JPH05128594A - 変位量測定方法 - Google Patents
変位量測定方法Info
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- JPH05128594A JPH05128594A JP3311522A JP31152291A JPH05128594A JP H05128594 A JPH05128594 A JP H05128594A JP 3311522 A JP3311522 A JP 3311522A JP 31152291 A JP31152291 A JP 31152291A JP H05128594 A JPH05128594 A JP H05128594A
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- Japan
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- center
- groove
- wobble
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/24—Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
- G11B7/26—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0938—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following servo format, e.g. guide tracks, pilot signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 カッティングのずれを的確に把握することを
可能とし、マスタリング工程にフィードバックして正確
なカッティングを可能とする。 【構成】 プリピットパターンとグルーブが設けられた
光ディスクあるいはディスクスタンパに対して、グルー
ブセンターにトラッキングをかけて光ビームを走査し、
プリピットパターンとして設けられるウォブルピット対
からの再生出力差より変位量を求める。あるいは、ウォ
ブルピット対からの再生出力が等しくなるように光ビー
ムを走査し、トラッキングエラー信号のオフセット量よ
り変位量を求める。
可能とし、マスタリング工程にフィードバックして正確
なカッティングを可能とする。 【構成】 プリピットパターンとグルーブが設けられた
光ディスクあるいはディスクスタンパに対して、グルー
ブセンターにトラッキングをかけて光ビームを走査し、
プリピットパターンとして設けられるウォブルピット対
からの再生出力差より変位量を求める。あるいは、ウォ
ブルピット対からの再生出力が等しくなるように光ビー
ムを走査し、トラッキングエラー信号のオフセット量よ
り変位量を求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サンプル・サーボ・ト
ラッキング方式で且つ記録トラック間に溝を有する光デ
ィスクの前記溝中心と制御用プリピットパターンとの変
位量を測定するための変位量測定方法に関するものであ
る。
ラッキング方式で且つ記録トラック間に溝を有する光デ
ィスクの前記溝中心と制御用プリピットパターンとの変
位量を測定するための変位量測定方法に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクへの情報信号の記録は、線速
度一定あるいは角速度一定で回転操作される光ディスク
に対して光学ピックアップ装置から光ビームを照射する
ことによって行われるが、正確に情報信号の記録を行う
ためには光ビームが記録トラックを正確にトラッキング
する必要がある。
度一定あるいは角速度一定で回転操作される光ディスク
に対して光学ピックアップ装置から光ビームを照射する
ことによって行われるが、正確に情報信号の記録を行う
ためには光ビームが記録トラックを正確にトラッキング
する必要がある。
【０００３】したがって、トラッキング制御を行うため
のトラッキング方式が種々提案されており、サンプル・
サーボ・トラッキング方式もその一つである。
のトラッキング方式が種々提案されており、サンプル・
サーボ・トラッキング方式もその一つである。
【０００４】前記サンプル・サーボ・トラッキング方式
は、ディスク基板にいわゆるプリグルーブ（案内溝）を
設けるのではなく、制御用のプリピットパターンを設け
ることによってトラッキングをとる方式である。したが
って、サンプル・サーボ・トラッキング方式の光ディス
クには、クロックの同期を図るためのクロックピットや
トラッキングエラー信号を得るためのウォブルピットが
記録トラックの中心線に沿ってディスク基板の成形時に
プリピットパターンとして形成される。
は、ディスク基板にいわゆるプリグルーブ（案内溝）を
設けるのではなく、制御用のプリピットパターンを設け
ることによってトラッキングをとる方式である。したが
って、サンプル・サーボ・トラッキング方式の光ディス
クには、クロックの同期を図るためのクロックピットや
トラッキングエラー信号を得るためのウォブルピットが
記録トラックの中心線に沿ってディスク基板の成形時に
プリピットパターンとして形成される。
【０００５】ところで、上述のサンプル・サーボ・トラ
ッキング方式の光ディスクでは、ディスク基板を成形す
る際に、ゴーストピットや偏光異常が発生することが指
摘されており、本願出願人は、先に、サンプル・サーボ
・トラッキング方式の光ディスクにおいてもデータエリ
アにグルーブ（溝）を設けることによってこの問題を解
消することを提案している。
ッキング方式の光ディスクでは、ディスク基板を成形す
る際に、ゴーストピットや偏光異常が発生することが指
摘されており、本願出願人は、先に、サンプル・サーボ
・トラッキング方式の光ディスクにおいてもデータエリ
アにグルーブ（溝）を設けることによってこの問題を解
消することを提案している。
【０００６】前記溝を設けると、成形時にスタンパーか
らの剥離が容易なものとなり、ゴーストピットや偏光異
常部分の形成が防止され、光学特性の良好な光ディスク
を得ることができる。
らの剥離が容易なものとなり、ゴーストピットや偏光異
常部分の形成が防止され、光学特性の良好な光ディスク
を得ることができる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】前述のような溝を設け
た光ディスクを作製する場合、プリピットパターンとデ
ータエリアに設けるグルーブを同時に一つのレーザービ
ームでカッティングすることは不可能であるため、マス
タリングプロセスにおいては、カッティング用のレーザ
ービームをプリピットパターン作成用とグルーブ作成用
の２本に分割し、これら２つのビームでカッティングを
行わざるを得ない。
た光ディスクを作製する場合、プリピットパターンとデ
ータエリアに設けるグルーブを同時に一つのレーザービ
ームでカッティングすることは不可能であるため、マス
タリングプロセスにおいては、カッティング用のレーザ
ービームをプリピットパターン作成用とグルーブ作成用
の２本に分割し、これら２つのビームでカッティングを
行わざるを得ない。
【０００８】しかしながら、グルーブの間隔は１．６μ
ｍ程度であり、グルーブ間のランド部のセンターにクロ
ックピットが正確に位置するように両ビームの位置合わ
せを行うのは相対距離が極めて小さいために非常に困難
である。
ｍ程度であり、グルーブ間のランド部のセンターにクロ
ックピットが正確に位置するように両ビームの位置合わ
せを行うのは相対距離が極めて小さいために非常に困難
である。
【０００９】したがって、カッティングの後にその変位
量（ずれ）を測定し、マスタリングプロセスにフィード
バックしてなるべく正確なカッティングが行われるよう
に両ビームの位置を調整する必要がある。ところが、こ
れまで前記ずれを正確に把握するための測定技術につい
ては検討されたことがなく、当然その測定方法も確立さ
れていない。
量（ずれ）を測定し、マスタリングプロセスにフィード
バックしてなるべく正確なカッティングが行われるよう
に両ビームの位置を調整する必要がある。ところが、こ
れまで前記ずれを正確に把握するための測定技術につい
ては検討されたことがなく、当然その測定方法も確立さ
れていない。
【００１０】そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑み
て提案されたものであって、ウォブルピットのセンター
とグルーブのセンターのずれ量（変位量）を簡単に測定
することができ、速やかにマスタリングプロセスにフィ
ードバックすることが可能な変位量測定方法を提供する
ことを目的とする。
て提案されたものであって、ウォブルピットのセンター
とグルーブのセンターのずれ量（変位量）を簡単に測定
することができ、速やかにマスタリングプロセスにフィ
ードバックすることが可能な変位量測定方法を提供する
ことを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明の測定方法は、記録トラックが螺旋状また
は同心円状に形成されるとともに、上記記録トラックに
沿ってクロックピット及び一対のウォブルピットからな
る制御用プリピットパターンが形成され、さらに周方向
に延在する溝が前記記録トラック間に形成されてなる光
ディスクに対し、上記溝間のランド部にトラッキングを
かけながら光ビームを走査し、上記ウォブルピット対か
らの再生出力の差により溝中心と制御用プリピットパタ
ーンの変位量を測定することを特徴とするものであり、
さらにはウォブルピット対からの再生出力が同一となる
ように光ビームを走査し、上記溝間のランド部のトラッ
キングエラー信号により溝中心と制御用プリピットパタ
ーンの変位量を測定することを特徴とするものである。
めに、本発明の測定方法は、記録トラックが螺旋状また
は同心円状に形成されるとともに、上記記録トラックに
沿ってクロックピット及び一対のウォブルピットからな
る制御用プリピットパターンが形成され、さらに周方向
に延在する溝が前記記録トラック間に形成されてなる光
ディスクに対し、上記溝間のランド部にトラッキングを
かけながら光ビームを走査し、上記ウォブルピット対か
らの再生出力の差により溝中心と制御用プリピットパタ
ーンの変位量を測定することを特徴とするものであり、
さらにはウォブルピット対からの再生出力が同一となる
ように光ビームを走査し、上記溝間のランド部のトラッ
キングエラー信号により溝中心と制御用プリピットパタ
ーンの変位量を測定することを特徴とするものである。
【００１２】
【作用】サンプル・サーボ・トラッキング方式で且つデ
ータ部にグルーブを有する光ディスクにおいて、グルー
ブのセンター（ランド部）に連続的にトラッキングをか
けてウォブルピットの変調度を測定した場合、ウォブル
ピットのセンターとグルーブのセンターにずれ（変位）
があると変調度に差が生ずる。
ータ部にグルーブを有する光ディスクにおいて、グルー
ブのセンター（ランド部）に連続的にトラッキングをか
けてウォブルピットの変調度を測定した場合、ウォブル
ピットのセンターとグルーブのセンターにずれ（変位）
があると変調度に差が生ずる。
【００１３】したがって、このウォブルピットの変調度
の差を測定することで、ウォブルピットのセンターとグ
ルーブのセンターのずれ量及びその方向が求められる。
の差を測定することで、ウォブルピットのセンターとグ
ルーブのセンターのずれ量及びその方向が求められる。
【００１４】また、グルーブにトラッキングをかけて、
ウォブルピットの変調度が等しくなるようにトラッキン
グ・オフセットを調整すると、トラッキングエラー信号
がオフセット量（ＤＣ成分）を持つ。そして、このオフ
セット量とグルーブ部のプッシュ・プル信号とから、同
様にウォブルピットのセンターとグルーブのセンターの
ずれ量が算出される。
ウォブルピットの変調度が等しくなるようにトラッキン
グ・オフセットを調整すると、トラッキングエラー信号
がオフセット量（ＤＣ成分）を持つ。そして、このオフ
セット量とグルーブ部のプッシュ・プル信号とから、同
様にウォブルピットのセンターとグルーブのセンターの
ずれ量が算出される。
【００１５】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、図面を参照しながら詳細に説明する。
いて、図面を参照しながら詳細に説明する。
【００１６】先ず、本実施例において測定対象となる光
ディスクは、サンプル・サーボ・トラッキング方式の光
ディスクである。したがって、ディスク基板１には、図
１に示すように、所定の情報信号が記録されるべき螺旋
状または同心円状の記録トラックの中心線（ｔ1 ）を基
準線として制御用のプリピットパターン２が形成されて
いる。
ディスクは、サンプル・サーボ・トラッキング方式の光
ディスクである。したがって、ディスク基板１には、図
１に示すように、所定の情報信号が記録されるべき螺旋
状または同心円状の記録トラックの中心線（ｔ1 ）を基
準線として制御用のプリピットパターン２が形成されて
いる。
【００１７】これらプリピットパターン２は、クロック
の同期を図るためのクロックピット３と、トラッキング
エラー信号を得るための一対のウォブルピット４ａ，４
ｂとからなるもので、前記クロックピット３は記録トラ
ックの中心線（ｔ1 ）位置に、またウォブルピット４
ａ，４ｂは前記中心線を挟んで両側に中心線から若干の
ずれをもって配されている。
の同期を図るためのクロックピット３と、トラッキング
エラー信号を得るための一対のウォブルピット４ａ，４
ｂとからなるもので、前記クロックピット３は記録トラ
ックの中心線（ｔ1 ）位置に、またウォブルピット４
ａ，４ｂは前記中心線を挟んで両側に中心線から若干の
ずれをもって配されている。
【００１８】また、上記ディスク基板１においては、基
板１の径方向に配列される記録トラック間の領域（情報
信号が記録される記録トラック領域から外れた領域）に
凹状溝５が形成されている。この凹状溝５は、各プリピ
ットパターン２より十分に長尺であって且つ深さも深く
形成されてなるものであって、前記記録トラックの中心
線の両側に適当な間隔を隔てて設けられている。
板１の径方向に配列される記録トラック間の領域（情報
信号が記録される記録トラック領域から外れた領域）に
凹状溝５が形成されている。この凹状溝５は、各プリピ
ットパターン２より十分に長尺であって且つ深さも深く
形成されてなるものであって、前記記録トラックの中心
線の両側に適当な間隔を隔てて設けられている。
【００１９】上記凹状溝５は、ディスク基板１を成形す
る際に少なくともプリピットパターン２を形成する部分
におけるスタンパの離型性を良好なものとなし、離型ム
ラによるゴーストピットの発生等を抑えるために設けら
れるもので、スタンパの離型性等を考慮して、情報信号
が記録される記録トラックに影響を与えない位置に適当
な長さ及び間隔をもって複数設けられる。
る際に少なくともプリピットパターン２を形成する部分
におけるスタンパの離型性を良好なものとなし、離型ム
ラによるゴーストピットの発生等を抑えるために設けら
れるもので、スタンパの離型性等を考慮して、情報信号
が記録される記録トラックに影響を与えない位置に適当
な長さ及び間隔をもって複数設けられる。
【００２０】上述のような光ディスクの作製過程におい
ては、プリピットパターン２と凹状溝５とを別々にカッ
ティングしてマスタリング工程を行っているので、完成
した光ディスクにおけるプリピットパターン２と凹状溝
５のずれ量（変位量）を速やかに測定し、異常があった
場合には直ちにマスタリング工程にフィードバックする
必要がある。
ては、プリピットパターン２と凹状溝５とを別々にカッ
ティングしてマスタリング工程を行っているので、完成
した光ディスクにおけるプリピットパターン２と凹状溝
５のずれ量（変位量）を速やかに測定し、異常があった
場合には直ちにマスタリング工程にフィードバックする
必要がある。
【００２１】そこで、次にこれらプリピットパターン２
と凹状溝５のずれ量（変位量）の測定方法について説明
する。
と凹状溝５のずれ量（変位量）の測定方法について説明
する。
【００２２】先ず、ディスク基板１が理想状態の時、す
なわち図２のＡに示すように記録トラックの中心線ｔ1
（ウォブルピット４ａ，４ｂのセンター）と凹状溝５の
センターｔ2 が完全に一致している時には、凹状溝５の
センターｔ2 にプッシュ・プル法等でトラッキングをか
けて測定されるＲＦ信号（図２のＢ）におけるウォブル
ピット４ａ，４ｂの変調度は一致する。
なわち図２のＡに示すように記録トラックの中心線ｔ1
（ウォブルピット４ａ，４ｂのセンター）と凹状溝５の
センターｔ2 が完全に一致している時には、凹状溝５の
センターｔ2 にプッシュ・プル法等でトラッキングをか
けて測定されるＲＦ信号（図２のＢ）におけるウォブル
ピット４ａ，４ｂの変調度は一致する。
【００２３】ところが、実際のディスク基板１では必ず
と言って良いほどウォブルピット４ａ，４ｂのセンター
と凹状溝５のセンターが一致せず、図３のＡに示すよう
にある程度のずれ量を持つ。このようにウォブルピット
４ａ，４ｂのセンターと凹状溝５のセンターがずれてい
る時には、図３Ｂに示すようなＲＦ信号が出力される。
すなわち、凹状溝５のセンターｔ2 に近づく方向にある
ウォブルピット４ａの変調度が大きくなり、凹状溝５の
センターｔ2 から離れる方向にあるウォブルピット４ｂ
の変調度が小さくなる。
と言って良いほどウォブルピット４ａ，４ｂのセンター
と凹状溝５のセンターが一致せず、図３のＡに示すよう
にある程度のずれ量を持つ。このようにウォブルピット
４ａ，４ｂのセンターと凹状溝５のセンターがずれてい
る時には、図３Ｂに示すようなＲＦ信号が出力される。
すなわち、凹状溝５のセンターｔ2 に近づく方向にある
ウォブルピット４ａの変調度が大きくなり、凹状溝５の
センターｔ2 から離れる方向にあるウォブルピット４ｂ
の変調度が小さくなる。
【００２４】このとき、ウォブルピット４ａとウォブル
ピット４ｂの変調度の差Δｄは、凹状溝５のセンターｔ
2 と記録トラックの中心線ｔ1 （＝ウォブルピット４
ａ，４ｂのセンター）のずれ量に比例するので、この信
号量（Δｄ）を測定すれば前記ずれ量を求めることがで
きる。また、図３の場合と反対方向に凹状溝５のセンタ
ーがずれている時には、ＲＦ信号においてウォブルピッ
ト４ａの変調度が小さくなり、ウォブルピット４ｂの変
調度が大きくなるので、凹状溝５のセンターｔ2 のずれ
の方向も知ることができる。
ピット４ｂの変調度の差Δｄは、凹状溝５のセンターｔ
2 と記録トラックの中心線ｔ1 （＝ウォブルピット４
ａ，４ｂのセンター）のずれ量に比例するので、この信
号量（Δｄ）を測定すれば前記ずれ量を求めることがで
きる。また、図３の場合と反対方向に凹状溝５のセンタ
ーがずれている時には、ＲＦ信号においてウォブルピッ
ト４ａの変調度が小さくなり、ウォブルピット４ｂの変
調度が大きくなるので、凹状溝５のセンターｔ2 のずれ
の方向も知ることができる。
【００２５】以上は、ウォブルピット４ａ，４ｂの変調
度の差からずれ量を測定する方法であるが、トラッキン
グオフセットを調整し、トラッキングエラー信号のオフ
セット量から前記ずれ量を測定することもできる。
度の差からずれ量を測定する方法であるが、トラッキン
グオフセットを調整し、トラッキングエラー信号のオフ
セット量から前記ずれ量を測定することもできる。
【００２６】先ず、図２に示すような理想状態の時に
は、凹状溝５でのトラッキングエラー信号は図２のＣに
示すようにほぼ零になる。これに対して、図３に示すよ
うにウォブルピット４ａ，４ｂのセンターと凹状溝５の
センターが一致していない場合には、図３Ｃに示すよう
にトラッキングエラー信号は凹状溝５でほぼ零を示す
が、ウォブルピット４ａとウォブルピット４ｂの変調度
に差が生ずる。これは、ピックアップのレーザービーム
が凹状溝５のセンターを通っており、ウォブルピット４
ａ，４ｂのセンターを通っていないことを示している。
は、凹状溝５でのトラッキングエラー信号は図２のＣに
示すようにほぼ零になる。これに対して、図３に示すよ
うにウォブルピット４ａ，４ｂのセンターと凹状溝５の
センターが一致していない場合には、図３Ｃに示すよう
にトラッキングエラー信号は凹状溝５でほぼ零を示す
が、ウォブルピット４ａとウォブルピット４ｂの変調度
に差が生ずる。これは、ピックアップのレーザービーム
が凹状溝５のセンターを通っており、ウォブルピット４
ａ，４ｂのセンターを通っていないことを示している。
【００２７】そこで、トラッキングオフセットを調整し
てレーザービームがウォブルピット４ａ，４ｂのセンタ
ーを通るようにする。すなわち、図４のＡに示すよう
に、ＲＦ信号におけるウォブルピット４ａ，４ｂの変調
度が等しくなるようにトラッキングをずらす。すると、
図４Ｂに示すようにトラッキングエラー信号がオフセッ
ト量ΔＤを持つ。そこで、このオフセット量ΔＤと凹状
溝５におけるプッシュ・プル信号を用いて計算すれば
凹状溝５のセンターｔ2 と記録トラックの中心線ｔ
1 （＝ウォブルピット４ａ，４ｂのセンター）のずれ量
を算出することができる。
てレーザービームがウォブルピット４ａ，４ｂのセンタ
ーを通るようにする。すなわち、図４のＡに示すよう
に、ＲＦ信号におけるウォブルピット４ａ，４ｂの変調
度が等しくなるようにトラッキングをずらす。すると、
図４Ｂに示すようにトラッキングエラー信号がオフセッ
ト量ΔＤを持つ。そこで、このオフセット量ΔＤと凹状
溝５におけるプッシュ・プル信号を用いて計算すれば
凹状溝５のセンターｔ2 と記録トラックの中心線ｔ
1 （＝ウォブルピット４ａ，４ｂのセンター）のずれ量
を算出することができる。
【００２８】以上、光ディスクに対する測定方法を例に
して本発明を説明してきたが、本発明はこれら実施例に
限定されるものではなく、例えばスタンパに対して上述
の測定を行うようにしてもよい。
して本発明を説明してきたが、本発明はこれら実施例に
限定されるものではなく、例えばスタンパに対して上述
の測定を行うようにしてもよい。
【００２９】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明よれば、ウォブルピットのセンターとグルーブのセン
ターのずれ量（変位量）を破壊検査を行うことなく電気
信号により簡単に測定することができる。また、破壊検
査に比べて測定時間を短縮することができ、速やかにマ
スタリングプロセスにフィードバックすることが可能で
ある。
明よれば、ウォブルピットのセンターとグルーブのセン
ターのずれ量（変位量）を破壊検査を行うことなく電気
信号により簡単に測定することができる。また、破壊検
査に比べて測定時間を短縮することができ、速やかにマ
スタリングプロセスにフィードバックすることが可能で
ある。
【００３０】さらに、本発明によれば、これまでのコン
ティニアスサーボ系の評価機で測定を行うことができ、
新たにサンプルドサーボ系の評価機を用いる必要がない
等の利点も有する。
ティニアスサーボ系の評価機で測定を行うことができ、
新たにサンプルドサーボ系の評価機を用いる必要がない
等の利点も有する。
【図１】サンプル・サーボ・トラッキング方式のディス
ク基板の一例を示す要部概略斜視図である。
ク基板の一例を示す要部概略斜視図である。
【図２】プリピットパターンと凹状溝の理想的な位置関
係及びそのときのＲＦ信号，トラッキングエラー信号を
示す模式図である。
係及びそのときのＲＦ信号，トラッキングエラー信号を
示す模式図である。
【図３】プリピットパターンと凹状溝がずれた場合の位
置関係及びそのときのＲＦ信号，トラッキングエラー信
号を示す模式図である。
置関係及びそのときのＲＦ信号，トラッキングエラー信
号を示す模式図である。
【図４】ウォブルピットの変調度が一致するようにトラ
ッキングをずらしたときのＲＦ信号とトラッキングエラ
ー信号を示す波形図である。
ッキングをずらしたときのＲＦ信号とトラッキングエラ
ー信号を示す波形図である。
１・・・ディスク基板 ２・・・プリピットパターン ３・・・クロックピット ４・・・ウォブルピット ５・・・凹状溝
Claims (2)
- 【請求項１】 記録トラックが螺旋状または同心円状に
形成されるとともに、上記記録トラックに沿ってクロッ
クピット及び一対のウォブルピットからなる制御用プリ
ピットパターンが形成され、さらに周方向に延在する溝
が前記記録トラック間に形成されてなる光ディスクに対
し、 上記溝間のランド部にトラッキングをかけながら光ビー
ムを走査し、上記ウォブルピット対からの再生出力の差
により溝中心と制御用プリピットパターンの変位量を測
定することを特徴とする変位量測定方法。 - 【請求項２】 記録トラックが螺旋状または同心円状に
形成されるとともに、上記記録トラックに沿ってクロッ
クピット及び一対のウォブルピットからなる制御用プリ
ピットパターンが形成され、さらに周方向に延在する溝
が前記記録トラック間に形成されてなる光ディスクに対
し、 上記ウォブルピット対からの再生出力が同一となるよう
に光ビームを走査し、上記溝間のランド部のトラッキン
グエラー信号により溝中心と制御用プリピットパターン
の変位量を測定することを特徴とする変位量測定方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3311522A JPH05128594A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 変位量測定方法 |
| PCT/JP1992/001412 WO1993009536A1 (en) | 1991-10-31 | 1992-10-30 | Method for measuring quantity of displacement |
| EP92922199A EP0565731B1 (en) | 1991-10-31 | 1992-10-30 | Method for measuring quantity of displacement |
| US08/078,184 US5715223A (en) | 1991-10-31 | 1992-10-30 | Method of measuring a deviation between a centerline between grooves and a control prepit pattern on a disc |
| DE69226256T DE69226256T2 (de) | 1991-10-31 | 1992-10-30 | Verfahren zur messung der verschiebungsquantität |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3311522A JPH05128594A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 変位量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05128594A true JPH05128594A (ja) | 1993-05-25 |
Family
ID=18018254
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3311522A Pending JPH05128594A (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | 変位量測定方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5715223A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| USRE35725E (en) * | 1992-04-02 | 1998-02-10 | Saes Pure Gas, Inc. | Method and apparatus for removing residual hydrogen from a purified gas |
| CN104030259A (zh) * | 2014-06-06 | 2014-09-10 | 上海大学 | 一种净化高纯氩气的装置 |
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