JPH051431B2 - - Google Patents

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JPH051431B2
JPH051431B2 JP59012071A JP1207184A JPH051431B2 JP H051431 B2 JPH051431 B2 JP H051431B2 JP 59012071 A JP59012071 A JP 59012071A JP 1207184 A JP1207184 A JP 1207184A JP H051431 B2 JPH051431 B2 JP H051431B2
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JP
Japan
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voltage
total
neutral particle
positive electrode
injection device
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59012071A
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English (en)
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JPS60158600A (ja
Inventor
Mamoru Matsuoka
Shinzaburo Matsuda
Hiroshi Horiike
Masato Akiba
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Japan Atomic Energy Agency
Original Assignee
Japan Atomic Energy Research Institute
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Publication date
Application filed by Japan Atomic Energy Research Institute filed Critical Japan Atomic Energy Research Institute
Priority to JP59012071A priority Critical patent/JPS60158600A/ja
Publication of JPS60158600A publication Critical patent/JPS60158600A/ja
Publication of JPH051431B2 publication Critical patent/JPH051431B2/ja
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/10Nuclear fusion reactors

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  • Plasma Technology (AREA)
  • Particle Accelerators (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は核融合実験装置における中性粒子入射
装置の制御方法に関するものである。
中性粒子入射装置は通常直流アーク放電により
水素もしくは重水素プラズマを生成し、このプラ
ズマ中の水素もしくは重水素のイオンを静電的に
加速してイオンビームとし、さらにこのイオンビ
ームを中性化して中性粒子ビームとした上で核融
合実験プラズマに入射してこれを加熱する装置で
ある。
以下に図面を用いて従来の中性粒子入射装置を
説明する。
第1図は中性粒子入射装置と同用付属装置の例
で、2段加速型イオン源を用いて水素イオンを加
速する場合のものである。図中1が中性粒子入射
装置であり、これは陰極2、陽極3、第1正電極
4、第2正電極5、接地電極6、中性化セル7、
偏向磁石8、イオンビームダンプ9から成る。容
器壁を兼ねた陽極3の中には水素ガス供給装置1
0により水素ガスが供給される。陰極2と陽極3
との間には出力可変のアーク電源11により直流
電圧(50〜100V)が印加され、電流値が200〜
1000A程度の直流アーク放電が生じる。直流アー
ク放電により生成された水素プラズマ中の水素イ
オンは第1正電極4と第2正電極5との間および
第2正電極5と接地電極6との間の2段階に分け
て加速されイオンビーム(第1図では記号H+
ついた矢印で示す)となる。イオンビームを加速
するための全加速電圧Vは電圧可変の加速電源1
2により供給される。第2正電極の電圧V2は全
加速電圧Vを抵抗13で分圧して供給される。イ
オンビームの電流値、即ち加速電流Iは水素プラ
ズマ中の水素イオンの密度によるため、ほぼアー
ク電源11の出力のみによつて決まり、全加速電
圧Vにはほとんど依存しない。しかしながら中性
粒子入射装置として必要な、発散の小さなイオン
ビームを得、かつ第1正電極4と第2正電極5と
の間もしくは第2正電極5と接地電極6との間で
放電破壊がひん発しない安定な運転を行うために
は I=C(V−V21.5 (Cは定数) (1) なる関係をほぼ満足する必要がある。また第1図
の例では第2正電極5の電圧V2は全加速電圧V
を抵抗13で分圧して得られるので、全加速電圧
Vが決まれば決まる。したがつてイオンビームの
パワーI×Vは全加速電圧Vのみで決つてしま
う。このイオンビームは中性化セル7で中性化さ
れ中性粒子ビームH゜となるが一部は中性化され
ずイオンビームのまま中性化セル7を通過する。
この残留イオンビームは偏向磁石8により曲げら
れてイオンビームダンプに入射されて熱化され
る。中性粒子ビームは偏向磁石8を真直ぐに通過
して核融合実験プラズマに入射される。中性化セ
ル7でイオンビームが中性化される割合は全加速
電圧Vで決まる。結局核融合実験プラズマに入射
される入射パワーP(H゜をイオンと見なした場合
のイオン電流と全加速電圧Vとの積)は全加速電
圧Vのみで決まる。この関係を第2図に示す。第
2図の横軸は全加速電圧Vで縦軸は入射パワーP
である。第2図の例ではV=70KVの場合P=
0.5MWであるがV=50KVとするとP=0.25MW
と減少する。以上のように従来の中性粒子入射装
置では全加速電圧Vと共に入射パワーPが変つて
しまう不都合があつた。
本発明は上記の欠点を除去し、全加速電圧Vと
入射パワーPとを別個に設定できる中性粒子入射
装置を提供することにある。
第1図において抵抗13を中点付きの可変抵抗
に変更し、電圧比R=(V2/V)を可変とする。
第3図は電圧比Rをパラメータに全加速電圧Vと
入射パワーPとの関係の例を示したものである。
図中の破線は運転可能な領域を示したもので、こ
れより上方では第1図中の第1正電極4と第2正
電極5との間もしくは第2正電極5と接地電極6
との間で放電破壊が生じ易くなつて安定な運転を
行うことができない。第3図でR=0.7の場合は
第2図の場合と同様、全加速電圧Vを70KVから
50KVに下げると入射パワーPも0.5MWから
0.25MWに下つてしまう。しかし全加速電圧Vを
前記のように下げると同時に電圧比Rを0.7から
0.5に下げると入射パワーPは0.5MWと一定にす
ることができる。本発明は第3図のような関係を
利用して全加速電圧Vと入射パワーPとを別個に
設定できるようにしたものである。
本発明に関る制御方式における制御信号の流れ
の例を第4図に示す。全加速電圧Vの設定値はそ
のまま第1図の加速電源12への指令値となる。
電圧比Rの指令値は全加速電圧Vおよび入射パワ
ーPの設定値から関係式R=f(V、P)から求
める。ここで関数fは第3図における電圧比R、
全加速電圧Vおよび入射パワーPの関係を表わす
ものである。こうして得られた値Rは第1図で抵
抗13を可変抵抗に変更した場合の可変抵抗への
指令値となる。加速電流Iの指令値は全加速電圧
Vと上記のように求めた電圧比Rとから関係式I
=C(V−V×R)1.5から求める。V×RはV2
等しいのでこれは(1)の関係式に同じである。こう
して得られた加速電流Iの指令値は第1図のアー
ク電源11の出力の指令値となる。
制御方式を上記の通りにすることにより、第3
図の破線の下の範囲において中性粒子入射装置の
全加速電圧Vと入射パワーPとを別個に自由に設
定することができる。つまり、全加速電圧Vと共
に入射パワーPが変つてしまう従来の中性粒子入
射装置に比べ、核融合実験装置の実験内容に応じ
て要求される全加速電圧Vと入射パワーPとを別
個に設定できるという設定の自由度の多い中性粒
子入射装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は中性粒子入射装置と同用付属装置の
例、第2図は加速電圧と入射パワーの関係の例、
第3図は電圧比をパラメータにとつたときの加速
電圧と入射パワーの関係の例、第4図は本発明に
関る制御方式における制御信号の流れの例であ
る。 1…中性粒子入射装置、2…陰極、3…陽極、
4…第1正電極、5…第2正電極、6…接地電
極、7…中性化セル、8…偏向磁石、9…イオン
ビームダンプ、10…水素ガス供給装置、11…
アーク電源、12…加速電源、13…抵抗、H+
…イオンビーム、H゜…中性粒子ビーム、V…全
加速電圧、V2…第2正電極の電圧、P…入射パ
ワー、R…電圧比、f…関数、C…定数、I…加
速電流。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 多段加速型イオン源を用いた中性粒子入射装
    置において、設定される全加速電圧と入射パワー
    に応じて全加速電圧、加速電流および各段の加速
    電圧の比のすべてを変化させて前記の設定される
    2つの値を達成することを特徴とする中性粒子入
    射装置の制御方法。
JP59012071A 1984-01-27 1984-01-27 中性粒子入射装置の制御方法 Granted JPS60158600A (ja)

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JPS60158600A JPS60158600A (ja) 1985-08-19
JPH051431B2 true JPH051431B2 (ja) 1993-01-08

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