JPH0482942A - 検反装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は織布における傷の有無を検出する装置に関する
ものである。

［従来の技術１ 織布上の傷の有無を探る方式としては織布に光を当て、
その反射光あるいは透過光を電気信号に変換すると共に
、この変換電気信号の変化に基づいて傷の有無を判別す
るものが特公昭５３−４１５６号公報、特開昭５３−４
５４８４号公報及び特開昭５３−１１１１８５号公報に
開示されている。

特公昭５３−４１５６号公報では変換電気信号の高周波
及び低周波のノイズを除いた後にコンパレータに通すと
共に、コンパレータから出力される矩形波を積分回路に
通し、積分回路から出力されるのこぎり波としきい値と
を比較するようになっている。しきい値を越えるのこぎ
り波があれば傷有りの判別が行われる。この検出方式で
は変換電気信号が糸密度に応じた周期性を持つことを前
提としており、この周期性を利用して織布上の傷有無の
検出が図られている。この周期性は特開昭５３−１１１
１８５号公報の検反方式でも利用されている。

特開昭５３ｉ５４８４号公報では織布に当てられる光の
スポット形状を糸方向に長い長方形状とし、これにより
ノイズ成分を平均化して検出感度の向上が図られている
。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、織布の曲がり、皺、糸の曲がり、糸の太
さむらあるいは糸密度むら等の原因により特公昭５３−
４１５６号公報及び特開昭５３−１１１１８５号公報で
言うように変換電気信号の変化が糸密度に必ずしも対応
はしていない。織布の曲がり、皺、糸の曲がり、糸の太
さむらあるいは糸密度むらがあれば発生ノイズが大きく
なり、誤検出が避けられない。

特開昭５３−５４８４号公報では織布の曲がり、皺、糸
の曲がり、糸の太さむらあるいは糸密度むらの影響を取
り除いてノイズ発生を抑制しようとするものである。し
かしながら、長方形状の縦横方向の分解能が異なるため
に特定方向の分解能が低下してしまい、この低下方向に
沿って発生する傷については検出能力が低下する。さら
に布表面には糸の交錯による凹凸があるため反射（透過
）特性が複雑となり、長方形スポットによりノイズ低減
がなされない場合や傷検出が十分に行われない場合もあ
り得る。

本発明は織布の曲がり、皺、糸の曲がり、糸の太さむら
あるいは糸密度むらの影響を回避して高精度の検反性能
を達成し得る検反装置を提供することを目的とするもの
である。

［課題を解決するための手段］ そのために本発明では、織布上に該織布の糸ピッチを考
慮した幅の走査光を投射する投光手段と、前記走査光の
反射光あるいは通過光を電気信号に変換する受光手段と
、前記織布の糸ピッチと該織布を構成する凹凸の周期性
とを考慮した特定範囲における前記受光手段からの出力
信号を平均化すると共に、この平均化信号を出力する平
均化手段と、前記平均化信号に基づいて織布上の傷の有
無を判別する判別手段とにより検反装置を構成した。

［作用］ 走査光は織布上を例えば緯糸方向に複数回走り、その走
査線位置が経糸方向に一定ピッチで相対的に移行してゆ
く。平均化手段における平均化とは所定の走査回数毎に
各走査の変換電気信号を加算した後、所定の走査回数で
割るか、あるいは前記変換電気信号をただ単に加算する
ことを意味しており、平均化手段はこの平均化された信
号を判別手段に出力する。この走査回数分の経糸方向の
特定範囲は原理的に２倍以上であることが好ましく、こ
れにより傷有無判別を行なう上で必要な緯糸２本が常に
この特定範囲に包含される。さらに、走査光の幅は糸ピ
ッチ程度以下とすれば、さらに好ましくは糸ピッチの１
／２程度以下とすれば、織布の傷に対して充分に小さく
、分解能が高く、また前記特定範囲における走査回数は
２回あるいは４回程度以上となり、織布を構成する糸の
凹凸の周期性によって前記の平均化された信号はノイズ
の少ないものとなる。判別手段はこの平均化信号に基づ
いて傷有無の判別を行なう。

このような平均化は糸の交錯による布面凹凸の影響を小
さくする効果があり、さらに織布の曲がり、皺、糸の曲
がり、糸の太さむらあるいは糸密度むらに起因するノイ
ズの影響等も小さくする効果かある。このようなノイズ
は前記所定走査回数Ｍの函に比例して減少する。又、走
査光の走査方向としては糸軸方向に限らず糸軸方向に対
しである程度傾いた方向も傷信号レベルは低下するもの
の検出は可能であることを意味する。

［実施例］ 以下、本発明を具体化した一実施例を第１〜４図に基づ
いて説明する。

綜絖枠１によって開口形成される経糸Ｔと織布Ｗとの境
である織前Ｗ１の手前の上方には受光体２が織幅方向に
架設支持されており、受光体２の上面には多数本の光フ
ァイバー３が織幅方向へ１列状態で植設されている。光
ファイバー３の先端は受光体２を上方から下方へ貫通し
て織布Ｗ上の近傍に表出しており、光ファイバー３の末
端部は束ねられてフォトダイオード４の受光面に密設し
ている。

受光体２の上方にはモータ５が経糸方向に配置されてお
り、その駆動軸には反射板５ａが取り付けられている。

反射板５ａはモータ５の作動によって織幅方向へ往復回
動可能である。反射板５ａの側方にはレーザー発振器６
が設置されており、レーザー発振器６から投射されるレ
ーザー光の投射線がレンズ系７を介して反射板５ａの反
射面と交差する。反射板５ａはレーザー発振器６からの
レーザー光を織布Ｗに向けて反射するように往復回動じ
、織布Ｗ上を走査するレーザー光Ｌ（以下、走査光とい
う）は織布Ｗの織幅全域を横切る。モータ５及びレーザ
ー発振器６はそれぞれ駆動回路８．９を介して織機制御
コンピュータＣ８の制御を受ける。レンズ系７は織布Ｗ
上で走査光りの径ｄを織布Ｗの緯糸の径以下の円形スポ
ットに収束するものである。

走査光りは受光体２の近傍の織布Ｗに当たり、その反射
光の一部が受光体２上の光ファイバー３の先端口に入射
する。この反射光は光ファイバー３を経由してフォトダ
イオード４の受光面に案内され、フォトダイオード４に
て電気信号に変換される。この変換電気信号は微弱であ
り、この微弱な変換電気信号は増幅器１０で増幅される
。

増幅器１０には平均化回路１１が接続されており、平均
化回路１１には織機制御コンピュータＣ８、判別回路１
２及びトリガ信号発生器１３が接続されている。又、判
別回路１２には織機制御コンピュータＣ８が接続されて
いる。トリガ信号発生器１３は走査光りの走査線位置上
かつ織布Ｗの側方に設置されており、走査光りを受光し
てトリガ信号を平均化回路１１に出力する。

平均化回路１１は、アナログ−デジタル（ＡＤ）変換器
１４、メモリ回路１５、割り算回路１６、デジタル−ア
ナログ（Ｄ　Ａ）変換器１７、クロック回路１８、メモ
リ制御回路１９及び加算回路２０から構成されている。

クロック回路１８はトリガ信号発生器１３からのトリガ
信号入力に基づいて走査光りの１回の走査時間を内にク
ロック信号をＮ回出力する。

ＡＤ変換器１４はクロック回路１８からのクロック信号
の入力毎に増幅器ＩＯからのアナログ信号をデジタル信
号に変換してメモリ回路１５に出ノＪする。

メモリ回路１５はＡＤ変換器１４からのデジタル情報を
順次格納してゆく。

加算回路２０は走査光りの１回の走査終了毎にメモリ回
路１５に前回まで格納されたデジタル情報に新たなデジ
タル情報を加算し、この加算結果を再びメモリ回路１５
に格納する。

メモリ制御回路１９は織機制御コンピュータＣ８に接続
されており、織機制御コンピュータＣ８は走査光りの所
定の走査回数Ｍの情報をメモリ制御回路１９に転送する
。メモリ制御回路１９は加算回路２０で行われるデータ
読み込み及び書き込みに関するメモリアドレスの変更を
制御し、デジタル情報の格納終了毎にＡＤ変換終了信号
をクロック回路１８に出力する。

割り算回路１６は織機制御コンピュータＣ６に接続され
ており、織機制御コンピュータＣ６は所定走査回数Ｍの
情報を割り算回路１６に転送する。

割り算回路１６はこの所定走査回数Ｍによって前記加算
結果の平均化、即ち加算結果をＭで割り算する。この平
均化はＡＤ変換器１４がデジタル変換する単位、即ち織
幅の１／Ｎ毎に行われ、この平均化信号はＤＡ変換器１
７に出力される。

ＤＡ変換器１７は平均化信号をアナログ信号に変換して
判別回路１２に出力する。

判別回路１２は微分回路２１、コンパレータ２２及び可
変抵抗器２３から構成されており、可変抵抗器２３の分
圧比調整によってコンパレータ２２のしきい値Ｖ。が変
更される。コンパレータ２２の出ツＪは通常負電圧であ
るが、微分回路２１からコンパレータ２２へ入力する微
分信号がしきい値Ｖｏを越えるとコンパレータ２２の出
力が正電圧になり、これが傷有信号として織機制御コン
ピュータＣ８に出力される。

織機上での検反は以下のように行われる。

まず、入力設定器２４によって織機回転数ｒ、緯糸密度
ｐ、経糸密度、緯糸径、経糸径、緯糸間ピッチの倍数ｋ
及び走査光りのスポット径ｄといった走査回数演算用デ
ータ、並びにしきい値Ｖ。

を織機制御コンピュータＣｏに入力する。織機制御コン
ピュータＣ８は入力された織機回転数ｒ及び緯糸密度ｐ
を用いて次式（１）によって織布移動速度Ｖを算出する
。

ｖ　−（２５，，４／ｐ）　　÷　（ｎ／６０）・　・
　・　（１） 次いで織機制御コンピュータＣ８は織布移動速度Ｖ及び
スポット径ｄを用いて次式（２）によって緯糸間ピッチ
の走査回数Ｓを算出する。

ｓ　＝　ｖ　／　ｄ ・　・　・　（２） さらに織機制御コンピュータＣ８は次式（３）によって
緯糸間ピッチの倍数ｋにおける範囲の走査回数Ｍを算出
する。

Ｍ＝ｋｓ ・　・　・　（３） 織機制御コンピュータＣ８は算出した走査回数Ｍのデー
タを平均化回路１１のメモリ制御回路１９及び割り算回
路１６に転送する。

走査回数演算用データを織機制御コンピュータＣｏに入
力した後、入力設定器２４によって検反開始信号を織機
制御コンピュータＣ６に入力すると、織機制御コンピュ
ータＣ８は駆動回路８にレーザー駆動信号を出力すると
共に、駆動回路９にモータ駆動信号を出力する。これに
よりレーサー発振器６が発振すると共に、モータ５が往
復回動し、走査光りか織布Ｗ上を受光体２に沿って走査
する。モータ５の往復回動制御は前記算出された走査回
数Ｍに基づいて行われる。

織機運転は検反開始信号入力後に行われ、織布Ｗが速度
Ｖで移動しつつ走査光りの走査を受ける。

織布Ｗから反射する走査光りの一部は光ファイバー３を
介してフォトダイオード４に受光され、電気信号に変換
される。

変換電気信号は増幅器１０で増幅された後に平均化回路
１１のＡＤ変換器１４に送られる。走査光りは織布Ｗの
織幅を走査通過してトリガ信号発生器１３に当たり、ト
リガ信号発生器１３は走査光りを検出するとトリ力信号
をクロック回路１８に出力する。クロック回路１８はク
ロック信号をＡＤ変換器１４に出力し、ＡＤ変換器１４
はクロック信号の入力毎にＡＤ変換を行なう。メモリ制
御回路１９はＡＤ変換終了毎にＡＤ変換終了信号をクロ
ック回路１８に出力し、クロック回路１８はＡＤ変換終
了信号入力毎にクロック信号を時間間隔ｔ／Ｎで出力す
る。

ＡＤ変換値■□、ｎはメモリ回路１５に順次格納されて
ゆく。ｎは１回の走査におけるＡ、　Ｄ変換回数を表し
、ｎ≦Ｎである。この格納されたＡＤ変換値Ｖ。、、、
は加算回路２０によって前回走査までのＡＤ変換値Ｖ　
ｍ−１，ｎ　＋　Ｖｍ−２，＊　　・・・の加算結果Σ
Ｖｍ−１，。に加算され、この新たな加算結果ΣＶｍ、
１がメモリ制御回路１９のメモリアドレス変更によって
メモリ回路１５に再び格納される。

メモリ制御回路１９は前記加算動作を走査回数Ｍだけ遂
行すると加算結果ΣＶ□、。を割り算回路１６へｎに関
して、即ちＡＤ変換単位で順次出力する。割り算回路１
６は入力される加算結果値＜Ｖｎ＞−ΣＶｍ、。７Ｍを
ＤＡ変換器１７に出力する。

ＤＡ変換器１７で変換された平均値＜Ｖｎ＞のアナログ
平均値〈Ｖｆｉ〉は判別回路１２の微分回路２１に送ら
れ、微分回路２１はアナログ平均値〈Ｖｎ〉を微分して
その結果をコンパレータ２２に出ノＪする。コンパレー
タ２２はアナログ平均値〈Ｖ９〉の微分値＜ｖｎ＞　’
　としきい値■。とを比較し、＜Ｖ、、＞　’　＞Ｖｏ
であれば正電圧の傷有信号を織機制御コンピュータＣ８
に出ノｊする。織機制御コンピュータＣ６は傷有信号が
入力すると織布Ｗ上の傷発生位置を記憶する。

織機制御コンピュータＣ８は停止信号が入力すると織機
モータの作動を停止すると共に、レーサー発振器６及び
モータ５の作動を停止する。

第４図の曲線Ｄ１は走査光りが緯糸Ｙ上を走査した場合
の反射光量を概略表し、曲線Ｄ２は走査光りが緯糸Ｙと
緯糸Ｙとの間を走査した場合の反射光量を概略表す。こ
のように織布Ｗからの反射光量は織布Ｗ上の走査光りの
走査位置の違いによってかなり異なるものであり、さら
には織布の曲がり、織布の皺、糸の曲がり、糸の太さむ
らあるいは糸密度むら等によっても反射光量が異なる。

このような反射光量の違いは変換電気信号のノイズとし
て現れ、変換電気信号の変化が糸密度に必ずしも対応し
ないことを表している。そのため、１回の走査毎の変換
電気信号の微分値としきい値とを比較しても傷有無の精
度のよい判別はできない。

このようなノイズを除去すること、即ち織布上の走査位
置の違い、織布の曲がり、織布の皺、糸の曲がり、糸の
太さむらあるいは糸密度むら等の影響を取り除くには複
数回の走査の平均を取ることが有効であり、平均化され
た電気信号のＳ／Ｎ比は函に比例して小さくなる。

第３図（ａ）　、　　（ｂ）　、　　（ｃ）　、　　（
ｄ）　、　　（ｅ）　。

（ｆ）の曲線Ｅ＋　、Ｅ２　、Ｅ３　、Ｅ４　、Ｅ５．
ＥｅはＭ＝２２．２３．２’、２５．２’、２’の各走
査回数における平均化された電気信号を表す。

横軸は緯糸方向の位置を表す。走査回数Ｍとじて２の乗
数倍をとっているのは平均化演算の簡単化のためである
。曲線Ｅ１〜Ｅ６から明らかなように平均化された電気
信号におけるノイズの影響が走査回数Ｍを大きくするに
つれて小さくなる。各曲線Ｅ１〜Ｅ６は経糸の通し違い
に起因する傷有の場合の平均化電気信号であり、位置ｘ
１付近で通し違いが生じている。

なお、各曲線Ｅ１〜Ｅ６が傾斜しているのは織布Ｗに対
する走査光りの入射角及び反射角が織幅方向ですこしず
つ違い、反射光量がすこしずつ違うためである。

第３図（ａ）〜（ｆ）から明らかなように平均化のため
の走査回数Ｍを増やせばＳ／Ｎ比が小さくなる。従って
、走査回数Ｍを増やすほど織布上の走査位置の違い、織
布の曲がり、織布の皺、糸の曲がり、糸の太さむらある
いは糸密度むら等の影響が小さくなるが、走査回数Ｍを
あまり増やすと曲線Ｅ６上の部位Ｅ６°で表す傷の信号
が目立たなくなってしまう。そのため、本実施例では経
糸方向に関して緯糸間ピッチの１０倍程度の範囲を平均
化のための範囲としている。即ち、式（３）で用いられ
る緯糸ピッチ間の倍数には１０倍程度の範囲で走査回数
Ｍが２の乗数倍となるように選択される。

第３図（ｇ）の曲線Ｅ７は緯糸緩みの傷検出の平均化電
気信号であり、位置ｘ２付近の曲線Ｅ７の部位Ｅ７’　
が緯糸緩み部位を表す。又、曲線Ｅ８は油汚れの傷検出
の平均化電気信号であり、位置ｘ３付近の曲線Ｅ８の部
位Ｅ　８ｊが油汚れ部位を表す。

走査回数Ｍを考慮したこのような平均化によってノイズ
を除去しつつ傷を表す信号部位を目立たせることができ
、精度の高い傷有無の判別を行なうことができる。

又、本実施例では平均化のための信号処理を７１−ドウ
エアで行なうために高速の信号処理ができる。

本発明は勿論前記実施例にのみ限定されるものではなく
、例えば第５図及び第６図（ａ、）、　　（ｂ）に示す
ようにデジタルーシグナループロセ・ソサ（ＤＳＰ）２
５を用いたソフトウェア処理による検反装置も可能であ
る。第６図（ａ）、（ｂ）はＤＳＰ２５を用いた検反装
置の検反プログラムを表すフローチャートである。

まず、入力設定器２４によって織機回転数ｒ、緯糸密度
ｐ、経糸密度、緯糸径、経糸径、緯糸間ピッチの倍数ｋ
及び走査光りのスポット径ｄといった走査回数演算用デ
ータ、しきい値■。、並びに読み込み数Ｎを織機制御コ
ンピュータＣｏに入力する。読み込み数Ｎは走査１回当
たりにクロック回路２６からＡＤ変換器２７及びＤＳＰ
２５に出力されるクロック信号の数である。織機制御コ
ンピュータＣ６は入力された織機回転数ｒ及び緯糸密度
ｐを用いて織布移動速度Ｖを算出し、織布移動速度Ｖ及
びスポット径ｄを用いて緯糸間ピッチの走査回数Ｓを算
出する。さらに織機制御コンピュータＣ６は緯糸間ピッ
チの倍数ｋにおける範囲の走査回数Ｍを算出する。織機
制御コンピュータＣ８は算出した走査回数Ｍのデータを
ＤＳＰ２５に転送し、ＤＳＰ２５は内部メモリにしきい
値■。

を記憶する。

走査回数演算用データを織機制御コンピュータＣｏに入
力した後、入力設定器２４によって検反開始信号を織機
制御コンピュータＣ８に入力すると、織機制御コンピュ
ータＣ８は駆動回路８にレーザー駆動信号を出力すると
共に、駆動回路９にモータ駆動信号を出力する。これに
よりレーザー発振器６が発振すると共に、モータ５が往
復回動し、走査光りが織布Ｗ上を受光体２に沿って走査
する。モータ５の往復回動制御は前記算出された走査回
数Ｍに基づいて行われる。

織機運転は検反開始信号入力後に行われ、織布Ｗが速度
Ｖで移動しつつ走査光りの走査を受ける。

織布Ｗから反射する走査光りの一部は光ファイバー３を
介してフォトダイオード４に受光され、電気信号に変換
される。

変換電気信号は増幅器１０で増幅された後にＡＤ変換器
２７に送られる。走査光りは織布Ｗの織幅を走査通過し
てトリが信号発生器１３に当たり、トリガ信号発生器１
３は走査光りを検出するとトリガ信号をクロック回路２
６に出力する。クロック回路２６はクロック信号をＡＤ
変換器２７に出力し、ＡＤ変換器２７はクロック信号の
入力毎にＡＤ変換を行なう。ＡＤ変換器２７はＡＤ変換
終了毎にＡＤ変換終了信号をＤＳＰ２５に出力し、ＤＳ
Ｐ２５はＡＤ変換終了信号入力毎にＡＤ変換器２７によ
るＡＤ変換結果を読み込む。

ＤＳＰ２５はＡＤ変換値Ｖｍ、ｎを内部メモリに順次記
憶してゆく。ｎは１回の走査におけるＡＤ変換回数を表
し、ｎ≦Ｎである。ＤＳＰ２５はこの記憶されたＡＤ変
換値Ｖｆｆ１．。を前回走査までのＡＤ変換値Ｖ１□、
Ｉｌ＋Ｖｍ−２，。・・・の加算結果を内部メモリに再
び記憶する。この加算記憶が終了するとＤＳＰ２５は内
部メモリ上の読み込みカウンタの読み込みカウント数ｎ
に１を加算し、この読み込みカウント数ｎが読み込み数
Ｎに達しない場合にはＡＤ変換終了信号入力に待機する
。

読み込みカウント数ｎが読み込み数Ｎに達すると内部メ
モリ上の走査回数カウンタの走査回数力ラント数ｍに１
を加算し、この走査回数カウント数ｍか走査回数Ｍに達
しない場合にはＡＤ変換終了信号入力に待機する。走査
回数カウント数ｍが走査回数Ｍに達した場合には加算結
果Σｙｍｎをｍ＝ を算出すると共に、内部メモリに平均値＜Ｖ、＞を記憶
する。次いでＤＳＰ２５は平均値〈Ｖ、〉の微分処理を
行ない、この微分値＜ｖｎ＞　’　と内部メモリに記憶
しているしきい値Ｖ。とを比較する。ＤＳＰ２５は＜Ｖ
、＞　’　　＞Ｖｏであれば傷有信号を織機制御コンピ
ュータＣ８に出力し、織機制御コンピュータＣ８は傷有
信号が入力すると織布Ｗ上の傷発生位置を記憶する。

この実施例でも検出データの平均化処理を行なうことに
よって精度の高い傷有無判別を行なうことができる。又
、ＤＳＰ２５を用いることによってしきい値変更等の設
定条件の変更に対してソフトウェア変更で柔軟かつ迅速
に対応することができ、さらに信号処理に関してマイク
ロプロセッサよりも高速であるからして単位時間当たり
の走査回数を増やして検出精度の向上が可能である。

前記各実施例はいずれも単一のレーザー発振器からの走
査光によって織幅全域を走査すると共に、単一の受光体
上の光フアイバー列によって受光しているが、第７図に
示すように２つのレーザー発振器２８．２９で織布Ｗの
織幅端部側を走査し、レーザー発振器３０で織布Ｗの織
幅中央部を走査するようにし、これに合わせて光ファイ
バー３を支持する受光体３１，３２．３３を織幅両端部
及び織幅中央部に配置するようにした実施例も可能であ
る。これは織布Ｗの緯糸が織幅の両端部で若干傾いてい
ることを考慮したためであり、この傾きに合わせてレー
ザー発振器２８．２９からの走査光の走査方向が緯糸の
傾きに合わせられる。これにより織布の曲がりに起因す
るノイズを除去できる。３４，３５．３６はトリガ信号
発生器、３７゜３８．３９はクロック回路、４０，４１
．４２はＡＤ変換器である。

又、本発明は走査光の走査方向を緯糸方向に限らず経糸
方向に設定してもよい。第８図（ａ）の曲線Ｅ、は経糸
方向の走査によって得られる薄膜の傷検出を表す平均化
電気信号曲線であり、横軸は経糸方向の位置を表し、位
置ｙ１付近の曲線Ｅ９の部位Ｅ９°が薄膜を表す。又、
第８図（ｂ）の曲線Ｅ＋ｏは厚膜発生の傷検出を表す平
均化電気信号曲線であり、位置ｙ２付近の曲線ＥＩＯの
部位ＥＩＯ’　が厚膜を表す。

平均化処理を行なう本発明では経糸及び緯糸のいずれに
対しても傾く方向に走査方向を設定したり、帯状の光で
織布面を走査すると共に、イメージセンサ等で受光し、
その信号波形から傷有無情報を取り出すようにしてもよ
い。

さらに本発明では判別手段としてニューロコンピュータ
を採用した実施例も可能である。ニューロコンピュータ
は入力層、中間層及び出力層の３層からなるパーセプト
ロン構成とし、入力層には傷判別を行なうための特徴量
として平均化された信号波形の移動平均値及び微分値を
入力する。移動平均値とは走査回数Ｍによる平均化をｉ
（＜Ｍ）の走査移動毎に行なうことである。出力層から
は傷有無信号が出力される。移動平均値及び微分値を人
力情報とするのは人が平均化波形を評価する際に主とし
て移動平均値及び微分値に着目するからであるか、勿論
他の情報を特徴量として採用してもよい。

「発明の効果」 以上詳述したように本発明は、織布上の糸ピッチの２倍
以上の特定範囲におけるある走査回数にわたる検出電気
信号を平均化して傷有無判別を行なうようにしたので、
傷有無を探る上で阻害要因となる布面における糸の交錯
による凹凸の影響及び織布の曲がり、皺、糸の曲がり、
糸の太さむらあるいは糸密度むら等の影響を排すること
ができ、これにより精度の高い傷有無判別を達成し得る
という優れた効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１〜４図は本発明を具体化した一実施例を示し、第１
図はブロック回路を含む斜視図、第２図はブロック回路
を含む側面図、第３図（ａ）〜（ｆ）は経糸通し違いの
傷を表す平均化電気信号のグラフ、第３図（ｇ）は緯糸
緩みの傷を表す平均化電気信号のグラフ、第３図（ｈ）
は油汚れの傷を表す平均化電気信号のグラフ、第４図は
織布からの反射光量を表すグラフ、第５，６図は別例を
示し、第５図はブロック回路を含む側面図、第６図（ａ
）、　　（ｂ）は検反プログラムを表すフローチャート
、第７図は別例を示すブロック回路を含む斜視図、第８
図（ａ）は経糸方向に走査した場合に得られる薄膜の傷
を表す平均化電気信号のグラフ、第８図（ｂ）は同じく
厚膜の傷を表す平均化電気信号のグラフである。 投光手段を構成するレーザー発振器６、受光手段を構成
する光ファイバー３及びフォトダイオード４、平均化手
段としての平均化回路１１、判別手段としての判別回路
１２゜ 特許出願人　　株式会社　豊田自動織機製作所株式会社
　豊田中央研究所 代　理　人　　弁理士　恩田博宣（ほか１名）反射光量 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　織布上に該織布の糸ピッチを考慮した幅の走査光を
   投射する投光手段と、 前記走査光の反射光あるいは通過光を電気信号に変換す
   る受光手段と、 前記織布の糸ピッチと該織布を構成する凹凸の周期性と
   を考慮した特定範囲における前記受光手段からの出力信
   号を平均化すると共に、この平均化信号を出力する平均
   化手段と、前記平均化信号に基づいて織布上の傷の有無
   を判別する判別手段とから構成した検反装置。