JPH0483179A - テープキャリヤ用ハンドラ - Google Patents

テープキャリヤ用ハンドラ

Info

Publication number
JPH0483179A
JPH0483179A JP2198149A JP19814990A JPH0483179A JP H0483179 A JPH0483179 A JP H0483179A JP 2198149 A JP2198149 A JP 2198149A JP 19814990 A JP19814990 A JP 19814990A JP H0483179 A JPH0483179 A JP H0483179A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape carrier
handler
measurement
tape
chip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2198149A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2963738B2 (ja
Inventor
Kiyotoshi Miura
清敏 三浦
Yuzuru Togawa
譲 外川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NIPPON MAIKURONIKUSU KK
Micronics Japan Co Ltd
Original Assignee
NIPPON MAIKURONIKUSU KK
Micronics Japan Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NIPPON MAIKURONIKUSU KK, Micronics Japan Co Ltd filed Critical NIPPON MAIKURONIKUSU KK
Priority to JP2198149A priority Critical patent/JP2963738B2/ja
Publication of JPH0483179A publication Critical patent/JPH0483179A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2963738B2 publication Critical patent/JP2963738B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、テープキャリヤ用ハンドラに関し、特にテ
ープキャリアの搬送及びプローブとの位置合わせに利用
して有効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
ICの実装技術の分野では、電子機器の小型、軽量化や
特殊形状化等に対応するために、テープキャリヤ方式の
実装技術が用いられている。この実装技術1よ、テープ
状に形成されたプラスティックフィルムを区画化し、各
区画毎に実装するICチップの電極配列に合わせてリー
ドパターンや電極(パッド)等を形成して、これにIC
等の電子部品を実装するものである。このようなテープ
キャリヤをテープ状のままで連続的に処理する検査装置
の例としては、例えば特開平1−163678号公報が
ある。
〔発明が解決しようとする課題〕
従来技術におけるテープキャリヤの搬送方法は、テープ
キャリヤの両側に一列に並んで形成されたスプロケット
ホール(コマ送り穴)にスプロケットの爪を掛けて駆動
するものである。このような搬送方法を採ると、搬送−
停止(測定中)が繰り返しが行われるとき、スプロケッ
トホールに変形もしくは破損などのダメージを与えない
ように比較的遅い速度での搬送しかできない。
また、テープ位置の検出機構として、工業用テレビジョ
ンカメラを用いた画像認識によりテープの位置検出を行
い、位置ずれが生じると搬送手段又はプローブ本体を微
動させて位置修正を行うようにしている。しかし、この
方法では、位置の修正が完了しなければ、測定が行われ
ないため上記搬送速度の制限と相俟って、装置の高速化
を妨げている。
この発明の目的は、高速で高精度の搬送を実現したテー
プキャリア用ハンドラを提供することにある。
この発明の他の目的は、高速で高精度の位置合わせを実
現したテープキャリア用ハンドラを提供することにある
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴は
、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔課題を解決するための手段〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、テープキャリヤにおける上記電子部品が搭載
されない部分を上下から挟むようにホールドして指定さ
れ距離分だけの搬送を行うようにする。測定ポジション
に対する送り側における一定の位置に位置検出手段を設
けておき、測定動作と並行して位置検出情報により測定
ポジションまでの送り量を算出して次に測定すべき電子
部品を搬送する。
〔作 用〕
上記した手段によれば、テープキャリヤを上下から挟ん
で搬送するため、スプロケットホールの変形や破損を考
慮する必要がないから高速搬送が可能となる。また、測
定と位置検出とを同時に並行して行われるから位置検出
によるタイムラグが生じない。
〔実施例〕
第1図には、この発明に係るテープキャリヤ用ハンドラ
の一実施例の概略構成図が示されている。
テープキャリヤは、例えば厚さが約50〜125μmの
ガラスエポキシ樹脂からなるテープ状基板にICチップ
の電極配列に合わせてリードパターンや電極(パ・ノド
)等が形成され、これにIC等の電子部品が実装されて
なるものである。テープキャリアは、供給用のリール1
に巻かれており、ガイドとしてのローラエを介して第1
の搬送手段−測定ポジシゴンー第2の搬送手段−ガイド
としてのローラ2を経由して収納用のり−ル2に巻き取
られる。
この実施例では、特に制限されないが、測定ポジション
を挟んで、送り側と巻き取り側の両方に一対からなる第
1と第2の搬送手段が設けられる。
そして、上記テープ牛ヤリャの高速搬送を実現するため
、テープキャリヤの両側に設けられるスプロケットホー
ルを用いないので、上記スプロケットホールが形成され
る両側、言い換えるならば、テープキャリヤのうちIC
等の電子部品が実装されない部分を、上面と下面から挟
み込んでホールドし、区画化されたテープキャリヤの1
ピツチ分に相当する距離を搬送させる。
すなわち、測定ポジションPCに対して送り側に設けら
れるホルダIUとILは、ポジションPAをホームポジ
ションとして互いに上下からテープキャリヤを挟み込む
ようにしてホールドする。
同様に、測定ポジションPCに対して巻き取り側に設け
られるホルダ2Uと2Lも、ポジションPDをホームポ
ジションとして互いに上下からテープキャリヤを挟み込
むようにしてホールドする。
上記2つの搬送手段としてのホルダIU、IL及び2U
、2Lは、上記のホームポジションにおいて、測定ポジ
ションでのICチップの測定試験を待っている。
測定ポジションPCでは、特に制限されないが、測定台
に設けられた真空吸着手段によりテープキャリヤの裏面
(同図では上面)側を吸引固定し、テープキャリヤの表
面(同図では下面)側に設けられたICチップと接続さ
れるリード等の電極にブローフ゛ユニットのプローブが
押し当てられることによって電気的接触が行われ、交流
的(又は機能的)及び直流的な特性測定が行われる。
なお、特に制限されないが、測定台とプローブユニット
とはアップ/ダウン動作を行い、テープキャリヤの搬送
時には互いにテープキャリヤから離れるようにアップと
ダウン動作を行い、測定時にはテープキャリヤを挟み込
むようにダウンとアップ動作を行う。プローブユニット
は、特に制限されないが、プリント基板等のボードに上
記測定すべきICチップの電極ないしリードに先端が位
置合わせされて固定されれた細い線条からなる複数のプ
ローブを持っている。このプローブユニットは、基本的
には半導体ウェハ上に完成された半導体チップの特性試
験(ブロービング)に用いられるプローブボードと同様
な構成のものを利用することができる。
この実施例では、測定ポジションでのプローブユニット
と測定を行うべきICチップとの位置合わせ(針合わせ
)のタイムラグを無くすために、上記ホルダIUとIL
は、上記測定ポジションを基準にしてポジションPBが
ICチップが設けられる区画に対して1ピツチ分だけ手
前に設定され、ポジションPAが2ピツチ分だけ手前に
設定される。
上記ポジションPAとPBの間を搬送手段が往復してテ
ープキャヤヤの搬送を行う。すなわち、上記ポジション
PAにおいてホルダIUとILがテープキャリヤを挟ん
込んでホールドし、その状態まま搬送方向にポジション
PBまで1ピ・ノチ平行移動する。これと対応して、測
定ポジションに対して巻き取り側にもポジションPDと
PEのように1ピツチの間隔でホルダ2U、2Lが連動
してテープキャリヤの巻き取りのための搬送を行う。
第2図には、ホルダ2Uと2Lの一実施例の斜視図が示
されている。
同図に示すように、ホルダ2Uと2Lは薄く細長いフィ
ルム状のテープキャリヤのスプロケットホールが設けら
れる両側を上下から挟み込むように、その断面形が凹状
に形成される。ホルダ2Uと2Lの凹部は電子部品がそ
こに収まるように設けられる。それ故、テープキャリヤ
の裏面(上面)側が平坦なら、上側のホルダ2Uは上記
凹部を省略する構成としてもよい。
この実施例の搬送手段にあっては、従来技術のようにス
プロケットホールにスプロケットの爪を引っ掛けて搬送
するものではないので、搬送時にスプロケットホールを
変形ないし破損させる虞れがない。これにより、テープ
キャリヤを測定中の停止状態から高速に搬送してもテー
プキャリヤを変形ないし破損させる虞れがないから、高
速に次に測定すべきICチップを測定ポジションPCま
で搬送することができる。
また、この実施例では、測定の針合わせが同時に平行し
て行われる。
このために、特に制限されないが、測定ポジションPC
を基準にして約1ピツチ手前のポジションPBに、位置
検出を行う工業用テレビジョンカメラを設置する。この
ため、送り側の搬送手段は、第3図に示すように、カメ
ラ側に面した下側のホルダILには、開口が設けられ、
テープキャリャに実装されたIC及びそのリード等の撮
影が可能にされる。同図では、第1図及び第2図に示し
たホルダとは上下が逆に描かれていることに注意された
い。
このような開口を持つホルダILを用いることにより、
測定すべきICを測定ポジションまで搬送すると、ポジ
ションPBには次に測定すべきICチップが来ることに
なる。これをホルダILの開口を通して上記カメラによ
り撮影し、それを図示しない画像処理装置によりパター
ン認識を行い、特徴パターンの位置から位置ずれを検出
する。すなわち、上記カメラが設けられる位置は、上記
測定ポジションに対して例えば1ピンチ分だけずらして
正確に設定されるから、ポジションPBでの位置ずれは
そのまま測定ポジションでの位置ずれに対応させること
ができる。
このような撮影が開始されると、直ちにホルダIUとI
Lは、第1図に矢印で示したように、互いに上及び下に
移動し、テープキャリヤを解放して、前記ホームポジシ
ョンPAの位置まで平行移動し再び下及び上に移動して
テープキャリヤを挟み込んで測定終了まで待機している
そして、ICチップの測定が終了すると、上記パターン
認識により検出された位置ずれを修正するように、1ピ
ンチの搬送動作を行う。すなわち、ポジションPBでの
位置ずれが一ΔLであるとし、1ピンチ分の搬送距離が
してあるとすると、L−Δしたけ上記ホルダIUとIL
により搬送させる。
これにより、測定ポジションPCに運ばれるICは、位
置ずれが自動的に修正できるから直ちにブローブユニン
トによる電気的接触を行って測定を開始することができ
る。
なお、巻き取り側のホルダ2Uと2Lも上記のような送
り側の搬送距離に対応し、かつ送り側のホルダIU、I
Lと同期して上記同様なテープキャリヤの搬送動作を行
う。
このように測定中に実質的な位置検出を行うとともに、
ホルダをホームポジションで待機させる構成を採ること
によって、上記のようなテープキャリヤの搬送速度の向
上と相俟って測定試験時間の大幅な短縮化が可能になる
上記のようなホルダIU、LL及び2U、2Lのストロ
ーク動作は、搬送方向をX方向とし、上下動をZ方向と
すると、X及びZステージを利用して行うことができる
。すなわち、搬送方向の移動はリードスクリューの回転
とそのネジピッチにより高精度の搬送動作を行わせるこ
とができる。
あるいは、上記搬送方向の移動はりニアモータを利用し
て位置制御を行うものであってもよい。また、Z方向の
移動は、単にテープキャリヤの表面からホルダを解放す
ると、所定の接触圧をもってテープキャリヤが滑らない
ように挟み込むものであればよいからカムとバネ等を利
用したものを用いることができる。
上記の実施例から得られる作用効果は、下記の通りであ
る。
(11テープキヤリヤにおける上記電子部品が搭載され
ない部分を上下から挟むようにホールドして指定され距
離分だけの搬送を行うようにすることにより、スプロケ
ットホールの変形や破損を考慮する必要がないから高速
搬送が可能になるという効果が得られる。
(2)測定中に搬送動作を行うホルダをホームポジショ
ンまで移動させて待機させることにより、測定終了と同
時に次のICチップの搬送が可能になるから、上記(1
)と相俟っていっそうの高速搬送が可能になるという効
果かえられる。
(3)測定ポジションに対する送り側の一定の位置に位
置検出手段を設けておき、測定動作と並行して位置検出
情報により測定ポジションまでの送り量を算出して次に
測定すべき電子部品を搬送することより、位置検出と修
正のためのタイムラグをなくすことができるという効果
が得られる。
(4)上記(11ないしく3)が相乗的に作用すること
によって、テープキャリヤのICチップの測定試験時間
を大幅に短縮することができるという効果が得られる。
以上本発明者によりなされた発明を実施例に基づき具体
的に説明したが、本願発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、第1図において
、位置検出手段としてのカメラが設けられる位置は、測
定ポジションPCに対して2ピツチ又は3ピツチ等のよ
うに電子部品の整数倍ピンチのように測定ポジションに
対して基準となる一定の距離を持って配置するものであ
ればよい。これと同様に、ホルダIU、IL及び2U、
2Lのストロークは、電子部品の1ピンチに対応させる
ことが最も効率がよいが、半ピツチ等のように1/N(
Nは整数)のピッチを単位として搬送動作を行うように
するものであってもよい。ホルダの接触面にギザギザや
すべり摩擦を大きくする層を設けること、あるいは真空
吸着手段を設ける等してテープキャリヤのホールドをよ
り効果的にするものであってよい。ホルダとしては、テ
ープキャリヤを上下から挟み込むようにした一対の回転
ロールにより構成するものであってもよい。
第1図において、テープキャリヤを縦方向に搬送する構
成としてもよい。すなわち、第1図において、約90”
回転させて装置を構成するものであってもよい。あるい
は、プローブユニットと測定台の関係を上下逆にするも
のであってもよい。
この場合には、リール1とリール2がハンドラの下側に
設けられる。テープキャリヤを上下から挟み込んで搬送
する搬送方式を採る場合、搬送されるテープキャリヤの
位置検出とその修正を従来と同様に測定ポジションにお
いて行うものであってもよい。あるいは、測定ポジショ
ンの手前に設けられた位置で位置検出を行う方式を採る
場合には、テープキャリヤに設けられるスプロケットホ
ールを利用して搬送を行う構成としてもよい。
この発明は、テープキャリヤ用ハンドラとして広く利用
できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、下記の通りである
。すなわち、テープキャリヤにおける上記電子部品が搭
載されない部分を上下から挟むようにホールドして指定
され距離分だけの搬送を行うようにすることにより、ス
プロケットホールの変形や破損を考慮する必要がないか
ら高速搬送が可能になる。また、測定中に搬送動作を行
うホルダをホームポジションまで移動させて待機させる
ことにより、測定終了と同時に次のICチップの搬送が
可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明に係るテープキャリヤ用ハンドラの
一実施例を示す概略構成図、 第2図は、それに用いられる送り側の搬送手段の一実施
例を示す斜視図、 第3図は、それに用いられる巻き取り側の搬送手段の一
実施例を示す斜視図である。 第3図 ホルダIU

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、テープ状基板に電子部品が搭載されてなるテープキ
    ャリヤにおける上記電子部品が搭載されない部分を上下
    から挟むようにホールドして指定された距離分だけの搬
    送を行う搬送手段を備えてなることを特徴とするテープ
    キャリヤ用ハンドラ。 2、上記搬送手段は、測定部を挟んでテープキャリヤの
    送り側と巻き取り側に両方それぞれ設けられ、上記電子
    部品の測定中にホールド状態を解放して一定のピッチだ
    け戻るように制御されるものであることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載のテープキャリヤ用ハンドラ。 3、測定ポジションに対して約電子部品の整数倍ピッチ
    分手前の所定の位置に位置検出手段を設け、測定動作と
    並行して位置検出情報により測定ポジションまでの送り
    量を算出しておき、次に測定すべきテープ電子部品に対
    応してテープキャリヤを搬送することを特徴とするテー
    プキャリヤ用ハンドラ。 4、上記テープキャリヤを搬送する手段は、測定ポジシ
    ョンに対して送り側と巻き取り側の双方に設けられ、テ
    ープ状基板に電子部品が搭載されてなるテープキャリヤ
    における上記電子部品が搭載されない部分を上下から挟
    むようにホールドして指定されたピッチ分の移動させる
    ものであることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載
    のテープキャリヤ用ハンドラ。 5、上記テープキャリヤを搬送する手段は、測定ポジシ
    ョンに対して電子部品の1ピッチ分手前と2ピッチ分手
    前の間を往復し、位置検出手段に対応した部分に開口が
    設けられるものであることを特徴とする特許請求の範囲
    第第3又は第4項記載のテープキャリヤ用ハンドラ。
JP2198149A 1990-07-26 1990-07-26 テープキャリヤ用ハンドラ Expired - Fee Related JP2963738B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2198149A JP2963738B2 (ja) 1990-07-26 1990-07-26 テープキャリヤ用ハンドラ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2198149A JP2963738B2 (ja) 1990-07-26 1990-07-26 テープキャリヤ用ハンドラ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0483179A true JPH0483179A (ja) 1992-03-17
JP2963738B2 JP2963738B2 (ja) 1999-10-18

Family

ID=16386276

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2198149A Expired - Fee Related JP2963738B2 (ja) 1990-07-26 1990-07-26 テープキャリヤ用ハンドラ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2963738B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015033744A1 (ja) * 2013-09-06 2015-03-12 ヤマハファインテック株式会社 電気検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015033744A1 (ja) * 2013-09-06 2015-03-12 ヤマハファインテック株式会社 電気検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2963738B2 (ja) 1999-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9668393B2 (en) Substrate fixing apparatus and substrate working apparatus
JP6663939B2 (ja) 電子部品の実装装置と表示用部材の製造方法
US20140202641A1 (en) Apparatus for producing ic chip package
KR102050477B1 (ko) 전자 부품의 실장 장치와 표시용 부재의 제조 방법
JP6663940B2 (ja) 電子部品の実装装置と表示用部材の製造方法
JPWO2017022098A1 (ja) 部品実装機
JP4202102B2 (ja) 半導体装置のテーピング装置
KR101052726B1 (ko) 소자핸들러
KR20020076120A (ko) 테이프 캐리어 패키지 핸들러
JP2005035569A (ja) 小型部品のテーピング装置
JP2009004652A (ja) 電子部品の実装装置及び実装方法
JP2017028151A (ja) 基板作業装置
US6550133B1 (en) Surface mounting apparatus installed with tray feeder
JPH0483179A (ja) テープキャリヤ用ハンドラ
JP6792631B2 (ja) 基板作業装置
JP3410050B2 (ja) 電子部品搬送装置
JP7386754B2 (ja) 部品実装機
JP7332515B2 (ja) 部品実装ライン
JP2014154620A (ja) 基板搬送装置、基板の搬送方法
JP2008218697A (ja) 部品実装装置
JP2538800B2 (ja) フレ―ムの搬送切換機構並びにその切換方法
JP2017050496A (ja) 部品実装装置および部品実装システム
JPH10303225A (ja) 電子部品のマウント装置とその方法および実装装置
JPH09330957A (ja) ボンデイング装置およびその方法
JP2006071313A (ja) パターン自動検査装置

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees