JPH0489691A - 差動増幅型電流センスアンプ回路 - Google Patents
差動増幅型電流センスアンプ回路Info
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- JPH0489691A JPH0489691A JP2200251A JP20025190A JPH0489691A JP H0489691 A JPH0489691 A JP H0489691A JP 2200251 A JP2200251 A JP 2200251A JP 20025190 A JP20025190 A JP 20025190A JP H0489691 A JPH0489691 A JP H0489691A
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- bit line
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- sense amplifier
- memory cell
- cell
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 14
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 13
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 7
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 7
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
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- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は差動増幅型電流センスアンプ回路に関[従来の
技術] 従来の差動増幅型電流センスアンプのリファレンス回路
は第5図に示すようにメモリセルのマトリクスアレイ2
1より任意のメモリセルを選択するとき、ビット線13
を切り換えての選択をする場合は、ビット線13の寄生
容量14のプリチャージ動作が行われる。この時、リフ
ァレンス回路のダミーセルのビット線17ではビット線
13が切り換えられてもプリチャージ動作が行われずに
第6図に示すようにダミーセルビット線17に流れる電
流IRは一定となっていた。
技術] 従来の差動増幅型電流センスアンプのリファレンス回路
は第5図に示すようにメモリセルのマトリクスアレイ2
1より任意のメモリセルを選択するとき、ビット線13
を切り換えての選択をする場合は、ビット線13の寄生
容量14のプリチャージ動作が行われる。この時、リフ
ァレンス回路のダミーセルのビット線17ではビット線
13が切り換えられてもプリチャージ動作が行われずに
第6図に示すようにダミーセルビット線17に流れる電
流IRは一定となっていた。
[発明が解決しようとする課題]
上記のように従来の差動増幅型電流センスアンプのリフ
ァレンス回路では、メモリセル選択時、ビット線13を
切り換えての選択を行う場合でも、ダミービット線17
につく寄生容Ik22をプリチャージする動作が行われ
ない。一方、選択しようとするメモリセルビット線13
につく寄生容量14が選択前にディスチャージされてい
た場合には、ビット線13が切り換わると、ビット線1
3にこの寄生容量14をプリチャージする電流が流れる
。
ァレンス回路では、メモリセル選択時、ビット線13を
切り換えての選択を行う場合でも、ダミービット線17
につく寄生容Ik22をプリチャージする動作が行われ
ない。一方、選択しようとするメモリセルビット線13
につく寄生容量14が選択前にディスチャージされてい
た場合には、ビット線13が切り換わると、ビット線1
3にこの寄生容量14をプリチャージする電流が流れる
。
よって、このプリチャージ電流が流れ終わるまでは、電
流が流れるセル(以降、ONセルと記す)としてセンス
アンプ15が検知してしまい、電流が流れないセル(以
降、OFFセルと記す)からOFFセルを選択する場合
は、−度データが反転してしまう。このようにメモリセ
ルのデータを検出している最中ここ出力データが反転す
ると、データ出力時間が遅れることやセンスアンプ回路
出力の反転で次段のバッファ回路16の貫通電流がVC
C,GND線の変動を起こして回路が誤動作を起こすと
いった問題点があった。
流が流れるセル(以降、ONセルと記す)としてセンス
アンプ15が検知してしまい、電流が流れないセル(以
降、OFFセルと記す)からOFFセルを選択する場合
は、−度データが反転してしまう。このようにメモリセ
ルのデータを検出している最中ここ出力データが反転す
ると、データ出力時間が遅れることやセンスアンプ回路
出力の反転で次段のバッファ回路16の貫通電流がVC
C,GND線の変動を起こして回路が誤動作を起こすと
いった問題点があった。
[課題を解決するための手段]
本発明の差動増幅型電流センスアンプ回路は、リファレ
ンス回路のダミーセルヒツト線に流れる電流とメモリセ
ルビット線に流れる電流とを比較してメモリセルのデー
タを検出する差動増幅型電流センスアンプにおいて、メ
モリセルビット線の切換アドレス変化を検出するアドレ
ス変化検出回路と、ダミーセルビット線に交互に接続可
能な複数の容量と、アドレス変化検出回路より得られる
アドレス変化信号に基づいて一の容量をダミーセルビッ
ト線に交互に接続させると共に他の容量をディスチャー
ジさせる制御回路とを備えたことを特徴とする。
ンス回路のダミーセルヒツト線に流れる電流とメモリセ
ルビット線に流れる電流とを比較してメモリセルのデー
タを検出する差動増幅型電流センスアンプにおいて、メ
モリセルビット線の切換アドレス変化を検出するアドレ
ス変化検出回路と、ダミーセルビット線に交互に接続可
能な複数の容量と、アドレス変化検出回路より得られる
アドレス変化信号に基づいて一の容量をダミーセルビッ
ト線に交互に接続させると共に他の容量をディスチャー
ジさせる制御回路とを備えたことを特徴とする。
[実施例コ
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るセンスアンプ回路を示
す回路図である。Yアドレスバッファ1の出力はYデコ
ーダ2及びアドレス変化検出回路3に入力され、アドレ
ス変化検出回路3の出力パルス信号A T L = A
T iはNORインバータ回路4゜インバータ回路5
を介して、T型フリップフロップ回路6に入力される。
す回路図である。Yアドレスバッファ1の出力はYデコ
ーダ2及びアドレス変化検出回路3に入力され、アドレ
ス変化検出回路3の出力パルス信号A T L = A
T iはNORインバータ回路4゜インバータ回路5
を介して、T型フリップフロップ回路6に入力される。
T型フリップフロップ回路6のトリガー信号Tは電源電
位が入力されて1”に固定されているため、インバータ
回路5の出力パルスCKのタイミングによりT型フリッ
プフロップ回路の出力Q、 Qが反転動作を行う。す
なわち、第2図に示すように、ビット線13を切り換え
るためのYアドレス信号AO〜Aiのうちどれか一つで
もアドレスが切り換わった場合、アドレス変化検出回路
3より、パルス信号が発生し、T型フリップフロップ回
路6に入力され、このアトIノス変化毎に出力Q、
Qは反転する。Qはトランジスタ7.8のゲートに入力
され、頁はトランジスタ9,10のゲートに入力される
。ここでトランジスタ?、 8,9. 10は同一極
性であり、出力Q、 Qの反転毎にトランジスタ7.
8と9゜10とはオン、オフが反転し、容量11と12
とのいずれか一方をダミービット線17に接続すると共
に他方を接地電位に接線させてディスチャージさせる。
位が入力されて1”に固定されているため、インバータ
回路5の出力パルスCKのタイミングによりT型フリッ
プフロップ回路の出力Q、 Qが反転動作を行う。す
なわち、第2図に示すように、ビット線13を切り換え
るためのYアドレス信号AO〜Aiのうちどれか一つで
もアドレスが切り換わった場合、アドレス変化検出回路
3より、パルス信号が発生し、T型フリップフロップ回
路6に入力され、このアトIノス変化毎に出力Q、
Qは反転する。Qはトランジスタ7.8のゲートに入力
され、頁はトランジスタ9,10のゲートに入力される
。ここでトランジスタ?、 8,9. 10は同一極
性であり、出力Q、 Qの反転毎にトランジスタ7.
8と9゜10とはオン、オフが反転し、容量11と12
とのいずれか一方をダミービット線17に接続すると共
に他方を接地電位に接線させてディスチャージさせる。
尚、図中に点線枠で示す回路18の構成はセンス比か1
:nの場合、メモリセルビット線13の寄生容量14.
のプリチャージ時にビット線13に流れる電流IMとダ
ミーセルビット線17に流れる電流IRがIM<nIR
となるようにする。
:nの場合、メモリセルビット線13の寄生容量14.
のプリチャージ時にビット線13に流れる電流IMとダ
ミーセルビット線17に流れる電流IRがIM<nIR
となるようにする。
第3図は本実施例のIM及びIRの時間変化を表し、第
6図は従来例のIM及びIRの時間変化を表す。従来例
ではメモリセルビット線13がtlで切り換わると、寄
生容量14にプリチャージ電流が流れ込み、T1〜T4
の期間はIM>JRとなるためセンスアンプ回路15は
ONセルかOFFセルかに係わらず強制的にONセルの
状態を検出することになる。
6図は従来例のIM及びIRの時間変化を表す。従来例
ではメモリセルビット線13がtlで切り換わると、寄
生容量14にプリチャージ電流が流れ込み、T1〜T4
の期間はIM>JRとなるためセンスアンプ回路15は
ONセルかOFFセルかに係わらず強制的にONセルの
状態を検出することになる。
従って、■→■の用にOFFセルから違うビット線13
のOFFセルを選択する場合は、センスアンプ回路15
の出力は反転データを出力してしまう。
のOFFセルを選択する場合は、センスアンプ回路15
の出力は反転データを出力してしまう。
一方、第3図に示すように、本発明のリファレンス回路
では、OFFセルからビット線13を切り換えてOFF
セルを選択する場合は、ダミーセルビット線17には必
ず容量11または12をプリチャージする電流IRが流
れるので、メモリセルビット線13のプリチャージ電流
IMが流れる期間TIはI R> I Mとなってセン
スアンプ回路15はOFFセルを検知するため、出力の
反転は起こらない。また、この時にメモリセルビット線
17に接続されない容量12または11は接地電位に接
続されてディスチャージされ、次の選択動作に備える。
では、OFFセルからビット線13を切り換えてOFF
セルを選択する場合は、ダミーセルビット線17には必
ず容量11または12をプリチャージする電流IRが流
れるので、メモリセルビット線13のプリチャージ電流
IMが流れる期間TIはI R> I Mとなってセン
スアンプ回路15はOFFセルを検知するため、出力の
反転は起こらない。また、この時にメモリセルビット線
17に接続されない容量12または11は接地電位に接
続されてディスチャージされ、次の選択動作に備える。
尚、センスアンプ15の出力をトランスファー用トラン
ジスタ19のゲートに入力し、ONセル検出時にアドレ
ス変化検出回路3からの信号出力を禁止することにより
1、ONセルからビット線13を切り換えてONセルを
選択するときは、ビット線13にプリチャージ電流IM
が流れる期間中はセンスアンプ回路15はONセルを検
知したままなので出力の反転は起こらない。
ジスタ19のゲートに入力し、ONセル検出時にアドレ
ス変化検出回路3からの信号出力を禁止することにより
1、ONセルからビット線13を切り換えてONセルを
選択するときは、ビット線13にプリチャージ電流IM
が流れる期間中はセンスアンプ回路15はONセルを検
知したままなので出力の反転は起こらない。
第4図は本発明の他の一実施例の回路図である。
図中に点線枠で示す回路25及び26はメモリセルと同
じ構成のダミーセルであり、アドレス変化検出回路3の
出力信号により、メモリセルのビット線13が切り換わ
ったときにダミーセルビット線2本のうちの1本のダミ
ーセルビット線な切り離して接地電位に落し、容量22
をディスチャージし、残り1本を接続することにより容
量27のプリチャージ動作を行わせることによりメモリ
セルのビット線13の切り換えアクセス時にOFFセル
からOFFセルを選択する際の出力データの反転をなく
すことができる。本実施例ではリファレンス回路でのプ
リチャージ動作を行わせるための回路をメモリセルと同
じ構成にすることによって、より安定なセンス動作を行
うという効果がある。
じ構成のダミーセルであり、アドレス変化検出回路3の
出力信号により、メモリセルのビット線13が切り換わ
ったときにダミーセルビット線2本のうちの1本のダミ
ーセルビット線な切り離して接地電位に落し、容量22
をディスチャージし、残り1本を接続することにより容
量27のプリチャージ動作を行わせることによりメモリ
セルのビット線13の切り換えアクセス時にOFFセル
からOFFセルを選択する際の出力データの反転をなく
すことができる。本実施例ではリファレンス回路でのプ
リチャージ動作を行わせるための回路をメモリセルと同
じ構成にすることによって、より安定なセンス動作を行
うという効果がある。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明は、リファレンス回路のダミ
ーセルビット線にプリチャージ動作を行うための、容量
をビット線が切り換わったことを検知するアドレス変化
検出回路の出力信号により、接続及び切り離しを行うよ
うにしたため、メモリセルデータを検出している最中に
出力データを反転させることがないので、データ出力時
間の遅れ及び、出力データの反転により貫通電流が流れ
てVCC,GND線の変動のための誤動作をなくすこと
ができるという効果を有する。
ーセルビット線にプリチャージ動作を行うための、容量
をビット線が切り換わったことを検知するアドレス変化
検出回路の出力信号により、接続及び切り離しを行うよ
うにしたため、メモリセルデータを検出している最中に
出力データを反転させることがないので、データ出力時
間の遅れ及び、出力データの反転により貫通電流が流れ
てVCC,GND線の変動のための誤動作をなくすこと
ができるという効果を有する。
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は本発明の
一実施例の動作を説明するタイミングチャート、第3図
(a)は本発明の一実施例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第3図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力電圧波形図、第4図は
本発明の他の一実施例の回路図、第5図は従来例の回路
図、第6図(a)は従来例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第6図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力の電圧波形図である。 1・・・・・・・Yアドレス式9フフ回路、2・・・・
・・・Yアドレスデコーダー3・・・・・・・アドレス
変化検出回路、4・・・・・・・NOR回路、 5・・・・・・・インバータ回路、 6 ・ ◆ ・T型フリップフロップ回路、 7〜10゜ 28〜31・・・・切り換え制御用トランジスタ、11
、 12. 14゜ 22.27Φ・φ・Φ・容量、 13争・争争 15・舎・・ 、16 φ ・ ・ ・ 17 ・ φ ・ 舎 19争・φ・ 20Φ争φ争 21・1争 2346 φ 争 24番争・・ ・・メモリセルビット線、 ・センスアンプ回路、 ・バッファ回路、 ・ダミーセルビット線、 トランスファー用トランジスタ、 リファレンスセンスアンプ、 セルアレイ、 リファレンスレベル、 センスアンプ出力。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 − 一〇−
一実施例の動作を説明するタイミングチャート、第3図
(a)は本発明の一実施例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第3図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力電圧波形図、第4図は
本発明の他の一実施例の回路図、第5図は従来例の回路
図、第6図(a)は従来例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第6図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力の電圧波形図である。 1・・・・・・・Yアドレス式9フフ回路、2・・・・
・・・Yアドレスデコーダー3・・・・・・・アドレス
変化検出回路、4・・・・・・・NOR回路、 5・・・・・・・インバータ回路、 6 ・ ◆ ・T型フリップフロップ回路、 7〜10゜ 28〜31・・・・切り換え制御用トランジスタ、11
、 12. 14゜ 22.27Φ・φ・Φ・容量、 13争・争争 15・舎・・ 、16 φ ・ ・ ・ 17 ・ φ ・ 舎 19争・φ・ 20Φ争φ争 21・1争 2346 φ 争 24番争・・ ・・メモリセルビット線、 ・センスアンプ回路、 ・バッファ回路、 ・ダミーセルビット線、 トランスファー用トランジスタ、 リファレンスセンスアンプ、 セルアレイ、 リファレンスレベル、 センスアンプ出力。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 桑 井 清 − 一〇−
Claims (1)
- リファレンス回路のダミーセルビット線に流れる電流と
メモリセルビット線に流れる電流とを比較してメモリセ
ルのデータを検出する差動増幅型電流センスアンプにお
いて、メモリセルビット線の切換アドレス変化を検出す
るアドレス変化検出回路と、ダミーセルビット線に交互
に接続可能な複数の容量と、アドレス変化検出回路より
得られるアドレス変化信号に基づいて一の容量をダミー
セルビット線に交互に接続させると共に他の容量をディ
スチャージさせる制御回路とを備えたことを特徴とする
差動増幅型電流センスアンプ回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2200251A JPH0489691A (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 差動増幅型電流センスアンプ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2200251A JPH0489691A (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 差動増幅型電流センスアンプ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0489691A true JPH0489691A (ja) | 1992-03-23 |
Family
ID=16421281
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2200251A Pending JPH0489691A (ja) | 1990-07-26 | 1990-07-26 | 差動増幅型電流センスアンプ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0489691A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6181623B1 (en) | 1998-12-30 | 2001-01-30 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Semiconductor MOS/BIPOLAR composite transistor and semiconductor memory device using the same |
US6442081B1 (en) | 2000-04-26 | 2002-08-27 | Nec Corporation | Semiconductor storage device data sensing method and apparatus |
-
1990
- 1990-07-26 JP JP2200251A patent/JPH0489691A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6181623B1 (en) | 1998-12-30 | 2001-01-30 | Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. | Semiconductor MOS/BIPOLAR composite transistor and semiconductor memory device using the same |
US6442081B1 (en) | 2000-04-26 | 2002-08-27 | Nec Corporation | Semiconductor storage device data sensing method and apparatus |
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