JPH05157736A - 超音波検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】Ａスコープ像の観測において、誤読や誤認を防
止することができ、しかも応答がよくて効率よく所定の
基準に基づいた検査ができる超音波検査装置を実現す
る。 【構成】グラフ枠設定処理プログラム６ｃはグラフ作成
キー入力時のみ実行し、時間を要する処理である特性グ
ラフのグラフデータ（６ａ）及び画素データ（６１ａ）
の生成を予め済ませておく。そして、その後の検査のと
きのゲイン設定値が、ゲイン基準値に等しいとき、また
は、ゲイン基準値を６デシベルの整数倍だけ増減した値
に等しいときに、作成済み画素データの特性グラフを表
示する。これにより、その条件の下では、素早く特性グ
ラフと拡大されたＡスコープ画像とが表示できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、超音波検査装置に関
し、詳しくは、検査基準に従って被検体を検査すること
が容易で、被検体の評価を効率よく行うことができるよ
うなＡスコープ画像表示の超音波検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】液晶表示器（以下ＬＣＤ表示器）を備
え、マイクロプロセッサを内蔵し、グラフィック表示機
能を持つ小型の超音波探傷装置では、一般にＡスコープ
波形を画像表示する機能を持つものが多く、探傷結果が
目視できるので各種の測定分野で使用され、特に、その
携帯型探傷装置は、利用範囲が幅広く、超音波の専門家
でない人が取扱うことも多い。この種の超音波探傷装置
で表示されるＡスコープ画像では欠陥からのエコー高さ
とビーム路程のみが観測されるだけであるので、この種
の装置を部材等の品質を検査する超音波検査装置として
利用した場合には欠陥の大きさや深さなどの位置をＡス
コープ波形を読取って別途算出しなければならない欠点
がある。

【０００３】特に、溶接部材等についての品質検査で
は、欠陥エコー高さや路程等から欠陥の長さ等を求める
ことが必要であり、それを特定の判定基準に従って評価
しなければならない。その評価として溶接材料のように
ＪＩＳで規定された等級分類に従って等級評価を行う場
合あるいは日本建築学会の規格に従って合否判定を行う
場合には、超音波探触子（以下プローブ）により溶接部
材を走査して、走査に応じて多数の箇所についてエコー
高さと路程とを示すＡスコープ像からその値を読取り、
そのときの測定条件に従ってＪＩＳで規定される距離振
幅特性に応じて個別的に計算をして溶接部材の等級評価
等を行わなければならないために特に作業効率が悪く、
かつ、評価誤りが生じ易い。

【０００４】このような不具合を解決するものとしてＪ
ＩＳ規格あるいは日本建築学会で規定された特性グラフ
をＡスコープ画像に重ねて表示するという発明が同一出
願人により特願１−２６２９７３において既に出願され
ている。その発明では、特性グラフ（図２の特性グラフ
Ｈ，Ｍ，Ｌ参照）の生成に必要な表示グラフデータを標
準試験片の測定結果とその測定時のゲイン設定値等から
求めておく。そして、単にＡスコープ像だけでなく、表
示されるＡスコープ像の路程に対応して検査基準となる
特性グラフＨ，Ｍ，Ｌの画素データを表示グラフデータ
とこのときのゲイン設定値とから生成して表示する。こ
れにより、超音波の探傷中、距離や振幅に関する判定基
準が欠陥エコーのレベルとともに表示されるので等級の
判定が確実にできる。しかも、後から詳細に計算しなく
ても判定基準に従ってデータを採るだけで評価データを
得ることができるようになった。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところが、特性グラフ
の生成には複雑多量の計算等の処理を要し処理時間がか
かるので、毎回この処理を行うと応答速度の低下を招
き、操作性が悪い。一方、実用にあっては操作性が重視
される。そこで、操作性を向上させるために一層の改良
が加えられ、特性グラフの表示については、画素データ
を表示グラフデータから毎回生成することなく、最初に
生成された画素データを記憶しておき表示のときにはこ
れを転送する処理だけが実際には行われている。ただ
し、その代償として、ゲイン設定値が特性データの画素
データを生成したときのゲイン設定値と異なる場合に
は、この画素データが測定データに対応しないのでＡス
コープ画像とともに表示することができない。

【０００６】しかし、図２の特性グラフＨ，Ｍ，Ｌの形
状から明らかなように、路程の遠い所（図の右側）では
特性グラフが低くなって混み合っている。このため、こ
の部分にある欠陥を判断する場合には、検出したエコー
波形が欠陥エコーなのかノイズ等の他のものなのか、ま
た、どの領域に属するものなのか、判断が困難なことが
多い。そこで、設定ゲインを変えてＡスコープ画像を縦
に拡大し特にこの部分を詳細に再確認する必要が生じる
が、前述の理由から設定ゲインを変えたときには特性グ
ラフが表示されないので、やはり判断が困難であり問題
である。この発明の目的は、このような従来技術の問題
点を解決するものであって、Ａスコープ像の観測におい
て誤読や誤認を防止することができ、しかも応答がよく
て効率よく所定の基準に基づいた検査ができる超音波検
査装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るためのこの発明の超音波検査装置の構成は、超音波探
傷により被検体から反射したエコー受信信号を得てＡス
コープ像を表示してこのＡスコープ像の状態を読取るこ
とで前記被検体の検査をする超音波検査装置であって、
検査基準となる欠陥エコーの高さと路程との関係を示し
ゲイン基準値に対応する特性グラフのグラフデータ生成
時のゲイン設定値であるゲイン基準値およびこのゲイン
基準値を６デシベルの整数倍だけ増減した値の何れか１
つに検査時のゲイン設定値が等しいときには、前記グラ
フデータから生成済みの前記特性グラフの画素データを
前記Ａスコープ像に重ねて表示するものである。

【０００８】

【作用】このように、時間を要する処理である特性グラ
フのグラフデータ及び画素データの生成をゲイン基準値
に対し予め済ませておき、その後の検査のときのゲイン
設定値がゲイン基準値に等しいときにはその特性グラフ
を表示し、さらに、そのときのゲイン設定値がゲイン基
準値を６デシベルの整数倍だけ増減した値に等しいとき
には新たに特性グラフデータを生成することなく同じ特
性グラフをそのまま表示するようにした。これにより、
設定ゲインを変えてＡスコープ画像を縦に拡大し詳細に
再確認する必要が生じた場合でも、６デシベル単位での
設定ゲインの変更であれば、単にＡスコープ像だけでな
く検査基準となる特性グラフが表示される。このとき、
設定ゲインが基準ゲインと異なる場合には、特性グラフ
が表示されるＡスコープ像のゲインに対応していないこ
とになるが、各特性グラフの波形相互には６デシベルの
比例関係が存在するので、同じ特性グラフが表示されて
いても操作者にとっては判別容易であり隣の波形等を参
照して確実に判定することができる。実用上は、高速応
答性も重要である。

【０００９】したがって、検出した欠陥エコーのレベル
が低くて判定が微妙な場合でも検査装置の設定ゲインを
６デシベル単位で変えれば、欠陥エコーが見やすくな
り、しかも、距離や振幅に関する判定基準が再度生成不
要のため素早く表示されるので、欠陥レベルの判定が速
く確実にできる。その結果、Ａスコープ像の観測におい
て誤読や誤認を防止することができ、しかも応答がよく
て効率よく所定の基準に基づいた検査のできる超音波検
査装置を実現することができる。

【００１０】

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して詳細に説明する。図１は、この発明を適用した一
実施例の超音波検査装置のブロック図であり、図２は、
そのＡスコープ画像の表示状態の説明図、図３は、測定
を行った場合の欠陥エコーの表示状態の説明図、図４
は、ＪＩＳの規定による等級評価の一例を示す表の説明
図、図５は、グラフ特性表示測定処理のフローチャート
である。図１において、２０は、携帯型の超音波検査装
置であって、１は、その探傷器部である。この探傷器部
１は、パルサー・レシーバ等から構成され、送信端子１
１からプローブ１６（図では超音波探触子）にパルス信
号を送り、エコー受信信号を受信端子１２で受けてそれ
を増幅し、アナログ信号としてＡ／Ｄ変換回路２に出力
する。

【００１１】Ａ／Ｄ変換回路２は、探傷器部１から得ら
れる送信波，表面反射波、欠陥反射波等についての各ア
ナログ信号を、例えば、２０ＭHz程度の高い周波数でサ
ンプリングし、これらのアナログ出力をデジタル値に変
換してマイクロプロセッサ（ＭＰＵ）５が処理できる入
力データ値としてバス１３に送出する。バス１３には、
ゲインダイヤル，カーソルダイヤル等を有するダイヤル
式数値設定回路３とシートキーを有するキー入力回路４
とが接続されていて、マイクロプロセッサ５は、これら
回路からバス１３を介してダイヤルにより設定される設
定値及び各種のキー入力信号を受ける。そこで、ゲイン
ダイヤルにより探傷器部１に対するゲイン設定値（調整
値）が入力されると、マイクロプロセッサ５は、探傷器
部１の高周波増幅器のゲイン（増幅率）を制御し、ゲイ
ンダイヤルにより入力されたゲイン設定値に対応するゲ
インになるように高周波増幅器のゲインを設定する。

【００１２】６は、バス１３に接続されたＲＡＭであ
り、Ａ／Ｄ変換されたエコー受信信号についてのデジタ
ルデータとＲＯＭカードによりロードされた各種のアプ
リケーション処理プログラムと入力キーにより指定され
た探傷モードを示すフラグ等の各種の情報や種々のデー
タが格納されていて、さらに、表示グラフデータ記憶領
域６ａを有している。７は、ＲＯＭであり、これにはマ
イクロプロセッサ５が実行するＡスコープ画像演算処理
プログラム７１のほか、各種の基本プログラムが記憶さ
れている。また、８は、ＲＯＭカードインタフェースで
あって、装置に装着されるＲＯＭカードとコネクタによ
り着脱できる関係で接続され、マイクロプロセッサ５の
制御に応じてＲＯＭカードのプログラム等の情報をバス
１３に送出する。

【００１３】９は、RS-232C インタフェースであり、外
部の情報処理装置（特に、そのマイクロプロセッサ）と
データ交換をするための回路である。また、１０は、Ｌ
ＣＤ表示装置であって、Ａスコープ画像等のほか、各種
の測定値を表示し、内部にビデオメモリインタフェース
とビデオメモリ、ビデオメモリの情報を読出してビデオ
信号を発生するビデオメモリコントローラ、液晶駆動回
路、そして、例えば、１２８×２５６ドット等のドット
マトリックスの液晶表示器等とを有していて、ビデオメ
モリインタフェースを介してバス１３に接続されてい
る。

【００１４】ここで、ＲＡＭ６には、表示グラフデータ
を記憶する表示グラフデータ記憶領域６ａのほかに、そ
の表示グラフデータからビット展開して生成された特性
グラフ画素データ６１ａの記憶領域と、画像表示データ
をビット展開して記憶する画像メモリ部６１が設けられ
ている。また、データ領域の他に、判定基準グラフ生成
処理プログラム６ｂと、グラフ・枠設定処理プログラム
６ｃ、そして表示処理プログラム６ｄ等の処理プログラ
ムが格納される領域が設けられ、測定の際にＲＯＭカー
ドからこれら処理プログラムが読出されてそれぞれの領
域にロードされて記憶される。

【００１５】判定基準グラフ生成処理プログラム６ｂ
は、この実施例では、ＪＩＳＺ３０６０の等級判定のた
めの特性グラフを設定する処理プログラムであって、超
音波探傷による探傷モードにおいてキー入力回路４から
グラフ生成の機能キーが入力されたときにマイクロプロ
セッサ５により実行され、標準試験片を探傷したときに
えられる路程とエコー高さとを表示グラフデータ記憶領
域６ａに記憶する。オペレータは、グラフ生成の機能キ
ーを入力した後に後述するように、例えば、Ｈの特性グ
ラフ（第２図参照）が得られる標準試験片について複数
箇所で探傷を行う。そして、その都度、判定基準グラフ
生成処理プログラム６ｂは、標準試験片についての欠陥
エコーの路程とエコー高さのデータを抽出してそれを順
次表示グラフデータ記憶領域６ａに記憶し、グラフ・枠
設定処理プログラム６ｃを起動する。なお、この測定の
ときには測定範囲とゲインとは固定されている。

【００１６】このような標準試験片の測定が終了する
と、オペレータは測定終了キーを入力する。グラフ生成
の機能キーが入力された後の処理状態においてキー入力
回路４からこの測定終了の機能キーが入力されると、判
定基準グラフ生成処理プログラム６ｂは、所定の状態フ
ラグのうち重ね表示状態を設定する重ね表示処理フラグ
を重ね状態に設定（“ＯＮ”或は“１”（有意）状態に
設定）し、このときのゲイン設定値をゲイン基準値とし
て記憶して、その処理を終了する。なお、標準試験片を
測定した場合の特性グラフのＬ，Ｍ，Ｈ（第２図参照）
の１つの指定は、標準試験片を測定するに当たって（す
なわち、キー入力回路４からグラフ生成の機能キーが入
力された後の状態において）、キー入力により指定する
か、あらかじめ画像表示するスケールとの関係で標準試
験片は特性グラフＨのものと決定しておくことによる。

【００１７】グラフ・枠設定処理プログラム６ｃは、判
定基準グラフ生成処理プログラム６ｂにより起動されて
実行される。また、標準試験片の測定が行われ、それが
終了したときに（すなわち、キー入力回路４からグラフ
生成の機能キーが入力された後の状態において）、終了
キーが入力されたときに起動される。この処理プログラ
ムは、表示グラフデータ記憶領域６ａに記憶されたＬ，
Ｍ，Ｈの３つのうちの１つの判定基準の表示グラフデー
タ（現在の実施例ではＨの特性グラフのデータ）に基づ
いて、Ｌ，Ｍ，Ｈの関係は、ＪＩＳ等の規格により、エ
コー高さが１／２（６デシベル）と定められているの
で、図２のＬ，Ｍ，Ｈの３つの特性グラフに対応する３
つのグラフの画素データを生成して特性画素データ６１
ａとして記憶し、さらに、入力された測定条件に応じて
縦軸の％や横軸の路程の画素データを生成してＲＡＭ６
内に枠データ（図示せず）として記憶し、これらを合成
した図２に示す表示画像に対応する各画素データをＲＡ
Ｍ６の画像メモリ部６１に書込む。そして、その画素デ
ータをＬＣＤ表示装置１０のビデオメモリに転送して書
込み、図２に示すような画像を表示させる。なお、この
場合、Ｉ，II，III ，IVの文字は、領域を示すものであ
るが、これは表示してもよいし、しなくてもよい。

【００１８】表示処理プログラム６ｄは、グラフ・枠設
定処理プログラム６ｃにより起動されるとともに、Ａス
コープ画像演算処理プログラム７１によりそれが実行さ
れた後に起動されて実行され、重ね表示処理フラグが設
定されているときには、画像メモリ部６１に対してすで
に記憶されているデータ（ここでは特性グラフ等を含む
図２の画像表示データ）を消さずにここにＡスコープ画
像演算処理プログラム７１により生成されたＡスコープ
像の画素のデータを重ね書きする。次に、画像メモリ部
６１に記憶されている画素点展開された画素データ（ビ
ットデータ）を読出してそれをＬＣＤ表示装置１０に転
送してそのビデオメモリに書込む。

【００１９】その結果、ＬＣＤ表示装置１０には、Ａス
コープ画像演算処理プログラム７１から得られるＡスコ
ープの画像表示データと、判定基準となる特性グラフ、
そしてスケールとが図３に示すように表示される。ここ
で、超音波検査装置２０は、測定開始キー又は測定開始
スイッチの入力に応じて動作する。そこで、探傷器部１
から送出された送信パルス信号に応じて得られる被検体
（試験材）についてのエコー受信信号（探傷波形）がＲ
ＡＭ６に転送されて記憶される。Ａスコープ画像演算処
理プログラム７１は、この後に起動されて実行され、Ｒ
ＡＭ６に記憶された、採取されたエコー受信信号のデジ
タル値を読出してＡスコープ画像データを生成して、表
示処理プログラム６ｄを起動する。

【００２０】次に、その全体的な動作について説明する
と、まず、図５のステップ１０１において、装置を探傷
モードに設定するために探傷モードの機能キーをキー入
力回路４から入力する。次のステップ１０２において、
この入力情報を受けてＲＯＭ７に記憶された所定の処理
プログラムが起動されてマイクロプロセッサ５がそれを
実行し、ゲインがダイヤル式数値設定回路３のゲインダ
イヤルにより設定され、測定条件や測定範囲等がキー入
力回路４のキーによりオペレータ（測定者）から入力さ
れる。その結果、これら入力情報とＲＯＭ７に記憶され
た処理プログラムによってマイクロプロセッサ５が動作
して、その制御により探傷器部１の利得がゲインダイヤ
ルに従って設定され、装置自体の探傷機能が生ずる。

【００２１】次のステップ１０３では、超音波探傷にお
いて判定基準となるグラフ表示を行うか否かを、入力さ
れる機能キーにより判定する。ここで、所定の測定開始
キー或はその他のキーが入力されればＮＯ条件が成立
し、測定開始キーが入力されたときには、ステップ１０
７へと移る。一方、このときキー入力回路４からグラフ
生成の機能キーが入力されれば、ここでＹＥＳ条件が成
立して次のステップ１０４へと移る。

【００２２】ステップ１０４では、判定基準グラフ生成
処理プログラム６ｂが起動されて実行され、判定基準グ
ラフの生成に入る。このとき、オペレータは標準試験片
について探傷を行う。その結果、ある点を測定した測定
点の路程とエコー高さとが判定基準グラフ生成処理プロ
グラム６ｂにより表示グラフデータ記憶領域６ａに記憶
され、その測定点までの３つの特定グラフがＬＣＤ表示
装置１０の画面上に表示される。次のステップ１０５で
測定終了か否かを終了キーかそれ以外のキー、例えば、
測定開始キーやプローブ等に設けられている測定開始ス
イッチが入力されたか否かによって判定する。測定開始
キー、測定開始スイッチ等が入力されたときには、ステ
ップ１０４へと戻り、同様な測定を他の測定点について
行う。そこで、他の測定点についての欠陥エコーの路程
とエコー高さとが表示グラフデータ記憶領域６ａに先の
データに続いてさらに記憶される。

【００２３】このようにして標準試験片についての測定
が複数点について繰り返されて３つの特性グラフが測定
に応じて必要な路程に亙って表示されると、キー入力回
路４から測定終了の機能キーがオペレータから入力され
る。この終了キー入力によりステップ１０５においてＹ
ＥＳ条件が成立し、ステップ１０６で、そのときのゲイ
ン設定値が後の利用のためにゲイン基準値として記憶さ
れる。さらに、グラフ・枠設定処理プログラム７３が起
動されて実行され、ここで、図２に表示するような判定
基準の特性グラフとスケール等の枠とがＬＣＤ表示装置
１０の画面上に表示されるとともに、後の迅速な利用に
備えて特性グラフ画素データ６１ａと枠データとがＲＡ
Ｍ６内に記憶されることになる。

【００２４】そして、処理が次のステップ１０７へと移
り、この状態でオペレータは検査対象となる未知の溶接
部材にプローブ１６を当てて選択したある測定点におい
て測定開始スイッチ又は測定開始キーを入力する。ステ
ップ１０７は、測定開始スイッチ又は測定開始キーの入
力待ちループであって、オペレータの測定開始スイッチ
又は測定開始キーの入力を受けると、この発明の特徴部
分であるステップ１０８へと処理が進む。ステップ１０
８では、現在のゲイン設定値がダイヤル式数値設定回路
３を介して入力さる。そして、ステップ１０９で、この
入力値がステップ１０６で記憶済みのゲイン基準値と比
較される。

【００２５】この比較結果が等しい場合、または、６デ
シベルの整数倍の違いである場合にはＹＥＳ条件が成立
し、ステップ１１０において枠データと特性グラフ画素
データ６１ａとが画像メモリ部６１に転送されるととも
にこの特性グラフとスケール等の枠とがＬＣＤ表示装置
１０の画面上に表示される。また、前記のＹＥＳ条件が
成立しなかった場合には、ステップ１１１において枠デ
ータのみが画像メモリ部６１に転送されるとともにこの
枠がＬＣＤ表示装置１０の画面上に表示される。このよ
うに、複雑な演算をすることなく単にメモリ間のデータ
転送のみで処理できるので、この間の処理は短時間に完
了する。

【００２６】この表示がなされるとステップ１１２へと
移行し、このステップにおいて試験対象となる未知の溶
接部材のプローブ１６の当てられた位置で探傷が行われ
る。これは、ステップ１０７で、例えば、プローブ１６
に設けられた測定開始スイッチが操作（入力）される
と、ステップ１１２ではその操作に応じて探傷器部１か
らプローブ１６に送信パルス信号が送出され、探傷器部
１から送出された送信パルス信号に応じてプローブ１６
から得られる被検体（未知の溶接部材）からのエコーに
対応するエコー受信信号（探傷波形）が得られ、それが
デジタル値に変換されてＲＡＭ６に転送され、記憶され
る。そして、Ａスコープ画像演算処理プログラム７１が
起動されて実行され、探傷したＡスコープ画像が生成さ
れてそれが表示処理プログラム６ｄにより前記の特性グ
ラフや枠が先に記憶された画像メモリ部６１に重ね書き
される。その結果としてＬＣＤ表示装置１０にそれが転
送されて、図３に示される表示画像で表示される。

【００２７】この測定が終了するとステップ１１３にお
いて、測定処理が終了か否かの判定が終了キー入力の有
無によりなされる。そして、終了キー以外のキーが入力
されたときには、ステップ１０７（測定開始スイッチの
ときにはステップ１０８でも可）へと戻り、次の測定点
について同様な測定が繰り返される。なお、この場合の
測定の仕方としては、まず、検査対象となる溶接部材に
対して探傷距離を一定にし、左右にプローブを移動させ
て図３の欠陥エコー１４を観察し、最大エコーが判定基
準となる特性グラフにより区切られるどの評価範囲にあ
るかを観察してその領域を求める（図２，図３のＩ，I
I，III ，IVに対応）。そして、そのエコー高さが６dB
低下する左右の位置で欠陥エコーが発生する溶接部材の
長さを溶接部材上で求めるものである。

【００２８】その結果得られた探傷している部材の厚さ
と、この最大エコー高さと、その特性グラフ上の評価レ
ベルとその長さとにより、図４の第１表で定める１〜４
級までの等級を決定する。例えば、このような測定にお
いて、Ｍ又はＬレベル検出の場合、板厚２０mmで図３で
示す欠陥エコー１４のレベルが評価レベルIII の範囲に
あって、その欠陥の長さが最大で１２mmと測定された場
合は、領域III で最大長さ１２mmとなるので、図４のｔ
／２〜ｔ（ｔ＝２０mm）の範囲にあることが判る。そこ
で、その溶接部材は等級３級と決定される。

【００２９】ここで、図３に示すように検出した欠陥エ
コーのレベルがある程度以上あり判定が確実にできる場
合にはよいが、検出したエコーレベルが低く、しかも、
それが図３に示す特性グラフＬの右端部分の範囲では、
検出したエコーが欠陥エコーなのかノイズなのか、ある
いは、どの領域に属するものなのかの判断が微妙にな
る。このような場合にも、この発明によれば、ゲインの
再設定を行うことで対処可能となる。詳述すると、ゲイ
ンを６デシベル上げて再度検査をすると、Ａスコープ画
像は縦に倍になって表示され、従前の特性グラフも素早
く表示されるので、特性グラフＭを参照して判定すれば
よい。ゲインをさらに６デシベル上げて検査をすると、
Ａスコープ画像は最初の４倍になって表示され、従前の
特性グラフも素早く表示されるので、特性グラフＨを参
照して判定すればよい。このようにして速くて確実に判
定することができる。

【００３０】このように、探傷中に図２の判定グラフが
ＬＣＤ表示装置１０にいつも出ていることにより、図３
のように、欠陥エコー１４と重ね合わせて見ることがで
き、探傷中にいつも現在の欠陥レベルがどの程度である
か（どの評価レベルにあるか）を目視することができ
る。また、欠陥エコーのレベルが低くて領域の判別が微
妙な場合は、ゲインを６デシベル単位で上げることによ
り欠陥レベルを素早く確実に判定することができる。

【００３１】この場合、図４の表に対応する等級を判定
する基準データをあらかじめＲＡＭ６にデータとして、
例えば、テーブル化して記憶しておき、先の特性グラフ
Ｌ，Ｍ，Ｈにより決定される領域Ｉ，II，III ，IVを判
定する基準値を生成し、さらにこれら基準値に基づき領
域及び等級判定を行う判定プログラムをＲＡＭ６等に設
けて、被検体等の板厚および欠陥長さをキー入力回路４
より入力して判定するようにすれば、等級を自動的に判
定してＬＣＤ表示装置１０に測定結果の等級を表示する
ようにすることができる。また、必要によりインタフェ
ース９により、表示された画面や結果を外部に出力した
り、内蔵したプリンタに出力するようにしてもよい。

【００３２】以上説明してきたが、実施例において、標
準試験片を測定してそれにより生成したＬ，Ｍ，Ｈのい
ずれかの判定基準の特性グラフとゲイン、例えば、その
ダイヤル設定値との関係のデータを表示グラフデータ記
憶領域６ａ等に記憶しておけば、探傷中、ゲインや測定
範囲を６デシベル単位以外に変えても、特性グラフ画素
データ６１ａやゲイン基準値を壊さない作業領域で演算
することで、それに対応する判定基準の特性グラフを表
示することもできる。この場合には応答性に劣るので、
そのようにするか否かを選択できるようにすると便利で
ある。また、実施例ではＪＩＳＺ３０６０を適用した場
合を中心として説明しているが、他の判定基準となるグ
ラフを表示してもよいことはもちろんである。

【００３３】実施例では、オペレータが特性グラフと欠
陥エコーの振幅との関係を観測してその状態を判定する
ようにしているが、被検体を測定して得られる欠陥エコ
ーについてのエコー受信信号のピークレベルと判定基準
となる特性グラフで示される値とを比較する比較手段を
プログラム或はハードウエアとして設ければ、これによ
り特性グラフで示される値を欠陥エコーのピークレベル
が越えたときにアラーム信号として発生することがで
き、それによりオペレータに評価レベルを知らせること
ができる。この場合、実施例のように異なる特性グラフ
が複数あるときには、それぞれ特性グラフを越えたとき
に警報とする音や色を変えて、例えば、音の場合には評
価レベルに応じて高低音を変えるようにしてオペレータ
に知らせてもよい。

【００３４】

【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明の超音波検査装置にあっては、時間を要する処理で
ある特性グラフのグラフデータ及び画素データの生成を
ゲイン基準値に対して予め済ませておくこととした。そ
して、その後の検査のときのゲイン設定値が、ゲイン基
準値に等しいとき、または、ゲイン基準値を６デシベル
の整数倍だけ増減した値に等しいときに、先の特性グラ
フを表示するようにした。これにより、その条件の下で
は、素早く特性グラフと拡大されたＡスコープ画像とが
表示できるようになった。その結果、Ａスコープ像の観
測において誤読や誤認を防止することができ、しかも応
答がよくて効率よく所定の基準に基づいた検査が可能に
なる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明を適用した一実施例の超音波検査装置
のブロック図である。

【図２】そのＡスコープ画像の表示状態の説明図であ
る。

【図３】測定を行った場合の欠陥エコーの表示状態の説
明図である。

【図４】ＪＩＳの規定による等級評価の一例を示す表の
説明図である。

【図５】グラフ特性表示測定処理のフローチャートであ
る。

【符号の説明】

１…超音波探傷器部 ２…Ａ／Ｄ変換回路 ３…ダイヤル式数値設定回路 ４…キー入力回路 ５…マイクロプロセッサ（ＭＰＵ） ６…ＲＡＭ ６ａ…表示グラフデータ記憶領域 ６ｂ…判定基準グラフ生成処理プログラム ６ｃ…グラフ・枠設定処理プログラム ６ｅ…表示処理プログラム ７…ＲＯＭ ８…ＲＯＭインタフェース ９…RS-232C インタフェース １０…液晶表示装置（ＬＣＤ表示装置） ２０…携帯型の超音波検査装置 ６１…画像メモリ部 ６１ａ…特性グラフ画素データ ７１…Ａスコープ画像演算処理プログラム

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】超音波探傷により被検体から反射したエコ
   ー受信信号を得てＡスコープ像を表示してこのＡスコー
   プ像の状態を読取ることで前記被検体の検査をする超音
   波検査装置において、 検査基準となる欠陥エコーの高さと路程との関係を示し
   ゲイン基準値に対応する特性グラフをゲイン設定値が前
   記ゲイン基準値及びこのゲイン基準値を６デシベルの整
   数倍だけ増減した値の何れか１つに等しいときに前記Ａ
   スコープ像に重ねて表示することを特徴とする超音波検
   査装置。
2. 【請求項２】被検体を測定して得られる欠陥エコーにつ
   いてのエコー受信信号のピークレベルと特性グラフで示
   される値とを比較する比較手段を有していて、前記特性
   グラフで示される値を越えたときにアラーム信号を発生
   することを特徴とする請求項１記載の超音波検査装置。
3. 【請求項３】特性グラフは、ＪＩＳＺの３０６０として
   規定された規格又は日本建築学会で規定された規格等に
   従った距離振幅特性曲線であって、この特性グラフが複
   数設けられ、これらそれぞれの特性グラフに応じてエコ
   ー受信信号から得られる欠陥エコー信号のピークレベル
   の状態を判定する判定手段とこの判定手段の判定に応じ
   て等級を判定する等級判定手段（又は、この判定手段の
   判定に応じて合否を判定する合否判定手段）とが設けら
   れていることを特徴とする請求項１記載の超音波検査装
   置。