JPH048510B2 - - Google Patents
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- JPH048510B2 JPH048510B2 JP60280357A JP28035785A JPH048510B2 JP H048510 B2 JPH048510 B2 JP H048510B2 JP 60280357 A JP60280357 A JP 60280357A JP 28035785 A JP28035785 A JP 28035785A JP H048510 B2 JPH048510 B2 JP H048510B2
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Landscapes
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- Magnetic Record Carriers (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は磁気デイスクや磁気ヘツド等の表面に
付着せしめて、硬度が高く密着性に優れた耐磨耗
性と潤滑性とを兼ね備えた表面保護層に適する硬
質非晶質炭素膜に関する。
付着せしめて、硬度が高く密着性に優れた耐磨耗
性と潤滑性とを兼ね備えた表面保護層に適する硬
質非晶質炭素膜に関する。
(従来の技術)
磁気デイスクや磁気ヘツドは、磁気デイスク装
置としてコンピユータ端末の情報記憶装置として
広く用いられている。磁気デイスクは、アルミニ
ウム金属ないしはプラスチツク等の基板上にフエ
ライトや鉄、コバルト、ニツケルないしはこれら
化合物またはネオジウム、サマリウム、カドリニ
ウム、テルビウム等の希土類金属やそれらからな
る化合物を磁気記録媒体として塗布法やスパツタ
法により薄い膜状に付着させて用いられる。磁気
ヘツドは、種々の方式があるが、記録媒体に書き
込まれた磁化による磁束を信号として取出すもの
で、可能なかぎり磁気デイスク面に近ずけて使用
されるものである。このため、磁気ヘツドと磁気
デイスクは互いに磨擦しやすく、磁気デイスクの
記録媒体上に発生するきず等から記録媒体を保護
するための保護膜を必要とする。保護膜の備える
べき要点は、磨耗性に優れていること、基板への
密着度が高いこと、表面の潤滑性に優れているこ
と等が掲げられる。膜の硬度は耐磨耗性の評価に
用いることができ、硬度が高いほど耐磨耗性に優
れている。密着性は磁気ヘツドの接触時あるいは
磨擦時に保護膜が剥離しないために重要である。
置としてコンピユータ端末の情報記憶装置として
広く用いられている。磁気デイスクは、アルミニ
ウム金属ないしはプラスチツク等の基板上にフエ
ライトや鉄、コバルト、ニツケルないしはこれら
化合物またはネオジウム、サマリウム、カドリニ
ウム、テルビウム等の希土類金属やそれらからな
る化合物を磁気記録媒体として塗布法やスパツタ
法により薄い膜状に付着させて用いられる。磁気
ヘツドは、種々の方式があるが、記録媒体に書き
込まれた磁化による磁束を信号として取出すもの
で、可能なかぎり磁気デイスク面に近ずけて使用
されるものである。このため、磁気ヘツドと磁気
デイスクは互いに磨擦しやすく、磁気デイスクの
記録媒体上に発生するきず等から記録媒体を保護
するための保護膜を必要とする。保護膜の備える
べき要点は、磨耗性に優れていること、基板への
密着度が高いこと、表面の潤滑性に優れているこ
と等が掲げられる。膜の硬度は耐磨耗性の評価に
用いることができ、硬度が高いほど耐磨耗性に優
れている。密着性は磁気ヘツドの接触時あるいは
磨擦時に保護膜が剥離しないために重要である。
従来この目的のために厚み800Å程度の二酸化
ケイ素(SiO2)やアルミナ(Al2O3)等の酸化物
や、カーボン膜が用いられている。SiO2やAl2O3
は通常シリコンやアルミニウムの有機金属化合物
を溶媒中に溶解したものを塗布乾燥後熱処理する
方法、アルゴンと酸素の混合ガス中でスパツタリ
ングするかないしは蒸着法で作られる。
ケイ素(SiO2)やアルミナ(Al2O3)等の酸化物
や、カーボン膜が用いられている。SiO2やAl2O3
は通常シリコンやアルミニウムの有機金属化合物
を溶媒中に溶解したものを塗布乾燥後熱処理する
方法、アルゴンと酸素の混合ガス中でスパツタリ
ングするかないしは蒸着法で作られる。
カーボン膜は特開昭52−90281に記載された様
な炭素電極の放電によつて作られる炭素イオンビ
ームの蒸着法ないしは1980年発行のジヤーナル・
オブ・ノンクリスタリン・ソリツズ誌
(Journnal of Non Crystalline Solids)第35&
36巻第435ページに記載されているような炭素の
蒸発付着等の方法で作られていた。
な炭素電極の放電によつて作られる炭素イオンビ
ームの蒸着法ないしは1980年発行のジヤーナル・
オブ・ノンクリスタリン・ソリツズ誌
(Journnal of Non Crystalline Solids)第35&
36巻第435ページに記載されているような炭素の
蒸発付着等の方法で作られていた。
(発明が解決しようとする問題点)
先に述べた種々の保護膜材料は、しかしながら
十分な硬度、密着性を有しておらず例えばビツカ
ース硬度でSiO2では2000Kg/mm2アルミナでは
3000Kg/mm2またカーボン膜では3000Kg/mm2程度で
あつた。
十分な硬度、密着性を有しておらず例えばビツカ
ース硬度でSiO2では2000Kg/mm2アルミナでは
3000Kg/mm2またカーボン膜では3000Kg/mm2程度で
あつた。
本発明は以上の欠点を改良した高硬度で耐磨耗
性に優れ特にNipを主成分とする基体との密着度
に優れかつ潤滑性の良好な磁気デイスク表面保護
膜の用途に適する保護膜材料を提供することにあ
る。
性に優れ特にNipを主成分とする基体との密着度
に優れかつ潤滑性の良好な磁気デイスク表面保護
膜の用途に適する保護膜材料を提供することにあ
る。
(問題点を解決するための手段)
本発明の主旨は、表面保護の用途に適する保護
膜材料として、水素を含有する非晶質炭素膜に更
にモリブデン(Mo)を100原子ppm〜1原子%、
リン(P)を50原子ppm〜500原子ppm含有せし
めることを特徴とする硬質非晶質炭素膜を提供す
るところにある。
膜材料として、水素を含有する非晶質炭素膜に更
にモリブデン(Mo)を100原子ppm〜1原子%、
リン(P)を50原子ppm〜500原子ppm含有せし
めることを特徴とする硬質非晶質炭素膜を提供す
るところにある。
本発明になる非晶質炭素膜は水素(H2)中に
メタン(CH4)を0.1%〜5%の範囲で混合した
気体を、第1図に示すように平行平板型の三極直
流グロー放電プラズマ気相合成装置内に導入する
方法で合成する。その際スクリーンメツシユ電極
3として、モリブデン(Mo)を用いることによ
つて、メツシユ電極金属元素がプラズマのイオン
で衝撃され非晶質炭素膜中に導入される現象を利
用しているものである。
メタン(CH4)を0.1%〜5%の範囲で混合した
気体を、第1図に示すように平行平板型の三極直
流グロー放電プラズマ気相合成装置内に導入する
方法で合成する。その際スクリーンメツシユ電極
3として、モリブデン(Mo)を用いることによ
つて、メツシユ電極金属元素がプラズマのイオン
で衝撃され非晶質炭素膜中に導入される現象を利
用しているものである。
導入される金属元素の量は水素11とメタン1
0のガス圧、放電々圧およびスクリーンメツシユ
電極3に印加する電圧によつて制御する。
0のガス圧、放電々圧およびスクリーンメツシユ
電極3に印加する電圧によつて制御する。
陰極電極板上には非晶質炭素膜を付着させるべ
き基体5を設置しておく。直流グロー放電による
反応時の圧力は0.1Torrから10Torrとし、膜硬度
の高い条件とすれば良い。
き基体5を設置しておく。直流グロー放電による
反応時の圧力は0.1Torrから10Torrとし、膜硬度
の高い条件とすれば良い。
なおスクリーンメツシユ電極3はモリブデン金
属を用いて作成することも可能であるがステンレ
スメツシユにモリブデンをメツキないしは蒸着す
る等の方法で被覆することによつて作製する方が
実用的である。
属を用いて作成することも可能であるがステンレ
スメツシユにモリブデンをメツキないしは蒸着す
る等の方法で被覆することによつて作製する方が
実用的である。
リン(P)の導入には、水素ガス中に0.1Kg/
m3以下の比率でフオスフイン(PH3)を混合した
ガス12を原料ガスと共に導入する方法で行えば
良い。
m3以下の比率でフオスフイン(PH3)を混合した
ガス12を原料ガスと共に導入する方法で行えば
良い。
(作用)
通常のメタンと水素の混合ガスを直流グロー放
電させることによつて得られる膜は非晶質で約10
%以上の水素を含有している。水素は炭素原子の
ダングリングボンドの部分に入り炭素の連鎖を閉
じることによつて非晶質状態を安定化させている
構造とされている。
電させることによつて得られる膜は非晶質で約10
%以上の水素を含有している。水素は炭素原子の
ダングリングボンドの部分に入り炭素の連鎖を閉
じることによつて非晶質状態を安定化させている
構造とされている。
本発明者等は、この様な非晶質膜の高硬度化を
達成すべく種々の金属元素の添加効果について炭
素原子のダングリングボンドの一部を水素以外の
金属元素で閉じることを意図し、鋭意研究を進め
モリブデン(Mo)およびリン(P)が密着性の
向上と高硬度化に効果的であることを見出した。
金属元素の添加による密着性の向上と高硬度化の
メカニズムについては不明な点もあるが、金属と
炭素との結合が形成されることによつて膜硬度密
着性が向上すると考えられる。なお水素含有量は
約20〜30原子%以上になると硬度の低下をきたす
ことが考えられる。
達成すべく種々の金属元素の添加効果について炭
素原子のダングリングボンドの一部を水素以外の
金属元素で閉じることを意図し、鋭意研究を進め
モリブデン(Mo)およびリン(P)が密着性の
向上と高硬度化に効果的であることを見出した。
金属元素の添加による密着性の向上と高硬度化の
メカニズムについては不明な点もあるが、金属と
炭素との結合が形成されることによつて膜硬度密
着性が向上すると考えられる。なお水素含有量は
約20〜30原子%以上になると硬度の低下をきたす
ことが考えられる。
(実施例)
硬質非晶質炭素膜の合成には第1図に示すよう
な装置を用いた。直流グロー放電は基体5を設置
していない側の電極に正または負の数百ボルトの
直流電圧を印加し、接地したスクリーンメツシユ
3との間で直流グロープラズマを発生させた。放
電々流密度は1mA/cm3とした。基体5を設置し
た電極6には+100ボルトから−100ボルトまでの
電圧を印加した反応ガスはメタン10を1%〜5
%混合した水素ガス11を用い、圧力は1トール
とし、基体の温度をほぼ室温として1時間反応さ
せた。スクリーンメツシユ3は20〜300メツシユ
が適当でこの実施例では80メツシユを用いた。リ
ンはPH3としてプラズマ中に導入した。
な装置を用いた。直流グロー放電は基体5を設置
していない側の電極に正または負の数百ボルトの
直流電圧を印加し、接地したスクリーンメツシユ
3との間で直流グロープラズマを発生させた。放
電々流密度は1mA/cm3とした。基体5を設置し
た電極6には+100ボルトから−100ボルトまでの
電圧を印加した反応ガスはメタン10を1%〜5
%混合した水素ガス11を用い、圧力は1トール
とし、基体の温度をほぼ室温として1時間反応さ
せた。スクリーンメツシユ3は20〜300メツシユ
が適当でこの実施例では80メツシユを用いた。リ
ンはPH3としてプラズマ中に導入した。
この結果得られた膜は厚み約1μmで均一な干渉
色を呈していた。膜中のモリブデンおよびリンは
螢光X線分析法で分析した。モリブデンの含有量
が100原子ppm〜1原子%リンが50〜500原子ppm
の範囲のものについて膜硬度を評価した所、ビツ
カース硬度で8000〜11000Kg/mm2が得られた。こ
の値は従来の非晶質炭素膜の2〜3倍以上で極め
て高硬度で同時に密着性の高い膜が得られた。な
お第1図で1は真空槽、2は電極、4はガス導入
口7はヒーター、8は圧力調整器、9はロータリ
ポンプである。
色を呈していた。膜中のモリブデンおよびリンは
螢光X線分析法で分析した。モリブデンの含有量
が100原子ppm〜1原子%リンが50〜500原子ppm
の範囲のものについて膜硬度を評価した所、ビツ
カース硬度で8000〜11000Kg/mm2が得られた。こ
の値は従来の非晶質炭素膜の2〜3倍以上で極め
て高硬度で同時に密着性の高い膜が得られた。な
お第1図で1は真空槽、2は電極、4はガス導入
口7はヒーター、8は圧力調整器、9はロータリ
ポンプである。
(発明の効果)
この様に本発明になる硬質非晶質炭素膜は極め
て高硬度で磁気デイスク表面保護の用途に適する
新しい保護膜として有益である。また含有する金
属元素によつて基体との密着性も制御できるので
各種の基体に対しても応用が可能で実用性は極め
て大きい。
て高硬度で磁気デイスク表面保護の用途に適する
新しい保護膜として有益である。また含有する金
属元素によつて基体との密着性も制御できるので
各種の基体に対しても応用が可能で実用性は極め
て大きい。
第1図は本発明に用いた装置の概略図を示す。
第1図において1は真空槽、2は電極、3はス
クリーンメツシユ、4はガス導入口、5は基板、
6は電極、7はヒーター、8は圧力調整器、9は
ロータリーポンプ、10はCH4ガス、11は水素
ガス、12はPH3/H2混合ガス。
クリーンメツシユ、4はガス導入口、5は基板、
6は電極、7はヒーター、8は圧力調整器、9は
ロータリーポンプ、10はCH4ガス、11は水素
ガス、12はPH3/H2混合ガス。
Claims (1)
- 1 水素を含有する非晶質炭素膜に更にモリブデ
ン(Mo)を100原子ppm〜1原子%、リン(P)
を50原子ppm〜500原子ppm含有せしめたことを
特徴とする硬質非晶質炭素膜。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60280357A JPS62139872A (ja) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | 硬質非晶質炭素膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60280357A JPS62139872A (ja) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | 硬質非晶質炭素膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62139872A JPS62139872A (ja) | 1987-06-23 |
JPH048510B2 true JPH048510B2 (ja) | 1992-02-17 |
Family
ID=17623877
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60280357A Granted JPS62139872A (ja) | 1985-12-13 | 1985-12-13 | 硬質非晶質炭素膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62139872A (ja) |
-
1985
- 1985-12-13 JP JP60280357A patent/JPS62139872A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS62139872A (ja) | 1987-06-23 |
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