JPH0480358A - 反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード - Google Patents
反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソードInfo
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- JPH0480358A JPH0480358A JP19226890A JP19226890A JPH0480358A JP H0480358 A JPH0480358 A JP H0480358A JP 19226890 A JP19226890 A JP 19226890A JP 19226890 A JP19226890 A JP 19226890A JP H0480358 A JPH0480358 A JP H0480358A
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Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序に従って本発明を説明する。
A、産業上の利用分野
B0発明の概要
C1従来技術[第3図、第4図]
D9発明が解決しようとする問題点
E1問題点を解決するための手段
F1作用
G、実施例[第1図、第2図]
H1発明の効果
(A、産業上の利用分野)
本発明は反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネ
ット式カソード、特に反応性マグネトロンスパッタ装置
内において基板と対向せしめられ反応性スパッタされる
ターゲットと、該ターゲットに対して回転する磁界発生
手段とからなるところの反応性マグネトロンスパッタ装
置の回転マグネット式カソードに関する。
ット式カソード、特に反応性マグネトロンスパッタ装置
内において基板と対向せしめられ反応性スパッタされる
ターゲットと、該ターゲットに対して回転する磁界発生
手段とからなるところの反応性マグネトロンスパッタ装
置の回転マグネット式カソードに関する。
(B、発明の概要)
本発明は、上記の反応性マグネトロンスパッタ装置の回
転マグネット式カソードにおいて、ターゲツト面内に非
エロージョン領域が出来て該非エロージョン領域にスパ
ッタ粒子の再付着物が堆積してダストが発生することを
防止するため、 磁−界発生手段を、これが1回転することによって描く
軌跡がターゲットの略全域を占めるように設けるもので
ある。
転マグネット式カソードにおいて、ターゲツト面内に非
エロージョン領域が出来て該非エロージョン領域にスパ
ッタ粒子の再付着物が堆積してダストが発生することを
防止するため、 磁−界発生手段を、これが1回転することによって描く
軌跡がターゲットの略全域を占めるように設けるもので
ある。
(C,従来技術)[第3図、第4図]
近年、半導体装置の製造上スパッタ技術の重要性が高ま
りつつある。というのは、半導体素子の微細化が激しく
、それに伴って接合が浅くなる傾向にある。そのため、
コンタクト材料であるアルミニウムとシリコン半導体基
板との合金化によって接合が破壊されあるいは劣化せし
められることを防止する必要性が生じ、アルミニウム層
の下にバリアメタルを敷いてこのバリアメタルによって
アルミニウムとシリコン半導体基板との合金化を阻むこ
とが必要になった。そして、そのバリアメタルとしてT
iNあるいはTi0Nが有望しされ、このTiNあるい
はTi0Nからなるバリアメタルの形式には反応性スパ
ッタ法が用いられる。また、バリアメタルの形成だけで
な(配線膜の形成にも反応性スパッタ法が用いられる。
りつつある。というのは、半導体素子の微細化が激しく
、それに伴って接合が浅くなる傾向にある。そのため、
コンタクト材料であるアルミニウムとシリコン半導体基
板との合金化によって接合が破壊されあるいは劣化せし
められることを防止する必要性が生じ、アルミニウム層
の下にバリアメタルを敷いてこのバリアメタルによって
アルミニウムとシリコン半導体基板との合金化を阻むこ
とが必要になった。そして、そのバリアメタルとしてT
iNあるいはTi0Nが有望しされ、このTiNあるい
はTi0Nからなるバリアメタルの形式には反応性スパ
ッタ法が用いられる。また、バリアメタルの形成だけで
な(配線膜の形成にも反応性スパッタ法が用いられる。
従って、スパッタ技術の重要性が高まりつつあるといえ
るのである。
るのである。
ところで、反応性スパッタには例えば特公昭63−65
754号公報に紹介されたような反応性マグネトロンス
パッタ装置が用いられた。反応性マグネトロンスパッタ
装置は、一般に、スパッタ技術される半導体ウェハに対
向するターゲットと該ターゲットの反半導体ウェハ側に
配置した磁界発生手段とからなるマグネット式カソード
を内部に設け、直流電源によってターゲットを負電位に
バイアスし、適宜なガス雰囲気中でターゲットの表面を
スパッタエツチングすることにより発生するスパッタ粒
子を半導体ウェハ上に堆積させることができるようにし
たものである。
754号公報に紹介されたような反応性マグネトロンス
パッタ装置が用いられた。反応性マグネトロンスパッタ
装置は、一般に、スパッタ技術される半導体ウェハに対
向するターゲットと該ターゲットの反半導体ウェハ側に
配置した磁界発生手段とからなるマグネット式カソード
を内部に設け、直流電源によってターゲットを負電位に
バイアスし、適宜なガス雰囲気中でターゲットの表面を
スパッタエツチングすることにより発生するスパッタ粒
子を半導体ウェハ上に堆積させることができるようにし
たものである。
尚、磁界発生手段は主として成膜速度を速めるために設
けられる。
けられる。
第3図(A)、(B)は反応性マグネトロンスパッタ装
置のカソードの従来例を示し、1はドーナツ状のターゲ
ットで、例えば銅からなる裏板2に固定されている。3
は該裏板2の表面のターゲット1で覆われていない部分
に取り付けられた防着板、4は裏板2の裏面に固着され
たドーナツ状の磁石であり、ドーナツ状のターゲットl
と裏板2を挟んで対向する位置に固着されている。
置のカソードの従来例を示し、1はドーナツ状のターゲ
ットで、例えば銅からなる裏板2に固定されている。3
は該裏板2の表面のターゲット1で覆われていない部分
に取り付けられた防着板、4は裏板2の裏面に固着され
たドーナツ状の磁石であり、ドーナツ状のターゲットl
と裏板2を挟んで対向する位置に固着されている。
第4図(A)、(B)はカソードの別の従来例を示す。
本カソードは、ターゲットlとして平板状のものを用い
、該ターゲットlの裏側に回転円板5に支持された磁石
4を配置したものであり、回転円板5を回転することに
より磁石4をターゲット1中心を軸に回転させるように
したものである。
、該ターゲットlの裏側に回転円板5に支持された磁石
4を配置したものであり、回転円板5を回転することに
より磁石4をターゲット1中心を軸に回転させるように
したものである。
該磁石4はリングを屈曲させた形状を有している。この
ようなカソードは磁石4が回転するので回転マグネット
式カソードと称される。
ようなカソードは磁石4が回転するので回転マグネット
式カソードと称される。
(D、発明が解決しようとする問題点)ところで、第3
図に示したカソードには、ターゲット1の表面から発生
したスパッタ粒子の一部が防着板3の表面に付着し、そ
れが防着板3から剥れてダストとなるという問題があっ
た。
図に示したカソードには、ターゲット1の表面から発生
したスパッタ粒子の一部が防着板3の表面に付着し、そ
れが防着板3から剥れてダストとなるという問題があっ
た。
即ち、ターゲットlの表面から発生したスパッタ粒子は
全てが半導体ウニ八表面に付着するわけではな(、一部
は防着板3の表面に付着する。特に、ドーナツ状ターゲ
ットlは膜厚の均一性のために外側へ行く程厚くなるよ
うに傾斜せしめられているのでスパッタ粒子が防着板3
の表面にも少なからぬ量付着する。そして、防着板3に
付着した粒子はスパッタされない。というのは、防着板
3上は非エロージョン領域となっているからである。ス
パッタ現象はあ(まで電界と磁界が直交して高密度のプ
ラズマと接したエロージョン領域に集中し、非エロージ
ョン領域ではスパッタが起きないのである。そして、防
着板3に付着した粒子が厚くなり膜となるとやがて膜剥
れを起こす。特に、膜剥れのしやすい材料、例えばTi
NやTiWをスパッタリングする場合にこの傾向が強い
。そして、膜剥れが起きると剥れた膜がプラズマ中に入
ってプラズマの熱で加熱され、溶けて飛散し一部が半導
体ウェハ上表面にダストとなって付着する。このダスト
の数は例えば数十個にもなることがあり問題となるので
ある。
全てが半導体ウニ八表面に付着するわけではな(、一部
は防着板3の表面に付着する。特に、ドーナツ状ターゲ
ットlは膜厚の均一性のために外側へ行く程厚くなるよ
うに傾斜せしめられているのでスパッタ粒子が防着板3
の表面にも少なからぬ量付着する。そして、防着板3に
付着した粒子はスパッタされない。というのは、防着板
3上は非エロージョン領域となっているからである。ス
パッタ現象はあ(まで電界と磁界が直交して高密度のプ
ラズマと接したエロージョン領域に集中し、非エロージ
ョン領域ではスパッタが起きないのである。そして、防
着板3に付着した粒子が厚くなり膜となるとやがて膜剥
れを起こす。特に、膜剥れのしやすい材料、例えばTi
NやTiWをスパッタリングする場合にこの傾向が強い
。そして、膜剥れが起きると剥れた膜がプラズマ中に入
ってプラズマの熱で加熱され、溶けて飛散し一部が半導
体ウェハ上表面にダストとなって付着する。このダスト
の数は例えば数十個にもなることがあり問題となるので
ある。
一方、第4図に示す回転マグネット式カソードはターゲ
ット1として平板状のものを用い、裏側に回転円板5に
より回転する磁石4を設け、ターゲット1の中心部以外
のところを回転する磁石4によってエロージョン領域に
することができるので、第3図に示すカソードに比較し
てパーティクルの発生する量を少なくすることができる
。
ット1として平板状のものを用い、裏側に回転円板5に
より回転する磁石4を設け、ターゲット1の中心部以外
のところを回転する磁石4によってエロージョン領域に
することができるので、第3図に示すカソードに比較し
てパーティクルの発生する量を少なくすることができる
。
しかしながら、ターゲット1の中心部6は回転する磁石
4による励磁がされず、非エロージョン領域となる。そ
して、この非エロージョン領域となった中心部6にはス
パッタ粒子が付着しても再スパックされないので粒子の
堆積により膜ができ、やがて膜剥れが起きてプラズマ中
での異常放電によりダストとなって半導体ウニ八表面に
付着する。即ち、パーティクルの発生量こそ第3図に示
す回転マグネット式カソードよりも少ないがパーティク
ルの発生を完全になくすことはできないのである。
4による励磁がされず、非エロージョン領域となる。そ
して、この非エロージョン領域となった中心部6にはス
パッタ粒子が付着しても再スパックされないので粒子の
堆積により膜ができ、やがて膜剥れが起きてプラズマ中
での異常放電によりダストとなって半導体ウニ八表面に
付着する。即ち、パーティクルの発生量こそ第3図に示
す回転マグネット式カソードよりも少ないがパーティク
ルの発生を完全になくすことはできないのである。
本発明はこのような問題点を解決すべ(為されたもので
あり、ターゲツト面内に非エロージョン領域が出来て該
非エロージョン領域にスパッタ粒子の再付着物が堆積し
てダストが発生することを防止することのできる回転マ
グネット式カソードを提供することを目的とする。
あり、ターゲツト面内に非エロージョン領域が出来て該
非エロージョン領域にスパッタ粒子の再付着物が堆積し
てダストが発生することを防止することのできる回転マ
グネット式カソードを提供することを目的とする。
(E、問題点を解決するための手段)
本発明反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネッ
ト式カソードは、上記問題点を解決するため、磁界発生
手段を、これが1回転することによって描く軌跡がター
ゲットの略全域を占めるように設けることを特徴とする
。
ト式カソードは、上記問題点を解決するため、磁界発生
手段を、これが1回転することによって描く軌跡がター
ゲットの略全域を占めるように設けることを特徴とする
。
(F、作用)
本発明反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネッ
ト式カソードによれば、磁界発生手段の回転によってタ
ーゲットの略全域をエロージョン領域にすることができ
る。従って、非エロージョン領域にスパッタ粒子が堆積
して膜ができ、その膜が剥れてプラズマ中で異常放電を
起してパーティクルが発生するという問題が起きる虞れ
がなくなる。
ト式カソードによれば、磁界発生手段の回転によってタ
ーゲットの略全域をエロージョン領域にすることができ
る。従って、非エロージョン領域にスパッタ粒子が堆積
して膜ができ、その膜が剥れてプラズマ中で異常放電を
起してパーティクルが発生するという問題が起きる虞れ
がなくなる。
(G、実施例)[第1図、第2図]
以下、本発明反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マ
グネット式カソードを図示実施例に従って詳細に説明す
る。
グネット式カソードを図示実施例に従って詳細に説明す
る。
第1図(A)、(B)は本発明反応性マグネトロンスパ
ッタ装置の回転マグネット式カソードの一つの実施例を
示すもので、同図(A)は平面図、同図(B)は同図(
A)のB −B 1lil視断面図である。
ッタ装置の回転マグネット式カソードの一つの実施例を
示すもので、同図(A)は平面図、同図(B)は同図(
A)のB −B 1lil視断面図である。
本反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式
カソードは、ターゲットlの裏側において回転円板5上
に配置された永久磁石4を、第1図(A)に示すように
回転中心を占有する部分からターゲット1の周縁部に対
向したところを占有する部分を有するように複雑に屈曲
したリング形状に形成してなる。従って、回転円板5を
回転させると1回転する間に永久磁石4が描(軌跡はタ
ーゲットlの全域と対向する領域を占有する。
カソードは、ターゲットlの裏側において回転円板5上
に配置された永久磁石4を、第1図(A)に示すように
回転中心を占有する部分からターゲット1の周縁部に対
向したところを占有する部分を有するように複雑に屈曲
したリング形状に形成してなる。従って、回転円板5を
回転させると1回転する間に永久磁石4が描(軌跡はタ
ーゲットlの全域と対向する領域を占有する。
依って、回転円板5を回転しながらスパッタを行うこと
によりターゲット1の全域をエロージョン領域とするこ
とができるのである。そして、ターゲットlの全域をエ
ロージョン領域とすることができるので、非エロージョ
ン領域にスパッタ粒子が堆積して膜を成しその膜が剥れ
てプラズマ中で異常放電を起してダストとなるという問
題を回避することができる。
によりターゲット1の全域をエロージョン領域とするこ
とができるのである。そして、ターゲットlの全域をエ
ロージョン領域とすることができるので、非エロージョ
ン領域にスパッタ粒子が堆積して膜を成しその膜が剥れ
てプラズマ中で異常放電を起してダストとなるという問
題を回避することができる。
尚、永久磁石4の形状以外の点では第4図に示した回転
マグネット式カソードと共通している。
マグネット式カソードと共通している。
第2図は本発明反応性マグネトロンスパッタ装置の回転
マグネット式カソードの別の実施例を示す平面図である
。
マグネット式カソードの別の実施例を示す平面図である
。
本反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式
カソードは、リングを屈曲させた形状の永久磁石4とは
別に回転中心近傍に永久磁石4a、4a (N極がター
ゲット1側に面している。)を配置し、永久磁石4及び
4a、4aが1回転する間に描く軌跡がターゲット1の
略全域と対向する領域を占有するようにしたものである
。
カソードは、リングを屈曲させた形状の永久磁石4とは
別に回転中心近傍に永久磁石4a、4a (N極がター
ゲット1側に面している。)を配置し、永久磁石4及び
4a、4aが1回転する間に描く軌跡がターゲット1の
略全域と対向する領域を占有するようにしたものである
。
本反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式
カソードにおいても1回転する間にターゲット1の略全
域に磁場をかけてエロージョン領域とすることができる
のである。
カソードにおいても1回転する間にターゲット1の略全
域に磁場をかけてエロージョン領域とすることができる
のである。
(H,発明の効果)
以上に述べたように、本発明反応性マグネトロンスパッ
タ装置の回転マグネット式カソードは、反応性マグネト
ロンスパッタ装置内において基板と対向せしめられ反応
性スパッタされるターゲットと、該ターゲットに対して
回転する磁界発生手段とからなるところの反応性マグネ
トロンスパッタ装置の回転マグネット式カソードにおい
て、上記ターゲットに対して回転する上記磁界発生手段
を、これが1回転することによって描く軌跡が上記ター
ゲットの略全域を占めるように設けてなることを特徴と
するものである。
タ装置の回転マグネット式カソードは、反応性マグネト
ロンスパッタ装置内において基板と対向せしめられ反応
性スパッタされるターゲットと、該ターゲットに対して
回転する磁界発生手段とからなるところの反応性マグネ
トロンスパッタ装置の回転マグネット式カソードにおい
て、上記ターゲットに対して回転する上記磁界発生手段
を、これが1回転することによって描く軌跡が上記ター
ゲットの略全域を占めるように設けてなることを特徴と
するものである。
従って、本発明反応性マグネトロンスパッタ装置の回転
マグネット式カソードによれば、磁界発生手段の回転に
よってターゲットの略全域をエロージョン領域にするこ
とができる。依って、非エロージョン領域にスパッタ粒
子が堆積して膜ができ、その膜が剥りてプラズマ中で異
常放電を起してパーティクルが発生するという問題が起
きる虞れがなくなる。
マグネット式カソードによれば、磁界発生手段の回転に
よってターゲットの略全域をエロージョン領域にするこ
とができる。依って、非エロージョン領域にスパッタ粒
子が堆積して膜ができ、その膜が剥りてプラズマ中で異
常放電を起してパーティクルが発生するという問題が起
きる虞れがなくなる。
第1図(A)、(B)は本発明反応性マグネトロンスパ
ッタ装置の回転マグネット式カソードの一つの実施例を
示すもので、同図(A)は平面図、同図(B)は同図(
A)のB −B il視断面図、第2図は本発明反応性
マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード
の別の実施例を示す平面図、第3図(A)、(B)は一
つの従来例を示すもので、同図(A)は平面図、同図(
B)は同図(A)のB−B線視断面図、第4図(A)、
(B)は他の従来例を示すもので、同図(A)は平面図
、同図(B)は同図(A)のB−B線視断面図である。 符号の説明 l・・・ターゲット、 4.4a・・・磁界発生手段。 ターケ゛ット 磁界発生手段 平面図 (A) 実施例 第1図 別の穴施作1の平面図 第2図 平面図 (A) 第 平面図 (A) イせの従 第4 B−B裸視断面図 (B’) 来(グリ 図 B−B線Wr面図 (B) 米例 図
ッタ装置の回転マグネット式カソードの一つの実施例を
示すもので、同図(A)は平面図、同図(B)は同図(
A)のB −B il視断面図、第2図は本発明反応性
マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード
の別の実施例を示す平面図、第3図(A)、(B)は一
つの従来例を示すもので、同図(A)は平面図、同図(
B)は同図(A)のB−B線視断面図、第4図(A)、
(B)は他の従来例を示すもので、同図(A)は平面図
、同図(B)は同図(A)のB−B線視断面図である。 符号の説明 l・・・ターゲット、 4.4a・・・磁界発生手段。 ターケ゛ット 磁界発生手段 平面図 (A) 実施例 第1図 別の穴施作1の平面図 第2図 平面図 (A) 第 平面図 (A) イせの従 第4 B−B裸視断面図 (B’) 来(グリ 図 B−B線Wr面図 (B) 米例 図
Claims (1)
- (1)反応性マグネトロンスパッタ装置内において基板
と対向せしめられ反応性スパッタされるターゲットと、
該ターゲットに対して回転する磁界発生手段とからなる
ところの反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネ
ット式カソードにおいて、 上記ターゲットに対して回転する上記磁界発生手段を、
これが1回転することによって描く軌跡が上記ターゲッ
トの略全域を占めるように設けてなる ことを特徴とする反応性マグネトロンスパッタ装置の回
転マグネット式カソード
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19226890A JPH0480358A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP19226890A JPH0480358A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0480358A true JPH0480358A (ja) | 1992-03-13 |
Family
ID=16288456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP19226890A Pending JPH0480358A (ja) | 1990-07-19 | 1990-07-19 | 反応性マグネトロンスパッタ装置の回転マグネット式カソード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0480358A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07243039A (ja) * | 1994-03-02 | 1995-09-19 | Chugai Ro Co Ltd | 直流マグネトロン型反応性スパッタ法 |
-
1990
- 1990-07-19 JP JP19226890A patent/JPH0480358A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07243039A (ja) * | 1994-03-02 | 1995-09-19 | Chugai Ro Co Ltd | 直流マグネトロン型反応性スパッタ法 |
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