JPH0219965Y2 - - Google Patents

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JPH0219965Y2
JPH0219965Y2 JP1985018217U JP1821785U JPH0219965Y2 JP H0219965 Y2 JPH0219965 Y2 JP H0219965Y2 JP 1985018217 U JP1985018217 U JP 1985018217U JP 1821785 U JP1821785 U JP 1821785U JP H0219965 Y2 JPH0219965 Y2 JP H0219965Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案はICチツプ等のワークをワイヤーによ
りボンデイングするワイヤーボンデイング装置に
関し、特にボンデイングにおけるワイヤのループ
高さを一定に保つことが可能な装置を備えたボン
デイング装置に関するものである。
[Detailed description of the invention] (Field of industrial application) The present invention relates to a wire bonding device for bonding workpieces such as IC chips with wire, and in particular, to a device that can maintain a constant wire loop height during bonding. The present invention relates to a bonding device equipped with a bonding device.

(従来の技術) リードフレームに等間隔で配置された複数のワ
ークとしてのICチツプを自動的に1ピツチづつ
ボンデイングステーシヨン位置へ間欠移送し、
ICチツプと周囲のリードとをワイヤによりボン
デイング接続するワイヤーボンデイング装置は周
知である。
(Prior art) A plurality of IC chips arranged at equal intervals on a lead frame are automatically and intermittently transferred to a bonding station position one pitch at a time.
Wire bonding devices for bonding and connecting an IC chip and surrounding leads using wires are well known.

この種の装置は、ボンデイング用のワイヤを挿
通支持しワイヤをボンデイング位置に移動するボ
ンデイングツールを備えており、例えば、第2図
aに示すようにワイヤ1をボンデイングツール2
によりICチツプ3に超音波振動を与えて加圧す
ることによりワイヤ1およびICチツプ3の接続、
すなわち第1ボンド接続が行われる。次にボンデ
イングツール2を上方へ移動し(同図b)、この
位置からリード4の直上位置へ水平移動し(同図
c)、さらにこの位置からクランプ5を閉じてワ
イヤ1を固定した状態でボンデイングツール2を
降下しワイヤ1をリード4に超音波振動を与えて
加圧することにより、ワイヤ1およびリード4の
ボンデイング接続、すなわち第2ボンド接続が達
成される(同図d)。この結果、ICチツプ3とリ
ード4とのワイヤ接続が完了する。
This type of device is equipped with a bonding tool that inserts and supports a wire for bonding and moves the wire to a bonding position. For example, as shown in FIG.
By applying ultrasonic vibration to the IC chip 3 and applying pressure, the wire 1 and the IC chip 3 are connected.
That is, a first bond connection is made. Next, move the bonding tool 2 upward (b in the same figure), move it horizontally from this position to a position directly above the lead 4 (c in the same figure), and then close the clamp 5 from this position to fix the wire 1. By lowering the bonding tool 2 and pressurizing the wire 1 by applying ultrasonic vibration to the lead 4, a bonding connection between the wire 1 and the lead 4, that is, a second bond connection is achieved (d in the figure). As a result, the wire connection between the IC chip 3 and the leads 4 is completed.

このICチツプ3とリード4との接続に際して、
第2図dの如くワイヤ1にループ6が形成される
が、このループ6の高さ、すなわち、ICチツ3
の表面からループ6の最高点までの高さhは樹脂
モールド成形時等における短絡および断線防止等
を図る観点から最適な一定の高さに維持する必要
がある。このループ6の高さは主に第1ボンド接
続位置から第2ボンド接続位置へ移動するボンデ
イングツール2の軌跡に依存する。このため、ボ
ンデイングツール2の移動を制御する制御装置に
はループ6の高さの最適設定値が与えられてお
り、この最適設定値を確保するためのボンデイン
グツール2の移動プログラムが前記制御装置にイ
ンプツトされ、この移動プログラムによつてボン
デイングツール2のボンデイング動作が行われて
いる。
When connecting this IC chip 3 and lead 4,
A loop 6 is formed in the wire 1 as shown in FIG. 2d, and the height of this loop 6 is
The height h from the surface of the loop 6 to the highest point of the loop 6 needs to be maintained at an optimum constant height from the viewpoint of preventing short circuits and disconnections during resin molding. The height of this loop 6 mainly depends on the trajectory of the bonding tool 2 moving from the first bonding position to the second bonding position. For this reason, the control device that controls the movement of the bonding tool 2 is given an optimum setting value for the height of the loop 6, and a movement program for the bonding tool 2 to ensure this optimum setting value is provided to the control device. The bonding operation of the bonding tool 2 is performed by this movement program.

(考案が解決しようとする問題点) しかしながら、湿度、温度、塵埃等の環境変化
によるワイヤ1の送り抵抗の変化やその他の何ら
かの原因により、ボンデイングツール2が移動プ
ログラム通りの動作をしたい場合であつてもルー
プ6の高さが変化し、最適設定値からずれてしま
うという問題があり、特に、無人化による自動ボ
ンデイングを行つている場合には、このループ6
の高さの変化に気ずくのが遅れ、大量の製品不良
を産出してしまうという弊害があつた。
(Problem to be solved by the invention) However, if the bonding tool 2 does not want to operate according to the movement program due to changes in the feeding resistance of the wire 1 due to changes in the environment such as humidity, temperature, dust, etc., or for some other reason. However, there is a problem in that the height of loop 6 changes and deviates from the optimal setting value.Especially when automatic bonding is performed by unattended operation, the height of loop 6 changes.
This had the disadvantage that it was too late to notice changes in the height, resulting in a large number of defective products.

本考案は上記従来の問題点をかえりみてなされ
たものであり、たとえ環境変化等に起因してワイ
ヤのループ高さが最適設定値からずれた場合にあ
つても、直ちにこれを検出修正して常時最適設定
値に等しいループ高さを確保することができるワ
イヤーボンデイング装置を提供するものである。
The present invention was developed in consideration of the above-mentioned conventional problems, and even if the wire loop height deviates from the optimum setting value due to environmental changes, this can be detected and corrected immediately. The present invention provides a wire bonding device that can always ensure a loop height equal to an optimal setting value.

(問題点を解決するための手段) 本考案は上記問題点を解決するために次のよう
に構成されている。すなわち、本考案はボンデイ
ングツールの移動を制御する制御装置を備え、1
ピツチづつ間欠移送されるワークを順次ワイヤに
よりボンデイングするワイヤーボンデイング装置
において、ボンデイングされた所望個所のワイヤ
のループ高さを検出するループ検出装置と、ルー
プ検出装置の検出値とループ高さ設定値とを比較
しその差信号を前記制御装置へ供給してワイヤル
ープの高さを調整するための比較回路とを有する
ワイヤーボンデイング装置である。
(Means for solving the problems) In order to solve the above problems, the present invention is configured as follows. That is, the present invention includes a control device for controlling the movement of the bonding tool, and includes:
A wire bonding device that sequentially bonds workpieces that are transferred intermittently one by one using a wire, includes a loop detection device that detects the loop height of the bonded wire at a desired location, and a detection value of the loop detection device and a loop height setting value. and a comparison circuit for comparing the height of the wire loop and supplying the difference signal to the control device to adjust the height of the wire loop.

(作用) 上記構成からなる本考案において、ボンデイン
グツールの移動は制御装置によつて制御され、1
ピツチづつ間欠移送されて来るワークのボンデイ
ングが順次行われる。そして、ボンデイング完了
後の所望個所におけるワイヤのループの高さはル
ープ検出装置によつて検出され、その検出値とル
ープ高さ設定値との比較が比較回路によつて行わ
れる。ループの高さが何らかの原因により変化し
た場合には、その比較によつて検出値と設定値間
に差が生じ、この差信号が比較回路から前記制御
装置に出力される。制御装置は差信号に基づいて
ボンデイングツールの動作に修正を与え、ボンデ
イングされたワイヤのループ高さを設定値に一致
させる。本考案はこのように、ワイヤのループの
高さを常時設定値に一致させることができるので
不良製品の発生を確実に防止することが可能とな
るものである。
(Function) In the present invention having the above configuration, the movement of the bonding tool is controlled by the control device, and the movement of the bonding tool is controlled by the control device.
Bonding of the workpieces, which are intermittently transferred one by one, is performed one after another. The height of the wire loop at a desired location after bonding is completed is detected by a loop detection device, and a comparison circuit compares the detected value with a loop height setting value. If the height of the loop changes for some reason, a difference is generated between the detected value and the set value by comparison, and this difference signal is output from the comparison circuit to the control device. The controller modifies the operation of the bonding tool based on the difference signal to match the loop height of the bonded wire to the set point. In this way, the present invention allows the height of the wire loop to always match the set value, thereby making it possible to reliably prevent the production of defective products.

(実施例) 以下、本考案の一実施例を図面に基づいて説明
する。なお、本実施例の説明において前記従来例
において説明した事項と同一部材には同一符号を
付してその説明を省略する。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described based on the drawings. In the description of this embodiment, the same members as those described in the conventional example are given the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

第1図には本考案の一実施例を示すブロツク図
が示され、ボンデイング装置の本体部にはワーク
搬送装置7が設けられている。このワーク搬送装
置7は複数のワークとしてのICチツプ3が等間
隔で配設されたリードフレーム8を1ピツチ、す
なわちICチツプ3の配設間隔ごとにボンデイン
グステーシヨンへ間欠移送する。ボンデイングス
テーシヨンの対向位置にはボンデイングツール2
が配置されており、このボンデイングツール2は
ボンデイングアーム9を介してボンデイングヘツ
ド10に連結されている。ボンデイングヘツド1
0は第1のXYテーブル11に装着されており、
その第1のXYテーブル11のX方向およびY方
向の移動と、ボンデイングヘツド10自体の上下
方向の移動とによつてボンデイングヘツド10、
すなわちボンデイングツール2は三次元方向の移
動が可能になつている。このボンデイングツール
2の三次元方向の移動制御は制御装置12によつ
て行われている。すなわち、制御装置12にはボ
ンデイングされたワイヤ1のループ6の最適高さ
を与える設定値と、前述した第1のボンド接続位
置から第2のボンド接談位置へボンデイングツー
ル2を移動させるプログラムとが記録されてお
り、このプログラムに沿つてボンデイングツール
2を移動させることによりワイヤ1のループ6の
高さが設定値に一致するようにされている。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, in which a workpiece conveying device 7 is provided in the main body of the bonding device. This work transfer device 7 intermittently transfers a lead frame 8 on which a plurality of IC chips 3 as works are arranged at equal intervals to a bonding station one pitch at a time, that is, every interval at which the IC chips 3 are arranged. Bonding tool 2 is located opposite the bonding station.
The bonding tool 2 is connected to a bonding head 10 via a bonding arm 9. Bonding head 1
0 is attached to the first XY table 11,
By moving the first XY table 11 in the X and Y directions and moving the bonding head 10 itself in the vertical direction, the bonding head 10,
That is, the bonding tool 2 can be moved in three dimensions. The three-dimensional movement control of the bonding tool 2 is performed by a control device 12. That is, the control device 12 includes a set value for giving the optimum height of the loop 6 of the bonded wire 1, and a program for moving the bonding tool 2 from the above-described first bond connection position to the second bond connection position. is recorded, and by moving the bonding tool 2 according to this program, the height of the loop 6 of the wire 1 is made to match the set value.

しかし環境の変化等がある場合には、従来例に
おいて説明したように、ボンデイングツール2を
プログラム通りに動作させてもワイヤ1のループ
6の高さが変動してしまうという問題がある。本
実施例はかかる弊害を解消するためにボンデイン
グが完了したICチツプ3についてのループ高さ
を検出して設定値との差を求め、これによりボン
デイングツール2の動作を修正するようにしてい
る。
However, if there is a change in the environment, there is a problem in that the height of the loop 6 of the wire 1 fluctuates even if the bonding tool 2 is operated according to the program, as described in the conventional example. In this embodiment, in order to eliminate this problem, the loop height of the IC chip 3 that has been bonded is detected, the difference from the set value is determined, and the operation of the bonding tool 2 is corrected based on this.

すなわち、第1図において、第1のXYテーブ
ル11の隣り位置には第2のXYテーブル13が
設けられており、この第2のXYテーブル13に
は上下動自在にオートフオーカス装置14が配設
されている。オートフオーカス装置14ににはフ
レーム15が固定されており、フレーム15の先
端部にはループ検出カメラ16が取り付けられて
いる。このループ検出カメラ16はボンデイング
が完了したICチツプ3と対向されており、ワイ
ヤ1のループ6を結像する。そして、この結像の
焦点はオートフオーカス装置14を上下動するこ
とにより求められる。
That is, in FIG. 1, a second XY table 13 is provided adjacent to the first XY table 11, and an autofocus device 14 is disposed on this second XY table 13 so as to be movable up and down. It is set up. A frame 15 is fixed to the autofocus device 14, and a loop detection camera 16 is attached to the tip of the frame 15. This loop detection camera 16 is opposed to the IC chip 3 on which bonding has been completed, and images the loop 6 of the wire 1. The focus of this image formation is determined by moving the autofocus device 14 up and down.

これら第2のXYテーブル13、オートフオー
カス装置14および検出カメラ16はループ高さ
を検出するループ検出装置17を構成する。な
お、本実施例では、オートフオーカス装置14の
上下動位置を検出するセンサ(図示せず)が設け
られ被検出ループ6の結像焦点位置に対応するオ
ートフオーカス装置14の上下動位置が検出され
る。そしてこのセンサの検出信号は比較回路18
に供給される。
These second XY table 13, autofocus device 14, and detection camera 16 constitute a loop detection device 17 that detects the loop height. In this embodiment, a sensor (not shown) for detecting the vertical position of the autofocus device 14 is provided, and the vertical position of the autofocus device 14 corresponding to the imaging focal position of the detected loop 6 is determined. Detected. The detection signal of this sensor is then sent to the comparator circuit 18.
is supplied to

一方、比較回路18にはループ6の設定高さに
対応するオートフオーカス装置14の上下動位置
が設定値として与えられており、したがつて、こ
の設定値と前記検出信号の検出値との比較が比較
回路18によつて行われ、その差信号が制御装置
12に出力される。
On the other hand, the comparison circuit 18 is given the vertical movement position of the autofocus device 14 corresponding to the set height of the loop 6 as a set value, and therefore, the set value and the detected value of the detection signal are A comparison is made by comparison circuit 18 and the difference signal is output to controller 12.

制御装置12には演算回路が設けられており、
比較回路17からの差信号に基づいて所望の演算
処理が行われ、ボンデイングツール2の移動動作
に修正が加えられる。この結果、たとえ環境変化
等によりボンデイングに際してワイヤループの高
さに変化が生じてもその変化は直ちに修正され、
ループ6の高さを常時設定値と等しい一定した値
に維持することが可能となる。
The control device 12 is provided with an arithmetic circuit,
Desired arithmetic processing is performed based on the difference signal from the comparison circuit 17, and the moving operation of the bonding tool 2 is modified. As a result, even if the height of the wire loop changes during bonding due to environmental changes, the change is immediately corrected.
It becomes possible to always maintain the height of the loop 6 at a constant value equal to the set value.

なお、本実施例においては、オートフオーカス
装置14およびループ検出カメラ16は第2の
XYテーブル13に塔載されているので、このオ
ートフオーカス装置14およびループ検出カメラ
16をボンデイングが完了した任意のチツプ3の
位置へ移動することが可能であり、検出したいル
ープ6を自由に選択することができる。
Note that in this embodiment, the autofocus device 14 and the loop detection camera 16 are
Since it is mounted on the XY table 13, it is possible to move the autofocus device 14 and the loop detection camera 16 to the position of any chip 3 that has completed bonding, and it is possible to freely select the loop 6 that you want to detect. can do.

また、周知のように、1個のICチツプ3には
多数のワイヤがボンデイング接続されることとな
るが、このループ6の検出はそのICチツプ3に
ボンデイングされている全部のワイヤについて行
つてもよく、場合により全数のワイヤから代表的
なワイヤを選択的にピツクアップして行つてもよ
く、さらにはボンデイングされた複数のICチツ
プ3ごとに適当数のループについて検出を行い、
これらの各検出の平均値を検出値として採用して
もよく、このように、ループ高さの検出について
は種々の態様を選定することができる。
Furthermore, as is well known, a large number of wires are bonded and connected to one IC chip 3, but detection of this loop 6 may be performed for all wires bonded to the IC chip 3. Often, representative wires may be selectively picked up from all the wires depending on the case, and an appropriate number of loops may be detected for each of the plurality of bonded IC chips 3.
The average value of each of these detections may be employed as the detection value, and in this way, various modes can be selected for detecting the loop height.

(変形例) 上記実施例ではオートフオーカス装置14およ
びループ検出カメラ16を第2のXYテーブル1
3に塔載してループ検出カメラ16等を検出した
いループ6の位置に移動可能に構成したが、この
オートフオーカス装置14およびループ検出カメ
ラ16をボンデイング装置の本体等に固定的に設
け、ボンデイングステーシヨン位置から定間隔離
れた位置のICチツプ3についてのループ高さを
検出するようにすることも可能である。
(Modification) In the above embodiment, the autofocus device 14 and the loop detection camera 16 are mounted on the second XY table 1.
The autofocus device 14 and the loop detection camera 16 are fixedly mounted on the body of the bonding device, etc., and the loop detection camera 16 is movable to the position of the loop 6 to be detected. It is also possible to detect the loop height of the IC chip 3 located at a constant distance from the station position.

(考案の効果) 本考案は上述したように構成されているので、
環境の変化等何らかの原因によりボンデイングさ
れたワイヤのループ高さが設定値から変化したと
しても、その変化が直ちに検出され、かつ自動的
に修復される。この結果、ボンデイングされたワ
イヤのループ高さを設定値に一致させることが可
能となり、製品の大量不良品の発生を防止できる
ばかりでなく、ボンデイング作業の省力化および
安定化を効果的に図れ、信頼性の高いボンデイン
グ無人化操業を行うことが可能である。
(Effects of the invention) Since the invention is configured as described above,
Even if the loop height of the bonded wire changes from the set value due to some reason such as a change in the environment, the change is immediately detected and automatically repaired. As a result, it is possible to match the loop height of the bonded wire to the set value, which not only prevents the occurrence of a large number of defective products, but also effectively saves labor and stabilizes the bonding work. It is possible to perform highly reliable unmanned bonding operations.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の一実施例を示すブロツク構成
図、第2図a〜dはワイヤーボンデイングの作用
説明図である。 12……制御装置、13……第2のXYテーブ
ル、14……オートフオーカス装置、16……ル
ープ検出カメラ、17……ループ検出装置、18
……比較回路。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIGS. 2 a to 2 d are diagrams illustrating the operation of wire bonding. 12... Control device, 13... Second XY table, 14... Auto focus device, 16... Loop detection camera, 17... Loop detection device, 18
...Comparison circuit.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 (1) ボンデイングツールの移動を制御する制御装
置を備え、1ピツチづつ間欠移送されるワーク
を順次ワイヤによりボンデイングするワイヤー
ボンデイング装置において、ボンデイングされ
た所望個所のワイヤのループ高さを検出するル
ープ検出装置と、ループ検出装置の検出値とル
ープ高さ設定値とを比較しその差信号を前記制
御装置へ供給してワイヤループの高さを調整す
るための比較回路とを有することを特徴とする
ワイヤーボンデイング装置。 (2) ループ検出装置は検出するワイヤループを結
像するループ検出カメラと、ループ検出カメラ
の結像をフオーカスするオートフオーカス装置
とからなることを特徴とする実用新案登録請求
の範囲第(1)項記載のワイヤーボンデイング装
置。 (3) ループ検出装置は検出するワイヤループを結
像するループ検出カメラと、ループ検出カメラ
の結像をフオーカスするオートフオーカス装置
と、ループ検出カメラおよびオートフオーカス
装置を被検出ワイヤのループ位置へ移動するテ
ーブルとからなることを特徴とする実用新案登
録請求の範囲第(1)項記載のワイヤーボンデイン
グ装置。
[Claims for Utility Model Registration] (1) In a wire bonding device that is equipped with a control device that controls the movement of a bonding tool and that sequentially bonds workpieces that are intermittently transferred one pitch at a time with a wire, a loop detection device that detects the loop height; and a comparison circuit that compares the detection value of the loop detection device with a loop height setting value and supplies the difference signal to the control device to adjust the height of the wire loop. A wire bonding device comprising: (2) Utility model registration claim No. 1, characterized in that the loop detection device consists of a loop detection camera that images the wire loop to be detected, and an autofocus device that focuses the image formed by the loop detection camera. ) The wire bonding device described in item 2. (3) The loop detection device includes a loop detection camera that images the wire loop to be detected, an autofocus device that focuses the image of the loop detection camera, and a loop detection camera and autofocus device that focuses on the loop position of the wire to be detected. 2. A wire bonding apparatus according to claim (1), characterized in that the wire bonding apparatus comprises a table that moves to and from the table.
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