JPH0567680A - Parasitic device information extraction device - Google Patents

Parasitic device information extraction device

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Publication number
JPH0567680A
JPH0567680A JP3257095A JP25709591A JPH0567680A JP H0567680 A JPH0567680 A JP H0567680A JP 3257095 A JP3257095 A JP 3257095A JP 25709591 A JP25709591 A JP 25709591A JP H0567680 A JPH0567680 A JP H0567680A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parasitic
data
device information
circuit diagram
layout pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP3257095A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hirobumi Yamamoto
博文 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP3257095A priority Critical patent/JPH0567680A/en
Publication of JPH0567680A publication Critical patent/JPH0567680A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To enable a parasitic device to be easily retrieved by a method wherein the content of the parasitic device information extracted from layout pattern data is so displayed to be found in circuit chart data at a glance. CONSTITUTION:Parasitic device information 6 such as the parasitic capacitance and the parasitic resistance of a device and wirings extracted through a layout verification module 4 are controlled by a circuit chart feedback process module 8, data displayed and arranged on the circuit chart data 2 are generated using data in which layout pattern data 1 and the circuit chart data 2 are compared with each other and verified and the verification result 5 is coincident, and the content of the parasitic device data 6 is displayed and arranged through a display arrangement module 9 in accordance with the above data.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路のレイア
ウトパターンデータからデバイスおよび配線の寄生容量
や寄生抵抗等の寄生デバイス情報(バックアノテーショ
ン)を抽出する寄生デバイス情報抽出装置に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a parasitic device information extracting device for extracting parasitic device information (back annotation) such as parasitic capacitance and parasitic resistance of devices and wirings from layout pattern data of a semiconductor integrated circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】図4は従来の寄生デバイス情報抽出装置
の構成を示すブロック図である。同図において、1は集
積回路のレイアウトパターンデータ、2は集積回路の回
路図データである。3はレイアウトパターンデータ1と
回路図データ2とのデバイス情報や回路接続情報等の検
証用情報についてレイアウトパターンデータ1と回路図
データ2との間での比較検証と、レイアウトパターンデ
ータ1からデバイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗等
の寄生デバイス情報を抽出するための検証ルールであ
る。4はレイアウトパターンデータ1と回路図データ2
とから検証ルール3に従いデバイス情報や回路接続情報
等を抽出して比較検証を行ない、検証結果を生成し記憶
し、さらにレイアウトパターンデータ1からデバイスお
よび配線の寄生容量や寄生抵抗等の寄生デバイス情報を
抽出するレイアウト検証モジュールである。5はレイア
ウト検証モジュール4によって生成され記憶された検証
結果、6はレイアウト検証モジュール4によって抽出さ
れた寄生デバイス情報、7は寄生デバイス情報6を表示
するための表示モジュールである。
2. Description of the Related Art FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional parasitic device information extraction device. In the figure, 1 is layout pattern data of the integrated circuit, and 2 is circuit diagram data of the integrated circuit. Reference numeral 3 is a comparative verification between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 for verification information such as device information of the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, circuit connection information, and the like; It is a verification rule for extracting parasitic device information such as parasitic capacitance and parasitic resistance of wiring. 4 is layout pattern data 1 and circuit diagram data 2
From the above, according to the verification rule 3, the device information, the circuit connection information, etc. are extracted and the comparison verification is performed, the verification result is generated and stored, and the parasitic pattern information such as the parasitic capacitance and the parasitic resistance of the device and the wiring from the layout pattern data 1. Is a layout verification module for extracting Reference numeral 5 is a verification result generated and stored by the layout verification module 4, 6 is parasitic device information extracted by the layout verification module 4, and 7 is a display module for displaying the parasitic device information 6.

【0003】次に動作について図5のフローチャートを
用いて説明する。レイアウトパターンデータ1と回路図
データ2とのデバイス情報や回路接続情報等を抽出して
それぞれ比較し、即ちレイアウトパターンデータ1と回
路図データ2とを比較し、さらにレイアウトパターンデ
ータ1からデバイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗等
の寄生デバイス情報6を抽出するための検証ルール3を
用いて、レイアウト検証モジュール4で上記比較検証を
行ない(ステップ11〜14)、検証結果5を生成し記
憶する(ステップ15)。さらにレイアウトパターンデ
ータ1から上記寄生デバイス情報6を抽出する(ステッ
プ16)。抽出された寄生デバイス情報6を回路図デー
タ2上で検索する場合、ステップ15で生成し記憶され
た検証結果5のレイアウトパターンデータ1と回路図デ
ータ2との一致した情報を用いて、表示モジュール7で
回路図データ2上の対応するデバイスおよび配線をセレ
クトさせて位置を表示する(ステップ17,18)。
Next, the operation will be described with reference to the flowchart of FIG. The device information and the circuit connection information of the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 are extracted and compared with each other, that is, the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 are compared with each other, and the device and the wiring from the layout pattern data 1 are compared. Using the verification rule 3 for extracting the parasitic device information 6 such as the parasitic capacitance and the parasitic resistance of the above, the layout verification module 4 performs the above-mentioned comparative verification (steps 11 to 14), and generates and stores the verification result 5 ( Step 15). Further, the parasitic device information 6 is extracted from the layout pattern data 1 (step 16). When the extracted parasitic device information 6 is searched on the circuit diagram data 2, the display module is created by using the matching information of the layout pattern data 1 of the verification result 5 generated and stored in step 15 and the circuit diagram data 2. In step 7, the corresponding device and wiring on the circuit diagram data 2 are selected and the position is displayed (steps 17 and 18).

【0004】図6に寄生デバイス情報の回路図データ上
での位置(配線)をセレクト表示させた例を示す。同図
で太線は寄生デバイスの位置を示す。
FIG. 6 shows an example in which the position (wiring) on the circuit diagram data of the parasitic device information is selectively displayed. In the figure, the bold line indicates the position of the parasitic device.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の寄生デバイス情
報抽出装置は以上のように構成されているので、寄生デ
バイス情報を参照し、回路図データ上の対応する部分
(デバイス、配線)をセレクト表示させて、寄生デバイ
スの位置を判断しなければならず、一目で寄生デバイス
の位置が分り辛く、また検索に時間がかかるなどの問題
点があった。
Since the conventional parasitic device information extraction apparatus is configured as described above, the corresponding portion (device, wiring) on the circuit diagram data is selected and displayed by referring to the parasitic device information. Therefore, the position of the parasitic device must be determined, and it is difficult to find the position of the parasitic device at a glance, and there is a problem that it takes time to search.

【0006】本発明は上記のような問題点を解消するた
めになされたもので、レイアウトパターンデータから抽
出した寄生デバイス情報の内容が回路図データ上で一目
で分るように表示し、寄生デバイスの検索を容易にする
ことができる寄生デバイス情報抽出装置を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and the contents of the parasitic device information extracted from the layout pattern data are displayed on the circuit diagram data so that they can be seen at a glance to display the parasitic device information. It is an object of the present invention to provide a parasitic device information extraction device that can easily search for.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明に係る寄生デバ
イス情報抽出装置は、レイアウトパターンデータ1と回
路図データ2との比較検証を行なうとともにレイアウト
パターンデータ1からデバイスおよび配線の寄生容量や
寄生抵抗等の寄生デバイス情報6を抽出するレイアウト
検証モジュール4と、上記比較検証によりレイアウトパ
ターンデータ1と回路図データ2との一致した情報を用
いて上記抽出された寄生デバイス情報6を回路図データ
2上に表示および配置するためのデータを生成する処理
を行なう回路図フィードバック処理モジュール8と、こ
の回路図フィードバック処理モジュール8の出力データ
により上記回路図データ2上に寄生デバイス情報6の内
容を表示および配置する表示配置モジュール9とを備え
たものである。
A parasitic device information extraction apparatus according to the present invention performs a comparative verification of layout pattern data 1 and circuit diagram data 2, and at the same time, based on layout pattern data 1, parasitic capacitances and parasitic resistances of devices and wirings. The extracted parasitic device information 6 on the circuit diagram data 2 by using the layout verification module 4 for extracting the parasitic device information 6 such as The circuit diagram feedback processing module 8 that performs a process for generating data to be displayed and arranged on the circuit diagram, and the output data of the circuit diagram feedback processing module 8 displays and arranges the contents of the parasitic device information 6 on the circuit diagram data 2. And a display arrangement module 9 for

【0008】[0008]

【作用】レイアウトパターンデータ1から寄生デバイス
情報6が抽出され、回路図データ2上に寄生デバイス情
報6を表示および配置するためのデータはレイアウトパ
ターンデータ1と回路図データ2との比較検証した結果
の一致した情報を用いて生成され、そのデータにより寄
生デバイス情報6の内容は回路図データ2上に表示およ
び配置される。
The parasitic device information 6 is extracted from the layout pattern data 1, and the data for displaying and arranging the parasitic device information 6 on the circuit diagram data 2 is the result of comparison and verification between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2. Of the parasitic device information 6 is generated and displayed on the circuit diagram data 2 by the data.

【0009】[0009]

【実施例】図1はこの発明の一実施例に係る寄生デバイ
ス情報抽出装置の構成を示すブロック図である。図1に
おいて、図3に示す構成要素に対応するものには同一の
符号を付し、その説明を省略する。図1において、8は
比較検証した検証結果5におけるレイアウトパターンデ
ータ1と回路図データ2との一致した情報を用いて寄生
デバイス情報6を回路図データ2上に表示および配置す
るためのデータを生成する処理を行なう回路図フィード
バック処理モジュールである。9は回路図フィードバッ
ク処理モジュール8の出力データにより回路図データ2
上に寄生デバイス情報6の内容を表示および配置する表
示配置モジュールである。
1 is a block diagram showing the configuration of a parasitic device information extracting apparatus according to an embodiment of the present invention. In FIG. 1, components corresponding to those shown in FIG. 3 are designated by the same reference numerals, and their description will be omitted. In FIG. 1, reference numeral 8 generates data for displaying and arranging the parasitic device information 6 on the circuit diagram data 2 by using the information in which the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 in the verification result 5 obtained by the comparison and verification match. It is a circuit diagram feedback processing module for performing the processing. 9 is the circuit diagram data 2 according to the output data of the circuit diagram feedback processing module 8.
A display arrangement module for displaying and arranging the contents of the parasitic device information 6 on the top.

【0010】次にこの実施例の動作について、図2のフ
ローチャートを用いて説明する。レイアウトパターンデ
ータ1と回路図データ2とのデバイス情報や回路接続情
報等の検証用情報の比較、即ちレイアウトパターンデー
タ1と回路図データ2との比較と、レイアウトパターン
データ1からデバイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗
等の寄生デバイス情報6の抽出を行なうための検証ルー
ル3を用いて、レイアウト検証モジュール4でレイアウ
トパターンデータ1と回路図データ2とのデバイス情報
や回路接続情報等の検証用情報について、比較検証を行
ない(ステップ21〜24)、検証結果5を生成し記憶
する(ステップ25)。さらにレイアウトパターンデー
タ1からデバイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗等の
寄生デバイス情報6を抽出する(ステップ26)。抽出
された寄生デバイス情報6を回路図データ2上で検索す
る場合、寄生デバイス情報6を回路図フィードバック処
理モジュール8によって制御し、回路図データ2上に表
示および配置するためのデータを、レイアウト検証モジ
ュール4で生成し記憶された検証結果5のレイアウトパ
ターンデータ1と回路図データ2との一致した情報を用
いて生成する。この生成されたデータに従って表示配置
モジュール9は、回路図データ2上に寄生デバイス情報
6の内容を表示および配置する(ステップ27,28,
29)。
Next, the operation of this embodiment will be described with reference to the flowchart of FIG. Comparison of verification information such as device information and circuit connection information between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, that is, comparison between the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2, and the parasitics of devices and wirings from the layout pattern data 1. Using the verification rule 3 for extracting the parasitic device information 6 such as capacitance and parasitic resistance, the layout verification module 4 uses the verification information such as device information of the layout pattern data 1 and the circuit diagram data 2 and circuit connection information. Are compared and verified (steps 21 to 24), and the verification result 5 is generated and stored (step 25). Further, the parasitic device information 6 such as the parasitic capacitance and the parasitic resistance of the device and wiring is extracted from the layout pattern data 1 (step 26). When the extracted parasitic device information 6 is searched on the circuit diagram data 2, the parasitic device information 6 is controlled by the circuit diagram feedback processing module 8 and the layout verification of the data to be displayed and arranged on the circuit diagram data 2 is performed. It is generated using the matching information of the layout pattern data 1 of the verification result 5 generated and stored in the module 4 and the circuit diagram data 2. According to the generated data, the display arrangement module 9 displays and arranges the contents of the parasitic device information 6 on the circuit diagram data 2 (steps 27, 28,
29).

【0011】図3に回路図データ2上に寄生デバイス情
報6を表示させた例を示す。同図で点線は寄生デバイス
を示す。
FIG. 3 shows an example in which the parasitic device information 6 is displayed on the circuit diagram data 2. In the figure, dotted lines indicate parasitic devices.

【0012】[0012]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、レイアウ
トパターンデータから抽出した寄生デバイス情報を、回
路図データ上に表示および配置させるように構成したの
で、寄生デバイス情報の内容が回路図データ上で一目で
判断でき、また、寄生デバイスの検索も容易になるとい
う効果が得られる。
As described above, according to the present invention, the parasitic device information extracted from the layout pattern data is displayed and arranged on the circuit diagram data. It is possible to make the above judgment at a glance, and it is possible to obtain an effect that the search for the parasitic device becomes easy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の一実施例に係る寄生デバイス情報抽
出装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a parasitic device information extraction device according to an embodiment of the present invention.

【図2】この実施例の動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 2 is a flowchart showing the operation of this embodiment.

【図3】この実施例による寄生デバイス情報の表示例を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a display example of parasitic device information according to this embodiment.

【図4】従来の寄生デバイス情報抽出装置の構成を示す
ブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of a conventional parasitic device information extraction device.

【図5】この従来例の動作を示すフローチャートであ
る。
FIG. 5 is a flowchart showing the operation of this conventional example.

【図6】この従来例による寄生デバイス情報の表示例を
示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a display example of parasitic device information according to this conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レイアウトパターンデータ 2 回路図データ 4 レイアウト検証モジュール 6 寄生デバイス情報 8 回路図フィードバック処理モジュール 9 表示配置モジュール 1 Layout pattern data 2 Circuit diagram data 4 Layout verification module 6 Parasitic device information 8 Circuit diagram feedback processing module 9 Display arrangement module

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路のレイアウトパターンデータか
らデバイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗等の寄生デ
バイス情報を抽出する寄生デバイス情報抽出装置におい
て、レイアウトパターンデータと回路図データとの比較
検証を行なうとともにレイアウトパターンデータからデ
バイスおよび配線の寄生容量や寄生抵抗等の寄生デバイ
ス情報を抽出するレイアウト検証モジュールと、上記比
較検証によりレイアウトパターンデータと回路図データ
との一致した情報を用いて上記抽出された寄生デバイス
情報を回路図データ上に表示および配置するためのデー
タを生成する処理を行なう回路図フィードバック処理モ
ジュールと、この回路図フィードバック処理モジュール
の出力データにより上記回路図データ上に寄生デバイス
情報の内容を表示および配置する表示配置モジュールと
を備えたことを特徴とする寄生デバイス情報抽出装置。
1. A parasitic device information extracting device for extracting parasitic device information such as parasitic capacitances and parasitic resistances of devices and wirings from layout pattern data of an integrated circuit, and comparing and verifying the layout pattern data and the circuit diagram data. The layout verification module that extracts parasitic device information such as parasitic capacitance and parasitic resistance of devices and wirings from the layout pattern data, and the extracted parasitic using the information that the layout pattern data and the circuit diagram data match by the above-mentioned comparison verification. The circuit diagram feedback processing module that performs a process of generating data for displaying and arranging device information on the circuit diagram data, and the contents of the parasitic device information on the circuit diagram data by the output data of this circuit diagram feedback processing module. Display And a display arrangement module for arranging the information, and a parasitic device information extracting apparatus.
JP3257095A 1991-09-09 1991-09-09 Parasitic device information extraction device Pending JPH0567680A (en)

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JP (1) JPH0567680A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0877241A (en) * 1994-09-06 1996-03-22 Nec Corp Circuit diagram output method
JP2008191777A (en) * 2007-02-01 2008-08-21 Renesas Technology Corp Layout design system and design method for semiconductor integrated circuit device

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