JP2776267B2 - Circuit output method - Google Patents

Circuit output method

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JP2776267B2
JP2776267B2 JP6236022A JP23602294A JP2776267B2 JP 2776267 B2 JP2776267 B2 JP 2776267B2 JP 6236022 A JP6236022 A JP 6236022A JP 23602294 A JP23602294 A JP 23602294A JP 2776267 B2 JP2776267 B2 JP 2776267B2
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parasitic element
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万紀子 伊藤
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、回路図出力方法に関
し、特にマスクパターンを作成するための回路図と回路
シミュレーションを行うための回路図を表示し、それぞ
れの回路情報を抽出する方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for outputting a circuit diagram, and more particularly to a method for displaying a circuit diagram for creating a mask pattern and a circuit diagram for performing a circuit simulation and extracting respective circuit information.

【0002】[0002]

【従来の技術】回路図出力システムで回路図を作成する
主な目的は、回路図を図面として保持すること、及び回
路の接続情報を出力することである。このうち回路の接
続情報は、設計の各工程で用いられるCADシステムの
入力情報として必要とされ、典型的には、下記の3つの
工程において回路の接続情報が必要とされている。
2. Description of the Related Art The main purposes of creating a circuit diagram in a circuit diagram output system are to hold the circuit diagram as a drawing and to output circuit connection information. Of these, circuit connection information is required as input information of a CAD system used in each step of design, and typically, circuit connection information is required in the following three steps.

【0003】1.回路シミュレーションの工程 回路が設計通りに動作するかを検証するために回路シミ
ュレーションを行う際に、回路シミュレータは、回路接
続情報の素子の名称、特性と接続関係から回路方程式を
組み立てて、解を求める(工程1)。
[0003] 1. Circuit simulation process When performing a circuit simulation to verify that the circuit operates as designed, the circuit simulator assembles a circuit equation from the element names, characteristics, and connection relations of the circuit connection information to obtain a solution. (Step 1).

【0004】2.自動レイアウトシステムでレイアウト
を作成する工程 自動レイアウトシステムでマスクパターンを作成すると
きに自動レイアウトは、回路接続情報の各素子あるいは
ブロックの名称と接続関係を基にして配置配線を決める
(工程2)。
[0004] 2. Step of Creating Layout with Automatic Layout System When creating a mask pattern with the automatic layout system, the automatic layout determines layout and wiring based on the names and connection relationships of elements or blocks in circuit connection information (step 2).

【0005】3.レイアウト検証の工程 マスクパターン作成後、回路設計通りの回路構成でレイ
アウトが作成されたか否かを検証する際に、回路図から
抽出した各素子あるいはブロックの回路接続情報とマス
クパターンから抽出した接続情報が一致するかどうかを
比較する(工程3)。
[0005] 3. Layout verification process After the mask pattern is created, when verifying whether the layout has been created with the circuit configuration according to the circuit design, the circuit connection information of each element or block extracted from the circuit diagram and the connection information extracted from the mask pattern Are compared with each other (Step 3).

【0006】上記工程の2と3では、同一の回路情報が
用いられるが、工程1は回路情報が異なる。即ち、上記
工程2、3は、回路図を構成する素子と配線がマスクパ
ターン上の素子と配線に一対一に対応しなければならな
い。
In steps 2 and 3, the same circuit information is used, but in step 1, the circuit information is different. That is, in the steps 2 and 3, the elements and wirings constituting the circuit diagram must correspond one-to-one with the elements and wirings on the mask pattern.

【0007】しかし、回路シミュレーションを行う場
合、回路に設計者が意図して配置しない、寄生的に存在
する寄生素子を加えた形で行う。配線部分は、工程2、
3では回路図において配線として表現されるが、回路シ
ミュレーションを行う場合、特に回路動作に影響がある
配線の容量や抵抗を考慮しなければならないため、配線
には容量素子が付加され抵抗素子が配線の間に挿入され
た回路接続情報となる。
However, a circuit simulation is performed by adding a parasitic element which is not intentionally arranged by the designer and which exists parasitically to the circuit. In the wiring part, process 2,
3 is represented as a wiring in a circuit diagram. However, when performing a circuit simulation, a capacitance element is added to the wiring, and a resistance element is added to the wiring because the capacitance and resistance of the wiring that affect the circuit operation must be considered. Is the circuit connection information inserted between.

【0008】言い換えると、回路シミュレーション用の
回路接続情報(「回路情報」ともいう)は、マスクパタ
ーン用の回路情報に寄生素子部分の回路情報を追加した
ものである。従って、回路接続情報の寄生素子部分を除
く部分は全く同じである。
In other words, circuit connection information for circuit simulation (also referred to as “circuit information”) is obtained by adding circuit information for a parasitic element portion to circuit information for a mask pattern. Therefore, the portion of the circuit connection information excluding the parasitic element portion is exactly the same.

【0009】回路情報の寄生素子部分を取り除けば、マ
スクパターン用の回路図となり、回路情報の寄生素子部
分を付け加えれば、回路シミュレーション用の回路図に
するために、マスクパターン用の回路情報と寄生素子部
分の回路情報を分ける必要がある。
If the parasitic element portion of the circuit information is removed, a circuit diagram for the mask pattern is obtained, and if the parasitic element portion of the circuit information is added, the circuit information for the mask pattern and the parasitic circuit portion become a circuit diagram for circuit simulation. It is necessary to divide the circuit information of the element part.

【0010】図12は、従来の回路図出力システムの機
能構成を示すブロック図である(「従来例1」とい
う)。
FIG. 12 is a block diagram showing a functional configuration of a conventional circuit diagram output system (referred to as "conventional example 1").

【0011】図12において、49は演算処理部、48
は素子の指定や配置位置、配線場所を決定するための命
令を入力する入力部である。51は、素子の配置や配線
状態を表示する出力部である。50は、必要な情報を記
憶する記憶部である。演算処理部49は、回路図作成処
理52と回路接続情報抽出処理53から構成される。
In FIG. 12, reference numeral 49 denotes an arithmetic processing unit;
Reference numeral denotes an input unit for inputting an instruction for determining the designation, arrangement position, and wiring location of the element. An output unit 51 displays the arrangement of elements and the wiring state. 50 is a storage unit for storing necessary information. The arithmetic processing unit 49 includes a circuit diagram creation process 52 and a circuit connection information extraction process 53.

【0012】記憶部50は、素子情報54と素子配置配
線情報55と回路接続情報56から構成される。素子情
報54は、トランジスタ、抵抗、容量等回路図に使用さ
れる素子の名称、形状、素子値等の特性等を登録してい
る。素子配置配線情報55は、回路の素子を特定する名
称、素子の位置情報、配線の位置情報を格納している。
回路接続情報56は、回路の素子を特定する名称、素子
の接続関係の情報を格納している。
The storage unit 50 includes element information 54, element arrangement wiring information 55, and circuit connection information 56. The element information 54 registers characteristics such as names, shapes, element values, and the like of elements used in a circuit diagram such as a transistor, a resistor, and a capacitor. The element arrangement wiring information 55 stores a name for specifying an element of the circuit, element position information, and wiring position information.
The circuit connection information 56 stores a name for specifying an element of the circuit and information on the connection relation of the element.

【0013】図12を参照して、演算処理部の素子配置
配線手段(不図示)は、素子情報54と入力部48から
入力された命令により、素子の特定と配置位置の決定を
すると共に、さらに入力部48の命令により配線を行
う。その配置配線の情報は、素子配置配線情報55に格
納される。
Referring to FIG. 12, an element arrangement and wiring means (not shown) of the arithmetic processing unit specifies an element and determines an arrangement position in accordance with element information 54 and a command input from input unit 48. Further, wiring is performed according to an instruction from the input unit 48. The information on the arrangement and wiring is stored in the element arrangement and wiring information 55.

【0014】回路接続情報抽出処理53は、素子配置配
線情報55に基づいて定められた書式に変換し回路接続
情報56に格納する。
The circuit connection information extraction processing 53 converts the data into a format determined based on the element arrangement wiring information 55 and stores the converted data in the circuit connection information 56.

【0015】図13は、この従来の回路図出力システム
の表示の一例を示す図であり、差動対トランジスタQ
1、Q2と、該差動対トランジスタのエミッタの共通接
続された抵抗R0の構成から成る回路図の出力例を示し
ている。
FIG. 13 is a diagram showing an example of a display of this conventional circuit diagram output system.
1, an output example of a circuit diagram including a configuration of Q2 and a resistor R0 commonly connected to the emitter of the differential pair transistor.

【0016】また、従来、配線の寄生抵抗あるいは寄生
容量に関してマスクパターンと回路図との間に不一致が
生じた場合にも対処することができる集積回路のマスク
パターン検証方法を提供することを目的として、例えば
特開平3−67372号公報には、集積回路マスクパタ
ーンが、回路図と等価か否かを検証する集積回路マスク
パターンの検証方法において、前記回路図から各素子の
接続情報を第1の接続情報として抽出する段階と、前記
集積回路マスクパターンから各素子の接続情報を第2の
接続情報として抽出する段階と、前記第1の接続情報か
ら抵抗素子および容量素子を削除し、その結果切断され
た箇所を再接続することにより、前記第1の接続情報を
修正する段階と、前記第2の接続情報から抵抗素子およ
び容量素子を削除し、その結果切断された箇所を再接続
することにより、前記第2の接続情報を修正する段階
と、修正された第1の接続情報を、修正された第2の接
続情報と比較する段階とを備えた、集積回路マスクパタ
ーンの検証方法が提案されている。
Another object of the present invention is to provide a method of verifying a mask pattern of an integrated circuit, which can cope with a case where a mismatch has occurred between a mask pattern and a circuit diagram with respect to wiring parasitic resistance or parasitic capacitance. For example, Japanese Unexamined Patent Publication No. 3-67372 discloses a method for verifying whether or not an integrated circuit mask pattern is equivalent to a circuit diagram. Extracting as connection information, extracting connection information of each element from the integrated circuit mask pattern as second connection information, deleting a resistance element and a capacitance element from the first connection information, and disconnecting as a result Correcting the first connection information by reconnecting the connected portions, and deleting a resistance element and a capacitance element from the second connection information Correcting the second connection information by reconnecting the resulting disconnected portion, and comparing the corrected first connection information with the corrected second connection information. A method for verifying an integrated circuit mask pattern has been proposed.

【0017】すなわち、前記特開平3−67372号公
報のマスクパターンの検証方法(「従来例2」という)
においては、レイアウト検証を行う際にマスクパターン
から抽出した各素子の接続情報と回路図から抽出した各
素子の接続情報とが一致しないという不具合を解決する
ために、回路図とマスクパターンから回路情報を抽出す
る際に、抵抗素子、容量素子を削除することにより、回
路図とマスクパターンの回路情報の一致を実現してい
る。
That is, a method of verifying a mask pattern disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 3-67372 (hereinafter referred to as "conventional example 2").
In order to solve the problem that the connection information of each element extracted from the mask pattern does not match with the connection information of each element extracted from the circuit diagram when performing layout verification, the circuit information is extracted from the circuit diagram and the mask pattern. By extracting the resistive element and the capacitive element at the time of extracting, the coincidence between the circuit diagram and the circuit information of the mask pattern is realized.

【0018】また、マスクパターンの回路情報のうち寄
生素子部分について、回路図にその素子の値を表示させ
る例として、例えば特開平4−42374号公報には、
レイアウトデータから抽出された素子及び配線の情報に
より寄生要素の発生部分と論理/回路図上の配線部分と
の対応づけを行ない、論理/回路図上に寄生要素の電気
的パラメータを表示するようにした、寄生要素表示方法
が提案されている(「従来例3」という)。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-42374 discloses an example of displaying the value of a parasitic element in the circuit information of a mask pattern in a circuit diagram.
Based on information on elements and wiring extracted from the layout data, a portion where a parasitic element is generated and a wiring portion on a logic / circuit diagram are associated with each other, and the electrical parameters of the parasitic element are displayed on the logic / circuit diagram. A parasitic element display method has been proposed (referred to as “conventional example 3”).

【0019】図14は、この従来例3の表示例を示して
いる。論理/回路図のノード14−2に2つの素子及び
ゲートのシンボル14−1が接続されている場合に、論
理/回路図を表示すると同時に、ノード14−2の近傍
に寄生抵抗の電気的パラメータ値である寄生抵抗素子R
(=10.0KΩ)及び寄生容量素子C(=100p
F)を表示している。
FIG. 14 shows a display example of the third conventional example. When two elements and the symbol 14-1 of the gate are connected to the node 14-2 of the logic / circuit diagram, the logic / circuit diagram is displayed, and at the same time, the electrical parameter of the parasitic resistance is provided near the node 14-2. Parasitic resistance element R
(= 10.0 KΩ) and the parasitic capacitance element C (= 100 p
F) is displayed.

【0020】[0020]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来例1の方
法では、回路シミュレーション用の回路とマスクパター
ン用の回路を得るには、以下の3つの方法で行わなけれ
ばならなかった。
In the method of the prior art 1 described above, in order to obtain a circuit for circuit simulation and a circuit for mask pattern, the following three methods have to be performed.

【0021】第1に、回路シミュレーション用に入力さ
れた回路図から、寄生素子を削除してマスクパターン用
の回路図を作成する。
First, a circuit diagram for a mask pattern is created by removing parasitic elements from a circuit diagram input for circuit simulation.

【0022】第2に、マスクパターン用の回路図に寄生
素子を追加して回路シミュレーション用の回路図を作成
する。
Second, a circuit diagram for circuit simulation is created by adding a parasitic element to the circuit diagram for the mask pattern.

【0023】第3に、両方必要な場合(大抵の場合は両
方の回路図が必要であるが)、マスクパターン用の回路
図と、回路シミュレーション用の回路図とを、2つ作成
するというものである。
Third, when both are necessary (in most cases, both circuit diagrams are necessary), two circuit diagrams for a mask pattern and a circuit diagram for a circuit simulation are created. It is.

【0024】設計工程として、回路シミュレーションと
マスクパターン設計とは完全に独立ではない。すなわ
ち、回路シミュレーションが全て終わらない内にマスク
パターン設計に入ることがしばしば生じる。
As a design process, circuit simulation and mask pattern design are not completely independent. In other words, it often happens that a mask pattern design is started before all circuit simulations are completed.

【0025】この場合、マスクパターン設計中でも回路
上の変更が生じることがある。上述した1と2の方法で
は、その度毎に、回路図を回路シミュレーション用に修
正したり、マスクパターン用に修正しなければならない
という問題が生じる。
In this case, a change in the circuit may occur even during the mask pattern design. In the methods 1 and 2 described above, there is a problem that the circuit diagram must be corrected for the circuit simulation or corrected for the mask pattern each time.

【0026】また、上記第3の方法に従い、回路図を入
力する際に、マスクパターン用の回路図と、回路シミュ
レーション用の回路図を別の回路図として作成し、登録
することが引き起こす問題として以下の問題が挙げられ
る。
According to the third method, when a circuit diagram is input, a circuit diagram for a mask pattern and a circuit diagram for a circuit simulation are created and registered as separate circuit diagrams. The following problems are mentioned.

【0027】マスクパターン用の回路図と回路シミュレ
ーション用の回路図を別の回路図として登録する場合、
例えば、マスクパターン用の回路図を作成しておき、こ
れを回路シミュレーション用の回路図に複製し、複製さ
れた回路図に寄生素子を追加するという手法が想定され
る。
When registering a circuit diagram for a mask pattern and a circuit diagram for a circuit simulation as separate circuit diagrams,
For example, a technique is conceivable in which a circuit diagram for a mask pattern is created, and this is duplicated in a circuit diagram for circuit simulation, and a parasitic element is added to the duplicated circuit diagram.

【0028】しかし、回路設計は、たびたび回路変更を
余儀なくされる。その度毎にマスクパターン用の回路図
を修正し、回路シミュレーション用の回路図を修正しな
ければならないという事態が生じる。この場合、回路変
更の度にマスクパターン用の回路図を回路シミュレーシ
ョン用の回路図に複製するとすると、複製した後、再度
一から寄生素子を入力しなければならないという問題が
ある。
However, circuit design is often forced to change circuits. Each time, the circuit diagram for the mask pattern must be corrected, and the circuit diagram for the circuit simulation must be corrected. In this case, if the circuit diagram for the mask pattern is copied to the circuit diagram for circuit simulation every time the circuit is changed, there is a problem that after the copy, the parasitic element must be input again from scratch.

【0029】あるいは、マスクパターン用の回路図を回
路シミュレーション用の回路図に複製するのではなく直
接回路シミュレーション用の回路図を変更した場合、マ
スクパターン用の回路と回路構成が一致しているという
保証がなくなるという問題がある。
Alternatively, if the circuit diagram for the circuit simulation is directly changed instead of duplicating the circuit diagram for the mask pattern into the circuit diagram for the circuit simulation, it is said that the circuit configuration for the circuit for the mask pattern matches the circuit configuration. There is a problem that warranty is lost.

【0030】さらに、作成された回路情報が、同じ回路
のマスクパターン用の回路図と回路シミュレーション用
の回路図であるという区別は、システム上管理できず、
作成者に依存しているので、同一回路であるということ
が保証されないという問題が生じる。
Further, the distinction that the created circuit information is a circuit diagram for a mask pattern and a circuit diagram for circuit simulation of the same circuit cannot be managed on a system basis.
Since it depends on the creator, there is a problem that it is not guaranteed that the circuits are the same.

【0031】また、前記の如く、マスクパターン用の回
路と回路シミュレーション用の回路は全く別の回路では
ない。回路シミュレーション用の回路図は、マスクパタ
ーン用の回路図に情報を追加したものであり、接続情報
の寄生素子部分を除く部分は全く同じである。
As described above, the circuit for the mask pattern and the circuit for the circuit simulation are not completely different circuits. The circuit diagram for the circuit simulation is obtained by adding information to the circuit diagram for the mask pattern, and the portion of the connection information excluding the parasitic element portion is exactly the same.

【0032】このため、マスクパターン用の回路図を回
路シミュレーション用の回路図の2つの情報を保有する
場合、冗長な情報を保持しなければならず、データ量の
増大を招くという問題がある。
Therefore, when a circuit diagram for a mask pattern has two pieces of information of a circuit diagram for a circuit simulation, redundant information must be held, which causes an increase in data amount.

【0033】次に、前記従来例2の方法では、マスクパ
ターンと回路図の接続情報を一致させるために寄生素子
の有無にかかわらず回路中の全ての抵抗素子および容量
素子を削除している。この方法は、論理動作を行うデジ
タル回路ではその動作に何ら影響を与えないが、抵抗素
子、容量素子を素子として用いて設計しているアナログ
回路では、抵抗素子、容量素子を削除しては、全く回路
動作をなさないことになる。
Next, in the method of the second conventional example, in order to match the connection information between the mask pattern and the circuit diagram, all the resistance elements and capacitance elements in the circuit are deleted regardless of the presence or absence of the parasitic element. This method has no effect on the operation of a digital circuit that performs a logical operation.However, in an analog circuit designed using a resistive element and a capacitive element as elements, the resistive element and the capacitive element should be deleted. No circuit operation is performed at all.

【0034】すなわち、アナログ回路の場合、抵抗素子
や容量素子の素子値の検証も重要な検証であるため、削
除することはできず、従って、前記従来例2の方法をア
ナログ回路に適用することはできない。
That is, in the case of an analog circuit, the verification of the element values of the resistance element and the capacitance element is also an important verification, and cannot be deleted. Therefore, the method of the conventional example 2 is applied to the analog circuit. Can not.

【0035】さらに、前記従来例3には、回路情報と寄
生素子情報を別ファイルに格納する方法が開示され、寄
生素子情報はマスクパターンから寄生素子を抽出するこ
とにより得ている。このため、従来例3の方法では、マ
スクパターンが作成された後でなくては回路シミュレー
ション用の回路情報が得られず、マスクパターン作成前
の回路シミュレーションを行う場合、前記従来例3の方
法は適用できない。
Further, the third conventional example discloses a method of storing circuit information and parasitic element information in separate files, and the parasitic element information is obtained by extracting a parasitic element from a mask pattern. For this reason, in the method of Conventional Example 3, circuit information for circuit simulation cannot be obtained until after the mask pattern is created, and when performing circuit simulation before the mask pattern is created, the method of Conventional Example 3 is used. Not applicable.

【0036】しかしながら、回路設計者は、通常、マス
クパターンが作成される前に回路シミュレーションを行
う。配線等の寄生素子の影響については、設計者の経験
等からある程度予想がつく。設計者は、この予想に基づ
いて回路特性に影響を与えると思われる部分に寄生抵
抗、寄生容量を考慮してシミュレーションを行う。従っ
て、設計者が表示された回路図の任意の部分を指定し寄
生素子情報を付加し、寄生素子を加えた回路接続情報が
必要になる。
However, a circuit designer usually performs a circuit simulation before a mask pattern is created. The influence of parasitic elements such as wiring can be expected to some extent from the experience of designers. The designer performs a simulation based on the prediction in consideration of a parasitic resistance and a parasitic capacitance in a portion that may affect the circuit characteristics. Therefore, the designer needs to specify an arbitrary part of the displayed circuit diagram, add parasitic element information, and obtain circuit connection information including the parasitic element.

【0037】前記従来例3の方法では、寄生素子の情報
を予めファイルに格納しておかなければならない。ファ
イルに格納された寄生素子の情報は表示させることはで
きるが、設計者が回路素子として任意の位置に任意の素
子値を付加した寄生素子情報を、寄生素子情報として認
識した上で寄生素子情報のファイルに格納することはで
きない。従って、上記マスクパターン作成前の回路シミ
ュレーションを行う場合、この方法は適用できない。
In the method of the third conventional example, the information of the parasitic element must be stored in a file in advance. Although the information of the parasitic element stored in the file can be displayed, the designer recognizes the parasitic element information in which an arbitrary element value is added to an arbitrary position as a circuit element as the parasitic element information, and then displays the parasitic element information. Cannot be stored in a file. Therefore, this method cannot be applied to the case where a circuit simulation is performed before the mask pattern is created.

【0038】また、特開昭63−291169号公報
(「従来例4」という)には、マスクパターンから回路
情報と寄生素子情報を抽出し、回路図に寄生素子の素子
値を付加して表示する方法が示されている。しかし、こ
の方法は、回路情報と寄生素子情報が同一のファイルに
格納しているため、寄生素子を含む回路情報は出力でき
るが、回路情報のみの情報は出力できない。従って、本
発明の課題である回路シミュレーション用の回路情報と
マスクパターンの検証用の回路情報の2つの回路情報を
出力することができない。
Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 63-291169 (hereinafter referred to as "conventional example 4") extracts circuit information and parasitic element information from a mask pattern and adds the element value of the parasitic element to a circuit diagram for display. How to do is shown. However, in this method, since the circuit information and the parasitic element information are stored in the same file, the circuit information including the parasitic element can be output, but the information including only the circuit information cannot be output. Therefore, it is impossible to output two pieces of circuit information, that is, circuit information for circuit simulation and circuit information for verifying a mask pattern, which are the objects of the present invention.

【0039】また、この方法は、前記従来例3(特開平
4−42374号公報)の方法と同様に、ファイルに格
納された回路情報、寄生素子情報を表示することはでき
るが、設計者が表示された回路図の任意の位置に寄生素
子と素子値を指定することはできない。従って、マスク
パターン作成前に回路シミュレーション用の回路情報は
出力できない。
This method can display the circuit information and the parasitic element information stored in the file as in the method of the conventional example 3 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-42374). Parasitic elements and element values cannot be specified at any position in the displayed circuit diagram. Therefore, circuit information for circuit simulation cannot be output before the mask pattern is created.

【0040】従って、本発明は前記問題点を解消し、マ
スクパターン設計、検証用の回路図と回路シミュレーシ
ョン用に寄生素子を追加した回路図を作成する際に、任
意にいずれかの回路図を表示させることを可能とすると
共に、また任意にいずれかの接続情報を出力させること
を可能とする回路図出力方法を提供することを目的とす
る。
Therefore, the present invention solves the above-mentioned problems, and when creating a circuit diagram for mask pattern design and verification and a circuit diagram in which a parasitic element is added for circuit simulation, any one of the circuit diagrams can be used. It is an object of the present invention to provide a circuit diagram output method capable of displaying information and arbitrarily outputting any connection information.

【0041】[0041]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明は、回路図を出力する方法において、少なく
とも、回路図入力層と、寄生素子入力層と、を含み、前
記回路図入力層にマスクパターンを作成するための回路
を入力してマスクパターン用の回路図を出力し、さら
に、前記寄生素子入力層に前記マスクパターン用の回路
の寄生素子部分を入力し、前記寄生素子部分を前記マス
クパターン用の回路図に重ね合わせて、回路シミュレー
ション用の回路図として表示出力する、ことを特徴とす
る回路図出力方法を提供する。
According to an aspect of the present invention, there is provided a method for outputting a circuit diagram, comprising: at least a circuit diagram input layer and a parasitic element input layer; A circuit for creating a mask pattern is input to the circuit, a circuit diagram for the mask pattern is output, and a parasitic element portion of the circuit for the mask pattern is input to the parasitic element input layer, and the parasitic element portion is A circuit diagram output method is provided, which is superimposed on the circuit diagram for the mask pattern and displayed and output as a circuit diagram for circuit simulation.

【0042】また、本発明の回路図出力方法において
は、前記回路図入力層からマスクパターン用の回路図の
回路情報を抽出し、前記回路図入力層の回路情報に前記
寄生素子入力層の回路情報を加え、前記寄生素子部分を
含んだ回路図について、回路シミュレーション用の回路
情報を抽出する、ことを特徴とする。
According to the circuit diagram output method of the present invention, circuit information of a circuit diagram for a mask pattern is extracted from the circuit diagram input layer, and the circuit information of the parasitic element input layer is added to the circuit information of the circuit diagram input layer. In addition to the information, circuit information for circuit simulation is extracted from a circuit diagram including the parasitic element portion.

【0043】本発明の回路図出力方法においては、前記
マスクパターン用の回路図において、前記寄生素子を導
入する配線に対し、新たに設けられた配線線分に対応し
て新たな配線線分名、該新たな配線線分の端点の接続先
を含む対応表を作成し、該対応表を基に、前記回路シミ
ュレーション用の接続情報を出力する。
In the circuit diagram output method according to the present invention, in the circuit diagram for the mask pattern, a new wiring line segment name corresponding to a newly provided wiring line segment is provided for the wiring line for introducing the parasitic element. Then, a correspondence table including a connection destination of the end point of the new wiring line segment is created, and the connection information for the circuit simulation is output based on the correspondence table.

【0044】さらに、本発明の回路図出力方法において
は、回路シミュレーション用の回路情報を出力する方法
の好ましい態様として、(a)前記回路図入力層に入力さ
れたマスクパターン用の回路情報と、前記寄生素子入力
層に入力された回路情報から所定の中間ファイルを作成
し、(b)前記中間ファイルを参照して前記寄生素子の端
子の少なくとも位置座標、接続状態を表わす接続対応表
を作成し、(c)前記中間ファイル及び前記接続対応表を
参照して、前記マスクパターン用の回路図において前記
寄生素子を接続する配線に対し、新たに設けられた配線
線分に対応して新たな配線線分名、該新たな配線線分の
端点の接続先を含む配線対応表を作成し、(d)前記中間
ファイル中のマスクパターン用の回路情報及び該配線対
応表の情報に基づき前記回路シミュレーション用の接続
情報を抽出する、ことを特徴とする。
Further, in the circuit diagram output method of the present invention, as a preferred mode of the method for outputting circuit information for circuit simulation, (a) circuit information for a mask pattern input to the circuit diagram input layer; A predetermined intermediate file is created from the circuit information input to the parasitic element input layer, and (b) a connection correspondence table representing at least position coordinates of the terminals of the parasitic element and a connection state with reference to the intermediate file is created. (C) Referring to the intermediate file and the connection correspondence table, a new wiring corresponding to a newly provided wiring line segment with respect to the wiring connecting the parasitic element in the circuit diagram for the mask pattern. A wiring correspondence table including a line segment name and a connection destination of an end point of the new wiring line segment is created, and (d) the circuit correspondence information based on the circuit information for the mask pattern in the intermediate file and the information of the wiring correspondence table. Extracting the connection information for the simulation, and wherein the.

【0045】[0045]

【作用】本発明によれば、回路シミュレーション用の寄
生素子をマスクパターン用の回路図を表示させて、その
回路図上に重ねて作成することができ、しかも、寄生素
子を含まないマスクパターン用の接続情報と寄生素子を
含む回路シミュレーション用の接続情報を抽出すること
ができる。このため、従来の方法では、寄生素子と、マ
スクパターンにする回路素子と、の区別をつけて回路図
を作成することができなかったが、本発明は、寄生素子
と、マスクパターンにする回路素子と、の区別をつけて
回路図を作成することを可能としている。そして、本発
明によれば、通常の回路図とバックアノテーション後の
回路図を一元的に管理することができる。
According to the present invention, a parasitic element for circuit simulation can be displayed by displaying a circuit diagram for a mask pattern and superimposed on the circuit diagram. And connection information for circuit simulation including the parasitic element can be extracted. For this reason, in the conventional method, it was not possible to create a circuit diagram by making a distinction between a parasitic element and a circuit element used as a mask pattern. This makes it possible to create a circuit diagram by distinguishing the elements from the elements. According to the present invention, a normal circuit diagram and a circuit diagram after back annotation can be managed in a unified manner.

【0046】[0046]

【実施例】以下、本発明をその実施例を示す図面に基づ
いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below with reference to the drawings showing embodiments thereof.

【0047】図4は、本発明の一実施例を用いた回路図
出力システムとこれに関連する回路設計工程を示す流れ
図である。
FIG. 4 is a flowchart showing a circuit diagram output system using one embodiment of the present invention and a circuit design process related thereto.

【0048】図4を参照して、回路図出力システム(3
8)でマスクパターン用の回路図を作成する(39)。
これは、回路図出力システムの回路入力層に入力され
る。
Referring to FIG. 4, a circuit diagram output system (3
In 8), a circuit diagram for a mask pattern is created (39).
This is input to the circuit input layer of the circuit diagram output system.

【0049】次に、設計者が予測した寄生素子を追加す
る(40)。これは、回路図出力システムの寄生素子入
力層に入力される。
Next, a parasitic element predicted by the designer is added (40). This is input to the parasitic element input layer of the circuit diagram output system.

【0050】これらの回路図から回路シミュレーション
用の回路接続情報(11)を出力し、回路シミュレーシ
ョン(41)に受け渡す。
From these circuit diagrams, circuit connection information (11) for circuit simulation is output and passed to the circuit simulation (41).

【0051】回路シミュレーション(41)により回路
の正常動作が検証されたら(42)、マスクパターン用
の回路図からマスクパターン用の回路接続情報(10)
を抽出し、マスク設計用の自動レイアウトシステム(4
3)に受け渡す。自動レイアウトシステム(43)は、
マスクパターンから抽出した回路接続情報(44)を出
力する。
When the normal operation of the circuit is verified by the circuit simulation (41) (42), the circuit connection information (10) for the mask pattern is obtained from the circuit diagram for the mask pattern.
Is extracted and an automatic layout system for mask design (4
Hand over to 3). The automatic layout system (43)
The circuit connection information (44) extracted from the mask pattern is output.

【0052】次に、設計されたマスクパターンの検証の
ためにマスクパターン用の回路図から回路接続情報(1
0)を抽出し、マスクパターンから抽出した回路接続情
報(44)と比較する。
Next, in order to verify the designed mask pattern, the circuit connection information (1) is obtained from the circuit diagram for the mask pattern.
0) is extracted and compared with the circuit connection information (44) extracted from the mask pattern.

【0053】マスクパターンの検証が終了したら(4
7)、マスクパターンから抽出した寄生素子情報(4
6)を回路図出力システム(38)の寄生素子入力層に
入力する(40)。
When the verification of the mask pattern is completed (4)
7), parasitic element information extracted from the mask pattern (4)
6) is input to the parasitic element input layer of the circuit diagram output system (38) (40).

【0054】バックアノテーション(マスクパターンか
らパラメータ抽出によって得られたトランジスタ寸法、
容量値、抵抗値等を元の回路情報に付加する手続き)を
行う為に、再び回路シミュレーション用の回路接続情報
(11)を出力し、回路シミュレーション(41)を行
う。回路動作に不良がなければ(42)、本設計工程を
終える。
Back annotation (transistor size obtained by parameter extraction from mask pattern,
In order to perform a procedure for adding a capacitance value, a resistance value, and the like to the original circuit information, circuit connection information (11) for circuit simulation is output again and circuit simulation (41) is performed. If there is no defect in the circuit operation (42), the present design process is completed.

【0055】図1は、本発明の一実施例の構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of the present invention.

【0056】図1を参照して、入力部(1)は、回路図
入力の指示や回路接続情報の出力指示を入力する。
Referring to FIG. 1, input section (1) receives an instruction to input a circuit diagram and an output instruction to output circuit connection information.

【0057】演算処理部(2)は、回路図作成処理
(5)と回路接続情報抽出処理(6)とから成る。
The arithmetic processing unit (2) comprises a circuit diagram creation process (5) and a circuit connection information extraction process (6).

【0058】回路図作成処理(5)は、マスクパターン
用回路図作成処理(12)と回路シミュレーション用回
路図作成処理(13)から構成され、入力部(1)から
入力された命令の指示に従って、素子の配置と配線を行
う。
The circuit diagram creation process (5) is composed of a mask pattern circuit diagram creation process (12) and a circuit simulation circuit diagram creation process (13), and is performed according to the instruction of the instruction input from the input unit (1). , Arrangement and wiring of elements.

【0059】回路接続情報抽出処理(6)は、マスクパ
ターン用回路接続情報抽出処理(14)と回路シミュレ
ーション用回路接続情報抽出処理(15)から構成さ
れ、入力部(1)から入力された命令の指示に従って、
回路シミュレーション用接続情報か(11)、マスクパ
ターン用接続情報(10)を出力する。
The circuit connection information extraction processing (6) comprises a mask pattern circuit connection information extraction processing (14) and a circuit simulation circuit connection information extraction processing (15), and includes a command input from the input unit (1). Follow the instructions in
The connection information for circuit simulation (11) or the connection information for mask pattern (10) is output.

【0060】記憶部(3)は、素子情報(7)、回路図
入力層用回路情報(8)、寄生素子入力層用回路情報
(9)、マスクパターン用接続情報(10)、回路シミ
ュレーション用接続情報(11)を記憶する。
The storage section (3) stores element information (7), circuit information for a circuit diagram input layer (8), circuit information for a parasitic element input layer (9), connection information for a mask pattern (10), The connection information (11) is stored.

【0061】素子情報(7)は、回路図に使用される素
子の名称、形状、素子値等の特性、等を登録している。
演算処理部(2)の回路図作成処理(5)において、素
子情報(7)が参照され、素子の配置が行われる。
The element information (7) registers the names, shapes, characteristics such as element values, etc. of the elements used in the circuit diagram.
In the circuit diagram creation processing (5) of the arithmetic processing unit (2), the element information (7) is referred to and the elements are arranged.

【0062】回路図入力層用回路情報(8)は、入力部
(1)からの命令の指示により、回路図作成処理(5)
のマスクパターン用回路図作成処理(12)により作成
された回路図情報を格納する。
The circuit diagram input layer circuit information (8) is processed by a circuit diagram creation process (5) in accordance with an instruction from the input unit (1).
The circuit diagram information created by the mask pattern circuit diagram creation process (12) is stored.

【0063】寄生素子入力層用回路情報(9)は、入力
部(1)からの命令の指示により、回路図作成処理
(5)の回路シミュレーション用回路図作成処理(1
3)により作成された回路図情報を格納する。
The circuit information (9) for the parasitic element input layer is supplied to the circuit diagram creating process (1) in the circuit diagram creating process (5) in accordance with an instruction from the input unit (1).
The circuit diagram information created in 3) is stored.

【0064】回路図入力層用回路情報(8)と寄生素子
入力層用回路情報(9)は、それぞれの層に入力された
回路について、素子及び配線に対応して好ましくは下記
表1及び表2に記載の情報を格納する。なお、下記表2
において、配線の情報は、線分単位に各情報をもつ。
The circuit information (8) for the input layer and the circuit information (9) for the parasitic element input layer preferably correspond to the elements and wirings of the circuits input to the respective layers. 2 is stored. Table 2 below
, The wiring information has each piece of information in line segment units.

【0065】[0065]

【表1】 [Table 1]

【0066】[0066]

【表2】 [Table 2]

【0067】マスクパターン用接続情報(10)は、マ
スクパターン設計(図4の43参照)とマスクパターン
の検証(図4のレイアウト45参照)とのために用いら
れる情報で、回路入力層用回路情報(8)を基に回路接
続情報抽出処理(6)のマスクパターン用回路接続情報
抽出処理(14)により、マスクパターン設計とマスク
パターンの検証のために必要な情報が出力される。
The mask pattern connection information (10) is information used for mask pattern design (see 43 in FIG. 4) and mask pattern verification (see layout 45 in FIG. 4). Based on the information (8), information necessary for mask pattern design and verification of the mask pattern is output by the mask pattern circuit connection information extraction processing (14) of the circuit connection information extraction processing (6).

【0068】回路シミュレーション用接続情報(11)
は、回路シミュレーションのために用いられる情報で、
回路入力層用回路情報(8)と寄生素子入力層用回路情
報(9)を基に回路シミュレーションのために必要な情
報が回路接続情報抽出処理(6)の回路シミュレーショ
ン用回路接続情報抽出処理(15)により出力される。
Connection information for circuit simulation (11)
Is information used for circuit simulation,
Based on the circuit information for the circuit input layer (8) and the circuit information for the parasitic element input layer (9), information necessary for circuit simulation is extracted from the circuit connection information extraction processing for circuit simulation (6). 15).

【0069】出力部(4)は作成された回路図の表示を
行う機能を有する。
The output section (4) has a function of displaying the created circuit diagram.

【0070】次に、本実施例の回路図出力方法を用いた
回路図出力システムの動作について説明する。図2は、
図1に示した演算処理部(2)の回路図作成処理(5)
の動作を示す流れ図である。
Next, the operation of the circuit diagram output system using the circuit diagram output method of this embodiment will be described. FIG.
Circuit diagram creation processing (5) of operation processing unit (2) shown in FIG.
5 is a flowchart showing the operation of FIG.

【0071】図2(A)の流れ図を参照して、マスクパ
ターン用回路図作成処理の処理フローを説明する。
The processing flow of the mask pattern circuit diagram creation processing will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0072】回路図入力層モードフラグをオンにする
(ステップ16)。
The circuit diagram input layer mode flag is turned on (step 16).

【0073】モードフラグは、現在、回路入力層の処理
を行っているか、又は寄生素子入力層の処理を行ってい
るか、いずれの状態であるかを示すフラグであり、回路
情報を格納する場所を特定するのに用いられる。
The mode flag is a flag indicating whether the circuit input layer is currently being processed or the parasitic element input layer is being processed. Used to identify.

【0074】以下の処理ステップ17〜19の処理を終
了の指示があるまで繰り返す。
The following processing steps 17 to 19 are repeated until a termination instruction is given.

【0075】回路図入力層に入力された回路図を表示す
るための処理を行い(ステップ17)、回路図入力層上
の回路図を表示部に表示する(ステップ18)。
Processing for displaying the circuit diagram input to the circuit diagram input layer is performed (step 17), and the circuit diagram on the circuit diagram input layer is displayed on the display unit (step 18).

【0076】素子情報ファイル(7)に登録された素子
を参照して、配置配線の編集処理を行う(ステップ1
9)。
With reference to the elements registered in the element information file (7), the layout wiring is edited (step 1).
9).

【0077】次に、回路情報をファイルに格納する指示
があれば(ステップ21)、配置配線情報格納処理を行
い(ステップ22)、回路図入力層用回路情報(8)に
格納する。
Next, if there is an instruction to store the circuit information in a file (step 21), a placement and wiring information storing process is performed (step 22), and the circuit information is stored in the circuit information for circuit diagram input layer (8).

【0078】モードフラグをオフにして(ステップ2
3)、終了する。
The mode flag is turned off (step 2
3), end.

【0079】図2(B)の流れ図を参照して、回路シミ
ュレーション用回路図作成処理の処理フローを説明す
る。
The processing flow of the circuit diagram creation process for circuit simulation will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0080】寄生素子入力層モードフラグをオンにする
(ステップ24)。
The parasitic element input layer mode flag is turned on (step 24).

【0081】回路図入力層表示処理を行い(ステップ1
7)、回路図入力層上の回路図を出力部に表示する(ス
テップ18)。
A circuit diagram input layer display process is performed (step 1).
7) Display the circuit diagram on the circuit diagram input layer on the output unit (step 18).

【0082】以下の処理ステップ25、26、19を終
了の指示があるまで繰り返す。
The following processing steps 25, 26 and 19 are repeated until a termination instruction is given.

【0083】寄生素子入力層表示処理を行い(ステップ
25)、前記ステップ18で表示されている表示部上に
寄生素子入力層上の回路図表示を行う(ステップ2
6)。
A parasitic element input layer display process is performed (step 25), and a circuit diagram on the parasitic element input layer is displayed on the display section displayed in step 18 (step 2).
6).

【0084】配置配線編集処理を行う(ステップ1
9)。
A layout and wiring editing process is performed (step 1).
9).

【0085】入力した寄生素子回路情報をファイルに格
納する指示があれば(ステップ21)配置配線情報格納
処理を行い(ステップ22)、寄生素子入力層用回路情
報(9)に格納する。
If there is an instruction to store the input parasitic element circuit information in a file (step 21), a placement and wiring information storage process is performed (step 22), and the information is stored in the parasitic element input layer circuit information (9).

【0086】モードフラグをオフにして(ステップ2
7)、終了する。
The mode flag is turned off (step 2
7), end.

【0087】次に、図1に示した演算処理部(2)の回
路接続情報抽出処理(6)について説明する。ここで
は、寄生素子入力層に入力する回路についての下記1か
ら3の事項を前提とする。
Next, the circuit connection information extracting process (6) of the arithmetic processing unit (2) shown in FIG. 1 will be described. Here, the following items 1 to 3 regarding the circuit input to the parasitic element input layer are assumed.

【0088】1.寄生素子は、回路入力層の配線に接続
されるものとする。
1. The parasitic element is connected to the wiring of the circuit input layer.

【0089】2.寄生抵抗等、回路図入力層の配線上に
重ねて置く寄生要素は、素子のみとし、配線要素はもた
ないこととする。
2. Parasitic elements, such as parasitic resistances, placed on the wiring of the circuit diagram input layer are elements only, and have no wiring elements.

【0090】3.回路シミュレーション用の接続情報を
出力する際に、回路入力層の配線上に寄生素子が重なっ
て置かれた場合は、寄生素子を置いた状態を優先して接
続情報を出力する。
3. When the connection information for the circuit simulation is output, if a parasitic element is placed on the wiring of the circuit input layer, the connection information is output with priority given to the state where the parasitic element is placed.

【0091】図3は、回路接続情報抽出処理(6)の動
作を示す流れ図である。
FIG. 3 is a flowchart showing the operation of the circuit connection information extraction processing (6).

【0092】図3(A)の流れ図を参照して、マスクパ
ターン用の回路接続情報を抽出する場合の処理フローを
説明する。
A processing flow for extracting circuit connection information for a mask pattern will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0093】マスクパターン用の回路接続情報を抽出す
る場合は、回路図入力層用回路情報ファイル(8)と素
子情報ファイル(7)から、マスクパターン用書式変換
処理(28)にて、下記表3の内容の回路情報をマスク
パターン用接続情報ファイル(10)に出力する。
When extracting the circuit connection information for the mask pattern, the format conversion process (28) for the mask pattern shown in the following table is performed from the circuit information file (8) for the circuit diagram input layer and the element information file (7). 3 is output to the mask pattern connection information file (10).

【0094】[0094]

【表3】 [Table 3]

【0095】次に、図3(B)の流れ図を参照して、回
路シミュレーション用の回路接続情報を抽出する処理フ
ローを説明する。
Next, a processing flow for extracting circuit connection information for circuit simulation will be described with reference to the flowchart of FIG.

【0096】回路シミュレーション用の回路接続情報
は、回路入力層に入力した回路情報に寄生素子入力層に
入力した回路情報を追加したものである。
The circuit connection information for circuit simulation is obtained by adding the circuit information input to the parasitic element input layer to the circuit information input to the circuit input layer.

【0097】回路図入力層用回路情報ファイル(8)と
寄生素子入力層用回路情報ファイル(9)の内容を変え
ないために、回路図入力層用回路情報ファイル(8)の
内容と寄生素子入力層用回路情報ファイル(9)の内容
を中間ファイル(30)に格納する(ステップ29)。
In order not to change the contents of the circuit information file for circuit diagram input layer (8) and the circuit information file for parasitic element input layer (9), the contents of the circuit information file for circuit diagram input layer (8) and the parasitic element The contents of the input layer circuit information file (9) are stored in the intermediate file (30) (step 29).

【0098】以後の各ステップは、この中間ファイル
(30)を参照又は修正することにより処理を行う。
The subsequent steps are performed by referring to or modifying the intermediate file (30).

【0099】寄生素子層の素子の未接続端子の座標位
置、あるいは未接続配線の端点の座標位置(図7参照)
から、回路入力層における配線を特定し、素子名と未接
続端子の名称とその接続先の配線線分名称の接続対応テ
ーブル(図9参照)を作成する(ステップ31)。
The coordinate position of the unconnected terminal of the element in the parasitic element layer or the coordinate position of the end point of the unconnected wiring (see FIG. 7)
Then, the wiring in the circuit input layer is specified, and a connection correspondence table (see FIG. 9) of the names of the elements, the names of the unconnected terminals, and the names of the wiring line segments to which they are connected is created (step 31).

【0100】次に、接続対応テーブルにある要素で、接
続先の配線線分が同一であるものについて取り出し(ス
テップ32)、ステップ33〜35を繰り返す。すなわ
ち、寄生素子が接続されている配線線分単位で、ステッ
プ32〜35の処理を繰り返す。
Next, the elements in the connection correspondence table having the same wiring line segment at the connection destination are extracted (step 32), and steps 33 to 35 are repeated. That is, the processes of steps 32 to 35 are repeated for each wiring segment to which the parasitic element is connected.

【0101】寄生素子が配線線分に接続されることによ
り、該配線線分が分断され、あらたな線分が作成され
る。配線線分毎に下記表4の情報を内容に持つ、配線対
応テーブル(図10参照)が配線線分の数分作成される
(ステップ33)。
When the parasitic element is connected to the wiring line segment, the wiring line segment is divided, and a new line segment is created. A wiring correspondence table (see FIG. 10) having the information of Table 4 below for each wiring line segment is created for each wiring line segment (step 33).

【0102】[0102]

【表4】 [Table 4]

【0103】上記表4の配線対応テーブルの要素におい
て、配線線分の端点の接続先が、配線対応テーブル内に
ない配線にさらに接続されている場合であって、しかも
その配線の等電位名称が新等電位名称になっている場
合、下記表5の内容をもつ等電位テーブル(図11参
照)を作成する(ステップ34)。
In the elements of the wiring correspondence table in Table 4 above, the connection destination of the end point of the wiring line is further connected to a wiring not in the wiring correspondence table, and the equipotential name of the wiring is If it is the new equipotential name, an equipotential table (see FIG. 11) having the contents of Table 5 below is created (step 34).

【0104】[0104]

【表5】 [Table 5]

【0105】配線対応テーブルと、等電位テーブルと、
中間ファイル(30)の該当する下記の情報を追加、置
換する(ステップ35)。
A wiring correspondence table, an equipotential table,
The following information corresponding to the intermediate file (30) is added or replaced (step 35).

【0106】・寄生素子入力層回路情報の要素の未接続
である接続要素名称と接続対応テーブルの新配線線分名
称。
The names of the unconnected connection elements of the elements of the parasitic element input layer circuit information and the names of the new wiring line segments in the connection correspondence table.

【0107】・配線対応テーブルの、新配線線分名称、
新配線線分の端点名、各端点の座標値、新等電位、接続
先要素名と回路図入力層回路情報の配線線分名、等電位
名、端点名称、端点位置座標、接続先要素名称。
A new wiring line segment name in the wiring correspondence table;
End point name of new wiring line, coordinate value of each end point, new equipotential, connection element name and wiring line segment name of circuit diagram input layer circuit information, equipotential name, end point name, end point position coordinate, connection element name .

【0108】・等電位テーブルの配線線分の等電位名称
と回路図入力層回路情報の該配線線分の等電位名称。
The equipotential names of the wiring lines in the equipotential table and the equipotential names of the wiring lines in the circuit diagram input layer circuit information.

【0109】回路シミュレーション用書式変換処理を行
う(ステップ37)。
A format conversion process for circuit simulation is performed (step 37).

【0110】回路シミュレーション用の回路接続情報を
抽出する場合は、中間ファイル(30)と素子情報ファ
イル(7)から、下記表6に示す情報を、回路シミュレ
ーション用書式変換処理(37)にて回路シミュレーシ
ョン用接続情報ファイル(11)に出力する。
When extracting circuit connection information for circuit simulation, the information shown in Table 6 below is converted from the intermediate file (30) and the element information file (7) by the circuit conversion format conversion process (37). Output to the connection information file for simulation (11).

【0111】[0111]

【表6】 [Table 6]

【0112】図5は、本実施例による、マスクパターン
用と回路シミュレーション用の回路図表示例と接続情報
の出力例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a circuit diagram display example for a mask pattern and a circuit simulation and an output example of connection information according to the present embodiment.

【0113】より詳細には、図5(A)は回路図入力層
に入力された回路図の表示例を示す図であり、図5
(B)は図5(A)の回路を回路接続情報抽出処理
(6)により出力されたマスクパターン用接続情報の一
例を示す図である。なお、図5(B)において、回路接
続情報は、素子名、接続点名(等電位名称)、素子のモ
デル名(modelname)又は素子値(valu
e)等から構成される。
More specifically, FIG. 5A is a diagram showing a display example of a circuit diagram input to the circuit diagram input layer.
5B is a diagram showing an example of mask pattern connection information output from the circuit connection information extraction processing (6) of the circuit of FIG. 5A. In FIG. 5B, the circuit connection information includes an element name, a connection point name (equipotential name), an element model name (modelname), or an element value (value).
e) and the like.

【0114】図5(C)は、本実施例による回路シミュ
レーション用回路接続情報抽出処理により、図5(A)
の回路上に寄生素子入力層に抵抗R1と容量C1を導入
したときの回路図の表示例を示す図である。図5(D)
は図5(C)の回路の回路シミュレーション用接続情報
の一例を示す図である。図5(D)を参照して、寄生抵
抗R1と寄生容量C1を配線(図5(A)の等電位名称
t1で示す)に導入したことにより、トランジスタQ1
のベース端子は新等電位名称t1_2と接続され、寄生
抵抗R1は新等電位名称t1_1、t1_2間に接続さ
れ、寄生容量C1は等電位名称t1_1と接地間に接続
されている。回路シミュレーションは、図5(D)に示
す回路接続情報に基づき、直流解析、交流解析あるいは
過渡解析等の各種特性解析を行なう。
FIG. 5C shows the circuit connection information extraction process for circuit simulation according to this embodiment.
FIG. 10 is a diagram showing a display example of a circuit diagram when a resistor R1 and a capacitor C1 are introduced into a parasitic element input layer on the circuit of FIG. FIG. 5 (D)
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of connection information for circuit simulation of the circuit of FIG. Referring to FIG. 5D, by introducing parasitic resistance R1 and parasitic capacitance C1 to the wiring (indicated by equipotential name t1 in FIG. 5A), transistor Q1
Is connected to the new equipotential name t1_2, the parasitic resistance R1 is connected between the new equipotential names t1_1 and t1_2, and the parasitic capacitance C1 is connected between the equipotential name t1_1 and the ground. The circuit simulation performs various characteristic analyzes such as DC analysis, AC analysis, and transient analysis based on the circuit connection information shown in FIG.

【0115】図6は、本実施例における、前記した回路
入力層用回路情報の一例を示したものである。図6
(A)に示す回路(トランジスタQ1のベース端子に配
線w1の一端が接続し、配線w1の他端は配線w2、w
3と接続した回路構成)に対して、図6(B)に示すよ
うに(表1も参照のこと)、素子情報として、素子の名
称(Q1)、端子の名称(コレクタ端子c、ベース端子
b、エミッタ端子e)、素子の端子の位置座標、端子の
接続先要素名称(ベース端子bに配線w1が接続)が入
力される。
FIG. 6 shows an example of the circuit information for the circuit input layer in this embodiment. FIG.
(A) (one end of the wiring w1 is connected to the base terminal of the transistor Q1, and the other end of the wiring w1 is connected to the wirings w2 and w
6 (see also Table 1), the element name (Q1) and the terminal names (collector terminal c, base terminal) as shown in FIG. 6B (see Table 1). b, the emitter terminal e), the position coordinates of the terminal of the element, and the name of the element to which the terminal is connected (the wiring w1 is connected to the base terminal b) are input.

【0116】また、図6(C)に示すように、図6
(A)の回路の配線の情報(表2参照)として、線分単
位に、線分単位の名称、等電位単位の名称、線分の端点
の名称、線分の端点の位置座標、線分の端点に接続され
ている要素の名称から成る。図6(C)を参照して、例
えば配線線分名称w1は、等電位名称としてt1、線分
端点名称としてn1、n2、それぞれの線分端点の位置
座標(x3,y2)、(x2,y2)、接続先要素名称
として、端点n1は配線w2とw3に接続され、端点n
2はトランジスタQ1に接続されることを表している。
Also, as shown in FIG.
As the wiring information (see Table 2) of the circuit of (A), the name of the line segment unit, the name of the equipotential unit, the name of the end point of the line segment, the position coordinates of the end point of the line segment, the line segment Consists of the names of the elements connected to the endpoints of. Referring to FIG. 6C, for example, the wiring line segment name w1 is t1 as an equipotential name, n1 and n2 as line segment end point names, and position coordinates (x3, y2) and (x2, y2) As the connection destination element name, the end point n1 is connected to the wirings w2 and w3, and the end point n
2 indicates that it is connected to the transistor Q1.

【0117】図7は、本実施例における、前記した寄生
素子入力層用の回路情報の一例を示したものである。寄
生素子入力層用回路情報(9)は、該層に入力された回
路について素子の情報として、素子の名称、端子の名
称、素子の端子の位置座標、端子の接続先の要素の名称
等を格納する。図7(A)の寄生容量C1と寄生抵抗R
1の素子情報は、図7(B)に示すように構成され、寄
生抵抗R1の両端(p1、p2)は未接続とされ、寄生
容量C1の一端(p1)は未接続、他端(p2)は接地
されている。
FIG. 7 shows an example of the circuit information for the parasitic element input layer in this embodiment. The circuit information (9) for the parasitic element input layer includes element names, terminal names, position coordinates of element terminals, names of elements to which the terminals are connected, and the like as element information for the circuit input to the layer. Store. The parasitic capacitance C1 and the parasitic resistance R shown in FIG.
7 (B), both ends (p1, p2) of the parasitic resistance R1 are not connected, one end (p1) of the parasitic capacitance C1 is not connected, and the other end (p2). ) Is grounded.

【0118】図8は、本実施例における回路接続抽出処
理を説明するための回路例を示し、図8(A)は、回路
入力層に入力した回路例(図6(A)に相当)を示す図
であり、図8(B)は、本実施例に従い、図8(A)と
図8(C)の寄生素子入力層に入力した回路を重ね合わ
せたときの回路を示す図である。
FIG. 8 shows a circuit example for explaining the circuit connection extraction processing in this embodiment. FIG. 8A shows a circuit example (corresponding to FIG. 6A) input to the circuit input layer. FIG. 8B is a diagram showing a circuit when the circuits input to the parasitic element input layers in FIG. 8A and FIG. 8C are overlapped according to the present embodiment.

【0119】図9には、素子名と未接続端子の名称とそ
の接続先の配線線分名称を示す接続対応テーブルの一例
が示されており、図8(C)の寄生抵抗R1については
未接続端子p1、p2が図8(A)の配線線分w1に接
続され、図8(C)の寄生容量C1の未接続端子p1が
図8(A)の配線線分w1に接続されることを示してい
る。
FIG. 9 shows an example of a connection correspondence table showing the names of the elements, the names of the unconnected terminals, and the names of the wiring segments to which they are connected. The parasitic resistance R1 shown in FIG. The connection terminals p1 and p2 are connected to the wiring line w1 in FIG. 8A, and the unconnected terminal p1 of the parasitic capacitance C1 in FIG. 8C is connected to the wiring line w1 in FIG. 8A. Is shown.

【0120】図8(B)を参照して、寄生抵抗R1と寄
生容量C1が図8(A)の配線線分w1に接続されるこ
とにより、配線線分w1が分断され、新たな線分w1_
1、w1_2及びw1_3が作成され、前述した通り、
図3のステップ31にて、その配線線分の数の配線対応
テーブルが作成される。
Referring to FIG. 8B, when the parasitic resistance R1 and the parasitic capacitance C1 are connected to the wiring line w1 in FIG. 8A, the wiring line w1 is divided, and a new line segment is formed. w1_
1, w1_2 and w1_3 are created, and as described above,
In step 31 of FIG. 3, a wiring correspondence table of the number of the wiring lines is created.

【0121】図10を参照して、配線対応テーブルは、
回路入力層の接続先配線線分名として配線w1を有し、
寄生容量C1と寄生抵抗R1を加えたことにより設けら
れた新配線線分名w1_1、w1_2、w1_3を備え
ている。新配線線分w1_1(図8(B)参照)は寄生
素子が接続されたことにより等電位状態が変更を受け、
新等電位名t1_1とされ、一の端点は配線w2と配線
w3に接続され、他の端点は新配線線分w1_2と寄生
容量C1に接続されている。
Referring to FIG. 10, the wiring correspondence table is as follows.
Has a wiring w1 as a connection destination wiring line name of the circuit input layer,
New wiring line names w1_1, w1_2, and w1_3 are provided by adding the parasitic capacitance C1 and the parasitic resistance R1. The equipotential state of the new wiring line segment w1_1 (see FIG. 8B) is changed by the connection of the parasitic element,
The new equipotential name is t1_1, one end point is connected to the wiring w2 and the wiring w3, and the other end point is connected to the new wiring line segment w1_2 and the parasitic capacitance C1.

【0122】同様に、新配線線分w1_2(図8(B)
参照)は新等電位名称がt1_1とされ、一の端点は新
配線線分w1_1と寄生容量C1に接続され、他の端点
は寄生抵抗R1に接続されている。新配線線分w1_3
は新等電位名称がt1_2とされ、一の端点は寄生抵抗
R1に接続され、他の端点はトランジスタQ1に接続さ
れている。
Similarly, a new wiring line segment w1_2 (FIG. 8B)
), The new equipotential name is t1_1, one end point is connected to the new wiring line segment w1_1 and the parasitic capacitance C1, and the other end point is connected to the parasitic resistance R1. New wiring line segment w1_3
Has a new equipotential name of t1_2, one end point is connected to the parasitic resistance R1, and the other end point is connected to the transistor Q1.

【0123】前記の如く、配線対応テーブルの要素にお
いて、接続先の要素がテーブル内に含まれない配線にさ
らに接続されている場合で、しかもその配線の等電位名
称が新等電位名称になっている場合、等電位テーブルが
作成される。図10において、配線w2とw3がこの配
線に該当し、図11を参照して、等電位テーブルは、配
線w2、w3の等電位名称が新等電位名称t1_1に等
しいことを示している。
As described above, in the element of the wiring correspondence table, the connection destination element is further connected to a wiring not included in the table, and the equipotential name of the wiring becomes a new equipotential name. If so, an equipotential table is created. 10, the wirings w2 and w3 correspond to this wiring, and referring to FIG. 11, the equipotential table indicates that the equipotential names of the wirings w2 and w3 are equal to the new equipotential name t1_1.

【0124】本実施例によれば、回路シミュレーション
用の寄生素子をマスクパターン用の回路図を表示させ
て、その回路図上に重ねて作成することができ、しか
も、寄生素子を含まないマスクパターン用の接続情報と
寄生素子を含む回路シミュレーション用の接続情報を抽
出することができる。このため、寄生素子と、マスクパ
ターンにする回路素子と、の区別をつけて回路図を作成
することを可能としており、デジタル回路のみならず、
抵抗素子、容量素子を回路素子として用いて設計される
アナログ回路に対しても適用できる。
According to the present embodiment, a parasitic element for circuit simulation can be displayed by displaying a circuit diagram for a mask pattern and overlaid on the circuit diagram, and the mask pattern not including the parasitic element can be formed. Connection information for circuit simulation including parasitic elements and parasitic elements can be extracted. For this reason, it is possible to create a circuit diagram with a distinction between a parasitic element and a circuit element used as a mask pattern.
The present invention can also be applied to an analog circuit designed using a resistor and a capacitor as circuit elements.

【0125】以上、本発明における、回路図作成処理と
回路接続情報抽出処理の方法を、上記実施例に即して説
明したが、本発明は、上記実施例に限定されるものでは
なく、本発明の原理に準ずる各種態様を含む。例えば、
図3に示す回路接続抽出方法は、一例として示したもの
であり、この他にも種々の方法を実施することが可能で
ある。
As described above, the method of the circuit diagram creation processing and the circuit connection information extraction processing according to the present invention has been described with reference to the above-described embodiment. However, the present invention is not limited to the above-described embodiment. Includes various aspects according to the principles of the invention. For example,
The circuit connection extraction method shown in FIG. 3 is shown as an example, and various other methods can be implemented.

【0126】[0126]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、回
路シミュレーション用の寄生素子をマスクパターン用の
回路図を表示させて、その回路図上に重ねて作成するこ
とができ、しかも、寄生素子を含まないマスクパターン
用の接続情報と寄生素子を含む回路シミュレーション用
の接続情報を抽出することができる。
As described above, according to the present invention, a parasitic element for circuit simulation can be displayed on a circuit diagram for a mask pattern, and can be created over the circuit diagram. It is possible to extract connection information for a mask pattern including no element and connection information for a circuit simulation including a parasitic element.

【0127】このため、従来の方法では、寄生素子と、
マスクパターンにする回路素子と、の区別をつけて回路
図を作成することができなかったが、本発明によりこれ
が可能になった。このため、本発明は、デジタル回路に
対して適用できるのみならず、抵抗素子、容量素子を回
路素子として用いて設計されるアナログ回路に対しても
適用できる。
For this reason, in the conventional method, the parasitic element and
Although it has not been possible to create a circuit diagram with a distinction from a circuit element used as a mask pattern, this is made possible by the present invention. Therefore, the present invention can be applied not only to a digital circuit but also to an analog circuit designed using a resistor and a capacitor as circuit elements.

【0128】そして、本発明における回路シミュレーシ
ョン用回路接続情報抽出処理の好ましい態様において
は、回路図入力層回路情報と寄生素子入力層回路情報の
内容を加えたファイルを参照して、回路シミュレーショ
ン用の回路図の表示、接続情報の抽出が行なわれ、マス
クパターン用の回路図とバックアノテーション後の回路
図を一元的に管理することができる。
In a preferred embodiment of the circuit connection information extraction processing for circuit simulation according to the present invention, a file in which the contents of the circuit diagram input layer circuit information and the parasitic element input layer circuit information are added is referred to, and the circuit simulation The circuit diagram is displayed and the connection information is extracted, and the circuit diagram for the mask pattern and the circuit diagram after the back annotation can be centrally managed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例に係るハードウェア構成を示
すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a hardware configuration according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例における回路図作成処理の動
作を示す流れ図である。(A)はマスクパターン用回路
図作成処理フローを示す流れ図である。(B)は回路シ
ミュレーション用回路図作成処理フローを示す流れ図で
ある。
FIG. 2 is a flowchart showing an operation of a circuit diagram creation process in one embodiment of the present invention. 9A is a flowchart showing a mask pattern circuit diagram creation processing flow. (B) is a flowchart showing a circuit diagram creation processing flow for circuit simulation.

【図3】本発明の一実施例における回路接続情報抽出処
理の動作を示す流れ図である。(A)はマスクパターン
用回路接続情報抽出処理フローを示す流れ図である。
(B)は回路シミュレーション用回路接続情報抽出処理
を示す流れ図である。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a circuit connection information extracting process according to one embodiment of the present invention. (A) is a flowchart showing a mask pattern circuit connection information extraction processing flow.
(B) is a flowchart showing a circuit connection information extraction process for circuit simulation.

【図4】本発明に係る回路図出力方法を用いた回路図出
力システムに係わる回路設計工程の流れ図である。
FIG. 4 is a flowchart of a circuit design process relating to a circuit diagram output system using the circuit diagram output method according to the present invention.

【図5】本発明の一実施例の出力例を示す図である。
(A)は回路図入力層に入力した回路図の表示例を示す
図である。(B)は(A)の回路を回路接続情報抽出処
理により出力したマスクパターン用接続情報例を示す図
である。(C)は(A)の回路上に寄生素子入力層に抵
抗R1と容量C1を入力したときの表示例を示す図であ
る。(D)は(C)の回路の回路シミュレーション用接
続情報例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing an output example of one embodiment of the present invention.
(A) is a figure which shows the example of a display of the circuit diagram input into the circuit diagram input layer. FIG. 6B is a diagram illustrating an example of mask pattern connection information output from the circuit of FIG. (C) is a diagram showing a display example when a resistance R1 and a capacitance C1 are input to the parasitic element input layer on the circuit of (A). (D) is a diagram showing an example of connection information for circuit simulation of the circuit of (C).

【図6】回路入力層用回路情報例を示す図である。
(A)は回路入力層に入力した回路例を示す図である。
(B)は(A)の回路の素子情報を示す図である。
(C)は(A)の回路の配線情報を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of circuit information for a circuit input layer.
(A) is a figure which shows the example of a circuit input into the circuit input layer.
(B) is a diagram showing element information of the circuit of (A).
(C) is a diagram showing wiring information of the circuit of (A).

【図7】(A)は寄生素子入力層用回路情報例を示す説
明図である。(B)は(A)の回路の素子情報を示す図
である。
FIG. 7A is an explanatory diagram illustrating an example of circuit information for a parasitic element input layer. (B) is a diagram showing element information of the circuit of (A).

【図8】回路接続抽出処理を説明するための回路例を示
す図である。(A)は、回路入力層に入力した回路例を
示す図である。(B)は(A)と(C)を重ね合わせた
ときの状態例を示す図である。(C)は寄生素子入力層
に入力した回路例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a circuit for explaining circuit connection extraction processing; (A) is a figure which shows the example of a circuit input into the circuit input layer. (B) is a figure which shows the example of a state when (A) and (C) are overlapped. (C) is a diagram showing a circuit example input to the parasitic element input layer.

【図9】寄生素子入力層に入力された回路に対する接続
対応テーブル例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of a connection correspondence table for a circuit input to a parasitic element input layer.

【図10】図8の(B)の寄生素子が接続されることに
より、変更を受けた配線線分の配線対応テーブル例を示
す図である。
FIG. 10 is a diagram showing an example of a wiring correspondence table of wiring lines changed by connecting the parasitic elements of FIG. 8B;

【図11】図8の(B)の寄生素子が接続されることに
より、変更を受けた等電位名称を定義等電位テーブル例
を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating an example of an equipotential table in which the equipotential names changed by connecting the parasitic elements of FIG. 8B are defined.

【図12】従来例1の回路図出力システムの構成例を示
す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a configuration example of a circuit diagram output system according to Conventional Example 1.

【図13】従来例1の表示例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a display example of Conventional Example 1.

【図14】従来例3(特開平4−42374号公報)の
構成例を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing a configuration example of a conventional example 3 (Japanese Patent Laid-Open No. 4-42374).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

Q1〜Q2…トランジスタ R0〜R1…抵抗 C1…容量 t1〜t7…等電位名称 W1〜W6…配線線分名称 Q1 to Q2 Transistors R0 to R1 Resistance C1 Capacitance t1 to t7 Equipotential names W1 to W6 Wiring line names

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】回路図を出力する方法において、 少なくとも、回路図入力層と、寄生素子入力層と、を含
み、 前記回路図入力層にマスクパターンを作成するための
回路を入力してマスクパターン用の回路図を出力し、 さらに、 前記寄生素子入力層に前記マスクパターン用の回路の
寄生素子部分を入力し、前記寄生素子部分を前記マスク
パターン用の回路図に重ね合わせて、回路シミュレーシ
ョン用の回路図として表示出力する、ことを特徴とする
回路図出力方法。
1. A method for outputting a circuit diagram, at least, includes a schematic capture layer, and the parasitic element input layer, a to the circuit diagram input layer, enter the circuit for creating a mask pattern Mask A circuit diagram for a pattern is output. Further, a parasitic element portion of the circuit for the mask pattern is input to the parasitic element input layer, and the parasitic element portion is superimposed on the circuit diagram for the mask pattern. A circuit diagram output method for displaying and outputting a circuit diagram for simulation.
【請求項2】前記回路図入力層からマスクパターン用の
回路図の回路情報を抽出し、 前記回路図入力層の回路情報に前記寄生素子入力層の回
路情報を加え、前記寄生素子部分を含んだ回路図につい
て、回路シミュレーション用の回路情報を抽出する、こ
とを特徴とする請求項1記載の回路図出力方法。
2. Extracting circuit information of a circuit diagram for a mask pattern from the circuit diagram input layer, adding circuit information of the parasitic element input layer to circuit information of the circuit diagram input layer, and including the parasitic element portion. 2. The circuit diagram output method according to claim 1, wherein circuit information for circuit simulation is extracted from the circuit diagram.
【請求項3】前記マスクパターン用の回路図において、
前記寄生素子を導入する配線に対し、新たに設けられた
配線線分に対応して新たな配線線分名、該新たな配線線
分の端点の接続先を含む対応表を作成し、該対応表を基
に、前記回路シミュレーション用の接続情報を出力する
ことを特徴とする請求項2記載の回路図出力方法。
3. In the circuit diagram for the mask pattern,
For the wiring for introducing the parasitic element, a correspondence table including a new wiring line segment name corresponding to a newly provided wiring line segment and a connection destination of an end point of the new wiring line segment is created. 3. The circuit diagram output method according to claim 2, wherein the circuit simulation connection information is output based on a table.
【請求項4】(a) 前記回路図入力層に入力されたマス
クパターン用の回路情報と、前記寄生素子入力層に入力
された回路情報から所定の中間ファイルを作成し、 (b) 前記中間ファイルを参照して前記寄生素子の端子
の少なくとも位置座標、接続状態を表わす接続対応表を
作成し、 (c) 前記中間ファイル及び前記接続対応表を参照し
て、前記マスクパターン用の回路図において前記寄生素
子を接続する配線に対し、新たに設けられた配線線分に
対応して新たな配線線分名、該新たな配線線分の端点の
接続先を含む配線対応表を作成し、 (d) 前記中間ファイル中のマスクパターン用の回路情
報及び該配線対応表の情報に基づき前記回路シミュレー
ション用の接続情報を抽出する、 ことを特徴とする請求項1又は2記載の回路図出力方
法。
4. A predetermined intermediate file is created from circuit information for a mask pattern input to the circuit diagram input layer and circuit information input to the parasitic element input layer, and At least the position coordinates of the terminal of the parasitic element with reference to the file, a connection correspondence table representing a connection state is created, (c) with reference to the intermediate file and the connection correspondence table, in the circuit diagram for the mask pattern, For the wiring connecting the parasitic elements, a new wiring line segment name corresponding to the newly provided wiring line segment and a wiring correspondence table including a connection destination of an end point of the new wiring line segment are created, 3. The circuit diagram output method according to claim 1, wherein d) connection information for the circuit simulation is extracted based on circuit information for a mask pattern in the intermediate file and information in the wiring correspondence table.
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