JPH0513334B2 - - Google Patents
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- JPH0513334B2 JPH0513334B2 JP59145768A JP14576884A JPH0513334B2 JP H0513334 B2 JPH0513334 B2 JP H0513334B2 JP 59145768 A JP59145768 A JP 59145768A JP 14576884 A JP14576884 A JP 14576884A JP H0513334 B2 JPH0513334 B2 JP H0513334B2
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- recording medium
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- diffraction grating
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
-
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- G11—INFORMATION STORAGE
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- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
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- G11B7/0903—Multi-beam tracking systems
-
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
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- G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は光学式記録装置、再生装置及び記録再
生装置に適用して好適な光学式ヘツドのトラツキ
ング誤差検出装置に関する。
生装置に適用して好適な光学式ヘツドのトラツキ
ング誤差検出装置に関する。
背景技術とその問題点
先ず第３図を参照して、従来の光学式ヘツドの
トラツキング誤差検出装置について説明する。
トラツキング誤差検出装置について説明する。
OHは光学式ヘツドを全体として示す。１は半
導体レーザ素子（レーザダイオード）で、これの
レーザビーム出射端面１Ａ側より出射した、断面
が楕円と発散レーザビームＬはコリメータレンズ
（不用の場合もある）２に入射せしめられて平行
ビームとなされた後、回折格子（グレーテイン
グ）３に入射せしめられる。回折格子３より出射
した０次ビームL0及び±１次ビームL+1、L-1
（尚、＋２次上、−２次以下のビームは無視する）
は無偏光ビームスプリツタ（ハーフミラー）（偏
向ビームスプリツタの場合は、対物レンズ５との
間に1/4波長板を設ける）４を通過した後、対物
レンズ５に入射せしめられて集束せしめられ、そ
の集束された０次ビームL0及び±１次ビーム
L+1、L-1は光学式記録媒体（光磁気記録媒体も
含む）６の記録面に所定間隔（例えば10μｍ）を
置いて入射せしめられる。
導体レーザ素子（レーザダイオード）で、これの
レーザビーム出射端面１Ａ側より出射した、断面
が楕円と発散レーザビームＬはコリメータレンズ
（不用の場合もある）２に入射せしめられて平行
ビームとなされた後、回折格子（グレーテイン
グ）３に入射せしめられる。回折格子３より出射
した０次ビームL0及び±１次ビームL+1、L-1
（尚、＋２次上、−２次以下のビームは無視する）
は無偏光ビームスプリツタ（ハーフミラー）（偏
向ビームスプリツタの場合は、対物レンズ５との
間に1/4波長板を設ける）４を通過した後、対物
レンズ５に入射せしめられて集束せしめられ、そ
の集束された０次ビームL0及び±１次ビーム
L+1、L-1は光学式記録媒体（光磁気記録媒体も
含む）６の記録面に所定間隔（例えば10μｍ）を
置いて入射せしめられる。
光学式記録媒体６で反射した０次ビームL0及
び±１次ビームL+1、L-1は対物レンズ５を通過
した後、ビームスプリツタ４に入射せしめられ、
その一部はその反射面４ａで反射して光検出器７
に入射せしめられる。この光検出器７は、０次ビ
ームL0及び±１次ビームL+1、L-1が各別に入射
せしめられる３個の光検出部にて構成される。そ
して、±１次ビームが夫々入射せしめられる一対
の光検出部からの一対の光検出出力の差を採るこ
とにより、０次ビームL0の光学式記録媒体６の
記録面上でのトラツキング状態に応じたトラツキ
ング誤差信号が得られる。又、０次ビームの入射
せしめられた光検出部からは、再生信号、フオー
カスエラー信号等が得られる。
び±１次ビームL+1、L-1は対物レンズ５を通過
した後、ビームスプリツタ４に入射せしめられ、
その一部はその反射面４ａで反射して光検出器７
に入射せしめられる。この光検出器７は、０次ビ
ームL0及び±１次ビームL+1、L-1が各別に入射
せしめられる３個の光検出部にて構成される。そ
して、±１次ビームが夫々入射せしめられる一対
の光検出部からの一対の光検出出力の差を採るこ
とにより、０次ビームL0の光学式記録媒体６の
記録面上でのトラツキング状態に応じたトラツキ
ング誤差信号が得られる。又、０次ビームの入射
せしめられた光検出部からは、再生信号、フオー
カスエラー信号等が得られる。
次に、半導体レーザ素子１の一例について第４
図を参照にして説明する。この半導体レーザ素子
１は通常一方の電極を兼ねた銅等より成るヒート
シンク８上に固着されている。半導体レーザ素子
１の構造を図に於いてその上層から下層に向かつ
て説明すると、１ａは電極層、１bn−GaAs層
（基体層）、１ｃはｎ−Ga1−yAlyAs層（クラツ
ド層）、１ｄははGa1−xAlxAs層（活性層）、１
ｅはｐ−Ga1−yAlyAs層（クラツド層）、１ｆは
ｐ−GaAs層である。そして、活性層１ｄから上
述のレーザビームＬが出射する。この半導体レー
ザ素子１のレーザビーム出射端面（劈開面）１Ａ
を正面とすると、その幅が100〜300μｍ、高さ
（厚さ）が80〜100μｍ、奥行が200〜300μｍであ
る。活性層１ｄのヒートシンク８の上面からの高
さは数μｍである。
図を参照にして説明する。この半導体レーザ素子
１は通常一方の電極を兼ねた銅等より成るヒート
シンク８上に固着されている。半導体レーザ素子
１の構造を図に於いてその上層から下層に向かつ
て説明すると、１ａは電極層、１bn−GaAs層
（基体層）、１ｃはｎ−Ga1−yAlyAs層（クラツ
ド層）、１ｄははGa1−xAlxAs層（活性層）、１
ｅはｐ−Ga1−yAlyAs層（クラツド層）、１ｆは
ｐ−GaAs層である。そして、活性層１ｄから上
述のレーザビームＬが出射する。この半導体レー
ザ素子１のレーザビーム出射端面（劈開面）１Ａ
を正面とすると、その幅が100〜300μｍ、高さ
（厚さ）が80〜100μｍ、奥行が200〜300μｍであ
る。活性層１ｄのヒートシンク８の上面からの高
さは数μｍである。
ところで、０次ビームL0の光学式記録媒体６
の記録面に対するタンジエンシヤルスキユー角が
変化すると、トラツキングエラー信号もそれに応
じて周期的に変化し、正確なトラツキングエラー
を検出することができなかつた。
の記録面に対するタンジエンシヤルスキユー角が
変化すると、トラツキングエラー信号もそれに応
じて周期的に変化し、正確なトラツキングエラー
を検出することができなかつた。
本発明者等ほその原因を究明したところ、次の
ようなことが分かつた。光学式記録媒体６で反射
した０次ビームL0及び±１次ビームL+1，L-1は
対物レンズ５を通過した後、ビームスプリツタ４
の反射面４ａで反射するのみならず、ビームスプ
リツタ４を通過し、回折格子３に入射して、夫々
に対応して格別の０次ビーム及び±１次ビームが
発生し、コリメータレンズ２を通過して半導体レ
ーザ素子１に向かう。この半導体レーザ素子１に
向かうビームのビーム量は、無偏光ビームスプリ
ツタを用いた場合には多く、偏光ビームスプリツ
タを用いた場合は少ない。この場合、半導体レー
ザ素子１のレーザビーム発光端面１Ａと、回折格
子３との相対回動角位置に応じて、半導体レーザ
素子１に向かう中心ビームLa及びその両側に位
置する両側ビームLb，Lcの配置は夫々中心ビー
ムLaがレーザビーム出射端面１Ａ上の活性層１
ｄに位置し、両側ビームLb，Lcが中心ビームLa
の位置を通り、活性層１ｄと直交する直線上に於
いて上下に位置する場合と、中心ビームLa及び
両側ビームLb，Lcが共に活性層１ｄ上に位置す
る場合と、中心ビームLa及び両側ビームLb，Lc
を結ぶ直線が上記２つの場合の中間の任意の角度
位置に来る場合とがある。そして、これら中心ビ
ームLa及び両側ビームLb，Lcは、０次ビームL0
と、±１次ビームL+1、L-1が回折格子３によつて
再回折され、且つ混在して重畳されたものであ
る。
ようなことが分かつた。光学式記録媒体６で反射
した０次ビームL0及び±１次ビームL+1，L-1は
対物レンズ５を通過した後、ビームスプリツタ４
の反射面４ａで反射するのみならず、ビームスプ
リツタ４を通過し、回折格子３に入射して、夫々
に対応して格別の０次ビーム及び±１次ビームが
発生し、コリメータレンズ２を通過して半導体レ
ーザ素子１に向かう。この半導体レーザ素子１に
向かうビームのビーム量は、無偏光ビームスプリ
ツタを用いた場合には多く、偏光ビームスプリツ
タを用いた場合は少ない。この場合、半導体レー
ザ素子１のレーザビーム発光端面１Ａと、回折格
子３との相対回動角位置に応じて、半導体レーザ
素子１に向かう中心ビームLa及びその両側に位
置する両側ビームLb，Lcの配置は夫々中心ビー
ムLaがレーザビーム出射端面１Ａ上の活性層１
ｄに位置し、両側ビームLb，Lcが中心ビームLa
の位置を通り、活性層１ｄと直交する直線上に於
いて上下に位置する場合と、中心ビームLa及び
両側ビームLb，Lcが共に活性層１ｄ上に位置す
る場合と、中心ビームLa及び両側ビームLb，Lc
を結ぶ直線が上記２つの場合の中間の任意の角度
位置に来る場合とがある。そして、これら中心ビ
ームLa及び両側ビームLb，Lcは、０次ビームL0
と、±１次ビームL+1、L-1が回折格子３によつて
再回折され、且つ混在して重畳されたものであ
る。
ところで、両側ビームLb，Lcの少なくとも一
方がヒートシンク８の面に入射した場合は、その
面が祖面であるので、そのビームはそこで乱反射
されるので問題はないが、両側ビームLb，Lcの
少なくとも一方が半導体レーザ素子１のレーザビ
ーム出射端面１Ａに入射する場合は、この端面１
Ａは反射率が良好（例えば10％）なので、この端
面１Ａで反射し、上述の光路を通過して光検出器
７に入射するので、＋１次又は−１ビームと干渉
を起こす。このため、０次ビームL0の光学式記
録媒体６の記録面に対するタンジエンシヤルスキ
ユー角に応じて、光検出器７に入射する＋１次又
は−１次ビームの強度が変化し、トラツキングエ
ラー信号がそのスキユー角に応じて周期的に変化
する。第６図は、両側ビームLb，Lcの一方Lbが
半導体レーザ素子１のレーザビーム発光端面１Ａ
に入射し、他方Lcがヒートシンク８に入射した
場合の、０次ビームL0の光学式記録媒体６の記
録面に対するタンジエンシヤルスキユー角α°に対
するトラツキングエラー信号Seのレベル変化の
周期性を示す。尚、実際には、｜α｜が増大する
につれて、トラツキングエラー信号Seのレベル
は減衰する。尚、両側ビームLb，Lc共レーザビ
ーム出射端面１Ａに入射する場合は、第６図に対
応する波形の振幅が第６図のそれの２倍となり、
位相は第６図と異なる。
方がヒートシンク８の面に入射した場合は、その
面が祖面であるので、そのビームはそこで乱反射
されるので問題はないが、両側ビームLb，Lcの
少なくとも一方が半導体レーザ素子１のレーザビ
ーム出射端面１Ａに入射する場合は、この端面１
Ａは反射率が良好（例えば10％）なので、この端
面１Ａで反射し、上述の光路を通過して光検出器
７に入射するので、＋１次又は−１ビームと干渉
を起こす。このため、０次ビームL0の光学式記
録媒体６の記録面に対するタンジエンシヤルスキ
ユー角に応じて、光検出器７に入射する＋１次又
は−１次ビームの強度が変化し、トラツキングエ
ラー信号がそのスキユー角に応じて周期的に変化
する。第６図は、両側ビームLb，Lcの一方Lbが
半導体レーザ素子１のレーザビーム発光端面１Ａ
に入射し、他方Lcがヒートシンク８に入射した
場合の、０次ビームL0の光学式記録媒体６の記
録面に対するタンジエンシヤルスキユー角α°に対
するトラツキングエラー信号Seのレベル変化の
周期性を示す。尚、実際には、｜α｜が増大する
につれて、トラツキングエラー信号Seのレベル
は減衰する。尚、両側ビームLb，Lc共レーザビ
ーム出射端面１Ａに入射する場合は、第６図に対
応する波形の振幅が第６図のそれの２倍となり、
位相は第６図と異なる。
次に、両側ビームLb，Lcのうちの一方Lbが半
導体レーザ素子１のレーザビーム出射端面１Ａに
入射し、他方Lcがヒートシンク８に入射する場
合の干渉について、第７図（レンズ系の図示を省
略してある）を参照して説明する。第７図に於い
て、実線にて示される１Ａはレーザビーム出射端
面であるが、破線にて示される正規の位置の出射
端面１Ａに対し傾いている一般的な場合を示し、
又、実線にて示される６は光学式記録媒体である
が、破線にて示される正規の位置の光学式記録媒
体６に対し傾いている場合を示す。０次ビーム
L0は正規の位置のレーザビーム出射端面１Ａ及
び正規の位置の光学式記録媒体６の記録面に対し
鉛直である。θは＋１次ビームL+1の０次ビーム
L0に対する角度である。l1はレーザビーム出射端
面１Ａ及び回折格子３間の光路長、l2は回折格子
３及び光学式記録媒体６の記録面間の光路長であ
る。Δl1、Δl2は夫々光路長l1、l2に対する０次ビ
ームL0及び＋１次ビームL+1間の光路差である。
Δl3、Δl4は夫々光学式記録媒体６のスキユーによ
る光路差、レーザビーム出射端面１Ａのスキユー
位相である。
導体レーザ素子１のレーザビーム出射端面１Ａに
入射し、他方Lcがヒートシンク８に入射する場
合の干渉について、第７図（レンズ系の図示を省
略してある）を参照して説明する。第７図に於い
て、実線にて示される１Ａはレーザビーム出射端
面であるが、破線にて示される正規の位置の出射
端面１Ａに対し傾いている一般的な場合を示し、
又、実線にて示される６は光学式記録媒体である
が、破線にて示される正規の位置の光学式記録媒
体６に対し傾いている場合を示す。０次ビーム
L0は正規の位置のレーザビーム出射端面１Ａ及
び正規の位置の光学式記録媒体６の記録面に対し
鉛直である。θは＋１次ビームL+1の０次ビーム
L0に対する角度である。l1はレーザビーム出射端
面１Ａ及び回折格子３間の光路長、l2は回折格子
３及び光学式記録媒体６の記録面間の光路長であ
る。Δl1、Δl2は夫々光路長l1、l2に対する０次ビ
ームL0及び＋１次ビームL+1間の光路差である。
Δl3、Δl4は夫々光学式記録媒体６のスキユーによ
る光路差、レーザビーム出射端面１Ａのスキユー
位相である。
又、ｇを回折格子３に於ける０次ビームL0及
び＋１次ビームL+1間の位相差とする。i0、i1を
夫々回折格子３に於ける０次ビーム、＋１次ビー
ムの透過率、ｔをハーフミラー４の透過率、ｒ、
ｆを夫々光学式記録媒体６の記録面上、レーザビ
ーム出射端面１Ａ上の反射率とする。
び＋１次ビームL+1間の位相差とする。i0、i1を
夫々回折格子３に於ける０次ビーム、＋１次ビー
ムの透過率、ｔをハーフミラー４の透過率、ｒ、
ｆを夫々光学式記録媒体６の記録面上、レーザビ
ーム出射端面１Ａ上の反射率とする。
しかして、＋１次ビームL+1が入射する光学式
記録媒体６の記録面上の点Ａに於ける光の複素振
幅を次の４つの場合に分けて考える。
記録媒体６の記録面上の点Ａに於ける光の複素振
幅を次の４つの場合に分けて考える。
(1) a1：＋１次ビームL+1が直接点Ａに入射した
場合。
場合。
(2) a2：０次ビームL0が光学式記録媒体６で反射
し、再度回折格子３に入射することによつて得
られた０次ビームがレーザビーム出射端面１Ａ
で反射し、再度回折格子３に入射することによ
つて得られた＋１次ビームが点Ａに入射した場
合である。
し、再度回折格子３に入射することによつて得
られた０次ビームがレーザビーム出射端面１Ａ
で反射し、再度回折格子３に入射することによ
つて得られた＋１次ビームが点Ａに入射した場
合である。
(3) a3：０次ビームL0が光学式記録媒体６で反射
し、再度回折格子３に入射することによつて得
られた＋１次ビームがレーザビーム出射端面１
Ａで反射し、再度回折格子３に入射することに
よつて得られた０次ビームが点Ａに入射した場
合である。
し、再度回折格子３に入射することによつて得
られた＋１次ビームがレーザビーム出射端面１
Ａで反射し、再度回折格子３に入射することに
よつて得られた０次ビームが点Ａに入射した場
合である。
(4) a4：＋１次ビームL+1が光学式記録媒体６で
反射し、再度回折格子３に入射することによつ
て得られた０次ビームがレーザビーム出射端面
１Ａで反射し、再度回折格子３に入射すること
によつて得られた０次ビームが点Ａに入射する
場合である。
反射し、再度回折格子３に入射することによつ
て得られた０次ビームがレーザビーム出射端面
１Ａで反射し、再度回折格子３に入射すること
によつて得られた０次ビームが点Ａに入射する
場合である。
次にa1〜a4を式にて示す。
a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝
a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝
a2＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋Δl2＋Δ
l3｝〕 a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝ a2＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋Δl2＋Δ
l3｝〕 a3＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋2Δl1＋
Δl2＋Δl3＋2Δl4｝〕 a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝ a2＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋Δl2＋Δ
l3｝〕 a3＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋2Δl1＋
Δl2＋Δl3＋2Δl4｝〕 a4＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋３（Δl2
＋Δl3）＋2Δl1＋2Δl4｝〕……(1) ……(2) ……(3) ……(4) 計算の簡単のため、レーザビーム可干渉距離を
２（l1＋l2）以下とすると、点Ａに於ける光の強度
ＩＡは次の式のように表される。
l3｝〕 a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝ a2＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋Δl2＋Δ
l3｝〕 a3＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋2Δl1＋
Δl2＋Δl3＋2Δl4｝〕 a1＝i1t・exp｛ｊ（l1＋ｇ＋l2＋Δl2＋Δl3）｝ a2＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋Δl2＋Δ
l3｝〕 a3＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋2Δl1＋
Δl2＋Δl3＋2Δl4｝〕 a4＝i2 0i1t3rf・exp〔ｊ｛３（l1＋l2）＋ｇ＋３（Δl2
＋Δl3）＋2Δl1＋2Δl4｝〕……(1) ……(2) ……(3) ……(4) 計算の簡単のため、レーザビーム可干渉距離を
２（l1＋l2）以下とすると、点Ａに於ける光の強度
ＩＡは次の式のように表される。
ＩＡ＝｜a1｜2＋a2＋a3＋a4｜2
＝i2 1t2〔１
＋i4 0t4r2f2｛３＋2cos2（Δl1＋Δl4）
＋2cos2（Δl1＋Δl4＋Δl2＋Δl3）＋
2cos2（Δl2＋Δl3）｝〕 ……(5)
又、両側ビームLb，Lcの両方がレーザビーム
出射端面１Ａに入射する場合に於いて、＋１次ビ
ームL+1が光学式記録媒体６の記録面上の点Ａに
入射し、−１次ビームL-1が０次ビームL0に対し
対称な点Ｂに入射する場合は、点Ａの光の強度IA
は(5)式の通りであるが、点Ｂの光の強度IBは次式
のように表される。
出射端面１Ａに入射する場合に於いて、＋１次ビ
ームL+1が光学式記録媒体６の記録面上の点Ａに
入射し、−１次ビームL-1が０次ビームL0に対し
対称な点Ｂに入射する場合は、点Ａの光の強度IA
は(5)式の通りであるが、点Ｂの光の強度IBは次式
のように表される。
ＩＢ＝i2 1t2〔１＋i4 0r2f2｛３
＋2cos2（Δl1−Δl4）＋2cos2（Δl1
−Δl4＋Δl2−Δl3）
＋2cos2（Δl2−Δl3）｝〕 ……(6)
発明の目的
本発明は上述した光学式トラツキング誤差検出
装置に於いて、光学式ヘツドの０次ビームの光学
式記録媒体に対するタンジエンシヤルスキユー角
の変化によつては変化する虞のないトラツキング
エラー信号を得ることのできるものを提案しよう
とするものである。
装置に於いて、光学式ヘツドの０次ビームの光学
式記録媒体に対するタンジエンシヤルスキユー角
の変化によつては変化する虞のないトラツキング
エラー信号を得ることのできるものを提案しよう
とするものである。
発明の概要
本発明は、半導体レーザ素子と、この半導体レ
ーザ素子よりのレーザビームが入射せしめられる
回折格子と、この回折格子より出射した０次ビー
ム及び±１次ビームが通過せしめられるビームス
プリツタと、このビームスプリツタより出射した
０次ビーム及び±１次ビームが集束せしめられて
光学式記録媒体に入射せしめられる対物レンズ
と、光学式記録媒体により反射せしめられた０次
ビーム及び±１次ビームが対物レンズを通過し、
更にビームスプリツタの反射面で反射した後、入
射せしめられる光検出器とを有し、光検出器より
±１次ビームに対応した一対の光検出出力を得、
この一対の光検出出力の差に基づいて０次ビーム
の光学式記録媒体上のトラツキング状態に応じた
トラツキング誤差信号を得るようにした光学式ヘ
ツドのトラツキング誤差検出装置に於いて、半導
体レーザー素子及び回折格子間に、一対の正レン
ズと、一対の正レンズ間に配され、光学式記録媒
体より反射し、対物レンズ、ビームスプリツタ及
び回折格子を通過して半導体レーザ素子に向かう
中心ビーム及びその両側の両側ビームのうち中心
ビームを通過させるも両側ビームを遮る遮光体と
を設けたことを特徴とするものである。
ーザ素子よりのレーザビームが入射せしめられる
回折格子と、この回折格子より出射した０次ビー
ム及び±１次ビームが通過せしめられるビームス
プリツタと、このビームスプリツタより出射した
０次ビーム及び±１次ビームが集束せしめられて
光学式記録媒体に入射せしめられる対物レンズ
と、光学式記録媒体により反射せしめられた０次
ビーム及び±１次ビームが対物レンズを通過し、
更にビームスプリツタの反射面で反射した後、入
射せしめられる光検出器とを有し、光検出器より
±１次ビームに対応した一対の光検出出力を得、
この一対の光検出出力の差に基づいて０次ビーム
の光学式記録媒体上のトラツキング状態に応じた
トラツキング誤差信号を得るようにした光学式ヘ
ツドのトラツキング誤差検出装置に於いて、半導
体レーザー素子及び回折格子間に、一対の正レン
ズと、一対の正レンズ間に配され、光学式記録媒
体より反射し、対物レンズ、ビームスプリツタ及
び回折格子を通過して半導体レーザ素子に向かう
中心ビーム及びその両側の両側ビームのうち中心
ビームを通過させるも両側ビームを遮る遮光体と
を設けたことを特徴とするものである。
かかる本発明によれば、この種光学式トラツキ
ング誤差検出装置に於いて、光学式ヘツドの０次
ビームの光学式記録媒体に対するタンジエンシヤ
ルスキユー角の変化によつて変化する虞のないト
ラツキングエラー信号を得ることのできるものを
得ることができる。
ング誤差検出装置に於いて、光学式ヘツドの０次
ビームの光学式記録媒体に対するタンジエンシヤ
ルスキユー角の変化によつて変化する虞のないト
ラツキングエラー信号を得ることのできるものを
得ることができる。
実施例
以下に第１図を参照して、本発明の一実施例を
説明するも、第１図に於いて、第３図〜第７図と
対応する部分には同一符号を付して重複説明を省
略する。コリメータレンズ２及び回折格子３間
に、一対の正レンズ（凸レンズ）９，１０と、一
対の正レンズ９，１０間に配され、光学式記録媒
体６より反射し、対物レンズ５、ビームスプリツ
タ４及び回折格子３を通過して半導体レーザ素子
１に向かう中心ビームLa及びその両側ビームLb，
Lcのうち、中心ビームLaを通過させるも両側ビ
ームLb，Lcを遮る遮光板（体）１１を設ける。
説明するも、第１図に於いて、第３図〜第７図と
対応する部分には同一符号を付して重複説明を省
略する。コリメータレンズ２及び回折格子３間
に、一対の正レンズ（凸レンズ）９，１０と、一
対の正レンズ９，１０間に配され、光学式記録媒
体６より反射し、対物レンズ５、ビームスプリツ
タ４及び回折格子３を通過して半導体レーザ素子
１に向かう中心ビームLa及びその両側ビームLb，
Lcのうち、中心ビームLaを通過させるも両側ビ
ームLb，Lcを遮る遮光板（体）１１を設ける。
レンズ９，１０としては、収差の少ないもの、
有効径の大きいもの、焦点距離の長いものが望ま
しく、例えば焦点距離が17mm、NAが0.14のもの
である。又、遮光板１１の中心孔１１ａは直径
（又は幅）が60μｍ、厚さが10μｍのものである。
又、レーザビームＬの波長は830mmである。又、
ビーム間間隔は75μｍ、記録媒体６のビームのス
ポツトサイズは7μｍである。
有効径の大きいもの、焦点距離の長いものが望ま
しく、例えば焦点距離が17mm、NAが0.14のもの
である。又、遮光板１１の中心孔１１ａは直径
（又は幅）が60μｍ、厚さが10μｍのものである。
又、レーザビームＬの波長は830mmである。又、
ビーム間間隔は75μｍ、記録媒体６のビームのス
ポツトサイズは7μｍである。
しかして、第１図Ａに示すように、半導体レー
ザ素子１より出射した発散レーザビームはコリメ
ータレンズ２で平行ビームとなされ、レンズ９に
入射して集束され、更にレンズ１０に入射して再
び平行ビームとなされて回折回格子１１に入射せ
しめられる。そして、遮光板１１をレンズ９を出
射した集束ビームの集束点付近に設ける。１１ａ
は遮光板１１の中心孔（スリツト）で、中心ビー
ムのみを通過させるためのものである。その他の
構成は第３図〜第７図と同様である。
ザ素子１より出射した発散レーザビームはコリメ
ータレンズ２で平行ビームとなされ、レンズ９に
入射して集束され、更にレンズ１０に入射して再
び平行ビームとなされて回折回格子１１に入射せ
しめられる。そして、遮光板１１をレンズ９を出
射した集束ビームの集束点付近に設ける。１１ａ
は遮光板１１の中心孔（スリツト）で、中心ビー
ムのみを通過させるためのものである。その他の
構成は第３図〜第７図と同様である。
かくすると、第１図Ｂに示す如く、記録媒体６
より反射し、対物レンズ５、ビームスプリツタ４
及び回折格子３を通過して半導体レーザ素子１に
向う中心ビームLa及びその両側の両側ビームLb，
Lcのうち中心ビームLaは遮光板１１の中心孔
（スリツト）１１ａを通過するも、両側ビーム
Lb，Lcは遮光板１１で遮られる。尚、遮光板１
１の回折格子３側の面は光吸収性又は光乱反射性
を付与してある。
より反射し、対物レンズ５、ビームスプリツタ４
及び回折格子３を通過して半導体レーザ素子１に
向う中心ビームLa及びその両側の両側ビームLb，
Lcのうち中心ビームLaは遮光板１１の中心孔
（スリツト）１１ａを通過するも、両側ビーム
Lb，Lcは遮光板１１で遮られる。尚、遮光板１
１の回折格子３側の面は光吸収性又は光乱反射性
を付与してある。
第２図に、第６図に於けるタンジエンスキユー
角α°に対するトラツキングエラー信号Seのレベ
ル変化の特性を、本発明の如きレンズ９，１０及
び遮光体１１を設けない場合と、設けた場合とで
夫々曲線ａ，ｂにて示し、曲線（実線）ａに比し
曲線（波線）ｂの方が振幅レベルがかなり小さく
なつている。
角α°に対するトラツキングエラー信号Seのレベ
ル変化の特性を、本発明の如きレンズ９，１０及
び遮光体１１を設けない場合と、設けた場合とで
夫々曲線ａ，ｂにて示し、曲線（実線）ａに比し
曲線（波線）ｂの方が振幅レベルがかなり小さく
なつている。
かくして、かかる光学式ヘツドのトラツキング
誤差検出装置によれば、光学式記録媒体で反射し
たビームが対物レンズ５、ビームスプリツタ４及
び回折格子３を通じて半導体レーザ素子１に向か
つても、そのレーザビーム出射端面１Ａで反射す
る虞がないので、光学式ヘツドOHの０次ビーム
の光学式記録媒体に対するタンジエンシヤルスキ
ユー角の変化によつて変化する虞のないトラツキ
ングエラー信号を得ることができる。
誤差検出装置によれば、光学式記録媒体で反射し
たビームが対物レンズ５、ビームスプリツタ４及
び回折格子３を通じて半導体レーザ素子１に向か
つても、そのレーザビーム出射端面１Ａで反射す
る虞がないので、光学式ヘツドOHの０次ビーム
の光学式記録媒体に対するタンジエンシヤルスキ
ユー角の変化によつて変化する虞のないトラツキ
ングエラー信号を得ることができる。
発明の効果
上述せる本発明によれば、この種光学式ヘツド
のトラツキング誤差検出装置に於いて、光学式ヘ
ツドの０次ビームの光学式記録媒体に対するタン
ジエンシヤルスキユー角の変化によつては変化す
る虞のないトラツキングエラー信号を得ることの
できるものを得ることができる。
のトラツキング誤差検出装置に於いて、光学式ヘ
ツドの０次ビームの光学式記録媒体に対するタン
ジエンシヤルスキユー角の変化によつては変化す
る虞のないトラツキングエラー信号を得ることの
できるものを得ることができる。
第１図及び第２図は本発明による光学式ヘツド
のトラツキング誤差検出装置の一実施例の要部を
示す配置図及びその説明に供する波形図、第３図
は従来の光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装
置を示す略線的配置図、第４図及び第５図は従来
の光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置に於
ける半導体レーザ素子の一例を示す正面図、第６
図は波形図、第７図は干渉の説明に供する線図で
ある。 OHは光学ヘツド、１は半導体レーザ素子、１
Ａはそのレーザビーム出力端面、１ｄはその活性
層、２はコリメータレンズ、３は回折格子、４は
ビームスプリツタ、５は対物レンズ、６は光学式
記録媒体、９，１０は正レンズ、１１は光遮蔽
体、１１ａはその中心孔（スリツト）である。
のトラツキング誤差検出装置の一実施例の要部を
示す配置図及びその説明に供する波形図、第３図
は従来の光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装
置を示す略線的配置図、第４図及び第５図は従来
の光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置に於
ける半導体レーザ素子の一例を示す正面図、第６
図は波形図、第７図は干渉の説明に供する線図で
ある。 OHは光学ヘツド、１は半導体レーザ素子、１
Ａはそのレーザビーム出力端面、１ｄはその活性
層、２はコリメータレンズ、３は回折格子、４は
ビームスプリツタ、５は対物レンズ、６は光学式
記録媒体、９，１０は正レンズ、１１は光遮蔽
体、１１ａはその中心孔（スリツト）である。
Claims (1)
- １ 半導体レーザ素子と、該半導体レーザ素子よ
りのレーザビームが入射せしめられる回折格子
と、該回折格子より出射した０次ビーム及び±１
次ビームが通過せしめられるビームスプリツタ
と、該ビームスプリツタより出射した０次ビーム
及び±１次ビームが集束せしめられて光学式記録
媒体に入射せしめられる対物レンズと、上記光学
式記録媒体により反射せしめられた０次ビーム及
び±１次ビームが上記対物レンズを通過し、更に
上記ビームスプリツタの反射面で反射した後、入
射せしめられる光検出器とを有し、該光検出器よ
り上記±１次ビームに対応した一対の光検出出力
を得、該一対の光検出出力の差に基づいて上記０
次ビームの上記光学式記録媒体上のトラツキング
状態に応じたトラツキング誤差信号を得るように
した光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置に
於いて、上記半導体レーザ素子及び上記回折格子
間に、一対の正レンズと、該一対の正レンズ間に
配され、上記光学式記録媒体より反射し、上記対
物レンズ、上記ビームスプリツタ及び上記回折格
子を通過して上記半導体レーザ素子に向かう中心
ビーム及びその両側の両側ビームのうち該中心ビ
ームを通過させるも該両側ビームを遮る遮光体と
を設けたことを特徴とする光学式ヘツドのトラツ
キング誤差検出装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14576884A JPS6124033A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置 |
| DE8585903393T DE3568661D1 (en) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | Apparatus for detecting tracking error of optical head |
| PCT/JP1985/000391 WO1986000742A1 (en) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | Apparatus for detecting tracking error of optical head |
| AT85903393T ATE41258T1 (de) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | Vorrichtung zum nachweis eines spurfehlers eines optischen kopfes. |
| KR1019860700143A KR930007175B1 (ko) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | 광학식 헤드의 트랙킹 오차 검출장치 |
| EP85903393A EP0188624B1 (en) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | Apparatus for detecting tracking error of optical head |
| US06/844,178 US4766585A (en) | 1984-07-13 | 1985-07-11 | Tracking error detecting apparatus for optical head |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14576884A JPS6124033A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6124033A JPS6124033A (ja) | 1986-02-01 |
| JPH0513334B2 true JPH0513334B2 (ja) | 1993-02-22 |
Family
ID=15392710
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14576884A Granted JPS6124033A (ja) | 1984-07-13 | 1984-07-13 | 光学式ヘツドのトラツキング誤差検出装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4766585A (ja) |
| EP (1) | EP0188624B1 (ja) |
| JP (1) | JPS6124033A (ja) |
| KR (1) | KR930007175B1 (ja) |
| DE (1) | DE3568661D1 (ja) |
| WO (1) | WO1986000742A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3855936T2 (de) * | 1987-08-24 | 1998-01-02 | Sharp Kk | Optische Abtastvorrichtung |
| GB2209089B (en) * | 1987-08-26 | 1991-07-03 | Sony Corp | Optical recording and/or reproducing apparatus. |
| DE68924303T2 (de) * | 1988-06-14 | 1996-02-29 | Nec Corp | Optische Kopfanordnung. |
| DE68923833T2 (de) * | 1988-06-20 | 1996-06-13 | Mitsubishi Electric Corp | Optischer Kopf mit Kippkorrekturservomechanismus. |
| NL8802988A (nl) * | 1988-12-05 | 1990-07-02 | Philips Nv | Inrichting voor het met optische straling aftasten van een informatievlak. |
| JPH0778904B2 (ja) * | 1989-01-27 | 1995-08-23 | シャープ株式会社 | 光ピックアップ装置 |
| US5247510A (en) * | 1990-06-29 | 1993-09-21 | Digital Equipment Corporation | Increasing storage density of optical data media by detecting a selected portion of a light spot image corresponding to a single domain |
| JP2973637B2 (ja) * | 1991-09-27 | 1999-11-08 | 松下電器産業株式会社 | 三次元測定装置 |
| CN1328723C (zh) * | 2001-06-29 | 2007-07-25 | 松下电器产业株式会社 | 光盘原盘曝光装置和光盘原盘曝光方法以及针孔机构 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4160269A (en) * | 1971-03-04 | 1979-07-03 | U.S. Philips Corporation | Apparatus for optically reading a phase-modulated optical record carrier |
| NL7506495A (nl) * | 1975-06-02 | 1976-12-06 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen van een registratie- drager. |
| US4180822A (en) * | 1978-04-13 | 1979-12-25 | Rca Corporation | Optical scanner and recorder |
| JPS56116004A (en) * | 1980-02-20 | 1981-09-11 | Olympus Optical Co Ltd | Lens for video disk |
| US4349901A (en) * | 1980-06-20 | 1982-09-14 | Eastman Kodak Company | Apparatus and method for reading optical discs |
| JPS5814332A (ja) * | 1981-07-16 | 1983-01-27 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式情報再生装置 |
| NL8104946A (nl) * | 1981-11-02 | 1983-06-01 | Philips Nv | Inrichting voor het uitlezen en/of inschrijven van een optisch uitleesbare informatiestructuur op een registratiedrager. |
| US4462095A (en) * | 1982-03-19 | 1984-07-24 | Magnetic Peripherals Inc. | Moving diffraction grating for an information track centering system for optical recording |
| JPS58208939A (ja) * | 1982-05-28 | 1983-12-05 | Akai Electric Co Ltd | 光ピツクアツプのトラツキングエラ−信号検出方法 |
| JPS5958637A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Sony Corp | 光学式再生装置 |
-
1984
- 1984-07-13 JP JP14576884A patent/JPS6124033A/ja active Granted
-
1985
- 1985-07-11 EP EP85903393A patent/EP0188624B1/en not_active Expired
- 1985-07-11 KR KR1019860700143A patent/KR930007175B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1985-07-11 DE DE8585903393T patent/DE3568661D1/de not_active Expired
- 1985-07-11 WO PCT/JP1985/000391 patent/WO1986000742A1/ja active IP Right Grant
- 1985-07-11 US US06/844,178 patent/US4766585A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4766585A (en) | 1988-08-23 |
| JPS6124033A (ja) | 1986-02-01 |
| KR930007175B1 (ko) | 1993-07-31 |
| EP0188624B1 (en) | 1989-03-08 |
| EP0188624A1 (en) | 1986-07-30 |
| DE3568661D1 (en) | 1989-04-13 |
| WO1986000742A1 (en) | 1986-01-30 |
| EP0188624A4 (en) | 1986-12-01 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |