JPH05108905A - Ｉｃカードのテスト方法ならびにこの方法の実施に適したｉｃカードおよびテスト装置 - Google Patents
Ｉｃカードのテスト方法ならびにこの方法の実施に適したｉｃカードおよびテスト装置Info
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- JPH05108905A JPH05108905A JP3299720A JP29972091A JPH05108905A JP H05108905 A JPH05108905 A JP H05108905A JP 3299720 A JP3299720 A JP 3299720A JP 29972091 A JP29972091 A JP 29972091A JP H05108905 A JPH05108905 A JP H05108905A
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- card
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 複数のＩＣカードについて、ＥＥＰＲＯＭへ
の書き込みテストを同時に行う。 【構成】 時刻ｔ１で、リーダライタ部から各ＩＣカー
ドへテストコマンドＡを送信する。各ＩＣカードは、こ
のテストコマンドＡに基づいてＥＥＰＲＯＭへの書き込
み動作を行い、書き込み完了を示すレスポンスａ１〜ａ
３を返送するとともに、これを、それぞれの内蔵ＲＡＭ
に一時保存する。返送されたレスポンスａ１〜ａ３はリ
ーダライタ部内のバッファに一旦蓄積されてからテスト
される。バッファがオーバーフローしてテストが失敗し
た場合は、リーダライタ部は時刻ｔ５において応答要求
コマンドＸを送信する。これを受けて各ＩＣカードは、
ＲＡＭ内に一時保存されていたレスポンスａ１〜ａ３を
時刻ｔ６において同時返送する。リーダライタ部は同時
返送されたレスポンスを用いてテストを行うことができ
る。
の書き込みテストを同時に行う。 【構成】 時刻ｔ１で、リーダライタ部から各ＩＣカー
ドへテストコマンドＡを送信する。各ＩＣカードは、こ
のテストコマンドＡに基づいてＥＥＰＲＯＭへの書き込
み動作を行い、書き込み完了を示すレスポンスａ１〜ａ
３を返送するとともに、これを、それぞれの内蔵ＲＡＭ
に一時保存する。返送されたレスポンスａ１〜ａ３はリ
ーダライタ部内のバッファに一旦蓄積されてからテスト
される。バッファがオーバーフローしてテストが失敗し
た場合は、リーダライタ部は時刻ｔ５において応答要求
コマンドＸを送信する。これを受けて各ＩＣカードは、
ＲＡＭ内に一時保存されていたレスポンスａ１〜ａ３を
時刻ｔ６において同時返送する。リーダライタ部は同時
返送されたレスポンスを用いてテストを行うことができ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣカードのテスト方
法に関し、特に複数のＩＣカードを同時にテストするた
めのテスト方法に関する。
法に関し、特に複数のＩＣカードを同時にテストするた
めのテスト方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、新しい情報記憶媒体として、ＩＣ
カードが注目を集めている。特に、ＣＰＵを内蔵したＩ
Ｃカードは、情報の記憶だけでなく演算処理を行う機能
を有するため、種々の用途に利用されつつある。一般
に、このようなＣＰＵ内蔵型のＩＣカードは、ＣＰＵの
他、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＥＥＰＲＯＭといった記憶装置
と、リーダライタ装置との間で情報転送を行うためのＩ
／Ｏ装置が内蔵されている。
カードが注目を集めている。特に、ＣＰＵを内蔵したＩ
Ｃカードは、情報の記憶だけでなく演算処理を行う機能
を有するため、種々の用途に利用されつつある。一般
に、このようなＣＰＵ内蔵型のＩＣカードは、ＣＰＵの
他、ＲＯＭ、ＲＡＭ、ＥＥＰＲＯＭといった記憶装置
と、リーダライタ装置との間で情報転送を行うためのＩ
／Ｏ装置が内蔵されている。
【０００３】このような複雑な機能をもったＩＣカード
を市場に供給する場合、出荷前に厳格なテストを行う必
要がある。すなわち、ＩＣカードに入力信号として所定
のテストコマンドを与え、このテストコマンドの実行に
より得られるレスポンスを出力信号として取り出し、こ
のレスポンスが論理的に期待される結果と一致するか否
かをみることにより、そのＩＣカードが正常に機能する
かどうかをテストするのである。大量生産されたＩＣカ
ードを効率的にテストするため、たとえば、特開平２−
２９６１６５号公報には、複数のＩＣカードを同時にテ
ストすることができるＩＣカードのテスト装置が開示さ
れている。
を市場に供給する場合、出荷前に厳格なテストを行う必
要がある。すなわち、ＩＣカードに入力信号として所定
のテストコマンドを与え、このテストコマンドの実行に
より得られるレスポンスを出力信号として取り出し、こ
のレスポンスが論理的に期待される結果と一致するか否
かをみることにより、そのＩＣカードが正常に機能する
かどうかをテストするのである。大量生産されたＩＣカ
ードを効率的にテストするため、たとえば、特開平２−
２９６１６５号公報には、複数のＩＣカードを同時にテ
ストすることができるＩＣカードのテスト装置が開示さ
れている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】複数のＩＣカードに対
して同時にテストを行う場合の留意点は、テスト装置側
から複数のＩＣカードに対して同時にテストコマンドを
与えた場合であっても、各ＩＣカードからのレスポンス
は必ずしも同時にならないという点である。これは、Ｉ
Ｃカードが記憶装置としてＥＥＰＲＯＭを有しているた
めである。ＥＥＰＲＯＭをテストするためには、ここに
何らかのデータを書き込む必要がある。ところが、ＥＥ
ＰＲＯＭへの書き込みに必要な時間は、各デバイスごと
に異なるため、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み動作を指示す
るテストコマンドを複数のＩＣカードに与えた場合、各
ＩＣカードからのレスポンス返送はばらばらになる。
して同時にテストを行う場合の留意点は、テスト装置側
から複数のＩＣカードに対して同時にテストコマンドを
与えた場合であっても、各ＩＣカードからのレスポンス
は必ずしも同時にならないという点である。これは、Ｉ
Ｃカードが記憶装置としてＥＥＰＲＯＭを有しているた
めである。ＥＥＰＲＯＭをテストするためには、ここに
何らかのデータを書き込む必要がある。ところが、ＥＥ
ＰＲＯＭへの書き込みに必要な時間は、各デバイスごと
に異なるため、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み動作を指示す
るテストコマンドを複数のＩＣカードに与えた場合、各
ＩＣカードからのレスポンス返送はばらばらになる。
【０００５】そこで、上述した特開平２−２９６１６５
号公報に開示されたテスト装置では、テスト対象となる
ＩＣカードの数だけのバッファを用意しておき、各ＩＣ
カードから返送されてきたレスポンスをこのバッファに
一時蓄積しておき、後でこのバッファから各レスポンス
を読み出してテストを行うという方法を採っている。し
かしながら、テスト装置側に用意できるバッファの容量
には限度があり、テスト対象となるＩＣカードの数が増
えれば増えるほど、１つのＩＣカードに割り当てられる
バッファの容量を小さくせざるを得ない。このため、処
理が最も早いＩＣカードにおける書き込み時間と、処理
が最も遅いＩＣカードにおける書き込み時間と、の時間
差が大きい場合には、処理が最も早いＩＣカードからの
レスポンスを蓄積するためのバッファがオーバーフロー
してもなお、処理が最も遅いＩＣカードからのレスポン
スが返送されないという事態が生じることになる。この
ような事態が生じると、レスポンスを正しく認識するこ
とができなかったＩＣカードについては、再度テストを
行わねばならない。
号公報に開示されたテスト装置では、テスト対象となる
ＩＣカードの数だけのバッファを用意しておき、各ＩＣ
カードから返送されてきたレスポンスをこのバッファに
一時蓄積しておき、後でこのバッファから各レスポンス
を読み出してテストを行うという方法を採っている。し
かしながら、テスト装置側に用意できるバッファの容量
には限度があり、テスト対象となるＩＣカードの数が増
えれば増えるほど、１つのＩＣカードに割り当てられる
バッファの容量を小さくせざるを得ない。このため、処
理が最も早いＩＣカードにおける書き込み時間と、処理
が最も遅いＩＣカードにおける書き込み時間と、の時間
差が大きい場合には、処理が最も早いＩＣカードからの
レスポンスを蓄積するためのバッファがオーバーフロー
してもなお、処理が最も遅いＩＣカードからのレスポン
スが返送されないという事態が生じることになる。この
ような事態が生じると、レスポンスを正しく認識するこ
とができなかったＩＣカードについては、再度テストを
行わねばならない。
【０００６】そこで本発明は、複数のＩＣカードについ
てのテストを確実に行うことのできるテスト方法を提供
することを目的とする。
てのテストを確実に行うことのできるテスト方法を提供
することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、所定のテスト
コマンドを複数のＩＣカードに送信し、これに応答して
各ＩＣカードから返送されるレスポンスを受信し、この
レスポンスが期待どおりのものであるか否かを判断する
ことにより、各ＩＣカードをテストするＩＣカードのテ
スト方法において、各ＩＣカードに、返送すべきレスポ
ンスを内部メモリに一時的に保持する機能と、所定の応
答要求コマンドが与えられたときに、内部メモリに保持
されているレスポンスを返送する機能と、を付加し、複
数のすべてのＩＣカードについてレスポンスが準備でき
たと期待される時点で、各ＩＣカードに前記応答要求コ
マンドを与え、各ＩＣカードから返送されるレスポンス
を同時に受信するようにしたものである。
コマンドを複数のＩＣカードに送信し、これに応答して
各ＩＣカードから返送されるレスポンスを受信し、この
レスポンスが期待どおりのものであるか否かを判断する
ことにより、各ＩＣカードをテストするＩＣカードのテ
スト方法において、各ＩＣカードに、返送すべきレスポ
ンスを内部メモリに一時的に保持する機能と、所定の応
答要求コマンドが与えられたときに、内部メモリに保持
されているレスポンスを返送する機能と、を付加し、複
数のすべてのＩＣカードについてレスポンスが準備でき
たと期待される時点で、各ＩＣカードに前記応答要求コ
マンドを与え、各ＩＣカードから返送されるレスポンス
を同時に受信するようにしたものである。
【０００８】
【作 用】まず、テスト装置から複数のＩＣカードに対
して、所定のテストコマンドが送信される。各ＩＣカー
ドは、このテストコマンドに基づいて所定の処理（たと
えば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み処理）を行い、返送す
べきレスポンスを生成する。このレスポンスは、ＩＣカ
ードの内部メモリ（たとえば、ＲＡＭ）に一時的に保持
される。テストコマンドがＩＣカードに送信されてから
所定の設定時間が経過すると、テスト装置から複数のＩ
Ｃカードに対して、今度は応答要求コマンドが送信され
る。この所定の設定時間を、複数のすべてのＩＣカード
についてレスポンスの準備が完了するであろうと思われ
る時間に設定しておけば、応答要求コマンドが送信され
た時点で、すべてのＩＣカードの内部メモリ内には、既
に返送すべきレスポンスが保持されていることになる。
各ＩＣカードが、この応答要求コマンドに応じて、一時
的に保持されていたレスポンスをテスト装置側へ返送す
る処理を行えば、テスト装置は複数のＩＣカードからの
レスポンスを同時に得ることができる。
して、所定のテストコマンドが送信される。各ＩＣカー
ドは、このテストコマンドに基づいて所定の処理（たと
えば、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み処理）を行い、返送す
べきレスポンスを生成する。このレスポンスは、ＩＣカ
ードの内部メモリ（たとえば、ＲＡＭ）に一時的に保持
される。テストコマンドがＩＣカードに送信されてから
所定の設定時間が経過すると、テスト装置から複数のＩ
Ｃカードに対して、今度は応答要求コマンドが送信され
る。この所定の設定時間を、複数のすべてのＩＣカード
についてレスポンスの準備が完了するであろうと思われ
る時間に設定しておけば、応答要求コマンドが送信され
た時点で、すべてのＩＣカードの内部メモリ内には、既
に返送すべきレスポンスが保持されていることになる。
各ＩＣカードが、この応答要求コマンドに応じて、一時
的に保持されていたレスポンスをテスト装置側へ返送す
る処理を行えば、テスト装置は複数のＩＣカードからの
レスポンスを同時に得ることができる。
【０００９】
【実施例】以下、本発明を図示する実施例に基づいて説
明する。図１は、本発明の一実施例に係るＩＣカードの
テスト方法を説明するためのブロック図である。このブ
ロック図には、このテスト方法に用いられるＩＣカード
テスト装置１００および複数のＩＣカード１，２，３，
…が示されている。ＩＣカードテスト装置１００は、リ
ーダライタ部１１０と検査処理部１２０とによって構成
されている。リーダライタ部１１０は、複数のＩＣカー
ド１，２，３に対してデータを送信する機能と、逆にデ
ータを受信する機能とを有する。検査処理部１２０は、
このテストの実体的な処理を行う部分であり、所定のテ
ストコマンドを発生させ、リーダライタ部１１０を介し
てこれを各ＩＣカードに送信したり、各ＩＣカードから
のレスポンスをリーダライタ部１１０を介して受信した
り、受信したレスポンスが論理的に期待されるデータに
なっているかどうかをテストしたりする機能を有する。
明する。図１は、本発明の一実施例に係るＩＣカードの
テスト方法を説明するためのブロック図である。このブ
ロック図には、このテスト方法に用いられるＩＣカード
テスト装置１００および複数のＩＣカード１，２，３，
…が示されている。ＩＣカードテスト装置１００は、リ
ーダライタ部１１０と検査処理部１２０とによって構成
されている。リーダライタ部１１０は、複数のＩＣカー
ド１，２，３に対してデータを送信する機能と、逆にデ
ータを受信する機能とを有する。検査処理部１２０は、
このテストの実体的な処理を行う部分であり、所定のテ
ストコマンドを発生させ、リーダライタ部１１０を介し
てこれを各ＩＣカードに送信したり、各ＩＣカードから
のレスポンスをリーダライタ部１１０を介して受信した
り、受信したレスポンスが論理的に期待されるデータに
なっているかどうかをテストしたりする機能を有する。
【００１０】ＩＣカード１は、リーダライタ部１１０と
の間でデータ送受を行うＩ／Ｏ装置１１と、ＣＰＵ１２
と、内部メモリとしてのＲＯＭ１３，ＲＡＭ１４，ＥＥ
ＰＲＯＭ１５と、を有する。ＣＰＵ１２は、ＲＯＭ１３
内のプログラムに基づいて種々の処理を実行する。ＩＣ
カード２，３，…も全く同様の構成である。
の間でデータ送受を行うＩ／Ｏ装置１１と、ＣＰＵ１２
と、内部メモリとしてのＲＯＭ１３，ＲＡＭ１４，ＥＥ
ＰＲＯＭ１５と、を有する。ＣＰＵ１２は、ＲＯＭ１３
内のプログラムに基づいて種々の処理を実行する。ＩＣ
カード２，３，…も全く同様の構成である。
【００１１】いま、ＩＣカードテスト装置１００によっ
て、各ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭのテストを行う場合を
考える。もっとも、ＩＣカードテスト装置１００は、こ
の他、各ＩＣカードのＲＯＭ内のプログラムのテスト
や、ＲＡＭのテストなどを行う機能を有しているが、本
発明の特徴はＥＥＰＲＯＭのテストにあるので、ここで
は、このＥＥＰＲＯＭのテストについてのみ考えること
にする。まず、ＩＣカードテスト装置１００は、各ＩＣ
カードに対して所定のテストコマンドを送信する。たと
えば、ＩＣカード１では、リーダライタ部１１０から送
信されたテストコマンドは、Ｉ／Ｏ装置１１によって取
り込まれ、ＣＰＵ１２によって実行される。このテスト
コマンドは、ＥＥＰＲＯＭ１５への書き込み動作を指示
するコマンドである。ＣＰＵ１２は、ＥＥＰＲＯＭ１５
の特定のアドレスへの書き込み動作を完了したら、動作
完了を示す何らかのレスポンスを発生し、Ｉ／Ｏ装置１
１を介してリーダライタ部１１０へ、このレスポンスを
返送する。検査処理部１２０は、このレスポンスを所定
の論理データと比較し、正常か否かの判断を行う。
て、各ＩＣカードのＥＥＰＲＯＭのテストを行う場合を
考える。もっとも、ＩＣカードテスト装置１００は、こ
の他、各ＩＣカードのＲＯＭ内のプログラムのテスト
や、ＲＡＭのテストなどを行う機能を有しているが、本
発明の特徴はＥＥＰＲＯＭのテストにあるので、ここで
は、このＥＥＰＲＯＭのテストについてのみ考えること
にする。まず、ＩＣカードテスト装置１００は、各ＩＣ
カードに対して所定のテストコマンドを送信する。たと
えば、ＩＣカード１では、リーダライタ部１１０から送
信されたテストコマンドは、Ｉ／Ｏ装置１１によって取
り込まれ、ＣＰＵ１２によって実行される。このテスト
コマンドは、ＥＥＰＲＯＭ１５への書き込み動作を指示
するコマンドである。ＣＰＵ１２は、ＥＥＰＲＯＭ１５
の特定のアドレスへの書き込み動作を完了したら、動作
完了を示す何らかのレスポンスを発生し、Ｉ／Ｏ装置１
１を介してリーダライタ部１１０へ、このレスポンスを
返送する。検査処理部１２０は、このレスポンスを所定
の論理データと比較し、正常か否かの判断を行う。
【００１２】図２は、このようなテスト動作のタイムチ
ャートである。図２(a) はリーダライタ部１１０とＩＣ
カード１との間の転送データを、図２(b) はリーダライ
タ部１１０とＩＣカード２との間の転送データを、図２
(c) はリーダライタ部１１０とＩＣカード３との間の転
送データを、それぞれ示している。いずれも水平線上方
にリーダライタ部１１０から送信されるデータを、水平
線下方にＩＣカードから送信されるデータを、それぞれ
示している。いま、時刻ｔ１において、リーダライタ部
１１０から各ＩＣカードに対して同時にテストコマンド
Ａが送信されたものとする。このテストコマンドＡを受
けて、各ＩＣカードはＥＥＰＲＯＭへ所定の書き込み動
作を行い、書き込み動作が完了したら、これに対応する
レスポンスを発生し、リーダライタ部１１０へ返送す
る。ところが、前述したように、ＥＥＰＲＯＭへの書き
込み時間は、各ＩＣカードによって異なるため、レスポ
ンスが返送される時間も各ＩＣカードごとにばらばらに
なる。図２の例では、まず時刻ｔ２においてＩＣカード
３からレスポンスａ３が返送され、続いて時刻ｔ３にお
いてＩＣカード１からレスポンスａ１が返送され、最後
に時刻ｔ４においてＩＣカード２からレスポンスａ２が
返送されている。このように、時間差をもって返送され
てきたレスポンスに対処するため、図１に示すＩＣカー
ドテスト装置１００には、バッファ１２１が用意されて
おり、各レスポンスは一旦、このバッファ１２１に蓄積
された後、期待されるべき論理値との比較テストが行わ
れる。続いて、時刻ｔ５において、リーダライタ部１１
０から各ＩＣカードに対して同時にテストコマンドＢが
送信され、これを受けて、各ＩＣカードはＥＥＰＲＯＭ
へ所定の書き込み動作を行い、書き込み動作が完了した
ら、これに対応するレスポンスを発生し、リーダライタ
部１１０へ返送する。図２の例では、まず時刻ｔ６にお
いてＩＣカード３からレスポンスｂ３が返送され、続い
て時刻ｔ７においてＩＣカード１からレスポンスｂ１が
返送され、最後に時刻ｔ８においてＩＣカード２からレ
スポンスｂ２が返送されている。レスポンスｂ１〜ｂ３
は、やはりバッファ１２１に蓄積された後、期待される
べき論理値との比較テストが行われる。
ャートである。図２(a) はリーダライタ部１１０とＩＣ
カード１との間の転送データを、図２(b) はリーダライ
タ部１１０とＩＣカード２との間の転送データを、図２
(c) はリーダライタ部１１０とＩＣカード３との間の転
送データを、それぞれ示している。いずれも水平線上方
にリーダライタ部１１０から送信されるデータを、水平
線下方にＩＣカードから送信されるデータを、それぞれ
示している。いま、時刻ｔ１において、リーダライタ部
１１０から各ＩＣカードに対して同時にテストコマンド
Ａが送信されたものとする。このテストコマンドＡを受
けて、各ＩＣカードはＥＥＰＲＯＭへ所定の書き込み動
作を行い、書き込み動作が完了したら、これに対応する
レスポンスを発生し、リーダライタ部１１０へ返送す
る。ところが、前述したように、ＥＥＰＲＯＭへの書き
込み時間は、各ＩＣカードによって異なるため、レスポ
ンスが返送される時間も各ＩＣカードごとにばらばらに
なる。図２の例では、まず時刻ｔ２においてＩＣカード
３からレスポンスａ３が返送され、続いて時刻ｔ３にお
いてＩＣカード１からレスポンスａ１が返送され、最後
に時刻ｔ４においてＩＣカード２からレスポンスａ２が
返送されている。このように、時間差をもって返送され
てきたレスポンスに対処するため、図１に示すＩＣカー
ドテスト装置１００には、バッファ１２１が用意されて
おり、各レスポンスは一旦、このバッファ１２１に蓄積
された後、期待されるべき論理値との比較テストが行わ
れる。続いて、時刻ｔ５において、リーダライタ部１１
０から各ＩＣカードに対して同時にテストコマンドＢが
送信され、これを受けて、各ＩＣカードはＥＥＰＲＯＭ
へ所定の書き込み動作を行い、書き込み動作が完了した
ら、これに対応するレスポンスを発生し、リーダライタ
部１１０へ返送する。図２の例では、まず時刻ｔ６にお
いてＩＣカード３からレスポンスｂ３が返送され、続い
て時刻ｔ７においてＩＣカード１からレスポンスｂ１が
返送され、最後に時刻ｔ８においてＩＣカード２からレ
スポンスｂ２が返送されている。レスポンスｂ１〜ｂ３
は、やはりバッファ１２１に蓄積された後、期待される
べき論理値との比較テストが行われる。
【００１３】以上の動作は、前述した特開平２−２９６
１６５号公報に開示されたテスト方法である。ところ
が、この方法では、バッファ１２１の容量に制限がある
ため、オーバーフローする問題があることは、既に述べ
たとおりである。たとえば、図２の例において、時刻ｔ
２と時刻ｔ４との時間差があまり大きいと、レスポンス
ａ２が返送される時刻ｔ４に至る前に、レスポンスａ３
を蓄積するバッファがオーバーフローしてしまうことに
なる。この場合、レスポンスａ１〜ａ３について正しい
テストを行うことができなくなる。本発明は、このよう
な事態が生じた場合でも、正しいテストを可能にするた
めの工夫を加えたものである。
１６５号公報に開示されたテスト方法である。ところ
が、この方法では、バッファ１２１の容量に制限がある
ため、オーバーフローする問題があることは、既に述べ
たとおりである。たとえば、図２の例において、時刻ｔ
２と時刻ｔ４との時間差があまり大きいと、レスポンス
ａ２が返送される時刻ｔ４に至る前に、レスポンスａ３
を蓄積するバッファがオーバーフローしてしまうことに
なる。この場合、レスポンスａ１〜ａ３について正しい
テストを行うことができなくなる。本発明は、このよう
な事態が生じた場合でも、正しいテストを可能にするた
めの工夫を加えたものである。
【００１４】本発明に係るテスト方法では、ＩＣカード
に２つの新規な機能を付け加えておく必要がある。この
新規な機能は、ＲＯＭ内のプログラムを修正することに
より付加される。第１の機能は、テストコマンドに応答
するレスポンスを返送する際に、このレスポンスをＲＡ
Ｍに一時的に書き込む機能である。別言すれば、レスポ
ンスはリーダライタ部１１０に返送されると同時に、Ｒ
ＡＭにも書き込まれることになる。したがって、ＲＡＭ
には、このレスポンスを一時的に保持するための特別の
領域を確保しておく必要がある。たとえば、図２の例で
は、時刻ｔ２において、ＩＣカード３からリーダライタ
部１１０へレスポンスａ３が返送されるが、このとき、
ＩＣカード３内のＲＡＭ３４にもレスポンスａ３が書き
込まれて一時的に保持されることになる。同様に、時刻
ｔ３では、レスポンスａ１が返送されると同時にＲＡＭ
１４に書き込まれ、時刻ｔ４では、レスポンスａ２が返
送されると同時にＲＡＭ２４に書き込まれる。なお、Ｒ
ＡＭへの保持は一時的なものであるので、次のテストコ
マンドＢが送信されたときには、レスポンスａ１〜ａ３
の一時保持は不要となる。したがって、たとえば時刻ｔ
６においてレスポンスｂ３をＲＡＭに一時保持する場
合、ＲＡＭ上の同じアドレスにおいて、レスポンスａ３
をレスポンスｂ３に書き替える処理を行えばよい。
に２つの新規な機能を付け加えておく必要がある。この
新規な機能は、ＲＯＭ内のプログラムを修正することに
より付加される。第１の機能は、テストコマンドに応答
するレスポンスを返送する際に、このレスポンスをＲＡ
Ｍに一時的に書き込む機能である。別言すれば、レスポ
ンスはリーダライタ部１１０に返送されると同時に、Ｒ
ＡＭにも書き込まれることになる。したがって、ＲＡＭ
には、このレスポンスを一時的に保持するための特別の
領域を確保しておく必要がある。たとえば、図２の例で
は、時刻ｔ２において、ＩＣカード３からリーダライタ
部１１０へレスポンスａ３が返送されるが、このとき、
ＩＣカード３内のＲＡＭ３４にもレスポンスａ３が書き
込まれて一時的に保持されることになる。同様に、時刻
ｔ３では、レスポンスａ１が返送されると同時にＲＡＭ
１４に書き込まれ、時刻ｔ４では、レスポンスａ２が返
送されると同時にＲＡＭ２４に書き込まれる。なお、Ｒ
ＡＭへの保持は一時的なものであるので、次のテストコ
マンドＢが送信されたときには、レスポンスａ１〜ａ３
の一時保持は不要となる。したがって、たとえば時刻ｔ
６においてレスポンスｂ３をＲＡＭに一時保持する場
合、ＲＡＭ上の同じアドレスにおいて、レスポンスａ３
をレスポンスｂ３に書き替える処理を行えばよい。
【００１５】ＩＣカードに付加される第２の機能は、リ
ーダライタ部１１０から応答要求コマンドＸが与えられ
たときに、その時点でＲＡＭに保持しているレスポンス
をリーダライタ部１１０へ返送する機能である。たとえ
ば、図３に示すタイムチャートにおいて、時刻ｔ１〜ｔ
４に至るまでは、図２に示すタイムチャートと同じ処理
が行われたものとする。ここで、時刻ｔ５において、リ
ーダライタ部１１０から各ＩＣカードに応答要求コマン
ドＸを送信したとすると、時刻ｔ６において、すべての
ＩＣカードから同時にレスポンスａ１〜ａ３が返送され
てくることになる。各ＩＣカードは、その時点でＲＡＭ
に一時保持されているレスポンスを読み出し、これをそ
のままリーダライタ部１１０へ返送する処理を行うこと
になる。この場合、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み動作は伴
わないので、レスポンス返送に必要な時間は、どのＩＣ
カードでもほとんど同じであり、時刻ｔ６において同時
にレスポンスの返送が得られるとみてよい。
ーダライタ部１１０から応答要求コマンドＸが与えられ
たときに、その時点でＲＡＭに保持しているレスポンス
をリーダライタ部１１０へ返送する機能である。たとえ
ば、図３に示すタイムチャートにおいて、時刻ｔ１〜ｔ
４に至るまでは、図２に示すタイムチャートと同じ処理
が行われたものとする。ここで、時刻ｔ５において、リ
ーダライタ部１１０から各ＩＣカードに応答要求コマン
ドＸを送信したとすると、時刻ｔ６において、すべての
ＩＣカードから同時にレスポンスａ１〜ａ３が返送され
てくることになる。各ＩＣカードは、その時点でＲＡＭ
に一時保持されているレスポンスを読み出し、これをそ
のままリーダライタ部１１０へ返送する処理を行うこと
になる。この場合、ＥＥＰＲＯＭへの書き込み動作は伴
わないので、レスポンス返送に必要な時間は、どのＩＣ
カードでもほとんど同じであり、時刻ｔ６において同時
にレスポンスの返送が得られるとみてよい。
【００１６】本発明に係るテスト方法を実施するために
は、ＩＣカードテスト装置１００側にも新規な機能を付
加しておく必要がある。すなわち、所定の時期を見計ら
って各ＩＣカードに対して応答要求コマンドＸを送信す
る機能である。応答要求コマンドＸを送信する時期につ
いては、いくつかの実施例が考えられる。最も簡単な実
施例としては、時刻ｔ１にテストコマンドを送信した
後、すべてのＩＣカードからのレスポンス返送が完了す
るであろうと期待できる所定の時刻ｔ５において、応答
要求コマンドＸを送信するようにすればよい。すなわ
ち、ＩＣカードテスト装置１００は、テストコマンドを
送信してから所定の設定時間が経過したら、自動的に応
答要求コマンドＸを送信すればよいことになる。図３に
示すように、時刻ｔ５において応答要求コマンドＸを送
信すれば、時刻ｔ６において、レスポンスａ１〜ａ３が
同時に得られるので、このレスポンスに対して所定のテ
スト処理を行えばよい。なお、時刻ｔ２，ｔ３，ｔ４に
おいても、個別にレスポンスが得られているが、これら
については無視するようにすればよい。したがって、こ
の実施例の場合には、ＩＣカードテスト装置１００側に
バッファ１２１を用意しておく必要はない。時刻ｔ６に
おいて得られたレスポンスについてのテスト処理が完了
したら、時刻ｔ７においてテストコマンドＢを送信し、
それから所定の設定時間が経過した時点で、同様に応答
要求コマンドＸを送信すればよい。
は、ＩＣカードテスト装置１００側にも新規な機能を付
加しておく必要がある。すなわち、所定の時期を見計ら
って各ＩＣカードに対して応答要求コマンドＸを送信す
る機能である。応答要求コマンドＸを送信する時期につ
いては、いくつかの実施例が考えられる。最も簡単な実
施例としては、時刻ｔ１にテストコマンドを送信した
後、すべてのＩＣカードからのレスポンス返送が完了す
るであろうと期待できる所定の時刻ｔ５において、応答
要求コマンドＸを送信するようにすればよい。すなわ
ち、ＩＣカードテスト装置１００は、テストコマンドを
送信してから所定の設定時間が経過したら、自動的に応
答要求コマンドＸを送信すればよいことになる。図３に
示すように、時刻ｔ５において応答要求コマンドＸを送
信すれば、時刻ｔ６において、レスポンスａ１〜ａ３が
同時に得られるので、このレスポンスに対して所定のテ
スト処理を行えばよい。なお、時刻ｔ２，ｔ３，ｔ４に
おいても、個別にレスポンスが得られているが、これら
については無視するようにすればよい。したがって、こ
の実施例の場合には、ＩＣカードテスト装置１００側に
バッファ１２１を用意しておく必要はない。時刻ｔ６に
おいて得られたレスポンスについてのテスト処理が完了
したら、時刻ｔ７においてテストコマンドＢを送信し、
それから所定の設定時間が経過した時点で、同様に応答
要求コマンドＸを送信すればよい。
【００１７】上述の実施例では、同じレスポンスが２度
ずつ返送されることになる。すなわち、各ＩＣカードご
とに個別に返送される１回目のレスポンスは無視され、
全ＩＣカードから同時に返送される２回目のレスポンス
だけがテストに用いられる。このように、同じレスポン
スを２度ずつ返送する方法には無駄がある。このような
無駄を省く１つの方法は、各ＩＣカードによる個別のレ
スポンス返送処理を中止することである。たとえば、図
３に示す例では、時刻ｔ２，ｔ３，ｔ４におけるレスポ
ンス返送処理を中止すればよい。ＩＣカードは、レスポ
ンスを生成したら、これをＲＡＭに一時保持する処理だ
けを行うようにし、レスポンスを返送する処理は、応答
要求コマンドＸが与えられたときにだけ行うようにす
る。こうすれば、レスポンスは常に全ＩＣカード同時に
１回だけ返送されるようになり、無駄は省かれる。
ずつ返送されることになる。すなわち、各ＩＣカードご
とに個別に返送される１回目のレスポンスは無視され、
全ＩＣカードから同時に返送される２回目のレスポンス
だけがテストに用いられる。このように、同じレスポン
スを２度ずつ返送する方法には無駄がある。このような
無駄を省く１つの方法は、各ＩＣカードによる個別のレ
スポンス返送処理を中止することである。たとえば、図
３に示す例では、時刻ｔ２，ｔ３，ｔ４におけるレスポ
ンス返送処理を中止すればよい。ＩＣカードは、レスポ
ンスを生成したら、これをＲＡＭに一時保持する処理だ
けを行うようにし、レスポンスを返送する処理は、応答
要求コマンドＸが与えられたときにだけ行うようにす
る。こうすれば、レスポンスは常に全ＩＣカード同時に
１回だけ返送されるようになり、無駄は省かれる。
【００１８】無駄を省く別な方法としては、応答要求コ
マンドＸの送信を必要なときだけ行うようにする方法で
ある。バッファ１２１を用いる従来の方法の問題は、バ
ッファがオーバーフローしたときに生じる。したがっ
て、バッファがオーバーフローしない限りは、何ら問題
はない。そこで、通常は、従来の方法により、時間差を
もって返送されてくるレスポンスをバッファに蓄積して
からテストを行うことにする。すなわち、通常は、図２
のタイムチャートに示される方法によって、テストが行
われてゆく。ただし、各レスポンスは、返送時にＲＡＭ
へも一時保存するようにしておく。このＲＡＭに一時保
存されたレスポンスは、通常は、利用されることはな
い。いざ、バッファのオーバーフローという事態が発生
したときには、本発明特有の方法を実施するのである。
すなわち、バッファがオーバーフローしたら、適当な時
点でＩＣカードテスト装置１００から応答要求コマンド
Ｘを送信し、ＲＡＭに一時保存されていたレスポンスを
返送させるのである。このような方法によれば、無駄の
ない効率的なテストが可能になる。
マンドＸの送信を必要なときだけ行うようにする方法で
ある。バッファ１２１を用いる従来の方法の問題は、バ
ッファがオーバーフローしたときに生じる。したがっ
て、バッファがオーバーフローしない限りは、何ら問題
はない。そこで、通常は、従来の方法により、時間差を
もって返送されてくるレスポンスをバッファに蓄積して
からテストを行うことにする。すなわち、通常は、図２
のタイムチャートに示される方法によって、テストが行
われてゆく。ただし、各レスポンスは、返送時にＲＡＭ
へも一時保存するようにしておく。このＲＡＭに一時保
存されたレスポンスは、通常は、利用されることはな
い。いざ、バッファのオーバーフローという事態が発生
したときには、本発明特有の方法を実施するのである。
すなわち、バッファがオーバーフローしたら、適当な時
点でＩＣカードテスト装置１００から応答要求コマンド
Ｘを送信し、ＲＡＭに一時保存されていたレスポンスを
返送させるのである。このような方法によれば、無駄の
ない効率的なテストが可能になる。
【００１９】
【発明の効果】以上のとおり本発明によるＩＣカードの
テスト方法によれば、ＩＣカードから返送すべきレスポ
ンスを内部メモリに一時的に保存しておくようにしたた
め、複数のＩＣカードについてのテストを確実に行うこ
とができるようになる。
テスト方法によれば、ＩＣカードから返送すべきレスポ
ンスを内部メモリに一時的に保存しておくようにしたた
め、複数のＩＣカードについてのテストを確実に行うこ
とができるようになる。
【図１】本発明の一実施例に係るＩＣカードのテスト方
法を説明するためのブロック図である。
法を説明するためのブロック図である。
【図２】従来のテスト方法によるテスト動作を示すタイ
ムチャートである。
ムチャートである。
【図３】本発明に係るテスト方法によるテスト動作を示
すタイムチャートである。
すタイムチャートである。
１，２，３…ＩＣカード １１，２１，３１…Ｉ／Ｏ装置 １２，２２，３２…ＣＰＵ １３，２３，３３…ＲＯＭ １４，２４，３４…ＲＡＭ １５，２５，３５…ＥＥＰＲＯＭ １００…ＩＣカードテスト装置 １１０…リーダライタ部 １２０…検査処理部 １２１…バッファ Ａ，Ｂ…テストコマンド ａ１〜ａ３，ｂ１〜ｂ３…レスポンス Ｘ…応答要求コマンド
Claims (3)
- 【請求項１】 所定のテストコマンドを複数のＩＣカー
ドに送信し、これに応答して各ＩＣカードから返送され
るレスポンスを受信し、このレスポンスが期待どおりの
ものであるか否かを判断することにより、各ＩＣカード
をテストするＩＣカードのテスト方法であって、 各ＩＣカードに、返送すべきレスポンスを内部メモリに
一時的に保持する機能と、所定の応答要求コマンドが与
えられたときに、前記内部メモリに保持されているレス
ポンスを返送する機能と、を付加し、 複数のすべてのＩＣカードについてレスポンスが準備で
きたと期待される時点で、各ＩＣカードに前記応答要求
コマンドを与え、各ＩＣカードから返送されるレスポン
スを同時に受信するようにしたことを特徴とするＩＣカ
ードのテスト方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載のテスト方法を実施しう
るＩＣカードであって、 テスト装置から所定のテストコマンドが与えられたと
き、これに応答して返送すべきレスポンスを生成する機
能と、 生成した前記レスポンスを内部メモリに一時的に保持す
る機能と、 テスト装置から所定の応答要求コマンドが与えられたと
きに、前記内部メモリに保持されているレスポンスを返
送する機能と、 を有することを特徴とするＩＣカード。 - 【請求項３】 請求項１に記載のテスト方法を実施する
ためのテスト装置であって、 所定のテストコマンドを複数のＩＣカードに送信する機
能と、 前記テストコマンドの送信時から所定の設定時間経過後
に、前記各ＩＣカードに応答要求コマンドを与える機能
と、 前記応答要求コマンドに応答して各ＩＣカードから返送
されるレスポンスを受信し、このレスポンスが期待どお
りのものであるか否かを判断することにより、各ＩＣカ
ードをテストする機能と、 を有することを特徴とするＩＣカードのテスト装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3299720A JP2945193B2 (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Ｉｃカードのテスト方法ならびにこの方法の実施に適したｉｃカードおよびテスト装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3299720A JP2945193B2 (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Ｉｃカードのテスト方法ならびにこの方法の実施に適したｉｃカードおよびテスト装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05108905A true JPH05108905A (ja) | 1993-04-30 |
| JP2945193B2 JP2945193B2 (ja) | 1999-09-06 |
Family
ID=17876154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3299720A Expired - Lifetime JP2945193B2 (ja) | 1991-10-18 | 1991-10-18 | Ｉｃカードのテスト方法ならびにこの方法の実施に適したｉｃカードおよびテスト装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2945193B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6976623B1 (en) * | 2002-11-18 | 2005-12-20 | Onspec Electronic, Inc. | Flash juke box |
| KR100789917B1 (ko) * | 2005-12-01 | 2008-01-02 | 한국전자통신연구원 | Ｒｆｉｄ 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법 |
| US8337252B2 (en) | 2000-07-06 | 2012-12-25 | Mcm Portfolio Llc | Smartconnect flash card adapter |
-
1991
- 1991-10-18 JP JP3299720A patent/JP2945193B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8337252B2 (en) | 2000-07-06 | 2012-12-25 | Mcm Portfolio Llc | Smartconnect flash card adapter |
| US6976623B1 (en) * | 2002-11-18 | 2005-12-20 | Onspec Electronic, Inc. | Flash juke box |
| KR100789917B1 (ko) * | 2005-12-01 | 2008-01-02 | 한국전자통신연구원 | Ｒｆｉｄ 미들웨어의 성능 테스트 장치 및 방법 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2945193B2 (ja) | 1999-09-06 |
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