JPH05104413A - デイジタイジング制御装置 - Google Patents

デイジタイジング制御装置

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JPH05104413A
JPH05104413A JP3267681A JP26768191A JPH05104413A JP H05104413 A JPH05104413 A JP H05104413A JP 3267681 A JP3267681 A JP 3267681A JP 26768191 A JP26768191 A JP 26768191A JP H05104413 A JPH05104413 A JP H05104413A
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JP3267681A
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Hitoshi Matsuura
仁 松浦
Osamu Tsukamoto
修 塚本
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Fanuc Corp
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    • B23Q15/00Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23QDETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ディジタイジングデータを補正して、本来の
ならい経路に沿った滑らかなデータを出力する。 【構成】 演算手段101は、モデル面上にならい経路
を指令する指令座標データと検出器のならい測定点にお
ける測定変位とを加算して、ディジタイジングされたモ
デル面についての座標データを演算する。補正手段10
2は、これらの複数のならい測定点における座標データ
を、ならい経路を含むならい平面上の新たな座標点で近
似されたディジタイジングデータに補正する。補正され
た座標データは、本来のならい経路に沿った滑らかなデ
ィジタイジングデータとして出力される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は3次元のモデル面をなら
う検出器の測定変位からモデル形状のディジタイジング
データを出力するディジタイジング制御装置に関し、特
にならい測定点が本来のならい経路を外れたディジタイ
ジングデータを補正するようにしたディジタイジング制
御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、3次元のモデル面をならってディ
ジタイジングデータを出力する場合には、モデル面に設
定された直線などをならい経路として指令して、検出器
を移動させながら一定の時間間隔でデータを取り込むよ
うにしている。モデルの表面が検出器の移動方向に対し
て急激に変化していない場合には、検出器の測定点はほ
ぼならい経路に沿ってモデル表面から距離データを取り
込むことになるが、モデルの傾斜が急変する場所では、
検出器に設定された見掛け上の測定原点がモデル面に食
い込んだり、モデル面から離れたりする。
【0003】この結果、例えば非接触の光検出器では、
モデルに対する測定点がならい経路を外れて出力され
る。そのためにディジタイジングデータとしては、測定
時点での実際の測定器の位置に測定点の変位を加算した
値が出力される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ならい測定点
が本来のならい経路を外れて出力されたディジタイジン
グデータに基づいて実際のならい加工を行うと、工具が
ワークに対して上下方向だけでなくて、当初設定された
ならい経路を中心にして左右方向にも細かく振動する。
このため工具位置を制御する工作機械に悪影響を与え
る。また、工具がジグザグに制御されることから、ワー
クの加工面を滑らかに仕上げることができないという問
題点があった。
【0005】本発明はこのような点に鑑みてなされたも
のであり、ディジタイジングデータを補正して、本来の
ならい経路に沿った滑らかなデータを出力するディジタ
イジング制御装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では上記課題を解
決するために、3次元のモデル面をならう検出器の測定
変位からモデル形状のディジタイジングデータを出力す
るディジタイジング制御装置において、前記モデル面上
にならい経路を指令する座標データと前記検出器のなら
い測定点における測定変位とを加算して、ディジタイジ
ングされたモデル面についての座標データを演算する演
算手段と、前記各ならい測定点の座標データを前記なら
い経路を含むならい平面上の新たな座標点で近似された
ディジタイジングデータに補正する補正手段と、を有す
ることを特徴とするディジタイジング制御装置が、提供
される。
【0007】
【作用】ディジタイジング制御装置から検出器の移動指
令が与えられて、モデル形状に応じた測定変位が検出さ
れる。この検出器の測定変位を指令されているならい経
路の座標データに加算して、モデル上のならい測定点の
座標データを演算し、更に、各ならい測定点の座標デー
タを、検出器のならい経路を含むならい平面上の新たな
座標点で近似したディジタイジングデータに補正してい
る。
【0008】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図1は、本発明のディジタイジング制御装置の
概略構成を示す図である。なお、図には本発明を実施す
るために必要な最小限の構成のみが示されている。
【0009】演算手段101は、モデル面上にならい経
路を指令する指令座標データと検出器のならい測定点に
おける測定変位とを加算して、ディジタイジングされた
モデル面についての座標データを演算する。
【0010】また、補正手段102は、演算手段101
で演算された複数のならい測定点における座標データ
を、ならい経路を含むならい平面上の新たな座標点で近
似されたディジタイジングデータに補正して、出力す
る。
【0011】図2は本発明のディジタイジング制御装置
及び周辺装置の構成を示すブロック図である。図におい
て、プロセッサ(CPU)11はディジタイジング制御
装置1の全体の動作を制御する。ROM12には、EP
ROM又はEEPROMが使用され、ディジタイジング
制御装置1を制御するためのシステムプログラムを格納
する。従って、プロセッサ11はバス10を介してRO
M12に格納されたシステムプログラムを読み出し、こ
のシステムプログラムに従ってディジタイジング制御装
置1の動作を制御する。
【0012】RAM13は各種のデータを一時的に記憶
するものであり、後述する光学式距離検出器5a及び5
bからの測定値、及びその他の一時的なデータを記憶す
る。不揮発性メモリ14は図示されていないバッテリで
バックアップされており、インタフェース15を介して
操作盤2から入力されるならい方向、ならい速度等の各
種のパラメータ等を格納する。
【0013】ならい工作機械3のトレーサヘッド4に
は、光学式の距離検出器5a及び5bが互いに近接して
設けられている。光学式距離検出器5a及び5bは半導
体レーザ又は発光ダイオードを光源とする反射光量式の
センサで構成されており、それぞれに設定された基準距
離からの変位として、モデル6までの距離を非接触で測
定する。これらの距離検出器の測定値La及びLbは、
ディジタイジング制御装置1内のA/D変換器16a及
び16bでディジタル値に変換されて、逐次にプロセッ
サ11に読み取られる。
【0014】プロセッサ11は測定値La及びLbと後
述する現在位置レジスタ19x、19y及び19zから
の信号に基づいて各軸の変位を算出すると共に、この変
位と指令されたならい方向、ならい速度に基づいて、周
知の技術により、各軸の速度指令Vx、Vy及びVzを
発生する。これらの速度指令はD/A変換器17x、1
7y及び17zでアナログ値に変換され、サーボアンプ
18x、18y及び18zに入力される。サーボアンプ
18x及び18yはこの速度指令に基づいてならい工作
機械3のサーボモータ32x及び32yを駆動し、これ
によりテーブル31がX軸方向及び紙面と直角なY軸方
向に移動する。また、サーボアンプ18zがサーボモー
タ32zを駆動し、トレーサヘッド4及び工具34がZ
軸方向に移動する。
【0015】サーボモータ32x、32y及び32zに
は、これらが所定量回転する毎にそれぞれ検出パルスF
Px、FPy及びFPzを発生するパルスコーダ33
x、33y及び33zが設けられている。ディジタイジ
ング制御装置1内の現在位置レジスタ19x、19y及
び19zは検出パルスFPx、FPy及びFPzをそれ
ぞれ回転方向に応じてカウントアップ/ダウンして各軸
方向の現在位置データXa、Ya及びZaを求め、プロ
セッサ11に入力している。
【0016】一方、プロセッサ11は上記の各軸の制御
と同時に、距離検出器5a及び5bの測定値La及びL
bを所定のサンプリング時間毎にサンプリングし、この
サンプリングデータを用いてモデル6表面の法線ベクト
ルを求め、法線ベクトルのX−Y平面上の射影の方向に
対応した回転指令SCを発生する。回転指令SCはD/
A変換器17cでアナログ値に変換された後、サーボア
ンプ18cに入力され、この指令に基づいてサーボアン
プ18cがV軸のサーボモータ32cを駆動する。
【0017】これにより、トレーサヘッド4は指令角度
βに応じて回転すると共に、モデル6との間隔を一定の
基準距離に保つように制御される。また、同時にテーブ
ル31が指令されたならい方向、ならい速度で移動し
て、トレーサヘッド4と同じくZ軸制御される工具34
によってワーク35にモデル6と同様の形状の加工が施
される。
【0018】以下、本発明のディジタイジング制御装置
における自動測定点補正演算方法について、図3、図4
及び図5を参照して説明する。図3は、トレーサヘッド
4を構成する距離検出器5の概略図である。図におい
て、距離検出器5が形成するスポットは黒丸により示し
ている。トレーサヘッド4には、Z軸方向の垂直軸(V
軸)に対して角度θだけ傾斜させて距離検出器5a及び
5bが取り付けられている。また、テーブル31に置か
れる基準試料7は少なくとも一つの面がテーブル31に
対して垂直な基準面を有する物体(例えば、立方体)で
あって、ここでは基準面がテーブル31に設定された座
標系のX軸と直交するようにテーブル31に置かれてい
る。これら距離検出器5a及び5bはV軸によって回転
指令SCの指令角度βで所定の半径の円周上を回転す
る。この図では、距離検出器5の基準距離に基準試料7
を配置し、その零点S0にスポットが形成されている状
態を示している。
【0019】そして、距離検出器5は光を出射し、スポ
ットで反射した光を受光して、検出器とスポットとの間
の距離を計測する。また、計測されたデータはプロセッ
サ11によって所定の処理がなされ、測定点Sn(X
n,Yn,Zn)としてRAM13等に記憶される。な
お、nは1以上の整数を表す。
【0020】次に、このトレーサヘッド4をモデル面に
沿って移動させ、所定の位置で座標値を取得した場合の
ディジタイジングデータへの補正方法について説明す
る。図4は、モデル面をトレースするならい経路Lと機
械位置を特定する機械座標(X−Y軸)平面内でのX軸
との角度差を表す図である。トレーサヘッド4が、なら
い経路Lに沿って矢印Laの方向に向かって移動すると
き、X軸とならい経路Lとは、機械座標平面内で角度D
をなしている。
【0021】図5は、モデル面におけるディジタイジン
グデータへの補正方法を示す概略図である。図におい
て、ならい経路Lは、トレーサヘッド4が矢印Laの方
向に向かって、モデル面F上を移動する経路である。軸
V1,V2,V3は、図3で示したセンサの回転中心で
あるV軸を表す。
【0022】また、距離検出器5の出射方向M1,M
2,M3は、トレーサヘッド4のV軸との交点が距離検
出器5の零点となるように決定されている。この距離検
出器5から出射した光がモデル面F上に形成するスポッ
トは、それぞれ測定点S1(X1,Y1,Z1),S2
(X2,Y2,Z2)及びS3(X3,Y3,Z3)と
する。
【0023】ここで、測定点S1は前々回測定した点で
あり、測定点S2は前回測定した点であり、測定点S3
は今回測定した点である。また、測定点S2における機
械位置をm(Xm,Ym,Zm)とする。
【0024】さらに、測定点S1とS3の中点をg、こ
の中点gと測定点S2を通るベクトルをG(Xv,Y
v,Zv)とし、また、ベクトルGとならい平面との交
点を補正点P(X,Y,Z)とする。なお、ならい平面
とは、ならい経路Lと軸V1,V2,V3とを含む平面
をいう。以下に、測定点S2の補正点Pの座標値の算出
方法について説明する。
【0025】まず、測定点S1,S2及びS3について
RAM13等に記憶された座標データから、中点gと測
定点S2とを通るベクトルGは、 Xv=X2−(X1+X3)/2 ・・・(1) Yv=Y2−(Y1+Y3)/2 ・・・(2) Zv=Z2−(Z1+Z3)/2 ・・・(3) によって求められる。このとき、測定点S2から補正点
Pへの単位ベクトルは、ベクトルGの単位ベクトルと一
致するから、次の式(4)が成り立つ。
【0026】 (X−X2)/Xv=(Y−Y2)/Yv=(Z−Z2)/Zv=t (tは定数) ・・・(4) この式(4)は、X,Y,Zについて整理すると、 X=t・Xv+X2 ・・・(5) Y=t・Yv+Y2 ・・・(6) Z=t・Zv+Z2 ・・・(7) となる。
【0027】また、補正点Pは常にならい平面上にあ
り、図4で示したように、ならい経路L上を移動する機
械位置mも同様にこのならい平面上に存在するから、式 Y−Ym=tanD・(X−Xm) ・・・(8) が成り立つ。そこで、式(8)を式(5)及び式(6)
へ代入して、tを求めると、 (t・Yv+Y2)−Ym=tanD・((t・Xv+X2)−Xm) t・Yv−tanD・t・Xv=−Y2+Ym+tanD・(X2−Xm) t=(−Y2+Ym+tanD・(X2−Xm)) /(Yv−tanD・Xv) ・・・(9) となる。そして、式(9)を式(5)、式(6)及び式(7)へ代入すると、 X=Xv・(−Y2+Ym+tanD・(X2−Xm)) /(Yv−tanD・Xv)+X2 ・・・(10) Y=Yv・(−Y2+Ym+tanD・(X2−Xm)) /(Yv−tanD・Xv)+Y2 ・・・(11) Z=Zv・(−Y2+Ym+tanD・(X2−Xm)) /(Yv−tanD・Xv)+Z2 ・・・(12) により、補正点Pの座標値が求められる。
【0028】したがって、この補正点Pの座標値をディ
ジタイジングデータに変換して出力することにより、本
来のならい経路を含むならい平面に規制されることにな
る。このため、ワークに対する加工の跡が滑らかにな
り、研削加工などの際に工作機械自体への振動などの悪
影響が無くなる。
【0029】図6は、本発明のディジタイジング制御装
置における自動測定点補正演算処理を実行するためのフ
ローチャートである。図において、Sの後に続く数字は
ステップ番号を示す。
【0030】〔S61〕測定点があるか否かを判定す
る。すなわち、新たな測定点があるか否かの判定を行
う。もし、新たな測定点がある(YES)ならばステッ
プS62に進み、新たな測定点がない(NO)ならば本
演算処理を終了する。
【0031】〔S62〕測定点の座標値を算出する。具
体的には、機械位置(機械座標)に、距離検出器による
測定変位を加算して現在の測定点の座標値を求める。 〔S63〕座標データの設定を行う。すなわち、ステッ
プS62で求めた座標を測定点S3とし、一つ前に測定
した座標を測定点S2とし、二つ前に測定した座標を測
定点S1とする。
【0032】〔S64〕ベクトルGを算出する。具体的
には、式(1),(2)及び(3)によってベクトルG
を算出する。 〔S65〕ならい平面との交点を算出する。具体的に
は、式(10),(11)及び(12)によって補正点Pの座
標値を算出する。
【0033】〔S66〕補正点Pの座標値をディジタイ
ジングデータとして出力する。すなわち、ステップS6
5によって求められた交点のデータをディジタイジング
データへ変換して出力する。その後、次の測定点の処理
のためにステップS61に戻る。
【0034】以上の説明では、測定点S1,S2に設定
する座標値について、以前に計測した測定点の座標を使
用したが、自動測定点補正演算処理によって以前に求め
た交点を使用してもよい。
【0035】また、検出器の測定変位と指令されている
ならい経路の座標データに基づいて、各ならい測定点の
座標データを検出器のならい経路を含むならい平面上の
新たな座標点で近似されたディジタイジングデータに補
正したが、検出器の測定変位のうちZ軸方向の測定変位
に基づいて、検出器のX−Y平面内の移動距離に比例す
るZ軸位置を新たな座標点とするようにしてもよい。
【0036】すなわち、補正手段102において、新た
な座標点のうちZ軸データのみを、以下のように求める
ことができる。図5において、現在の測定点S3のX座
標及びY座標は、機械位置m3のX座標及びY座標とす
る。また、一つ前の測定点をS2とし、このときの機械
位置をm2とし、同様にディジタイジング座標のZ座標
をZd2とする。そして、X−Y平面について、S3とS
2の測定点間距離をPsとし、m3とm2の機械位置間
距離をPmとすると、現在の測定点S3のZ座標Zd
3は、 Zd3=(Pm×(Z3−Z2)/Ps)+Zd2 で求められる。
【0037】なお、上記の実施例では光学式距離検出器
として反射光量式のものについて説明したが、他に三角
距離計測式の距離検出器を使用したディジタイジング制
御装置にも適用できる。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように本発明では、出力さ
れるディジタイジングデータが設定された本来のならい
経路を含むならい平面に規制されるから、モデル面が急
変する場合でもワークに対する加工の跡が滑らかにな
り、研削加工などの際に工作機械自体への振動などの悪
影響が無くなる。また、ならい平面のデータを利用する
ことにより、ディジタイジングデータの圧縮が可能にな
り、ならい加工のための無駄なデータの量が削減でき
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のディジタイジング制御装置の概略構成
を示す図である。
【図2】本発明のディジタイジング制御装置及び周辺装
置の構成を示すブロック図である。
【図3】トレーサヘッドを構成する距離検出器の概略図
である。
【図4】ならい経路と機械位置(機械座標)との角度差
を表す図である。
【図5】ディジタイジングデータへの補正方法を示す概
略図である。
【図6】ディジタイジング制御装置における自動測定点
補正演算処理を実行するためのフローチャートである。
【符号の説明】
1 ディジタイジング制御装置 2 操作盤 3 ならい工作機械 4 トレーサヘッド 5a,5b 距離検出器 6 モデル 7 基準試料 11 マイクロプロセッサ 12 ROM 13 RAM 14 不揮発性メモリ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 3次元のモデル面をならう検出器の測定
    変位からモデル形状のディジタイジングデータを出力す
    るディジタイジング制御装置において、 前記モデル面上にならい経路を指令する座標データと前
    記検出器のならい測定点における測定変位とを加算し
    て、ディジタイジングされたモデル面についての座標デ
    ータを演算する演算手段と、 前記各ならい測定点の座標データを前記ならい経路を含
    むならい平面上の新たな座標点で近似されたディジタイ
    ジングデータに補正する補正手段と、 を有することを特徴とするディジタイジング制御装置。
  2. 【請求項2】 前記補正手段は、 前記ならい測定点及びその前後の測定点に関する重心と
    前記ならい測定点とを接続するベクトルが、前記ならい
    経路を含むならい平面と交差する位置を新たな座標点と
    することを特徴とする請求項1記載のディジタイジング
    制御装置。
  3. 【請求項3】 前記補正手段は、 前記検出器の測定変位のうちZ軸方向の測定変位に基づ
    いて、前記検出器のX−Y平面内の移動距離に比例する
    Z軸位置を新たな座標点とすることを特徴とする請求項
    1記載のディジタイジング制御装置。
JP3267681A 1991-10-16 1991-10-16 デイジタイジング制御装置 Pending JPH05104413A (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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