JPH0482056A - データセパレータ回路 - Google Patents
データセパレータ回路Info
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- JPH0482056A JPH0482056A JP19560790A JP19560790A JPH0482056A JP H0482056 A JPH0482056 A JP H0482056A JP 19560790 A JP19560790 A JP 19560790A JP 19560790 A JP19560790 A JP 19560790A JP H0482056 A JPH0482056 A JP H0482056A
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- Japan
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- circuit
- phase
- delay
- signal
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- Pending
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- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 22
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims abstract description 6
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 26
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は磁気ティスフ装置に使用され、入力するデータ
の位相の余裕度を外部から制御するためのデータセパレ
ータ回路に関する。
の位相の余裕度を外部から制御するためのデータセパレ
ータ回路に関する。
磁気ディスク装置に使用されている従来のデータセパド
ータ回路は、磁気ディスク装置の記録媒体く磁気ディス
ク)から読出したデータの位相の余裕度を検査するため
、数種類の遅延時間の遅延回路を用意し、それらのなか
から所望の遅延時間の遅延回路を選択して磁気ディスク
から読出したデータの位相の余裕度の検査を行っている
。
ータ回路は、磁気ディスク装置の記録媒体く磁気ディス
ク)から読出したデータの位相の余裕度を検査するため
、数種類の遅延時間の遅延回路を用意し、それらのなか
から所望の遅延時間の遅延回路を選択して磁気ディスク
から読出したデータの位相の余裕度の検査を行っている
。
上述したような磁気ディスク装置の従来のデータセパド
ータ回路は、磁気ティスフの転送速度が変化すると、入
力するデータの位相の余裕の割合が一定でなくなるとい
う欠点がある。
ータ回路は、磁気ティスフの転送速度が変化すると、入
力するデータの位相の余裕の割合が一定でなくなるとい
う欠点がある。
本発明が解決しようとする課題、すなわち本発明の目的
は、上述のような従来のデータセパレータ回路の欠点を
解消して、磁気ディスクの転送速度の変化に対応して遅
延回路の遅延時間を変化させることにより、入力するデ
ータの位相の余裕の割合を一定にすることが可能なデー
タセパレータ回路を提供することにある。
は、上述のような従来のデータセパレータ回路の欠点を
解消して、磁気ディスクの転送速度の変化に対応して遅
延回路の遅延時間を変化させることにより、入力するデ
ータの位相の余裕の割合を一定にすることが可能なデー
タセパレータ回路を提供することにある。
本発明のデータセパレータ回路は、磁気ディスク装置の
記録媒体から読出したデータに位相同期した信号を発振
するする位相同期発振回路と、複数個の遅延回路を直列
に接続した電圧によって遅延時間を制御可能な第一遅延
回路群と、前記遅延回路を1個または2個以上直列に接
続した複数群の第二遅延回路群〜第n遅延回路群と、前
記位相同期発振回路の出力クロック信号と前記位相同期
発振回路の出力クロック信号を前記第一遅延回路群によ
って遅延させた信号との位相を比較してその位相差に対
応した電圧を発生して前記第一〜第n遅延回路群に送出
する位相比較回路と、前記記録媒体から読出したデータ
と前記記録媒体から読出したデータを前記第二遅延回路
群〜第n遅延回路群によって遅延させた信号とのなかか
ら一つの信号を選択するセレクタ回路と、前記位相同期
発振回路の出力クロック信号によって前記セレクタ回路
の出力信号の位相を前記位相同期発振回路の出力クロッ
ク信号に揃える位相弁別回路とを備えているものであり
、特に、前記遅延回路が、データ入力端子と前記データ
入力端子に接続された第一のバッファ回路と、前記第一
のバッファ回路および制御信号入力端子に接続されたM
OSトランジスタと、前記MOSF−ランジスタと出力
端子との間に接続された第二のバッファ回路と、前記M
O3)−ランジスタと接地端子との間にに接続されたコ
ンデンサとを有するものである。
記録媒体から読出したデータに位相同期した信号を発振
するする位相同期発振回路と、複数個の遅延回路を直列
に接続した電圧によって遅延時間を制御可能な第一遅延
回路群と、前記遅延回路を1個または2個以上直列に接
続した複数群の第二遅延回路群〜第n遅延回路群と、前
記位相同期発振回路の出力クロック信号と前記位相同期
発振回路の出力クロック信号を前記第一遅延回路群によ
って遅延させた信号との位相を比較してその位相差に対
応した電圧を発生して前記第一〜第n遅延回路群に送出
する位相比較回路と、前記記録媒体から読出したデータ
と前記記録媒体から読出したデータを前記第二遅延回路
群〜第n遅延回路群によって遅延させた信号とのなかか
ら一つの信号を選択するセレクタ回路と、前記位相同期
発振回路の出力クロック信号によって前記セレクタ回路
の出力信号の位相を前記位相同期発振回路の出力クロッ
ク信号に揃える位相弁別回路とを備えているものであり
、特に、前記遅延回路が、データ入力端子と前記データ
入力端子に接続された第一のバッファ回路と、前記第一
のバッファ回路および制御信号入力端子に接続されたM
OSトランジスタと、前記MOSF−ランジスタと出力
端子との間に接続された第二のバッファ回路と、前記M
O3)−ランジスタと接地端子との間にに接続されたコ
ンデンサとを有するものである。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。
本実施例は、位相同期発振回路1と、位相比較回路2と
、セレクタ回路3と、位相弁別回路4と、データ入力端
子5と、セレクタ制御信号入力端子6および7と、デー
タ入力端子8と、クロック出力端子9と、遅延回路10
〜16とを有している。
、セレクタ回路3と、位相弁別回路4と、データ入力端
子5と、セレクタ制御信号入力端子6および7と、デー
タ入力端子8と、クロック出力端子9と、遅延回路10
〜16とを有している。
データ入力端子5は、位相同期発振回路1と遅延回路1
4と遅延回路16とセレクタ回路3とに接続され5位相
同期発振回路1は、遅延回路10と位相比較回路2と位
相弁別回路4とに接続され、遅延回路10は遅延回路1
1に接続され、遅延回路11は遅延回路12に接続され
、遅延回路12は遅延回路13に接続され、遅延回路1
3は位相比較回路2に接続され、位相比較回路2は遅延
回路10〜16に接続され、遅延回路14は遅延回路】
5に接続され、遅延回路15および遅延回路16はセレ
クタ回路3に接続され、セレクタ回路3は位相弁別回路
4に接続され、位相弁別回路4はデータ入力端子8とク
ロ・ツク出力端子9とに接続され、セレクタ制御信号入
力端子6および7はセレクタ回路3に接続されている。
4と遅延回路16とセレクタ回路3とに接続され5位相
同期発振回路1は、遅延回路10と位相比較回路2と位
相弁別回路4とに接続され、遅延回路10は遅延回路1
1に接続され、遅延回路11は遅延回路12に接続され
、遅延回路12は遅延回路13に接続され、遅延回路1
3は位相比較回路2に接続され、位相比較回路2は遅延
回路10〜16に接続され、遅延回路14は遅延回路】
5に接続され、遅延回路15および遅延回路16はセレ
クタ回路3に接続され、セレクタ回路3は位相弁別回路
4に接続され、位相弁別回路4はデータ入力端子8とク
ロ・ツク出力端子9とに接続され、セレクタ制御信号入
力端子6および7はセレクタ回路3に接続されている。
第2図は第1図の実施例の遅延回路の詳細を示す回路図
である。
である。
遅延回路10〜16は、データ入力端子20と、制御信
号入力端子21と、出力端子22と、バッファ回路23
および26と、MO3t−ランジスタ24と、コンデン
サ25と、接地端子27とを有している。
号入力端子21と、出力端子22と、バッファ回路23
および26と、MO3t−ランジスタ24と、コンデン
サ25と、接地端子27とを有している。
データ入力端子20はバッファ回路23に接続され、バ
ッファ回路23はMOSトランジスタ24に接続され、
MOS)−ランシスタ24はバッファ回路26およびコ
ンデンサ25の一方の端子に接続され、コンデンサ25
の他方の端子は接地端子27に接続され、バッファ回路
26は出力端子22に接続され、制御信号入力端子21
はMOS)−ランジスタ24に接続されている。
ッファ回路23はMOSトランジスタ24に接続され、
MOS)−ランシスタ24はバッファ回路26およびコ
ンデンサ25の一方の端子に接続され、コンデンサ25
の他方の端子は接地端子27に接続され、バッファ回路
26は出力端子22に接続され、制御信号入力端子21
はMOS)−ランジスタ24に接続されている。
次に、上述のように構成した本実施例の動作について説
明する。
明する。
位相同期発振回路1がデータ入力端子5から入力する磁
気ディスク装置の記録媒体から読出したデータ(読出し
データ)に位相同期しているときは、位相同期発振回路
1の出力クロック信号の周期は、読出しデータの時間窓
(時間窓とは、この中にデータが存在するときは1°′
、存在しないときは0“°を示すデータ弁別のための時
間である。)になっている。この位相同期発振回路1の
出力クロック信号が遅延回路10〜13を通過して位相
比較回路2に入力する信号の位相と、位相同期発振回路
1から直接位相比較回路2に入力する信号の位相とは等
しくなっている。なぜなら、第2図に示すように、遅延
回路10〜13は、制御信号入力端子21に加えられる
電圧か高くなると、MOSトランジスタ24のオン抵抗
が小さくなって遅延時間が小さくなり、また制御信号入
力端子21に加えられる電圧が低くなると、MOSトラ
ンジスタ24のオン抵抗が大きくなって遅延時間が大き
くなるため、遅延回路13の出力信号の位相が位相同期
発振回路1の出力クロック信号の位相よりも進んでいる
ときは位相比較回路2の出力電圧が下って遅延回路10
〜13の遅延時間が大きくなり、遅延回路13の出力信
号の位相が遅れて位相同期発振回路1の出力クロック信
号の位相と等しくなるためである。逆に遅延回路13の
出力信号の位相が位相同期発振回路1の出力クロック信
号の位相よりも遅れでいるときは位相比較回路2の出力
電圧が上って遅延回路10〜13の遅延時間が大きくな
り、遅延回路13の出力信号の位相が進んで位相同期発
振回路1の出力クロック信号の位相と等しくなる。
気ディスク装置の記録媒体から読出したデータ(読出し
データ)に位相同期しているときは、位相同期発振回路
1の出力クロック信号の周期は、読出しデータの時間窓
(時間窓とは、この中にデータが存在するときは1°′
、存在しないときは0“°を示すデータ弁別のための時
間である。)になっている。この位相同期発振回路1の
出力クロック信号が遅延回路10〜13を通過して位相
比較回路2に入力する信号の位相と、位相同期発振回路
1から直接位相比較回路2に入力する信号の位相とは等
しくなっている。なぜなら、第2図に示すように、遅延
回路10〜13は、制御信号入力端子21に加えられる
電圧か高くなると、MOSトランジスタ24のオン抵抗
が小さくなって遅延時間が小さくなり、また制御信号入
力端子21に加えられる電圧が低くなると、MOSトラ
ンジスタ24のオン抵抗が大きくなって遅延時間が大き
くなるため、遅延回路13の出力信号の位相が位相同期
発振回路1の出力クロック信号の位相よりも進んでいる
ときは位相比較回路2の出力電圧が下って遅延回路10
〜13の遅延時間が大きくなり、遅延回路13の出力信
号の位相が遅れて位相同期発振回路1の出力クロック信
号の位相と等しくなるためである。逆に遅延回路13の
出力信号の位相が位相同期発振回路1の出力クロック信
号の位相よりも遅れでいるときは位相比較回路2の出力
電圧が上って遅延回路10〜13の遅延時間が大きくな
り、遅延回路13の出力信号の位相が進んで位相同期発
振回路1の出力クロック信号の位相と等しくなる。
遅延回路10〜16が同じ定数であるとすると、1個の
遅延回路の遅延時間は、位相同期発振回路]の出力クロ
ック信号の周期の25%となり、従って時間窓の25%
となる。位相弁別回路4に入力するデータが、セレクタ
制御信号入力端子6および7を介してセレクタ回路3に
入力するにセレクタ制御信号によって遅延回路16の出
力信号を選択されているときは、読出しデータの位相の
余裕度が最大になり、位相弁別回路4に入力するデータ
がセレクタ回路3によって遅延回路15の出力信号を選
択されているときは、読出しデータの位相の余裕度が時
間窓に対して遅れ方向に25%に小さくなり、位相弁別
回路4に入力するデータがセレクタ回路3によって読出
しデータを直接選択されているときは、読出しデータの
位相の余裕度が時間窓に対して進み方向に25%に小さ
くなる。
遅延回路の遅延時間は、位相同期発振回路]の出力クロ
ック信号の周期の25%となり、従って時間窓の25%
となる。位相弁別回路4に入力するデータが、セレクタ
制御信号入力端子6および7を介してセレクタ回路3に
入力するにセレクタ制御信号によって遅延回路16の出
力信号を選択されているときは、読出しデータの位相の
余裕度が最大になり、位相弁別回路4に入力するデータ
がセレクタ回路3によって遅延回路15の出力信号を選
択されているときは、読出しデータの位相の余裕度が時
間窓に対して遅れ方向に25%に小さくなり、位相弁別
回路4に入力するデータがセレクタ回路3によって読出
しデータを直接選択されているときは、読出しデータの
位相の余裕度が時間窓に対して進み方向に25%に小さ
くなる。
このように、磁気ディスクの転送速度が変化しても、時
間窓の大きさがその転送速度に応じて変化するため、読
出しデータの位相の余裕度を時間窓の25%で検査する
ことができる。
間窓の大きさがその転送速度に応じて変化するため、読
出しデータの位相の余裕度を時間窓の25%で検査する
ことができる。
以上説明したように、本発明のデータセパレータ回路は
、磁気ティスフの転送速度の変化に応じて遅延回路の遅
延時間を変化させることにより、入力するデータの位相
の余裕度を時間窓に対して一定の割合で検査することが
できるという効果がある。
、磁気ティスフの転送速度の変化に応じて遅延回路の遅
延時間を変化させることにより、入力するデータの位相
の余裕度を時間窓に対して一定の割合で検査することが
できるという効果がある。
信号入力端子、22・・・・−・出力端子、23−26
・・・°゛バフフフ回路24−・・・−・MOS)−ラ
ンジスタ、25・・・・・・コンデンサ、27・・・・
・−接地端子。
・・・°゛バフフフ回路24−・・・−・MOS)−ラ
ンジスタ、25・・・・・・コンデンサ、27・・・・
・−接地端子。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、磁気ディスク装置の記録媒体から読出したデータに
位相同期した信号を発振するする位相同期発振回路と、
複数個の遅延回路を直列に接続した電圧によって遅延時
間を制御可能な第一遅延回路群と、前記遅延回路を1個
または2個以上直列に接続した複数群の第二遅延回路群
〜第n遅延回路群と、前記位相同期発振回路の出力クロ
ック信号と前記位相同期発振回路の出力クロック信号を
前記第一遅延回路群によって遅延させた信号との位相を
比較してその位相差に対応した電圧を発生して前記第一
〜第n遅延回路群に送出する位相比較回路と、前記記録
媒体から読出したデータと前記記録媒体から読出したデ
ータを前記第二遅延回路群〜第n遅延回路群によって遅
延させた信号とのなかから一つの信号を選択するセレク
タ回路と、前記位相同期発振回路の出力クロック信号に
よつて前記セレクタ回路の出力信号の位相を前記位相同
期発振回路の出力クロック信号に揃える位相弁別回路と
を備えることを特徴とするデータセパレータ回路。 2、磁気ディスク装置の記録媒体から読出したデータに
位相同期した信号を発振するする位相同期発振回路と、
複数個の遅延回路を直列に接続した電圧によって遅延時
間を制御可能な第一遅延回路群と、前記遅延回路を1個
または2個以上直列に接続した複数群の第二遅延回路群
〜第n遅延回路群と、前記位相同期発振回路の出力クロ
ック信号と前記位相同期発振回路の出力クロック信号を
前記第一遅延回路群によって遅延させた信号との位相を
比較してその位相差に対応した電圧を発生して前記第一
〜第n遅延回路群に送出する位相比較回路と、前記記録
媒体から読出したデータと前記記録媒体から読出したデ
ータを前記第二遅延回路群〜第n遅延回路群によって遅
延させた信号とのなかから一つの信号を選択するセレク
タ回路と、前記位相同期発振回路の出力クロック信号に
よって前記セレクタ回路の出力信号の位相を前記位相同
期発振回路の出力クロック信号に揃える位相弁別回路と
を備え、前記遅延回路が、データ入力端子と前記データ
入力端子に接続された第一のバッファ回路と、前記第一
のバッファ回路および制御信号入力端子に接続されたM
OSトランジスタと、前記MOSトランジスタと出力端
子との間に接続された第二のバッファ回路と、前記MO
Sトランジスタと接地端子との間にに接続されたコンデ
ンサとを有することを特徴とするデータセパレータ回路
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19560790A JPH0482056A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | データセパレータ回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19560790A JPH0482056A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | データセパレータ回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0482056A true JPH0482056A (ja) | 1992-03-16 |
Family
ID=16343974
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19560790A Pending JPH0482056A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | データセパレータ回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0482056A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0896528A (ja) * | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Nec Ibaraki Ltd | 磁気ディスク装置 |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP19560790A patent/JPH0482056A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0896528A (ja) * | 1994-09-21 | 1996-04-12 | Nec Ibaraki Ltd | 磁気ディスク装置 |
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