JPH05109849A - 基板外観検査装置 - Google Patents

基板外観検査装置

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JPH05109849A
JPH05109849A JP26630791A JP26630791A JPH05109849A JP H05109849 A JPH05109849 A JP H05109849A JP 26630791 A JP26630791 A JP 26630791A JP 26630791 A JP26630791 A JP 26630791A JP H05109849 A JPH05109849 A JP H05109849A
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carrier
holding
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Hiroyasu Hebiishi
広康 蛇石
Toru Akiba
徹 秋葉
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    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing

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  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】簡単且つコンパクトな構成であり、検査に移る
までの時間が短縮できると共に、安全且つ確実に基板の
検査が可能な基板外観検査装置を提供する。 【構成】本発明は、基板36を回動させて、基板36の
外観を検査する検査装置40を有する基板外観検査装置
である。検査装置40は、キャリア42に収納された基
板36を保持可能な吸着保持アーム58と、この吸着保
持アーム58を回動可能に支持する回動機構60と、こ
の回動機構60をキャリア42に接近あるいは離間する
方向に移動可能に支持して、吸着保持アーム58をキャ
リア42に対して挿入あるいは離脱させる案内機構62
と、を備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、ウエハ又は液
晶ガラス板等の基板の外観を検査するための装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の装置には、例えば、図1
1に模式的に示すような装置が知られている。このよう
な装置は、キャリア2に複数枚配置された基板4の間の
空間に、平行に、図示しない駆動機構によって取出アー
ム6を挿入し、この取出アーム6に基板4を吸着保持さ
せた後、取出アーム6をキャリア2から引き抜いて、検
査領域8に基板4を移動させるように構成されている。
検査領域8に達すると、取出アーム6が目視検査装置1
0方向に下降し、基板4を目視検査装置10の保持部1
2に移し換える。保持部12に移し換えられた基板4
は、この保持部12に吸着保持されて、回転揺動され
る。この結果、基板4には、三次元の動きが与えられ、
作業員によって、目視検査が行われる。このような目視
検査装置10は、例えば、特公平2−62950号公報
に開示されたような構成を有する。
【0003】図12には、この目視検査装置10の内部
構成が示されている。図12に示すように、目視検査装
置10は、ケース11内に、基板4(図11参照)を吸
着保持可能な保持部12と、この保持部12を回転可能
に支持する第1のシャフト14と、この第1のシャフト
14の基端側を回転可能に支持する支持アーム16と、
この支持アーム16の基端を枢支するスタンド部18
と、このスタンド部18に水平方向の回転運動を与える
第2のシャフト20と、スタンド部18を保持するラッ
ク22と、このラック22を鉛直方向に昇降させるガイ
ド24と、を備えている。
【0004】このような目視検査装置10によれば、ま
ず、基板4(図11参照)を吸着保持させたまま保持部
12を回転させる場合、第1のモータ26を介して第1
のシャフト14を回転させる。また、基板4(図11参
照)の向きを変える場合、ラック22をガイド24に沿
って下降させる。このラック22の下降により、保持部
12は、第1の枢支点28を中心に矢印S方向に回動さ
れ、基板の向きが変わる。次に、ケース11に対する基
板4の相対的な位置を変化させる場合、第2のモータ3
0を介して第2のシャフト20を回転させる。この結
果、基板4は、ケース11の外周面に沿って公転され
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の外観検
査装置は、その殆どが、キャリア2から基板4を取出す
ための取出手段(即ち、取出アーム6)と、基板4を目
視検査するための検査手段(即ち、目視検査装置10)
と、が独立して構成されている。なぜなら、基板4に対
して揺動運動だけでなく、回転運動も与える必要から構
造上別体とせざるを得ないためである。
【0006】また、基板4、特に液晶用ガラス基板は、
一般的なウエハに比べて精密度の1ランク落ちること
や、基板の大きさが略400×350mmであるため、
回転運動を施すように構成すると、装置の構成が複雑に
なるだけでなく装置の大型化にもつながる。このため、
製造コストが上昇し、不経済である。また、従来の装置
では、取出手段及び検査手段の他に基板4の乗せ換え機
構が必要であるため、構造上複雑であると共に装置が大
型化してしまう。更に、乗せ換えに要する時間が必要で
あるため、検査能率が低下する。また、取出工程から検
査工程への移行に、乗せ換え工程が加わっているため、
高精度を要する基板4に、例えば、外傷が付く確率も上
昇する。
【0007】本発明は、このような弊害を除去するため
になされ、その目的は、簡単且つコンパクトな構成であ
り、検査に移るまでの時間が短縮できると共に、安全且
つ確実に基板の検査が可能な基板外観検査装置を提供す
ることにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明の基板外観検査装置は、基板を回動さ
せて、前記基板の外観を検査する検査装置を有し、前記
検査装置は、収納部に収納された基板を保持可能な保持
手段と、この保持手段を回動可能に支持する回動機構
と、
【0009】この回動機構を前記収納部に接近あるいは
離間する方向に移動可能に支持して、前記保持手段を前
記収納部に対して挿入あるいは離脱させる案内機構と、
を備えている。
【0010】
【作用】本発明は、案内機構を作動させることによっ
て、回動機構が基板と平行に移動され、この回動機構に
支持された保持手段が、収納部に挿入される。収納部に
挿入された保持手段で、所定の基板が保持されると、再
び、案内機構が作動して、回動機構を収納部から離間す
る方向に移動させる。この移動に伴って保持手段が移動
し、基板が収納部から取出される。基板を保持手段に保
持した状態で、次に、回動機構が作動して、保持手段を
回動させる。この回動に伴って、基板は所定の方向に回
動される。この回動中に基板の外観が検査される。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係る基板外観検査
装置について、図1ないし図8を参照して説明する。
【0012】図1に示すように、本実施例の基板外観検
査装置32は、検査装置本体34の後方に配置され、複
数枚の基板36(例えば、液晶ガラス基板、ウエハ)を
収納可能な収納装置38と、基板36の目視検査を行う
検査装置40と、検査装置本体34の前方に配置され、
この検査装置40を操作する操作部128と、を備えて
いる。
【0013】図2に示すように、収納装置38は、複数
枚の基板36を所定の間隔で垂直方向に並列させて配置
可能なキャリア42と、このキャリア42を保持する保
持台44と、この保持台44の両側に夫々設けられ、保
持台44を垂直方向に昇降させる昇降機構46と、を備
えている。
【0014】図2ないし図4に示すように、昇降機構4
6は、保持台44を垂直方向に案内するガイドロッド4
8と、保持台44に垂直方向の昇降力を伝達する昇降力
伝達ロッド50と、この昇降力伝達ロッド50を駆動さ
せる駆動機構52と、を備えている。駆動機構52は、
昇降力伝達ロッド50側の検査装置本体34に設けられ
た第1のサーボモータ54と、この第1のサーボモータ
54の駆動力を一対の昇降力伝達ロッド50に伝達させ
る例えば一対の伝達ベルト56と、を備えている。
【0015】従って、第1のサーボモータ54を所定の
角度で正逆方向に駆動させると、その駆動力は、伝達ベ
ルト56を介して昇降力伝達ロッド48に伝達される。
今結果、保持台44は、ガイドロッド48に沿って垂直
方向に昇降し、キャリア42を所定量だけ昇降させる。
【0016】また、図3ないし図8に示すように、検査
装置40は、キャリア42に収納された複数の基板36
相互の空間に挿入可能な厚みを有する略凹形状の吸着保
持アーム58と、この吸着保持アーム58を回動可能に
保持する回動機構60と、吸着保持アーム58の両側に
配置され、回動機構60をキャリア42方向(即ち、検
査装置本体34の後方)に案内する案内機構62と、を
備えている。
【0017】吸着保持アーム58は、略凹形状で、キャ
リア42に収納されている複数の基板36の相互の空間
に挿入可能な厚みを有している。そして、吸着保持アー
ム58の上面は、基板36の裏面を損傷させる事なく且
つ安定して保持できるように平坦状に加工されている。
この吸着保持アーム58の上面には、吸引ポンプ(図示
しない)に接続された3つの吸着機構64が設けられて
いる。具体的には、これら吸着機構64は、吸着保持ア
ーム58の先端側(即ち、キャリア42側)に延出した
の一対の突出部66の先端部に夫々1つづつ設けられ、
残りの1つは、これら突出部66の両基端部の間の中央
部に設けられている。これら吸着機構64には、夫々、
吸着保持アーム58の裏面側に形成された第1の吸引通
路59が連通接続されている。この第1の吸引通路59
は、後述する回動軸68に設けられた第2の吸引通路9
0を介して吸引ポンプに連通されている。このような吸
着機構66は、基板36の裏面を吸着保持する場合、吸
引ポンプからの吸引力で基板36の裏面を吸引可能に構
成されている。このように、吸引力を作用させることに
よって、基板36は、吸着保持アーム58上に安定且つ
確実に吸着保持される。従って、吸着保持アーム58を
回動させても、基板36は、吸着保持アーム58から滑
り落ちることはない。
【0018】回動機構60は、検査装置本体34の前後
方向(即ち、操作部128とキャリア42とを結ぶ方
向)に延出し、その延出端が吸着保持アーム58の後端
側中央部に接続固定され、且つ、吸着保持アーム58を
回動させる回動軸68と、この回動軸68に対して直交
して両側に夫々突設された軸部72を中心に回動可能
で、且つ、回動軸68を回動自在に支持する支持部材7
0と、この支持部材70の両側に突設された前記軸部7
2を回動可能に支持し、且つ、後述する案内機構62に
よって、支持部材70を前後方向(即ち、キャリア42
に接近あるいは離間させる方向)に移動させる案内部材
74と、を備えている。
【0019】図5に示すように、回動軸68は、ベアリ
ング機構76によって支持部材70に回動自在に内蔵さ
れており、その後端に駆動力伝達機構を介して第2のサ
ーボモータ78が接続されている。具体的には、駆動力
伝達機構は、回動軸68の後端に取付けられた第1のプ
ーリ80と、第2のサーボモータ78の駆動軸82に取
付けられた第2のプーリ84と、を互いにベルト86で
連結して構成されている。なお、この回動軸68の内部
には、前述した吸着機構64から延出された第1の吸引
通路59に連通接続された第2の吸引通路90が形成さ
れている。
【0020】また、第2のサーボモータ78には、第1
の変速機88が連結されており、この第1の変速機88
を制御することによって、吸着保持アーム58に対して
所望の回動運動を与えることができる。また、支持部材
70には、吸着保持アーム58の回動状態を監視する第
1の回動方向センサ92が取付けられている。
【0021】このような構成において、第2のサーボモ
ータ78を所定の角度で正逆方向に駆動させると、その
駆動力は、駆動力伝達機構を介して回動軸68に伝達さ
れる。この結果、回動軸68の延出端に接続固定された
吸着保持アーム58が、図4及び図6に矢印Aで示す方
向に、所定の角度内で回動される。
【0022】また、図3、図7及び図8に示すように、
支持部材70は、前述した回動軸68に対して直交し、
検査装置本体34の左右方向に延出されている。このよ
うな支持部材70の両端には、夫々、一体的に突出した
軸部72(図7及び図8には、検査装置本体34の右側
の軸部72のみ拡大して示す)が設けられている。これ
ら軸部72は、夫々、後述する案内機構62によって前
後方向(即ち、キャリア42に接近あるいは離間させる
方向)に移動される案内部材74に、回動自在に支持さ
れている。
【0023】特に図3に示すように、軸部72には、第
3のプーリ94(図3には、右側の部分のみ示す)が取
付けられている。この第3のプーリ94と並列して第3
のサーボモータ96が案内部材74に設けられている。
この第3のサーボモータ96の駆動軸98には、第4の
プーリ100が設けられており、この第4のプーリ10
0と第3のプーリ94とは相互にベルト102で連結さ
れている。従って、第3のサーボモータ96を所定の角
度で正逆方向に駆動させると、その駆動力は、第4のプ
ーリ100及びベルト102を介して第3のプーリ94
に伝達され、軸部72を回動させる。この結果、支持部
材70が回動され、吸着保持アーム58が、図4に矢印
Bで示す方向に、所定の角度内で回動される。なお、案
内部材74には、支持部材70の回動状態を監視する第
2の回動方向センサ93が設けられている。
【0024】また、図7及び図8に示すように、支持部
材70の両端であって、軸部72の反対側の面には、夫
々、円柱状凸部104が突設されており、この凸部10
4には、ねじりバネ106が巻き付けられている。この
ねじりバネ106の一端は、支持部材70に設けられた
第1の当接部108に当接され、他端は、後述する案内
部材74に設けられた第2の当接部110に当接されて
いる。このため、支持部材70は、常時、このねじりバ
ネ106によって、上方に付勢された状態に維持されて
いる。この結果、支持部材70に回動軸68を介して支
持された吸着保持アーム58は、常時、水平に維持され
る。また、このようにねじりバネ106によって、付勢
されているため、例えば、吸着保持アーム58を図4に
矢印Bで示す方向のうち、上方に回動させる出力も、低
出力で足りる。この結果、駆動時に第3のサーボモータ
96にかかる負荷が軽減されると共に起動出力も弱く設
定することができる。即ち、小型のモータで足りること
になり、結果的に装置のコンパクト化につながる。
【0025】また、図3、図7及び図8に示すように、
案内部材74を、検査装置本体34の前後方向に移動さ
せる案内機構62は、吸着保持アーム58の両側に、夫
々、検査装置本体34の前方から後方(即ち、操作部1
28からキャリア42方向)に向かって互いに平行に配
置されたガイド112と、これらガイド112の下方
に、夫々、ガイド112と平行に配置された搬送用ベル
ト114と、これら搬送用ベルト114を駆動させる第
4のサーボモータ116と、を備えている。なお、これ
ら搬送用ベルト114は、検査装置本体34の前方に設
けられた一対の第5のプーリ113と、後方に設けられ
た一対の第6のプーリ115に、夫々、掛け渡されてい
る。
【0026】ガイド112は、夫々、案内部材74に形
成されたガイド孔(図示しない)に挿通されている。ま
た、搬送用ベルト114は、その外周面が案内部材74
の下端面に接触するように配置されており、この接触部
分で、搬送用ベルト114の内側から案内部材74の下
端面にねじこまれたボルト118(図8参照)によって
互いに締結されている。また、第4のサーボモータ11
6の両側から延出された駆動軸120の先端に、夫々、
取付けられた第7のプーリ122は、一対の第5のプー
リ113にベルト(図示しない)を介して連結されてい
る。この結果、第4のサーボモータ116を所定の角度
で正逆方向に駆動させると、その駆動力は、第7のプー
リ122及びベルト(図示しない)を介して第5のプー
リ113に伝達され、搬送用ベルト114を正逆方向に
移動させる。この結果、案内部材74は、搬送用ベルト
114の移動方向に対応して、検査装置本体34の前後
方向(即ち、キャリア42に接近又は離間する方向)に
移動される。従って、吸着保持アーム58のキャリア4
2への挿脱が可能となる。次に、本実施例の基板外観検
査装置32の動作について、図1ないし図8を参照して
説明する。
【0027】まず、第1のサーボモータ54が正方向に
駆動して、検査対象たる基板36の下面が吸着保持アー
ム58の上面より若干高い位置にセットされるように、
キャリア42を所定量下降させる。キャリア42がセッ
トされたとき、第1のサーボモータ54は停止する。こ
のとき、キャリア42の両側に夫々一対配置された第1
の位置合せ部材130(図1参照)が延出され、セット
された基板36の両縁部を互いに押圧する。この結果、
例えば、キャリア42の下降中にずれてしまった基板3
6の位置が整えられる。次に、第4のサーボモータ11
6が正方向に駆動して、搬送用ベルト114を介して案
内部材74をキャリア42方向に移動させる。吸着保持
アーム58が規定された量だけキャリア42内に挿入さ
れたとき、第4のサーボモータ116は停止する。次
に、第1のサーボモータ54が正方向に駆動して、吸着
保持アーム58の上面が目的の基板36の裏面に接触す
るまで、キャリア42を下降させる。吸着保持アーム5
8の上面が基板36の裏面に接触したとき、第1のサー
ボモータ54は停止する。このとき、図示しない吸引ポ
ンプが作動して、基板36の裏面を吸着機構64に吸着
させる。吸引ポンプを作動させた状態で、第4のサーボ
モータ116が逆方向に駆動して、案内部材74がキャ
リア42から離間する方向に、搬送用ベルト114を移
動させる。案内部材74の移動に伴って、支持部材70
が移動し、基板36を吸着保持した吸着保持アーム58
がキャリア42から引き抜かれる。基板36がキャリア
42から離間したとき、第4のサーボモータ116は停
止する。このとき、第3のサーボモータ96が正方向に
規定された量だけ駆動して、支持部材70を回動させ
る。この結果、吸着保持アーム58の先端側が持ち上げ
られ、基板36を傾斜させる。基板36が規定された量
だけ傾斜されたとき、第3のサーボモータ96は停止す
る。このとき、検査装置本体34の上部に配置された一
対の光源124から光(例えば、緑色光)が出射され
る。光源124から出射された光は、反射鏡126を介
して基板36上に照射される。光を照射させた状態で、
第2のサーボモータ78が正逆方向に規定された量だけ
駆動して、回動軸68を正逆方向に回動させる。この結
果、吸着保持アーム58に吸着保持された基板36が、
図4及び図6の矢印Aで示す方向に回動される。回動す
る基板36の上面から反射される反射光のうち、損傷部
分から反射される反射光は、他の反射光とその光学的特
性が異なる。また、傷のある場合は、傷が光を乱反射さ
せ、その所在を知らす。この結果、操作部128側に立
脚した観察者は、反射光の変化によって損傷部分を確認
することができる。外観検査が終了したとき、第2のサ
ーボモータ78は停止する。次に、第3のサーボモータ
96が逆方向に駆動し、支持部材70を回動させる。こ
の結果、吸着保持アーム58は、水平状態に戻される。
吸着保持アーム58が水平状態になったとき、第3のサ
ーボモータは停止する。このとき、第2の位置合せ部材
133(図1参照)が延出され、吸着保持アーム58に
吸着保持された基板36の両縁部を互いに押圧する。こ
の結果、例えば、外観検査中にその位置がずれてしまっ
た基板36は、初期位置に整合される。次に、第4のサ
ーボモータ116が正方向に駆動して、搬送用ベルト1
14を介して案内部材74をキャリア42方向に移動さ
せる。基板36がキャリア42内に完全に挿入されたと
き、第4のサーボモータ116は停止すると同時に吸引
ポンプが停止する。このとき、第1のサーボモータ54
が逆方向に若干駆動して、昇降力伝達ロッド50を介し
て保持台44を若干上昇させる。この結果、吸着保持ア
ーム58の上面が基板36の下面から離間される。従っ
て、検査済みの基盤36がキャリア42内に収納され
る。次に、第4のサーボモータ116が逆方向に駆動し
て、搬送用ベルト114を介して案内部材74を操作部
128(図1参照)方向に移動させる。この案内部材7
4の移動に伴って、吸着保持アーム58がキャリア42
から引き抜かれる。このとき、第1のサーボモータ54
が正方向に駆動して、次の検査対象たる基板36の下面
が吸着保持アーム58の上面より若干高い位置にセット
されるように、キャリア42を所定量下降させる。この
ような工程を順次繰り返すことによって、キャリア42
に収納された基板36の外観検査が行われる。
【0028】このような本実施例の基板外観検査装置
は、従来の装置のように、基板の外観検査装置を別体と
せずに、基板をキャリアから取り出すための装置と基板
を回動させて外観を検査するための装置とが一体化され
て構成されている。この結果、装置の構成が簡単且つコ
ンパクトになり、低価格で装置を提供することができ
る。また、基板を検査装置に移し換える工程がなくなっ
たため、外観検査に要する時間も短縮できると共に、基
板に外傷が与えられることもない。
【0029】なお、本発明は、上述した一実施例に限定
されない。例えば、回動機構60は、図9に示すように
構成させることもできる。この変形例に係る回動機構
は、第1の回動部材135と第2の回動部材137とを
備えており、夫々の回動軸が互いに直交して構成されて
いる。具体的には、第1の回動部材135と第2の回動
部材137との間には、第1の保持部材139が介装さ
れている。第1の回動部材135は、この第1の保持部
材139に対して矢印X方向に回動される。また、第1
の保持部材139と第2の回動部材137とは互いに締
結されており、この第2の回動部材137は、その下面
に配置された第2の保持部材141に対して矢印Y方向
に回動される。
【0030】また、他の変形例に係る回動機構は、図1
0に示すように、基板(図示しない)を吸着保持可能で
且つ矢印Eのいずれかの方向に回転自在な吸着保持部1
43と、この吸着保持部143を回転自在に支持し且つ
矢印F方向に回動自在な第1の支持部材145と、この
第1の支持部材145を回動自在に支持し且つ矢印G方
向に回動自在な第2の支持部材147と、を備えてい
る。なお、吸着保持部143の表面には、3つの吸着機
構が設けられており、吸引手段(図示しない)の吸引力
によって、吸着保持部143上に基板は確実に吸着保持
される。このような回動機構によれば、吸着保持された
基板は、回転されつつ互いに直交する方向に回動され
る。
【0031】
【発明の効果】本発明の基板外観検査装置は、従来の装
置のように、基板の外観検査装置を別体とせずに、基板
をから取り出すための装置と基板を回動させて外観を検
査するための装置とが一体化されて構成されている。こ
の結果、装置の構成が簡単且つコンパクトになり、低価
格で装置を提供することができる。また、基板を検査装
置に移し換える工程がなくなったため、外観検査に要す
る時間も短縮できると共に、基板に外傷が与えられるこ
ともない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例に係る基板外観検査装置の全
体を示す斜視図。
【図2】図1に示す基板外観検査装置の背面図。
【図3】図1に示す基板外観検査装置の平面図。
【図4】図1に示す基板外観検査装置の側面図。
【図5】図1に示す基板外観検査装置の構成である吸着
保持アームに接続固定された回動軸の部分の拡大断面
図。
【図6】図1に示す基板外観検査装置の上側の部分の正
面図。
【図7】図1に示す基板外観検査装置の構成である支持
部材の両側に一体的に突出された軸部のうち、一方の軸
部が案内部材に回動自在に支持されている状態を示す部
分拡大断面図。
【図8】図7に示された軸部の部分を示す図であって、
案内部材が搬送用ベルトに締結されている状態を示す側
面図。
【図9】本発明の基板外観検査装置の構成である回動機
構の変形例を示す斜視図。
【図10】本発明の基板外観検査装置の構成である回動
機構の他の変形例を示す斜視図。
【図11】従来の基板外観検査装置の構成のうち主要な
構成のみを模式的に示す図。
【図12】図11に示された構成のうち、目視検査装置
の構成を示す断面図。
【符号の説明】
36…基板、40…検査装置、42…キャリア、58…
吸着保持アーム、60…回動機構、62…案内機構。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を回動させて、前記基板の外観を検
    査する検査装置を有する基板外観検査装置であって、 前記検査装置は、収納部に収納された基板を保持可能な
    保持手段と、 この保持手段を回動可能に支持する回動機構と、 この回動機構を前記収納部に接近あるいは離間する方向
    に移動可能に支持して、前記保持手段を前記収納部に対
    して挿入あるいは離脱させる案内機構と、を備えている
    ことを特徴とする基板外観検査装置。
  2. 【請求項2】 前記回動機構は、この回動機構の移動方
    向に沿って延出され、前記保持手段を回動可能に支持す
    る回動軸と、 この回動軸に対して直交する方向に延出された軸部を中
    心に回動可能で、且つ、前記回動軸を回動自在に支持す
    る支持部材と、を備えていることを特徴とする請求項1
    に記載の基板外観検査装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11183863A (ja) * 1997-12-22 1999-07-09 Micronics Japan Co Ltd 被測定基板の検査装置
US6362884B1 (en) 1997-09-24 2002-03-26 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus for inspecting a substrate
US6399957B1 (en) 1998-11-30 2002-06-04 Nikon Corporation Method and apparatus for inspecting appearance of objects by irradiating illumination light on the objects
US6671041B2 (en) 1997-09-24 2003-12-30 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus for inspecting a substrate
WO2006035733A1 (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Olympus Corporation 基板検査装置の基板ホルダ及び基板検査装置
JP2008116470A (ja) * 2007-12-25 2008-05-22 Olympus Corp 基板検査装置
JP2008224371A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Micronics Japan Co Ltd インライン自動検査装置及びインライン自動検査システム
CN111624793A (zh) * 2020-06-18 2020-09-04 深圳市明信测试设备股份有限公司 一种lcd显示模组aoi装备

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6362884B1 (en) 1997-09-24 2002-03-26 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus for inspecting a substrate
US6671041B2 (en) 1997-09-24 2003-12-30 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus for inspecting a substrate
US6707546B2 (en) 1997-09-24 2004-03-16 Olympus Optical Co., Ltd. Apparatus for inspecting a substrate
JPH11183863A (ja) * 1997-12-22 1999-07-09 Micronics Japan Co Ltd 被測定基板の検査装置
US6399957B1 (en) 1998-11-30 2002-06-04 Nikon Corporation Method and apparatus for inspecting appearance of objects by irradiating illumination light on the objects
WO2006035733A1 (ja) * 2004-09-27 2006-04-06 Olympus Corporation 基板検査装置の基板ホルダ及び基板検査装置
TWI393875B (zh) * 2004-09-27 2013-04-21 Olympus Corp 基板檢測裝置之固持器及基板檢測裝置
JP2008224371A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Micronics Japan Co Ltd インライン自動検査装置及びインライン自動検査システム
JP2008116470A (ja) * 2007-12-25 2008-05-22 Olympus Corp 基板検査装置
CN111624793A (zh) * 2020-06-18 2020-09-04 深圳市明信测试设备股份有限公司 一种lcd显示模组aoi装备
CN111624793B (zh) * 2020-06-18 2023-04-07 深圳市明信测试设备股份有限公司 一种lcd显示模组aoi装备

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