G13 'is possible. The remaining gates G2, G3 and G2
It is possible to identify the groups 'and G3' in units of groups.

【0026】こうして、ステップS12を終了した段階
では、図15に示す6組のゲートについて、ゲート単位
の同定が完了する。したがって、この6組のゲートはそ
れぞれ探索開始点として利用できる。ステップS13で
は、これらの探索開始点に基づいて、接続情報の比較照
合が行われる。また、図16に示す2組のグループにつ
いては、グループ単位の同定が完了しており、この情報
はゲート単位の同定に利用される。
In this way, when step S12 is completed, the identification of the gate unit is completed for the six sets of gates shown in FIG. Therefore, each of these 6 sets of gates can be used as a search starting point. In step S13, the connection information is compared and collated based on these search start points. The identification of each group has been completed for the two groups shown in FIG. 16, and this information is used for identification of each gate.

【0027】以上、本発明を図示する実施例に基づいて
説明したが、本発明はこの実施例のみに限定されるもの
ではなく、この他にも種々の態様で実施可能である。
The present invention has been described above based on the illustrated embodiment, but the present invention is not limited to this embodiment and can be implemented in various modes other than this.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のとおり、本発明による検証方法で
は、テキスト情報に基いて同定された探索開始点に、ゲ
ート単位で同定された探索開始点が加わるため、より多
くの探索開始点を用いた回路網の探索が可能になり、接
続情報の比較照合処理の処理負担が軽減され、検証時間
を短縮することができるようになる。また、従来の方法
では検証できなかった浮き信号路を含む回路部分につい
ても検証が可能になる。
As described above, in the verification method according to the present invention, since the search starting point identified based on the text information is added to the search starting point identified in the gate unit, more search starting points are used. It is possible to search the existing network, reduce the processing load of the comparison and collation processing of connection information, and shorten the verification time. Further, it becomes possible to verify the circuit portion including the floating signal path, which could not be verified by the conventional method.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】従来の一般的なマスクパターンの検証方法の手
順を示す流れ図である。
FIG. 1 is a flowchart showing a procedure of a conventional general mask pattern verification method.

【図2】回路図およびマスクパターンから抽出された接
続情報の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of connection information extracted from a circuit diagram and a mask pattern.

【図3】接続情報の一部に検証除外領域(RAM領域)
が定義された例を示す図である。
FIG. 3 is a verification exclusion area (RAM area) in a part of connection information.
It is a figure which shows the example in which was defined.

【図4】本発明の一実施例に係るマスクパターンの検証
方法の手順を示す流れ図である。
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure of a mask pattern verification method according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明による検証の対象となる具体的な回路図
の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an example of a specific circuit diagram to be verified according to the present invention.

【図6】図5に示す回路図から抽出した接続情報を示す
図である。
6 is a diagram showing connection information extracted from the circuit diagram shown in FIG.

【図7】図5に示す回路図に基づいて作成されたマスク
パターンから抽出した接続情報を示す図である。
7 is a diagram showing connection information extracted from a mask pattern created based on the circuit diagram shown in FIG.

【図8】図6に示す回路図の接続情報に基づいて作成し
た信号路テーブルを示す図である。
8 is a diagram showing a signal path table created based on the connection information of the circuit diagram shown in FIG.

【図9】図6に示す回路図の接続情報に基づいて作成し
たゲートテーブルを示す図である。
9 is a diagram showing a gate table created based on the connection information of the circuit diagram shown in FIG. 6;

【図10】図7に示すマスクパターンの接続情報に基づ
いて作成した信号路テーブルを示す図である。
10 is a diagram showing a signal path table created based on the connection information of the mask pattern shown in FIG.

【図11】図7に示すマスクパターンの接続情報に基づ
いて作成したゲートテーブルを示す図である。
11 is a diagram showing a gate table created based on the connection information of the mask pattern shown in FIG.

【図12】図8に示す信号路テーブルから作成した浮き
信号路テーブルを示す図である。
12 is a diagram showing a floating signal path table created from the signal path table shown in FIG. 8;

【図13】図10に示す信号路テーブルから作成した浮
き信号路テーブルを示す図である。
13 is a diagram showing a floating signal path table created from the signal path table shown in FIG.

【図14】図9および図11に示すゲートテーブルと図
12および図13に示す浮き信号路テーブルとに基づい
て抽出した残存ゲートを示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing remaining gates extracted based on the gate tables shown in FIGS. 9 and 11 and the floating signal path tables shown in FIGS. 12 and 13.

【図15】最終的に同定されたゲート対を示す図であ
る。
FIG. 15 shows the finally identified gate pairs.

【図16】最終的に同定されたゲートグループ対を示す
図である。
FIG. 16 is a diagram showing finally identified gate group pairs.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

G1〜G15…回路図のゲート G1´〜G15´…マスクパターンのゲート P1,P1´,P2…端点(ボンディングパッド) Q1〜Q4…節点 R1〜R3…探索ルート S1〜S23…回路図の信号路 S1´〜S23´…マスクパターンの信号路 G1 to G15 ... Gate of circuit diagram G1 'to G15' ... Gate of mask pattern P1, P1 ', P2 ... End point (bonding pad) Q1 to Q4 ... Nodes R1 to R3 ... Search route S1 to S23 ... Signal path of circuit diagram S1 'to S23' ... Mask pattern signal path

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 回路図に基づいて設計された集積回路マ
スクパターンが、前記回路図と等価か否かを検証する集
積回路マスクパターンの検証方法において、 前記回路図から各素子の接続情報を第1の接続情報とし
て抽出する段階と、 前記集積回路マスクパターンから各素子の接続情報を第
2の接続情報として抽出する段階と、 前記第1の接続情報と前記第2の接続情報との間で、付
与されたテキスト情報に基づいて同一箇所を同定する段
階と、 前記第1の接続情報に基づいて、各信号路ごとに、その
信号路に接続されているゲートに対する入出力属性を示
す、第1の信号路テーブルを作成する段階と、 前記第2の接続情報に基づいて、各信号路ごとに、その
信号路に接続されているゲートに対する入出力属性を示
す、第2の信号路テーブルを作成する段階と、 前記第1の信号路テーブルにおいて、入力または出力の
いずれか一方の属性しか示されていない信号路を第1の
浮き信号路として抽出する段階と、 前記第2の信号路テーブルにおいて、入力または出力の
いずれか一方の属性しか示されていない信号路を第2の
浮き信号路として抽出する段階と、 前記第1の浮き信号路に接続されているゲートと、前記
第2の浮き信号路に接続されているゲートと、の間で同
一ゲートの同定を行う段階と、 同定された前記同一箇所および前記同一ゲートを探索開
始点として、前記第1の接続情報と前記第2の接続情報
とを比較照合する段階と、 を有することを特徴とする集積回路マスクパターンの検
証方法。
1. An integrated circuit mask pattern verification method for verifying whether an integrated circuit mask pattern designed on the basis of a circuit diagram is equivalent to the circuit diagram. Between the first connection information and the second connection information; extracting the connection information of each element from the integrated circuit mask pattern as the second connection information; A step of identifying the same location based on the added text information, and showing, for each signal path, an input / output attribute for a gate connected to the signal path, based on the first connection information, And a second signal path table showing, for each signal path, an input / output attribute with respect to a gate connected to the signal path, based on the second connection information. Creating, a step of extracting, in the first signal path table, a signal path showing only one of the attributes of input or output as a first floating signal path, and the second signal path table In the step of extracting, as a second floating signal path, a signal path showing only one of the attributes of input and output, a gate connected to the first floating signal path, and a second floating signal path. Identifying the same gate between the gate connected to the floating signal path and the first connection information and the second connection using the identified same location and the same gate as a search start point. A method for verifying an integrated circuit mask pattern, comprising: comparing and collating connection information.
【請求項2】 請求項1に記載の検証方法において、 第1の浮き信号路に接続されているゲート以外の残存ゲ
ートと、第2の浮き信号路に接続されているゲート以外
の残存ゲートと、の間で同一ゲートの同定を行う段階を
更に付加したことを特徴とする集積回路マスクパターン
の検証方法。
2. The verification method according to claim 1, wherein a remaining gate other than the gate connected to the first floating signal path and a remaining gate other than the gate connected to the second floating signal path. The method for verifying an integrated circuit mask pattern is characterized in that a step of identifying the same gate is further added between the two.
【請求項3】 請求項1または2に記載の検証方法にお
いて、 ゲートの同定を1対1で行うことができない場合に、n
個(nは2以上の自然数)のゲートからなるグループ間
についてn対nのグループ単位の同定を行っておき、比
較照合の段階で新たに同定できた同一ゲートの情報に基
づき、グループ構成ゲート数nを順次減少させるように
したことを特徴とする集積回路マスクパターンの検証方
法。
3. The verification method according to claim 1, wherein if the gate cannot be identified on a one-to-one basis, n
The number of gates that make up the group is based on the information of the same gate that was newly identified at the stage of comparison and verification, by identifying n to n group units between groups (n is a natural number of 2 or more). A method for verifying an integrated circuit mask pattern, wherein n is sequentially decreased.
【請求項4】 請求項1〜3のいずれかに記載の検証方
法において、 ゲート同士の同定を、ゲートのタイプおよび各信号路に
対する接続関係を参照することにより行うことを特徴と
する集積回路マスクパターンの検証方法。
4. The integrated circuit mask according to claim 1, wherein the gates are identified by referring to the gate type and the connection relationship with each signal path. How to verify the pattern.
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