JPH0477697A - 遅延時間自動調整式遅延回路 - Google Patents

遅延時間自動調整式遅延回路

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JPH0477697A
JPH0477697A JP19205190A JP19205190A JPH0477697A JP H0477697 A JPH0477697 A JP H0477697A JP 19205190 A JP19205190 A JP 19205190A JP 19205190 A JP19205190 A JP 19205190A JP H0477697 A JPH0477697 A JP H0477697A
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delay
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delayed
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Yoshiaki Yanagida
柳田 義明
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Mita Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 の 本発明は、遅延時間を自動的に調整することのできる信
号遅延回路に関する。
アナログ部とデジタル部の双方の制御部を備えた装置で
は、開制御部の間のタイミングをとるため、アナログ部
のタイミング信号を適当な時間だけ遅延させる必要があ
る。このときの遅延時間は一般的に数十ns(ナノ秒)
程度であるが、このような短い時間をシステムグロック
によって生成しようとすると、非常に高速のシステムク
ロックを使用する必要がある。しかし、これはコスト的
に困難な場合が多く、従来より、複数の遅延素子を内蔵
した遅延回路を用いて信号を必要な時間だけ遅延させる
方法が広く用いられている。
が ′しよ゛と る 遅延素子を利用して信号を遅延させる回路では、個々の
遅延素子のばらつきや、使用環境温度、電源電圧の変動
等により遅延時間がばらつくという問題がある。このた
め、従来は一つ一つの遅延回路(通常は1個の基板上に
集積されている)毎に遅延時間特性を検査し、デイツプ
スイッチ等で所定の遅延時間となるように調整(遅延素
子の選択)を行っていた。
本発明はこのような面倒な手動による調整を無くし、自
動的な遅延時間の調整を可能とした遅延回路を提供する
ものである。
るための 上記目的を達成するため、本発明に係る遅延回路では、
第1図に示すように、外部からの切換信号に応じて、複
数の相異なった遅延時間の中の1つの遅延時間で入力信
号を遅延させる信号遅延回路10と、信号遅延回路の遅
延時間を測定する遅延時間測定手段14と、測定された
遅延時間に基づき、信号遅延回路lOに入力すべき切換
信号を生成する選択手段12とを備えることを特徴とす
る。
潰辷−用一 遅延時間測定手段14によって測定することにより得ら
れる信号遅延回路10の遅延時間を基に、選択手段12
は信号遅延回路10の複数の遅延時間の中の1つを選択
する。これにより、例えば環境温度・電源電圧等の要因
によって信号遅延回路lOの遅延時間特性が変動したと
しても、出力信号の遅延時間が最も所望の値に近くなる
ような遅延時間を選択することができるようになる。
大差−例一 以下、本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。第
2図に、デジタル複写機の一部に用いた、本発明に係る
遅延回路の構成を示す。本遅延回路はデジタル複写機の
デジタル制御部とアナログ制御部との間の信号のタイミ
ングをとるため、アナログ制御部からの入カバルス信号
aを所定の時間dtだけ遅延させた遅延信号すを得るた
めに用いられている(第3図(a))。本回路では入力
信号aを遅延させるために4個のデイレイ素子から成る
遅延回路DLYを用いているが、デイレイ素子には個体
差があり、また環境温度や電源電圧の変動により、使用
時においても遅延時間が変動する可能性がある。そこで
、本回路では、まずその遅延回路DLYの遅延時間を測
定し、その結果に基づいて遅延素子の組み合わせを自動
的に選択している。以下、その動作を説明する。なお、
第3図(a)に示すように、以下の自動調整(デイレイ
セット)動作は、本回路の通常動作の合間に、デイレイ
セット信号Cが入力された期間内のみ行われる。第3図
(a)の点線内の期間Bを拡大したのが同図(b)であ
る。
入力信号aは第1OR回路ORIを通過した後、4個の
直列に接続されたデイレイ素子DLYI、DLY2. 
DLY3. DLY4から成る遅延回路DLYに入力さ
れる。遅延回路DLYの各デイレイ素子DLYI、 D
LY2. DLY3. DLY4の直後からは端子が出
され、これら4本の端子は4個のAND回路AND4’
、 AND5. AND6. AND7の各々に入力さ
れる。各AND回路AND4. AND5. AND6
. AND7の他方の入力端子にはデコーダDECから
の信号が入力されるが、後述するようにデコーダDEC
からは4個のAND回路AND4. AND5. AN
D6. AND7のいずれか1個のみにH信号が送られ
る。それら4個のAND回路AND4. AND5. 
AND6. AND7からの出力は第2OR回路OR2
によりまとめられて遅延出力すとなる。
以上の回路によシバ デコーダDECの出力信号に応じ
て、4個のデイレイ素子DLYI、 DLY2. DL
Y3. DLY4による4種の組み合わせ(DLYI)
、(DLYI÷DLY2)、(DLY1+DLY2+D
LY3)、(DI、Y1+DLY2+DLY3+DLY
4)のいずれかによって遅延された入力信号aが遅延信
号すとして出力されることとなる。なお、本実施例では
遅延回路DLYの各デイレイ素子DLYI、 DLY2
. DLY3. DLY4は1つの基板上に同じ構成に
より形成されているものであるため、同一の遅延時間d
1を有する。
従って、本回路では、dl、2・dl、3・dl、4・
dlという4種の遅延時間のうちのいずれかを自動的に
選択することになる。
一方、デイレイセット信号Cは第1のDフリップフロッ
プDFFIでシステムクロック信号dによりサンプリン
グされ、そのQ出力は第LAND回路ANDIに入力さ
れる。第1フリツプフロツプDFFIのQ−出力は第2
のDフリップフロップ0FF2でサンプリングされ、同
じく第1AND回路ANDIに入力される。これにより
、第1AND回路ANDIの出力信号eは第3図(b)
に示すように、デイレイセット信号CがHの期間内の、
システムクロック信号dの1サイクルの幅を有するパル
スとなる。この信号eは以下に説明するように遅延時間
計測の期間を定めるために利用されることから、計測期
間信号と呼ぶ。
第1.AND回路ANDIの出力(計測期間信号e)は
2つに分けられ、一方はそのまま第3AND回路AND
3に、他方は反転された後、上記とは別のデイレイ素子
DLYOを介して第3AND回路AND3に入力される
。従って、第3AND回路AND3の出力fは第3図(
b)に示すように、デイレイ素子DLYOの遅延時間d
、 Oの幅を有するパルスとなる。この信号fをテスト
パルスと呼ぶ。
テストパルスfは第1OR回路ORI及び遅延回路DL
Y(4個のデイレイ素子DLYI、 DLY2. DL
Y3. DLY4の全て)を通過した後、第2AND回
路AND2に入力される。第2AND回路AND2では
、遅延回路DLYにより遅延されたテストパルスfと計
測期間信号eとのA、 N Dをとり、その結果を第1
OR回路ORIに入力する。すなわち、テストパルスf
は、計測期間信号eがHの間、 [OR1→(DLYl
+DLY2+DLY3+DLY4.) →AND2→O
R1]のループΩを繰り返し回り続けることになる(第
3図(b))。ここで、テストパルスfが1回ループす
るに要する時間は、遅延回路DLYの遅延時開d Q 
(=4・dl)である。
4番目のデイレイ素子DLY4の出力g及び計測期間信
号eはカウンタCTRに入力され、カウンタCTRはこ
の出力g(カウンタクロック信号)により計測期間信号
eの間のテストパルスfのループ回数をカウントする。
なお、このカウンタCTRには、デイレイセット信号C
が入力される直前にクリアパルスhが入力され、前回の
カウント値をOにリセットするようになっている。第3
図(b)の例では、今回の計測期間e中にテストパルス
fは3回ループしたとカウントされることになる。その
計数結果は3ビツトの信号としてデコーダDECに出力
される。デコーダDECはこのループ回数データを基に
、4種のデイレイ素子の組み合わせ(DLYI)、(D
LYI÷DLY2)、  (DLY1+DLY2+DL
Y3)、  (DLY1+DLY2+DLY3+DLY
4)のいずれを用いるのかを決定し、該当するAND回
路AND4.、 AND5. AND6. AND7の
みにH信号を送る。
以上説明した通り、上記回路では、4個のデイレイ素子
DLYI、 DLY2. DLY3. DLY4により
構成される遅延回路にテストパルスfを所定時間(計測
期間信号e)だけループさせ、そのループ回数を計数す
ることにより、遅延回路DLYの遅延時間を測定してい
る。
(なお、上記実施例では遅延回路の絶対的な遅延時間d
9を測定するのではなく、ループ回数による相対的な遅
延時間を測定しているが、もちろん、適当な演算回路を
設けることにより、遅延時間dΩの値を算出することも
可能である。)そして、そのようにして測定された遅延
時間(正確にはテストパルスfのループ回数)を基に、
最適なデイレイ素子の組み合わせをデコーダDEC及び
4個のAND回路AND4.AND5.AND6.AN
D’7により選択している。従って、デコーダDECの
デコード・プログラムを予め適当に定めておくことによ
り、たとえ個々のデイレイ素子の遅延時間特性が遅延回
路DLY毎に異なっていても、それを補償して所望の遅
延時間に最も近いデイレイ素子の組み合わせが自動的に
選択されるようにすることができる。しかも、このデイ
レイセット動作は第3図(a)に示すように通常動作の
合間に短時間で行うことができるため、環境温度や電源
電圧の変化等によるデイレイ素子の遅延時間変化も補正
することができる。
先に述べた通り、上記回路では遅延回路孔Yに含まれる
各デイレイ素子DLYI、DLY2.DLY3.DLY
4の遅延時間は全て等しいものであり、遅延時間はdl
、2・dl、3・dl、4・diという4種の中からし
か選択できなかったが、遅延回路孔Yを第4図に示すよ
うな構成とすることにより、更に細かい遅延時間の調整
を行うことができるようになる。
第4図では、遅延回路DLYは5個のデイレイ素子ユニ
ット22a、 22b、 22c、 22d、 22e
から成り、各デイレイ素子ユニットは1個(22a)、
2個(22b)、4個(22c)、8個(22d)、1
6個(22e)の同一のデイレイ素子20から構成され
る。すなわち、この単位デイレイ素子20の遅延時間を
d2とすると、これらデイレイ素子ユニットの遅延時間
はそれぞれd2.2・d2.4・d2.8・d2.16
・d2となり、これらを適宜組み合わせることによりd
2から32・d2までの間の任意の遅延時間を有する遅
延回路DLYを構成することができる。
第4図の回路では、計測期間信号e及びテストパルスf
を作成するまでの回路は第2図に示した回路と同じであ
る。本回路では、遅延回路DLYを構成する5個の各デ
イレイ素子ユニット22a、 22b、 22c、 2
2d、 22eの各々に、インバータINVII、AN
D回路ANDII及びOR回路0R11が設けられてい
る。計測期間信号eがOR回路0R11に入ることによ
り、OR回路0RIIの出力は計測期間中ずつとHとな
る。
これにより、各デイレイ素子ユニット22a、 22b
、 22c、 22d、 22eに直列に設けられた3
−ステート・バッファB6. B7. B8. B9.
 BIOがON、  並列に設けられた反転バッファB
l、 B2. B3. B4. B5がOFFとなり、
テストパルスfは全てのデイレイ素子ユニット22a、
 22b、 22c。
22d、 22eを通過して第2AND回路AND2に
戻る。テストパルスfがこのループを回る間、その回数
はカウンタCTRによってカウントされ、計測期間が終
了した時点でデコーダDECに引き渡される。デコーダ
DECはこの計数データ(ループ回数、すなわち、遅延
回路DLYの総遅延時間を表わすデータ)を基に、所定
のプログラムに従い、所定の遅延時間に最も近(なるよ
うなデイレイ素子ユニット22a、 22b、 22c
、 22d、 22eの1個又は2個以上の組合せを選
択する。
この選択結果は端子Y1.. Y2. Y3. Y4.
 Y5から出力され、選択されたデイレイ素子ユニット
に対応するAND回路ANDIIにH信号が与えられる
。これにより、選択されたデイレイ素子ユニットのバッ
ファ(B6゜B7. B8. B9. BIOのいずれ
か1個又は2個以上)がONとな1八 反転バッファ(
Bl、B2. B3. B4. B5)はOFFとなる
逆に、選択されなかったデイレイ素子ユニットのバッフ
ァはOFFとなり、反転バッファはONとなる。
これにより、通常動作期間においては、入力信号aは第
1OR回路ORIを通過した後、デコーダDECにより
選択されたデイレイ素子ユニットのみを通過し、選択さ
れなかったデイレイ素子ユニットでは反転バッファ側を
バイパスして、遅延信号すとして出力される。
丑」W93か釆− 以上説明した通り、本発明では信号遅延回路の実際の遅
延時間を測定し、その測定結果に応じて信号遅延回路の
複数の遅延時間のオプションの中から最適な遅延時間を
選択する。従って、遅延回路の個体差や環境温度・電源
電圧等の変動要因を補正して、常に所望の値に最も近い
遅延時間を得ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のクレーム対応図、第2図は本発明の実
施例である自動調整式信号遅延回路の回路図、第3図(
a)、(b)はその回路における各種信号のタイミング
チャート、第4図は遅延回路の別の構成例を示す回路図
である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)外部からの切換信号に応じて、複数の相異なつた
    遅延時間の中の1つの遅延時間で入力信号を遅延させる
    信号遅延回路と、 信号遅延回路の遅延時間を測定する遅延時間測定手段と
    、 測定された遅延時間に基づき、信号遅延回路に入力すべ
    き切換信号を生成する選択手段とを備えることを特徴と
    する遅延時間自動調整式遅延回路。
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