JPH05133874A - γ線を用いた密度測定方法及びγ線密度測定装置 - Google Patents
γ線を用いた密度測定方法及びγ線密度測定装置Info
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- JPH05133874A JPH05133874A JP29862691A JP29862691A JPH05133874A JP H05133874 A JPH05133874 A JP H05133874A JP 29862691 A JP29862691 A JP 29862691A JP 29862691 A JP29862691 A JP 29862691A JP H05133874 A JPH05133874 A JP H05133874A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 放射線源から放射して被測定試料を通過した
γ線パルスの単位時間当たりの数を計数し、この計数値
に基づいて被測定試料の密度を測定する密度測定方法及
びγ線密度測定装置において、雑音等の影響を除去し
て、精度の高い測定を実現することを目的とする。 【構成】 被測定試料が存在しない条件で予め測定した
γ線エネルギーレベル対計数値のデータを補償用データ
として取得しておき、実際に被測定試料を測定したとき
のγ線エネルギーレベル対計数値のデータから上記補償
用データを減算処理し、この減算処理で得られる計数結
果に基づいて被測定試料の密度を測定することとした。
γ線パルスの単位時間当たりの数を計数し、この計数値
に基づいて被測定試料の密度を測定する密度測定方法及
びγ線密度測定装置において、雑音等の影響を除去し
て、精度の高い測定を実現することを目的とする。 【構成】 被測定試料が存在しない条件で予め測定した
γ線エネルギーレベル対計数値のデータを補償用データ
として取得しておき、実際に被測定試料を測定したとき
のγ線エネルギーレベル対計数値のデータから上記補償
用データを減算処理し、この減算処理で得られる計数結
果に基づいて被測定試料の密度を測定することとした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、γ線パルスを被測定試
料に放射してその被測定試料を通過してきたγ線パルス
の数を計数し、その計数値から被測定試料の密度を求め
る密度測定方法及びγ線密度測定装置に関する。
料に放射してその被測定試料を通過してきたγ線パルス
の数を計数し、その計数値から被測定試料の密度を求め
る密度測定方法及びγ線密度測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、道路舗装用アスファルトやコンク
リート等の被測定試料の密度を測定する密度測定装置と
して、特開昭６２−１２８３５号公報に開示したものが
ある。この密度測定装置の構造及び測定原理を、図６な
いし図９に基づいて説明すると、まず、図６において、
道路舗装用アスファルト等の被測定試料１にγ線パルス
を放射する放射線源２と、被測定試料１内を通過してき
たγ線パルスを検出するＮａＩシンチレーションカウン
タ等の検出器３が密度測定装置の筐体４内に設けられ、
更に、放射線源２が被測定試料１の方向にのみ放射され
るように、他の周囲を鉛等の遮蔽箱５で遮蔽している。
リート等の被測定試料の密度を測定する密度測定装置と
して、特開昭６２−１２８３５号公報に開示したものが
ある。この密度測定装置の構造及び測定原理を、図６な
いし図９に基づいて説明すると、まず、図６において、
道路舗装用アスファルト等の被測定試料１にγ線パルス
を放射する放射線源２と、被測定試料１内を通過してき
たγ線パルスを検出するＮａＩシンチレーションカウン
タ等の検出器３が密度測定装置の筐体４内に設けられ、
更に、放射線源２が被測定試料１の方向にのみ放射され
るように、他の周囲を鉛等の遮蔽箱５で遮蔽している。
【０００３】そして、検出器３が、単位時間当たりのγ
線パルス数を、各γ線エネルギーＥγ毎に計数すること
により、図７に示すようなγ線エネルギーＥγ対計数値
Ｎの特性データＸを演算部６へ供給し、演算部６が、例
えば、一次散乱γ線の期待される散乱γ線エネルギーレ
ベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数値を積算し、その積算
結果ΣＮに対して、次式（１）の演算を行うことによ
り、被測定試料１の密度ρを算出する。
線パルス数を、各γ線エネルギーＥγ毎に計数すること
により、図７に示すようなγ線エネルギーＥγ対計数値
Ｎの特性データＸを演算部６へ供給し、演算部６が、例
えば、一次散乱γ線の期待される散乱γ線エネルギーレ
ベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数値を積算し、その積算
結果ΣＮに対して、次式（１）の演算を行うことによ
り、被測定試料１の密度ρを算出する。
【０００４】
【数１】
【０００５】又、他のγ線密度測定装置を図８及び図９
に基づいて説明すると、測定装置の筐体７内に、鉛等の
遮蔽箱８で遮蔽されたγ線パルス放射用の放射線源９を
配置すると共に、コリメータ機能を有する遮蔽材１０に
収容されたＧＭ管１１を配置している。そして、放射線
源９から放射され被測定試料１２を通ってきたγ線パル
スの単位時間当たりの計数値Ｎを各γ線エネルギーレベ
ルＥγ毎に求めることで、図９に示すようなγ線エネル
ギーレベルＥγ対計数値Ｎの特性データＹを得る。 次
に、演算部（図示せず）が、一次散乱γ線の期待される
散乱γ線エネルギーレベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数
値を積算し、その積算結果ΣＮに対して、上記式（１）
の演算を行うことにより、被測定試料１２の密度ρを算
出する。ここで、コリメータ機能を有する遮蔽材１０の
γ線入力部が一定の角度で傾斜していることから、積算
結果ΣＮは、図９の斜線部分の積算値に相当する。
に基づいて説明すると、測定装置の筐体７内に、鉛等の
遮蔽箱８で遮蔽されたγ線パルス放射用の放射線源９を
配置すると共に、コリメータ機能を有する遮蔽材１０に
収容されたＧＭ管１１を配置している。そして、放射線
源９から放射され被測定試料１２を通ってきたγ線パル
スの単位時間当たりの計数値Ｎを各γ線エネルギーレベ
ルＥγ毎に求めることで、図９に示すようなγ線エネル
ギーレベルＥγ対計数値Ｎの特性データＹを得る。 次
に、演算部（図示せず）が、一次散乱γ線の期待される
散乱γ線エネルギーレベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数
値を積算し、その積算結果ΣＮに対して、上記式（１）
の演算を行うことにより、被測定試料１２の密度ρを算
出する。ここで、コリメータ機能を有する遮蔽材１０の
γ線入力部が一定の角度で傾斜していることから、積算
結果ΣＮは、図９の斜線部分の積算値に相当する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところでこのような従
来のγ線密度測定装置にあっては、まず、図６に示す構
造のγ線密度測定装置では、被測定試料１を通過しない
γ線パルス、例えば遮蔽箱５から漏洩するγ線パルスが
直接に検出器３に影響することから、雑音成分が増加
し、測定精度の向上の妨げとなる問題があった。
来のγ線密度測定装置にあっては、まず、図６に示す構
造のγ線密度測定装置では、被測定試料１を通過しない
γ線パルス、例えば遮蔽箱５から漏洩するγ線パルスが
直接に検出器３に影響することから、雑音成分が増加
し、測定精度の向上の妨げとなる問題があった。
【０００７】一方、図８に示すコリメータ機能を具備す
る測定装置にあっては、構造が大掛かりとなることや、
所定角度で傾斜しているγ線入力部を介して到達するγ
線パルスのみを検出することから計数効率が低くなり、
エネルギーレベルの低いγ線パルスに対する計数値を求
めるために計測時間が長くなったり、雑音成分が多すぎ
て有効な測定結果を得ることができない等の問題があっ
た。
る測定装置にあっては、構造が大掛かりとなることや、
所定角度で傾斜しているγ線入力部を介して到達するγ
線パルスのみを検出することから計数効率が低くなり、
エネルギーレベルの低いγ線パルスに対する計数値を求
めるために計測時間が長くなったり、雑音成分が多すぎ
て有効な測定結果を得ることができない等の問題があっ
た。
【０００８】本発明はこのような問題点に鑑みてなされ
たものであり、より精度の高いγ線を用いた密度測定方
法及びγ線密度測定装置を提供することを目的とする。
たものであり、より精度の高いγ線を用いた密度測定方
法及びγ線密度測定装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために本発明は、被測定試料に対して放射線源からγ
線パルスを放射し、該被測定試料中を通過してきたγ線
パルスの単位時間当たりの数を計数して、該計数値に基
づいて被測定試料の密度を求めるγ線を用いた密度測定
方法及びγ線密度測定装置において、被測定試料が存在
しない条件で予め測定したγ線エネルギーレベル対計数
値のデータを補償用データとして取得した後、実際に上
記被測定試料を測定したときのγ線エネルギーレベル対
計数値のデータから上記補償用データを減算処理し、こ
の減算処理で得られる計数値に基づいて該被測定試料の
密度を求めることとした。
るために本発明は、被測定試料に対して放射線源からγ
線パルスを放射し、該被測定試料中を通過してきたγ線
パルスの単位時間当たりの数を計数して、該計数値に基
づいて被測定試料の密度を求めるγ線を用いた密度測定
方法及びγ線密度測定装置において、被測定試料が存在
しない条件で予め測定したγ線エネルギーレベル対計数
値のデータを補償用データとして取得した後、実際に上
記被測定試料を測定したときのγ線エネルギーレベル対
計数値のデータから上記補償用データを減算処理し、こ
の減算処理で得られる計数値に基づいて該被測定試料の
密度を求めることとした。
【００１０】
【作用】このようなγ線による密度測定方法及びγ線密
度測定装置によれば、被測定試料が存在しない条件で予
め測定したγ線エネルギーレベル対計数値のデータを補
償用データとして取得しておき、実際に被測定試料を測
定したときのγ線エネルギーレベル対計数値のデータか
ら上記補償用データを減算処理するので、実際の測定デ
ータから雑音成分等を除去することができ、被測定試料
の密度を高精度で測定することができる。
度測定装置によれば、被測定試料が存在しない条件で予
め測定したγ線エネルギーレベル対計数値のデータを補
償用データとして取得しておき、実際に被測定試料を測
定したときのγ線エネルギーレベル対計数値のデータか
ら上記補償用データを減算処理するので、実際の測定デ
ータから雑音成分等を除去することができ、被測定試料
の密度を高精度で測定することができる。
【００１１】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面と共に説明す
る。まず、図１に基づいてγ線密度測定装置の構造を説
明すると、道路舗装用アスファルト等の被測定試料１３
にγ線パルスを放射する放射線源１４と、被測定試料１
３内を通過してきたγ線パルスを検出するＮａＩシンチ
レーションカウンタ等の検出器１５が密度測定装置の筐
体１６内に固定され、更に、放射線源１４のγ線パルス
放射方向を被測定試料１３の方向にのみ設定するため
に、筐体１６内に固定された鉛等の遮蔽箱１７で放射線
源１４の他の周囲を遮蔽している。
る。まず、図１に基づいてγ線密度測定装置の構造を説
明すると、道路舗装用アスファルト等の被測定試料１３
にγ線パルスを放射する放射線源１４と、被測定試料１
３内を通過してきたγ線パルスを検出するＮａＩシンチ
レーションカウンタ等の検出器１５が密度測定装置の筐
体１６内に固定され、更に、放射線源１４のγ線パルス
放射方向を被測定試料１３の方向にのみ設定するため
に、筐体１６内に固定された鉛等の遮蔽箱１７で放射線
源１４の他の周囲を遮蔽している。
【００１２】検出器１５は、被測定試料１３を通ってき
た単位時間当たりのγ線パルス数を、各γ線エネルギー
Ｅγ毎に計数する。検出器１５が検出した計数値のデー
タは、筐体１６の外に設けられている処理装置１８に供
給され、処理装置１８内に設けられているマイクロコン
ピュータ等から成る演算部１９と半導体メモリ等から成
る記憶メモリ２０によって、補償処理及び被測定試料の
密度演算を実行する。
た単位時間当たりのγ線パルス数を、各γ線エネルギー
Ｅγ毎に計数する。検出器１５が検出した計数値のデー
タは、筐体１６の外に設けられている処理装置１８に供
給され、処理装置１８内に設けられているマイクロコン
ピュータ等から成る演算部１９と半導体メモリ等から成
る記憶メモリ２０によって、補償処理及び被測定試料の
密度演算を実行する。
【００１３】次に、かかる実施例の動作を説明する。ま
ず、実際の被測定試料の密度を測定する以前の初期段階
において、筐体１６及び筐体１６内に設けられている放
射線源１４、遮蔽箱１７及び検出器１５を、放射線源１
４の放射するγ線パルスが被測定試料１３に影響しない
高さまで持ち上げる。この持ち上げ動作は、図示しない
リフト機構によって行う。
ず、実際の被測定試料の密度を測定する以前の初期段階
において、筐体１６及び筐体１６内に設けられている放
射線源１４、遮蔽箱１７及び検出器１５を、放射線源１
４の放射するγ線パルスが被測定試料１３に影響しない
高さまで持ち上げる。この持ち上げ動作は、図示しない
リフト機構によって行う。
【００１４】そして、この持ち上げた状態で、放射線源
１４から所定のエネルギーレベルのγ線パルスを空隙に
向けて放射し、検出器１５がその時の単位時間当たりの
γ線パルス数をエネルギーレベル毎に計数する。但し、
この初期段階では、被測定試料を通過したγ線パルスを
検出するのではないことから、このエネルギーレベル毎
の計数値は、γ線パルスの漏洩特性等の測定装置の構造
に関連する特性を示すこととなる。
１４から所定のエネルギーレベルのγ線パルスを空隙に
向けて放射し、検出器１５がその時の単位時間当たりの
γ線パルス数をエネルギーレベル毎に計数する。但し、
この初期段階では、被測定試料を通過したγ線パルスを
検出するのではないことから、このエネルギーレベル毎
の計数値は、γ線パルスの漏洩特性等の測定装置の構造
に関連する特性を示すこととなる。
【００１５】そして、この計数値のデータを処理部１８
の記憶メモリ２０の補償用データとして格納する。次
に、図１に示すように、測定装置を被測定部１３上に設
置し、放射線源１４のγ線パルスの放射エネルギーと検
出器１５の測定感度を上記初期段階と等しい動作条件に
設定して、被測定試料１３を通過してきたγ線パルスの
計数値をエネルギーレベル毎に検出器１５で測定する。
の記憶メモリ２０の補償用データとして格納する。次
に、図１に示すように、測定装置を被測定部１３上に設
置し、放射線源１４のγ線パルスの放射エネルギーと検
出器１５の測定感度を上記初期段階と等しい動作条件に
設定して、被測定試料１３を通過してきたγ線パルスの
計数値をエネルギーレベル毎に検出器１５で測定する。
【００１６】そして、この被測定試料１３に関する実際
の計測値のデータを処理部１８の演算部１９に転送す
る。演算部１９は、まず、記憶メモリ２０に格納されて
いる補償用データと実際の計測値のデータとの減算処理
をエネルギーレベル毎に行う。即ち、補償用データが図
３の実線で示すＮＡ（Ｅγ）、実際の計測値のデータが
図３中の一点鎖線で示すＮＢ（Ｅγ）であるとすると、
ＮＡ（Ｅγ）−ＮＢ（Ｅγ）の減算を行い、この演算に
よって、被測定試料１３を通過しないで検出器１５に到
達したガンマ線パルスの影響や、測定装置自身が持つ固
有の特性等の雑音成分が除去されることとなる。
の計測値のデータを処理部１８の演算部１９に転送す
る。演算部１９は、まず、記憶メモリ２０に格納されて
いる補償用データと実際の計測値のデータとの減算処理
をエネルギーレベル毎に行う。即ち、補償用データが図
３の実線で示すＮＡ（Ｅγ）、実際の計測値のデータが
図３中の一点鎖線で示すＮＢ（Ｅγ）であるとすると、
ＮＡ（Ｅγ）−ＮＢ（Ｅγ）の減算を行い、この演算に
よって、被測定試料１３を通過しないで検出器１５に到
達したガンマ線パルスの影響や、測定装置自身が持つ固
有の特性等の雑音成分が除去されることとなる。
【００１７】次に、演算部１９が、この減算処理された
計数値データＮＡ（Ｅγ）−ＮＢ（Ｅγ）について、一
次散乱γ線の期待される散乱γ線エネルギーレベルの範
囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数値を積算し、その積算結果ΣＮ
に対して、上記式（１）の演算を行うことにより、被測
定試料１３の密度ρを算出する。このように、この実施
例によれば、従来問題となっていた、雑音成分を除去す
るための補償処理を装置の大形化等を招来することなく
簡易に実現することができ、高精度の密度測定方法及び
密度測定装置を提供することができる。
計数値データＮＡ（Ｅγ）−ＮＢ（Ｅγ）について、一
次散乱γ線の期待される散乱γ線エネルギーレベルの範
囲Ｅγ１〜Ｅγ２の計数値を積算し、その積算結果ΣＮ
に対して、上記式（１）の演算を行うことにより、被測
定試料１３の密度ρを算出する。このように、この実施
例によれば、従来問題となっていた、雑音成分を除去す
るための補償処理を装置の大形化等を招来することなく
簡易に実現することができ、高精度の密度測定方法及び
密度測定装置を提供することができる。
【００１８】次に他の実施例を図４ないし図５と共に説
明する。まず、密度測定装置の構成を図４に基づいて述
べると、道路舗装用アスファルト等の被測定試料２１に
γ線パルスを放射する放射線源２２と、被測定試料２１
内を通過してきたγ線パルスを検出するＮａＩシンチレ
ーションカウンタ等の２個の検出器２３，２４が密度測
定装置の筐体２５内に固定され、更に、放射線源２２の
γ線パルス放射方向を被測定試料２１の方向にのみ設定
する為に、筐体２５内に固定された鉛等の遮蔽箱２６で
放射線源２２の他の周囲を遮蔽している。
明する。まず、密度測定装置の構成を図４に基づいて述
べると、道路舗装用アスファルト等の被測定試料２１に
γ線パルスを放射する放射線源２２と、被測定試料２１
内を通過してきたγ線パルスを検出するＮａＩシンチレ
ーションカウンタ等の２個の検出器２３，２４が密度測
定装置の筐体２５内に固定され、更に、放射線源２２の
γ線パルス放射方向を被測定試料２１の方向にのみ設定
する為に、筐体２５内に固定された鉛等の遮蔽箱２６で
放射線源２２の他の周囲を遮蔽している。
【００１９】検出器２３は放射線源２２から所定の距離
Ｌ１、検出器２４は放射線源２２から所定の距離Ｌ２
（但し、Ｌ１＜Ｌ２）の位置に設けられ、夫々被測定試
料２１を通ってきた単位時間当たりのγ線パルス数を、
各γ線エネルギーＥγ毎に計数する。検出器２３，２４
が検出した計数値のデータは、筐体２５の外に設けられ
ている処理装置２７に供給され、処理装置２７内に設け
られているマイクロコンピュータ等から成る演算部２８
と半導体メモリ等から成る記憶メモリ２９によって、補
償処理及び被測定試料の密度演算を実行する。
Ｌ１、検出器２４は放射線源２２から所定の距離Ｌ２
（但し、Ｌ１＜Ｌ２）の位置に設けられ、夫々被測定試
料２１を通ってきた単位時間当たりのγ線パルス数を、
各γ線エネルギーＥγ毎に計数する。検出器２３，２４
が検出した計数値のデータは、筐体２５の外に設けられ
ている処理装置２７に供給され、処理装置２７内に設け
られているマイクロコンピュータ等から成る演算部２８
と半導体メモリ等から成る記憶メモリ２９によって、補
償処理及び被測定試料の密度演算を実行する。
【００２０】次に、かかる他の実施例の動作を説明す
る。まず、実際の被測定試料の密度を測定する以前の初
期段階において、筐体２５及び筐体２５内に設けられて
いる放射線源２２、遮蔽箱２６及び検出器２３，２４
を、放射線源２２の放射するγ線パルスが被測定試料２
１に影響しない高さまで持ち上げる。この持ち上げ動作
は、図示しないリフト機構によって行う。
る。まず、実際の被測定試料の密度を測定する以前の初
期段階において、筐体２５及び筐体２５内に設けられて
いる放射線源２２、遮蔽箱２６及び検出器２３，２４
を、放射線源２２の放射するγ線パルスが被測定試料２
１に影響しない高さまで持ち上げる。この持ち上げ動作
は、図示しないリフト機構によって行う。
【００２１】そして、この持ち上げた状態で、放射線源
２２から所定のエネルギーレベルのγ線パルスを空隙に
向けて放射し、検出器２３，２４がその時の単位時間当
たりのγ線パルス数をエネルギーレベル毎に計数する。
但し、この初期段階では、被測定試料を通過したγ線パ
ルスを検出するのではないことから、このエネルギーレ
ベル毎の計数値は、γ線パルスの漏洩特性等の測定装置
の構造に関連する特性を示すこととなる。
２２から所定のエネルギーレベルのγ線パルスを空隙に
向けて放射し、検出器２３，２４がその時の単位時間当
たりのγ線パルス数をエネルギーレベル毎に計数する。
但し、この初期段階では、被測定試料を通過したγ線パ
ルスを検出するのではないことから、このエネルギーレ
ベル毎の計数値は、γ線パルスの漏洩特性等の測定装置
の構造に関連する特性を示すこととなる。
【００２２】そして、検出器２３の計数値ＮＡ２のデー
タと検出器２４の計数値ＮＢ２のデータとを記憶メモリ
２９に補償用データとして格納する。次に、図４に示す
ように、測定装置を被測定部２１上に設置し、放射線源
２２のγ線パルスの放射エネルギーと検出器２３，２４
の測定感度を上記初期段階と等しい動作条件に設定し
て、被測定試料２１を通過してきたγ線パルスの計数値
をエネルギーレベル毎に検出器２３，２４で測定する。
タと検出器２４の計数値ＮＢ２のデータとを記憶メモリ
２９に補償用データとして格納する。次に、図４に示す
ように、測定装置を被測定部２１上に設置し、放射線源
２２のγ線パルスの放射エネルギーと検出器２３，２４
の測定感度を上記初期段階と等しい動作条件に設定し
て、被測定試料２１を通過してきたγ線パルスの計数値
をエネルギーレベル毎に検出器２３，２４で測定する。
【００２３】そして、検出器２３によるこの計測値ＮＡ
１のデータと、検出器２４による計測値ＮＢ１のデータ
を処理部２７の演算部２８に転送する。次に、演算部２
８は、まず、記憶メモリ２９に格納されている補償用デ
ータＮＡ２と実際の計測値ＮＡ１のデータとの減算処
理、及び補償用データＮＢ２と実際の計測値ＮＢ１のデ
ータとの減算処理を行う。
１のデータと、検出器２４による計測値ＮＢ１のデータ
を処理部２７の演算部２８に転送する。次に、演算部２
８は、まず、記憶メモリ２９に格納されている補償用デ
ータＮＡ２と実際の計測値ＮＡ１のデータとの減算処
理、及び補償用データＮＢ２と実際の計測値ＮＢ１のデ
ータとの減算処理を行う。
【００２４】即ち、検出器２３による補償用データが図
５の２点鎖線ＮＡ２、実際の計測値データが実線ＮＡ
１、検出器２４による補償用データが点線ＮＢ２、実際
の計測値データが１点鎖線ＮＢ１で示す分布を有するも
のとすると、γ線エネルギーレベル毎に、ＮＡ＝ＮＡ１
−ＮＡ２とＮＢ＝ＮＢ１−ＮＢ２の減算処理を行う。こ
の演算によって、被測定試料２２を通過しないで検出器
２３，２４に到達したガンマ線パルスの影響や、測定装
置自身が持つ固有の特性等の雑音成分が除去された計数
値ＮＡとＮＢが求まる。
５の２点鎖線ＮＡ２、実際の計測値データが実線ＮＡ
１、検出器２４による補償用データが点線ＮＢ２、実際
の計測値データが１点鎖線ＮＢ１で示す分布を有するも
のとすると、γ線エネルギーレベル毎に、ＮＡ＝ＮＡ１
−ＮＡ２とＮＢ＝ＮＢ１−ＮＢ２の減算処理を行う。こ
の演算によって、被測定試料２２を通過しないで検出器
２３，２４に到達したガンマ線パルスの影響や、測定装
置自身が持つ固有の特性等の雑音成分が除去された計数
値ＮＡとＮＢが求まる。
【００２５】次に、演算部２８が、この減算処理された
計数値データＮＡとＮＢについて、一次散乱γ線の期待
される散乱γ線エネルギーレベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２
の計数値を積算し、夫々の積算結果ΣＮＡとΣＮＢに基
づいて、次式（２）の演算を行うことにより、被測定試
料２１の密度ρを算出する。
計数値データＮＡとＮＢについて、一次散乱γ線の期待
される散乱γ線エネルギーレベルの範囲Ｅγ１〜Ｅγ２
の計数値を積算し、夫々の積算結果ΣＮＡとΣＮＢに基
づいて、次式（２）の演算を行うことにより、被測定試
料２１の密度ρを算出する。
【００２６】
【数２】
【００２７】この実施例によれば、計数値の比ΣＮＡ／
ΣＮＢに基づいて密度ρを求めるので、被測定試料２１
の内部の密度ρを高精度で測定できる。
ΣＮＢに基づいて密度ρを求めるので、被測定試料２１
の内部の密度ρを高精度で測定できる。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
測定試料が存在しない条件で予め測定したγ線エネルギ
ーレベル対計数値のデータを補償用データとして取得し
ておき、実際に被測定試料を測定したときのγ線エネル
ギーレベル対計数値のデータから上記補償用データを減
算処理するので、実際の測定データから雑音成分等を除
去することができ、被測定試料の密度を高精度で測定す
ることができる。
測定試料が存在しない条件で予め測定したγ線エネルギ
ーレベル対計数値のデータを補償用データとして取得し
ておき、実際に被測定試料を測定したときのγ線エネル
ギーレベル対計数値のデータから上記補償用データを減
算処理するので、実際の測定データから雑音成分等を除
去することができ、被測定試料の密度を高精度で測定す
ることができる。
【図１】本発明によるγ線密度測定装置の一実施例の構
成を示す構成説明図である。
成を示す構成説明図である。
【図２】一実施例における測定処理を説明するための説
明図である。
明図である。
【図３】一実施例における補償処理の原理を説明するた
めの説明図である。
めの説明図である。
【図４】本発明によるγ線密度測定装置の他の実施例の
構成を示す構成説明図である。
構成を示す構成説明図である。
【図５】他の実施例における補償処理の原理を説明する
ための説明図である。
ための説明図である。
【図６】従来のγ線密度測定装置の構成を示す構成説明
図である。
図である。
【図７】従来のγ線密度測定装置における密度測定原理
を説明する為の説明図である。
を説明する為の説明図である。
【図８】従来の他のγ線密度測定装置の構成を示す構成
説明図である。
説明図である。
【図９】従来の他のγ線密度測定装置における密度測定
原理を説明する為の説明図である。
原理を説明する為の説明図である。
１３，２１；被測定試料 １４，２２；放射線源 １５，２３，２４；検出器 １６，２５；筐体 １７，２６；遮蔽箱 １８，２７；処理部 １９，２８；演算部 ２０，２９；記憶メモリ
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成３年１１月１４日
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図１
【補正方法】変更
【補正内容】
【図１】
Claims (2)
- 【請求項１】被測定試料に対して放射線源からγ線パル
スを放射し、該被測定試料中を通過してきたγ線パルス
の単位時間当たりの数を計数して、該計数値に基づいて
被測定試料の密度を求めるγ線を用いた密度測定方法に
おいて、 被測定試料が存在しない条件で予め測定したγ線エネル
ギーレベル対計数値のデータを補償用データとして取得
した後、 実際に前記被測定試料を測定したときのγ線エネルギー
レベル対計数値のデータから上記補償用データを減算処
理し、この減算処理で得られる計数値に基づいて該被測
定試料の密度を求めることを特徴とするγ線を用いた密
度測定方法。 - 【請求項２】被測定試料に対して放射線源からγ線パル
スを放射する放射線源と、該被測定試料中を通過してき
たγ線パルスの単位時間当たりの数を計数する検出器
と、該計数値に基づいて被測定試料の密度を演算する処
理手段とを具備するγ線密度測定装置において、 前記処理手段が、被測定試料が存在しない条件で予め測
定したγ線エネルギーレベル対計数値のデータを補償用
データとして記憶する記憶手段を有し、 実際に前記被測定試料を測定したときのγ線エネルギー
レベル対計数値のデータから上記補償用データを減算処
理して、この減算処理で得られる計数値に基づいて該被
測定試料の密度を求めることを特徴とするγ線密度測定
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29862691A JPH05133874A (ja) | 1991-11-14 | 1991-11-14 | γ線を用いた密度測定方法及びγ線密度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29862691A JPH05133874A (ja) | 1991-11-14 | 1991-11-14 | γ線を用いた密度測定方法及びγ線密度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05133874A true JPH05133874A (ja) | 1993-05-28 |
Family
ID=17862171
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29862691A Pending JPH05133874A (ja) | 1991-11-14 | 1991-11-14 | γ線を用いた密度測定方法及びγ線密度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05133874A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002003055A3 (en) * | 2000-06-29 | 2002-05-02 | Troxler Electronic Lab Inc | Apparatus and method for gamma-ray determination of bulk density of samples |
| CN109827870A (zh) * | 2019-03-11 | 2019-05-31 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种基于x射线吸收的地面大气密度测量方法 |
| JP2019132632A (ja) * | 2018-01-30 | 2019-08-08 | ソイルアンドロックエンジニアリング株式会社 | 密度測定装置および密度測定方法 |
| JP2021004747A (ja) * | 2019-06-25 | 2021-01-14 | ソイルアンドロックエンジニアリング株式会社 | 密度測定装置および密度測定方法 |
-
1991
- 1991-11-14 JP JP29862691A patent/JPH05133874A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2002003055A3 (en) * | 2000-06-29 | 2002-05-02 | Troxler Electronic Lab Inc | Apparatus and method for gamma-ray determination of bulk density of samples |
| JP2019132632A (ja) * | 2018-01-30 | 2019-08-08 | ソイルアンドロックエンジニアリング株式会社 | 密度測定装置および密度測定方法 |
| CN109827870A (zh) * | 2019-03-11 | 2019-05-31 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种基于x射线吸收的地面大气密度测量方法 |
| CN109827870B (zh) * | 2019-03-11 | 2021-10-19 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种基于x射线吸收的地面大气密度测量方法 |
| JP2021004747A (ja) * | 2019-06-25 | 2021-01-14 | ソイルアンドロックエンジニアリング株式会社 | 密度測定装置および密度測定方法 |
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