JPH0513539A - Wire bonding method - Google Patents

Wire bonding method

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JPH0513539A
JPH0513539A JP3193414A JP19341491A JPH0513539A JP H0513539 A JPH0513539 A JP H0513539A JP 3193414 A JP3193414 A JP 3193414A JP 19341491 A JP19341491 A JP 19341491A JP H0513539 A JPH0513539 A JP H0513539A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
image
electrode
semiconductor chip
lead
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3193414A
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Japanese (ja)
Inventor
Katsumi Maekawa
克己 前川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Mechatronics Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Seiki Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Seiki Co Ltd filed Critical Toshiba Seiki Co Ltd
Priority to JP3193414A priority Critical patent/JPH0513539A/en
Publication of JPH0513539A publication Critical patent/JPH0513539A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
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    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
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    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]

Abstract

PURPOSE:To stop the bonding operation so as to prevent the double bonding when the image is so recognized that it is applied with no bonding, or that it is applied with bonding by comparing the image corresponding to the specified lead with a reference pattern. CONSTITUTION:A binary image of the specified electrode in a semiconductor chip 8 to which any bonding has not been applied is registed in a storage section 10 as a reference pattern in advance. Prior to actual bonding, an electrode image on the chip 8 positioned on the bonding position is picked up by using a camera 6 and is binarized through an image processor 9. Then the image is judged, based on any pattern recognition, on whether or not bonding processing has been applied to the chip 8, through comparing the image with the reference pattern that has been registered in the section 10. In the case where the chip is judged that it has been applied with bonding processing, the bonding of the chip 8 is stopped so as to prevent the double bonding.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体チップの電極と
リードフレームのリードとの間を導電ワイヤを用いて接
続するワイヤボンディング方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wire bonding method for connecting an electrode of a semiconductor chip and a lead of a lead frame with a conductive wire.

【0002】[0002]

【従来の技術】この種のワイヤボンディング作業は、前
工程で半導体チップがマウントされたリードフレームを
ボンディング位置に位置決めし、半導体チップの各電極
とリードとの間をキャピラリと呼ばれる工具を用いて導
電ワイヤで接続する。
2. Description of the Related Art In this type of wire bonding work, a lead frame on which a semiconductor chip is mounted is positioned at a bonding position in the previous step, and a conductive material is used between each electrode of the semiconductor chip and a lead by using a tool called a capillary. Connect with wires.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところでボンディング
作業においては、リードフレームの供給、収納を同じよ
うなマガジンを用いて行なっている。このため、作業者
の不注意等によって、ボンディング済みリードフレーム
の収納されたマガジンを再度供給側にセットしてしまう
ことがあり、これにより二重ボンディングがなされ、不
良品製造の原因となっていた。
In the bonding work, lead frames are supplied and stored using the same magazine. Therefore, due to the carelessness of the operator, the magazine containing the bonded lead frame may be set again on the supply side, which causes double bonding, which causes defective products. .

【0004】ところが従来のボンディング作業において
は、このセットミスに対して何等対策が施されていなか
った。
In the conventional bonding work, however, no measures have been taken against this set mistake.

【0005】本発明は、二重ボンディングを確実に防止
することができるワイヤボンディング方法を提供するこ
とを目的とする。
An object of the present invention is to provide a wire bonding method capable of reliably preventing double bonding.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明は、ボンディング
に先立ち、ボンディング位置に位置決めされた被ボンデ
ィング部位の画像を取り込み、この画像を、予め設定さ
れているボンディングが施されていない画像、またはボ
ンディング済みの画像と比較するようにしたことを特徴
とする。
According to the present invention, prior to bonding, an image of a portion to be bonded positioned at a bonding position is captured, and this image is used as a preset image without bonding or bonding. The feature is that the image is compared with the already-existing image.

【0007】[0007]

【作用】本発明によれば、ボンディングに先立ち、被ボ
ンディング部位から取り込んだ画像と、予め設定されて
いるボンディングが施されていない画像、またはボンデ
ィング済みの画像とが比較され、ボンディングが施され
ていない画像とは認識されなかった場合、あるいはボン
ディング済みの画像と認識された場合は、ボンディング
動作が停止され、これにより二重ボンディングが防止さ
れる。
According to the present invention, prior to bonding, the image taken from the bonding site is compared with a preset image that has not been bonded or an image that has been bonded, and bonding has been performed. If no missing image is recognized, or if a bonded image is recognized, the bonding operation is stopped, thereby preventing double bonding.

【0008】[0008]

【実施例】本発明の実施例について、図面を用いて説明
する。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明を実施するためのワイヤボン
ディング装置の一実施例を示す構成図、図2はボンディ
ングの施されていない半導体チップの電極を示す図、図
3はボンディングの施されている半導体チップの電極を
示す図である。図において、1はXYテーブルで、この
XYテーブル1にはボンディングヘッド2が載置され
る。ボンディングヘッド2は、ボンディングアーム3を
上下方向に揺動自在に支持し、ボンディングアーム3の
先端には、導電ワイヤ4を挿通可能なキャピラリ5が装
着される。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a wire bonding apparatus for carrying out the present invention, FIG. 2 is a diagram showing electrodes of a semiconductor chip which is not bonded, and FIG. It is a figure which shows the electrode of the semiconductor chip which exists. In the figure, reference numeral 1 is an XY table, and a bonding head 2 is mounted on the XY table 1. The bonding head 2 supports the bonding arm 3 swingably in the vertical direction, and a capillary 5 into which the conductive wire 4 can be inserted is attached to the tip of the bonding arm 3.

【0010】6はボンディングヘッド2に固定されたカ
メラで、ボンディング位置に位置決めされたリードフレ
ーム7並びに前工程でマウントされた半導体チップ8を
撮像する。9はカメラ6の取り込んだ画像を2値化処理
するとともに、この2値化画像を後記の記憶部10に記
憶されている基準パターンとパターンマッチングにより
比較する画像処理装置、10は画像処理装置9からの2
値化画像を記憶する記憶部、11は画像処理装置9、ボ
ンディングヘッド2並びにXYテーブル1をそれぞれ制
御する制御装置を示す。
Reference numeral 6 denotes a camera fixed to the bonding head 2 for picking up an image of the lead frame 7 positioned at the bonding position and the semiconductor chip 8 mounted in the previous step. An image processing device 9 binarizes an image captured by the camera 6, and compares the binarized image with a reference pattern stored in a storage unit 10 described later by pattern matching. 10 is an image processing device 9 From 2
A storage unit 11 for storing the binarized image is a control device for controlling the image processing device 9, the bonding head 2, and the XY table 1.

【0011】次に作動について説明する。Next, the operation will be described.

【0012】まず、準備作業として、ワイヤボンディン
グの施されていないリードフレーム7を用意し、その上
にマウントされている半導体チップ8の1つをボンディ
ング位置に位置決めする。次にXYテーブル1を移動さ
せることにより、カメラ6の位置をその半導体チップ8
における特定の電極8aに合わせ、その画像を取り込む
(図2参照)。なお本実施例の場合、ボンディング動作
開始時に最初にボンディングが施される電極8aを特定
の電極として設定してある。カメラ6が取り込んだ画像
は、画像処理装置9にて2値化処理され、その2値化画
像は記憶部10に基準パターンとして登録される。
First, as a preparatory work, a lead frame 7 to which wire bonding is not applied is prepared, and one of the semiconductor chips 8 mounted thereon is positioned at the bonding position. Next, by moving the XY table 1, the position of the camera 6 is changed to the semiconductor chip 8 thereof.
The image is captured in accordance with the specific electrode 8a in (1) (see FIG. 2). In the case of this embodiment, the electrode 8a which is first bonded at the start of the bonding operation is set as a specific electrode. The image captured by the camera 6 is binarized by the image processing device 9, and the binarized image is registered in the storage unit 10 as a reference pattern.

【0013】さて実際のボンディング作業にあたり、最
初に、ボンディング位置に位置決めされたリードフレー
ム7上の半導体チップ8に対し、ボンディングが施され
ていないかどうかの判別が次のようにして行われる。す
なわち、まずボンディング位置に位置決めされた半導体
チップ8の有する複数の電極の内から、記憶部10に登
録された基準パターンに対応する画像、つまり本実施例
においては、ボンディング動作開始時に最初にボンディ
ングが施される電極8aの画像が、基準パターンの登録
と同様にしてカメラ6によって取り込まれる。そして取
り込まれた画像は、画像処理装置9によって2値化され
る。そしてこの2値化画像は、画像処理装置9において
さらに、記憶部10に予め登録されている基準パターン
とパターンマッチングにより比較される。このとき、図
2に示すように半導体チップ8にワイヤボンディングが
施されていない場合、カメラ6が今回取り込んだ画像に
基づく2値化画像と基準パターンとの間には、所定のマ
ッチング率を有することとなるため、画像処理装置にお
いて認識することができる。
In the actual bonding operation, first, the semiconductor chip 8 on the lead frame 7 positioned at the bonding position is discriminated as to whether or not it is bonded as follows. That is, first, from among the plurality of electrodes of the semiconductor chip 8 positioned at the bonding position, an image corresponding to the reference pattern registered in the storage unit 10, that is, in the present embodiment, bonding is first performed at the start of the bonding operation. The image of the applied electrode 8a is captured by the camera 6 in the same manner as the registration of the reference pattern. Then, the captured image is binarized by the image processing device 9. Then, the binarized image is further compared in the image processing device 9 with a reference pattern registered in advance in the storage unit 10 by pattern matching. At this time, as shown in FIG. 2, when the semiconductor chip 8 is not wire-bonded, the camera 6 has a predetermined matching rate between the binarized image based on the image captured this time and the reference pattern. Therefore, it can be recognized in the image processing apparatus.

【0014】ところが図3に示すように、半導体チップ
8にワイヤボンディングが既に施されていた場合、カメ
ラ6が今回取り込んだ画像に基づく2値化画像にはワイ
ヤ4の画像も含まれることとなるため、基準パターンと
の間には所定のマッチング率を有しなくなる。このた
め、画像処理装置9においてパターン認識することがで
きない。
However, as shown in FIG. 3, when the semiconductor chip 8 is already wire-bonded, the image of the wire 4 is also included in the binarized image based on the image captured by the camera 6 this time. Therefore, it does not have a predetermined matching rate with the reference pattern. Therefore, the pattern cannot be recognized in the image processing device 9.

【0015】そこで制御装置11においては、画像処理
装置9においてパターン認識ができた場合には、半導体
チップ8にワイヤボンディングが施されていないものと
判断し、XYテーブル1並びにボンディングヘッド2に
ボンディング動作開始指令を送り、通常のボンディング
作業を開始させる。これに対して、画像処理装置9にお
いてパターン認識ができなかった場合には、その半導体
チップ8は既にワイヤボンディング済みと判断し、ボン
ディングヘッド2に対しボンディング動作中止指令を送
るとともに、不図示の警報装置にてその旨を作業者に知
らせるようになっている。
Therefore, in the control device 11, when the image processing device 9 can recognize the pattern, it is determined that the semiconductor chip 8 is not wire-bonded, and the XY table 1 and the bonding head 2 are bonded. Send a start command to start normal bonding work. On the other hand, when the image processing device 9 cannot recognize the pattern, it determines that the semiconductor chip 8 has already been wire-bonded, sends a bonding operation stop command to the bonding head 2, and outputs an alarm (not shown). The device is designed to notify the operator.

【0016】以上説明した実施例によれば、ボンディン
グに先立ち、ボンディング位置に位置決めされた半導体
チップ8から得たパターンが画像処理装置9において基
準パターンと比較され、その認識結果に応じて、その半
導体チップ8にワイヤボンディングが施されていないか
どうかの判別が行われ、ボンディング済みと判別された
場合は、その半導体チップ8に対してのボンディングが
中止されるため、2重ボンディングによる不良品発生を
確実に防止することができる。
According to the above-described embodiment, the pattern obtained from the semiconductor chip 8 positioned at the bonding position is compared with the reference pattern in the image processing device 9 before the bonding, and the semiconductor is detected according to the recognition result. It is determined whether or not the wire bonding is not applied to the chip 8. If it is determined that the bonding is completed, the bonding to the semiconductor chip 8 is stopped, so that the defective product due to the double bonding is generated. It can be surely prevented.

【0017】なお上記実施例においては、ワイヤボンデ
ィングの施されていない半導体チップにおける特定の電
極の画像を予め基準パターンとして登録しておき、実際
のボンディングに先立ち、ボンディング位置に位置決め
されたリードフレーム上の半導体チップの電極の画像を
基準パターンと比較することによって、ボンディング済
みかどうかの判別を行なうようにした。しかしながら、
基準パターンとしてワイヤボンディング済みの電極の画
像を登録しておき、パターン認識が行なえた場合にその
半導体チップはボンディング済みであると判断するよう
にしてもよい。さらに半導体チップの電極画像に代え
て、リードにおけるボンディング部位の画像を基準パタ
ーンとして登録しておき、この基準パターンとリードか
ら取り込んだ画像とを比較するようにしてもよい。
In the above embodiment, an image of a specific electrode on a semiconductor chip to which wire bonding has not been performed is registered in advance as a reference pattern, and prior to actual bonding, on a lead frame positioned at the bonding position. By comparing the image of the electrode of the semiconductor chip with the reference pattern, whether or not the bonding is completed can be determined. However,
An image of a wire-bonded electrode may be registered as a reference pattern, and if the pattern can be recognized, the semiconductor chip may be determined to be bonded. Further, instead of the electrode image of the semiconductor chip, an image of the bonding site on the lead may be registered as a reference pattern, and this reference pattern may be compared with the image captured from the lead.

【0018】また既にボンディング済みかどうかの判別
は、ボンディング位置に到達する前段階、例えばリード
フレームが待機位置にあるときに行なうようにしてもよ
い。
Further, the determination as to whether or not the bonding has been completed may be performed before reaching the bonding position, for example, when the lead frame is at the standby position.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明によれば、2重ボンディングを確
実に防止することができる。
According to the present invention, double bonding can be reliably prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を実施するためのワイヤボンディング装
置の一実施例を示す構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of a wire bonding apparatus for carrying out the present invention.

【図2】ボンディングの施されていない半導体チップの
電極を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing electrodes of a semiconductor chip that is not bonded.

【図3】ボンディングの施されている半導体チップの電
極を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing electrodes of a semiconductor chip to which bonding is applied.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 XYテーブル 2 ボンディングヘッド 3 ボンディングアーム 4 ワイヤ 5 キャピラリ 6 カメラ 7 リードフレーム 8 半導体チップ 8a 電極 9 画像処理装置 10 記憶部 11 制御装置 1 XY table 2 Bonding head 3 Bonding arm 4 wires 5 capillaries 6 cameras 7 lead frame 8 semiconductor chips 8a electrode 9 Image processing device 10 memory 11 Control device

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体チップの電極とリードフレームの
リードとの間を導電ワイヤを用いて接続するワイヤボン
ディング方法において、ボンティングの施されていな
い、特定の電極または特定のリードの画像を基準パター
ンとして予め記憶手段に記憶させておき、実際のボンデ
ィングに先立ち、ボンディング位置に位置決めされた、
半導体チップにおける前記特定の電極に対応する電極、
またはリードフレームにおける前記特定のリードに対応
するリードの画像を取り込み、この取り込んだ画像を前
記基準パターンと比較するようにしたことを特徴とする
ワイヤボンディング方法。
1. A wire bonding method for connecting an electrode of a semiconductor chip and a lead of a lead frame by using a conductive wire, wherein an image of a specific electrode or a specific lead, which is not bonded, is used as a reference pattern. Is stored in the storage means in advance and positioned at the bonding position prior to the actual bonding,
An electrode corresponding to the specific electrode in the semiconductor chip,
Alternatively, a wire bonding method is characterized in that an image of a lead corresponding to the specific lead in a lead frame is captured, and the captured image is compared with the reference pattern.
【請求項2】 半導体チップの電極とリードフレームの
リードとの間を導電ワイヤを用いて接続するワイヤボン
ディング方法において、ボンティング済みの、特定の電
極または特定のリードの画像を基準パターンとして予め
記憶手段に記憶させておき、実際のボンディングに先立
ち、ボンディング位置に位置決めされた、半導体チップ
における前記特定の電極に対応する電極、またはリード
フレームにおける前記特定のリードに対応するリードの
画像を取り込み、この取り込んだ画像を前記基準パター
ンと比較するようにしたことを特徴とするワイヤボンデ
ィング方法。
2. In a wire bonding method for connecting an electrode of a semiconductor chip and a lead of a lead frame by using a conductive wire, an image of a specific electrode or a specific lead that has been bonded is stored in advance as a reference pattern. Before the actual bonding, the image of the electrode corresponding to the specific electrode in the semiconductor chip or the lead corresponding to the specific lead in the lead frame, which is stored in the means, is captured, A wire bonding method, wherein the captured image is compared with the reference pattern.
JP3193414A 1991-07-08 1991-07-08 Wire bonding method Pending JPH0513539A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1981002891A1 (en) * 1980-04-02 1981-10-15 Uniscope Inc Elimination of odors from waste material

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO1981002891A1 (en) * 1980-04-02 1981-10-15 Uniscope Inc Elimination of odors from waste material

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