JPH0489691A - 差動増幅型電流センスアンプ回路 - Google Patents

差動増幅型電流センスアンプ回路

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JPH0489691A
JPH0489691A JP2200251A JP20025190A JPH0489691A JP H0489691 A JPH0489691 A JP H0489691A JP 2200251 A JP2200251 A JP 2200251A JP 20025190 A JP20025190 A JP 20025190A JP H0489691 A JPH0489691 A JP H0489691A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bit line
circuit
sense amplifier
memory cell
cell
Prior art date
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Pending
Application number
JP2200251A
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English (en)
Inventor
Hirokazu Nagashima
弘和 長島
Takemi Kimura
木村 岳見
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH0489691A publication Critical patent/JPH0489691A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は差動増幅型電流センスアンプ回路に関[従来の
技術] 従来の差動増幅型電流センスアンプのリファレンス回路
は第5図に示すようにメモリセルのマトリクスアレイ2
1より任意のメモリセルを選択するとき、ビット線13
を切り換えての選択をする場合は、ビット線13の寄生
容量14のプリチャージ動作が行われる。この時、リフ
ァレンス回路のダミーセルのビット線17ではビット線
13が切り換えられてもプリチャージ動作が行われずに
第6図に示すようにダミーセルビット線17に流れる電
流IRは一定となっていた。
[発明が解決しようとする課題] 上記のように従来の差動増幅型電流センスアンプのリフ
ァレンス回路では、メモリセル選択時、ビット線13を
切り換えての選択を行う場合でも、ダミービット線17
につく寄生容Ik22をプリチャージする動作が行われ
ない。一方、選択しようとするメモリセルビット線13
につく寄生容量14が選択前にディスチャージされてい
た場合には、ビット線13が切り換わると、ビット線1
3にこの寄生容量14をプリチャージする電流が流れる
よって、このプリチャージ電流が流れ終わるまでは、電
流が流れるセル(以降、ONセルと記す)としてセンス
アンプ15が検知してしまい、電流が流れないセル(以
降、OFFセルと記す)からOFFセルを選択する場合
は、−度データが反転してしまう。このようにメモリセ
ルのデータを検出している最中ここ出力データが反転す
ると、データ出力時間が遅れることやセンスアンプ回路
出力の反転で次段のバッファ回路16の貫通電流がVC
C,GND線の変動を起こして回路が誤動作を起こすと
いった問題点があった。
[課題を解決するための手段] 本発明の差動増幅型電流センスアンプ回路は、リファレ
ンス回路のダミーセルヒツト線に流れる電流とメモリセ
ルビット線に流れる電流とを比較してメモリセルのデー
タを検出する差動増幅型電流センスアンプにおいて、メ
モリセルビット線の切換アドレス変化を検出するアドレ
ス変化検出回路と、ダミーセルビット線に交互に接続可
能な複数の容量と、アドレス変化検出回路より得られる
アドレス変化信号に基づいて一の容量をダミーセルビッ
ト線に交互に接続させると共に他の容量をディスチャー
ジさせる制御回路とを備えたことを特徴とする。
[実施例コ 次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例に係るセンスアンプ回路を示
す回路図である。Yアドレスバッファ1の出力はYデコ
ーダ2及びアドレス変化検出回路3に入力され、アドレ
ス変化検出回路3の出力パルス信号A T L = A
 T iはNORインバータ回路4゜インバータ回路5
を介して、T型フリップフロップ回路6に入力される。
T型フリップフロップ回路6のトリガー信号Tは電源電
位が入力されて1”に固定されているため、インバータ
回路5の出力パルスCKのタイミングによりT型フリッ
プフロップ回路の出力Q、  Qが反転動作を行う。す
なわち、第2図に示すように、ビット線13を切り換え
るためのYアドレス信号AO〜Aiのうちどれか一つで
もアドレスが切り換わった場合、アドレス変化検出回路
3より、パルス信号が発生し、T型フリップフロップ回
路6に入力され、このアトIノス変化毎に出力Q、  
Qは反転する。Qはトランジスタ7.8のゲートに入力
され、頁はトランジスタ9,10のゲートに入力される
。ここでトランジスタ?、  8,9. 10は同一極
性であり、出力Q、  Qの反転毎にトランジスタ7.
8と9゜10とはオン、オフが反転し、容量11と12
とのいずれか一方をダミービット線17に接続すると共
に他方を接地電位に接線させてディスチャージさせる。
尚、図中に点線枠で示す回路18の構成はセンス比か1
:nの場合、メモリセルビット線13の寄生容量14.
のプリチャージ時にビット線13に流れる電流IMとダ
ミーセルビット線17に流れる電流IRがIM<nIR
となるようにする。
第3図は本実施例のIM及びIRの時間変化を表し、第
6図は従来例のIM及びIRの時間変化を表す。従来例
ではメモリセルビット線13がtlで切り換わると、寄
生容量14にプリチャージ電流が流れ込み、T1〜T4
の期間はIM>JRとなるためセンスアンプ回路15は
ONセルかOFFセルかに係わらず強制的にONセルの
状態を検出することになる。
従って、■→■の用にOFFセルから違うビット線13
のOFFセルを選択する場合は、センスアンプ回路15
の出力は反転データを出力してしまう。
一方、第3図に示すように、本発明のリファレンス回路
では、OFFセルからビット線13を切り換えてOFF
セルを選択する場合は、ダミーセルビット線17には必
ず容量11または12をプリチャージする電流IRが流
れるので、メモリセルビット線13のプリチャージ電流
IMが流れる期間TIはI R> I Mとなってセン
スアンプ回路15はOFFセルを検知するため、出力の
反転は起こらない。また、この時にメモリセルビット線
17に接続されない容量12または11は接地電位に接
続されてディスチャージされ、次の選択動作に備える。
尚、センスアンプ15の出力をトランスファー用トラン
ジスタ19のゲートに入力し、ONセル検出時にアドレ
ス変化検出回路3からの信号出力を禁止することにより
1、ONセルからビット線13を切り換えてONセルを
選択するときは、ビット線13にプリチャージ電流IM
が流れる期間中はセンスアンプ回路15はONセルを検
知したままなので出力の反転は起こらない。
第4図は本発明の他の一実施例の回路図である。
図中に点線枠で示す回路25及び26はメモリセルと同
じ構成のダミーセルであり、アドレス変化検出回路3の
出力信号により、メモリセルのビット線13が切り換わ
ったときにダミーセルビット線2本のうちの1本のダミ
ーセルビット線な切り離して接地電位に落し、容量22
をディスチャージし、残り1本を接続することにより容
量27のプリチャージ動作を行わせることによりメモリ
セルのビット線13の切り換えアクセス時にOFFセル
からOFFセルを選択する際の出力データの反転をなく
すことができる。本実施例ではリファレンス回路でのプ
リチャージ動作を行わせるための回路をメモリセルと同
じ構成にすることによって、より安定なセンス動作を行
うという効果がある。
[発明の効果コ 以上説明したように本発明は、リファレンス回路のダミ
ーセルビット線にプリチャージ動作を行うための、容量
をビット線が切り換わったことを検知するアドレス変化
検出回路の出力信号により、接続及び切り離しを行うよ
うにしたため、メモリセルデータを検出している最中に
出力データを反転させることがないので、データ出力時
間の遅れ及び、出力データの反転により貫通電流が流れ
てVCC,GND線の変動のための誤動作をなくすこと
ができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路図、第2図は本発明の
一実施例の動作を説明するタイミングチャート、第3図
(a)は本発明の一実施例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第3図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力電圧波形図、第4図は
本発明の他の一実施例の回路図、第5図は従来例の回路
図、第6図(a)は従来例のメモリセルビット線及びダ
ミーセルビット線に流れる電流波形図、第6図(b)は
これに対応するセンスアンプ出力の電圧波形図である。 1・・・・・・・Yアドレス式9フフ回路、2・・・・
・・・Yアドレスデコーダー3・・・・・・・アドレス
変化検出回路、4・・・・・・・NOR回路、 5・・・・・・・インバータ回路、 6 ・ ◆ ・T型フリップフロップ回路、 7〜10゜ 28〜31・・・・切り換え制御用トランジスタ、11
、 12. 14゜ 22.27Φ・φ・Φ・容量、 13争・争争 15・舎・・ 、16 φ ・ ・ ・ 17 ・ φ ・ 舎 19争・φ・ 20Φ争φ争 21・1争 2346 φ 争 24番争・・ ・・メモリセルビット線、 ・センスアンプ回路、 ・バッファ回路、 ・ダミーセルビット線、 トランスファー用トランジスタ、 リファレンスセンスアンプ、 セルアレイ、 リファレンスレベル、 センスアンプ出力。 特許出願人  日本電気株式会社 代理人 弁理士  桑 井 清 − 一〇−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. リファレンス回路のダミーセルビット線に流れる電流と
    メモリセルビット線に流れる電流とを比較してメモリセ
    ルのデータを検出する差動増幅型電流センスアンプにお
    いて、メモリセルビット線の切換アドレス変化を検出す
    るアドレス変化検出回路と、ダミーセルビット線に交互
    に接続可能な複数の容量と、アドレス変化検出回路より
    得られるアドレス変化信号に基づいて一の容量をダミー
    セルビット線に交互に接続させると共に他の容量をディ
    スチャージさせる制御回路とを備えたことを特徴とする
    差動増幅型電流センスアンプ回路。
JP2200251A 1990-07-26 1990-07-26 差動増幅型電流センスアンプ回路 Pending JPH0489691A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2200251A JPH0489691A (ja) 1990-07-26 1990-07-26 差動増幅型電流センスアンプ回路

Applications Claiming Priority (1)

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JP2200251A JPH0489691A (ja) 1990-07-26 1990-07-26 差動増幅型電流センスアンプ回路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0489691A true JPH0489691A (ja) 1992-03-23

Family

ID=16421281

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2200251A Pending JPH0489691A (ja) 1990-07-26 1990-07-26 差動増幅型電流センスアンプ回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0489691A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6181623B1 (en) 1998-12-30 2001-01-30 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Semiconductor MOS/BIPOLAR composite transistor and semiconductor memory device using the same
US6442081B1 (en) 2000-04-26 2002-08-27 Nec Corporation Semiconductor storage device data sensing method and apparatus

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6181623B1 (en) 1998-12-30 2001-01-30 Hyundai Electronics Industries Co., Ltd. Semiconductor MOS/BIPOLAR composite transistor and semiconductor memory device using the same
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