JPH0476979A - αパラメータ符号を反転させた半導体素子 - Google Patents

αパラメータ符号を反転させた半導体素子

Info

Publication number
JPH0476979A
JPH0476979A JP2189330A JP18933090A JPH0476979A JP H0476979 A JPH0476979 A JP H0476979A JP 2189330 A JP2189330 A JP 2189330A JP 18933090 A JP18933090 A JP 18933090A JP H0476979 A JPH0476979 A JP H0476979A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
regions
region
parameter
sign
change
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2189330A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2689698B2 (ja
Inventor
Katsuyuki Uko
宇高 勝之
Hausu Haaman
ハーマン ハウス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
KDDI Corp
Original Assignee
Kokusai Denshin Denwa KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kokusai Denshin Denwa KK filed Critical Kokusai Denshin Denwa KK
Priority to JP2189330A priority Critical patent/JP2689698B2/ja
Priority to DE69104429T priority patent/DE69104429T2/de
Priority to EP91401995A priority patent/EP0467781B1/en
Priority to US07/732,284 priority patent/US5208822A/en
Publication of JPH0476979A publication Critical patent/JPH0476979A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2689698B2 publication Critical patent/JP2689698B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/10Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating
    • H01S3/105Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length
    • H01S3/1055Controlling the intensity, frequency, phase, polarisation or direction of the emitted radiation, e.g. switching, gating, modulating or demodulating by controlling the mutual position or the reflecting properties of the reflectors of the cavity, e.g. by controlling the cavity length one of the reflectors being constituted by a diffraction grating
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y20/00Nanooptics, e.g. quantum optics or photonic crystals
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • H01S5/06258Controlling the frequency of the radiation with DFB-structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/0618Details on the linewidth enhancement parameter alpha
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • H01S5/0625Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
    • H01S5/06255Controlling the frequency of the radiation
    • H01S5/06256Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/1053Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction
    • H01S5/1057Comprising an active region having a varying composition or cross-section in a specific direction varying composition along the optical axis
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/124Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers incorporating phase shifts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/12Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
    • H01S5/125Distributed Bragg reflector [DBR] lasers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/34Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising quantum well or superlattice structures, e.g. single quantum well [SQW] lasers, multiple quantum well [MQW] lasers or graded index separate confinement heterostructure [GRINSCH] lasers
    • H01S5/341Structures having reduced dimensionality, e.g. quantum wires

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、光学利得と屈折率の関係において、一方の変
化に対しても他方をほぼ一定にすることを可能と−した
半導体光素子に関するものである。
(従来の技術) 半導体媒質内において、注入キャリア密度、光学利得及
び屈折率の各々の変化はお互いに関係付けられている。
このため、従来の半導体レーザは、高速直接変調時のチ
ャーピングや、また電流注入を変化させて周波数変調を
行うとしても、同時に振幅も変調を受けてしまう。この
現象は、分散や雑音により中継間隔を制限し、光フアイ
バ通信における伝送特性を劣化させる。従って、このよ
うな問題を取り除き、理想的なAM(振幅変m)レーザ
、FM(周波数変調)レーザな実現するために、外部変
調器を用いるのが通例である。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、外部変調方式ては、装置構成の複雑化、
大型化のみならず、FMレレーにおいては、大きな変調
指数か得られにくいという欠点があった。
また、活性層に沿って回折格子を設け、該活性層にキャ
リア注入を行うことにより屈折率を変化させてブラッグ
波長を可変とする、いわゆる波長可変フィルタを実現し
ようとした場合、キャリア注入により利得も変化するた
め、ブラッグ波長における透過率や反射率が変化してし
まう。従って、挿入損を一定にするためには、別に利得
調整用の領域を必要とするという問題点かあった。
本発明の目的は、かかる従来技術の問題点を解決するこ
とにあり、光学利得もしくは屈折率の一方を変化させて
も他方をほぼ一定に保つことが可能なαパラメータ符号
を反転させた半導体素子を提供することにある。
(課題を解決するための手段) 本発明によるαパラメータ符号を反転させた半導体光素
子の特徴は、光信号を発振する活性層または該光信号を
導波する光導波路層を有する半導体光素子において、前
記活性層または前記光導波路層がキャリア密度変化に伴
う利得変化に対する屈折率変化の比であるαパラメータ
の符合が第1の領域と第2の領域とで正負反対て、かつ
該第1の領域と該第2の領域とか光学的に結合するよう
に構成されているαパラメータ符合を反転させた半導体
素子にある。以下の説明では、本発明による半導体光素
子を「αパラメータ符合反転(O8AP)素子」と呼ぶ
こととする。
(発明の原理) まず本発明の08AP素子の基本原理について説明する
。03AP素子は、以下に述べる3つのモード、即ち、
キャリア密度変化に伴う利得変化に対する屈折率変化の
比であるαパラメータの符号か反転する第1の領域■及
び第2の領域■での屈折率変化の符号がお互いに反対の
モード(+−もしくは−+モード)、共に正のモード(
++モード)、共に負のモード(−一モート)の各々の
モードで動作させることがてきる。なお、αパラメータ
の符号が反転する領域は、ある特定の波長に対して禁制
帯エネルギー幅を各々Egl、 Eg2(>Egl)と
適度な値に選ばれた半導体で構成することにより、第1
の領域工及び第2の領域■を形成することができる。
第1図(a)〜(d)は、+−モートの場合における第
1の領域工及び第2の領域Hの各スペクトルを示してい
る。いま、各領域とも注入電流を増加させ、キャリア密
度を上昇させた場合を考える。
すなわち、領域1と■とにおけるこのキャリア密度の変
化量を各々ΔN!、ΔN2 (>o)とすると、光学利
得4gは、第1図(a)に示したごとく破線から実線へ
と変化する。従って、利得変化分Δgのスペクトルは第
1図(b)の様になる。−方、利得変化Δgによって引
き起こされる屈折率変化Δnは、クラマース・クローニ
ッヒの式により関係付けられ、そのスペクトルは第1図
(c)に示した様になる。第1図(d)は、キャリア密
度の変化ΔNに伴う利得変化Δgに対する屈折率変化Δ
nの比、すなわち(Δn/ΔN)/(Δg/ΔN)(二
α)で与えられる、いわゆるαパラメータのスペクトル
を示している。これらのスペクトルより、光子エネルギ
ーをEoと最適な値を選ぶことにより、領域■とHの各
々の屈折率変化が八〇2〜−Δn、と成るようにするこ
とができることがわかる。この様に、各領域の屈折率変
化の符号か反対で、絶対値がほぼ等しくするためには、
少なくともαパラメータの符号が反転しているAの領域
にある光子エネルギーを有する光を選択する必要がある
。また、たとえ各領域のαパラメータの絶対値が等しく
なくても、キャリア密度を調整してΔn1=−Δn2と
することができる。第1図に示した+−モードては、両
領域でのキャリア密度増加、すなわち、ΔN1〉0、Δ
N2〉0に伴い、Δn、〜−Δn2>oと成るような動
作が得られる。同様に、ΔN、〈0、ΔN2〈0なるキ
ャリア密度減少時には、Δn2〜−Δnt >oと各屈
折率変化の符号を反転させることができ、これを−+モ
ードと呼ぶ。
他方、領域工はキャリア密度を増加し、領域■について
は減少、すなわちΔNm〉0、ΔN2<Oの++モード
の各スペクトルを第2図(a)〜(d)に示す。この時
は、屈折率変化は、両領域とも増加の方向に変化し、し
かも適当な光子エネルギーを選んだり、キャリア密度変
化量を調整することによりΔn1=Δn2〉0とするこ
とができる。
逆に、キャリア密度を領域工ては減少、領域■では増加
、すなわちΔNl <O1ΔN2〉0としたm−モード
の場合を第3図(a)〜(d)に示す。
この場合は、第2図と逆に、屈折率変化は両領域とも減
少し、やはり適当な光子エネルギーの選択、キャリア密
度変化量の調整によりΔn、=Δn2<Oとすることか
可能である。
上述のように、本発明はキャリア密度変化に伴う利得変
化に対する屈折率変化の比(αパラメータ)の符号が各
々正負反対の2種類の領域を用いて、各領域の注入電流
を調整することにより、光学利得の変化時にも全体的な
屈折率はほぼ一定にするか、もしくは光学利得をほぼ一
定に保って屈折率を変化させることが可能となる。この
03AP素子をレーザに適用した場合、+−モード及び
−+モードによりAMレレーが、そして++モード及び
−−モードによりFMレレーな実現することができる。
さらに、回折格子を用いた波長可変フィルタや反射器も
しくは位相変調器などの他の光デバイスへの適用も可能
である。
(実施例1) 第4図に、本発明による05AP素子の応用として、0
3AP素子の2種類の半導体領域を光の進行方向に直列
に配置された半導体レーザの第1の実施例を示す。ここ
では、1゜5μm波長帯で動作する素子について取り上
げる。
1はn −InP基板、2はn −InGaAsP導波
路層、3及び3′は本発明による各々αパラメータの符
号が反対なInGaAsP活性層(−例として、発振波
長を1.55μm、すなわち光子エネルギー0.80e
Vに対して、第1の領域工である活性層3の禁制帯幅0
.775eV、すなわち相当波長1.60μm、第2の
領域■である活性層3゛の禁制帯幅0.785eV 、
すなわち相当波長1.58μm、4はp −InPクラ
ッド層、5はp −InGaAsPキャップ層、6は半
絶縁性InP埋め込み層である。7は第1図から第3図
において説明したように、InGaAsP活性層3及び
3°のαパラメータの符号がお互いに反対となるような
光の波長を選択するためのλ/4シフト回折格子である
。すなわち、このレーザは窓構造λ/4シフト分布帰還
型半導体レーザとして動作するものである。ちなみに、
λ/4シフト8は各領域の境界に設けである。9及び9
′は、各活性層3及び3′に独立にキャリアを注入する
ためのp側電極であり、各々にオーミック抵抗低下用に
亜鉛拡散10及び10゛が施されている。また、11は
n側電極、12及び12゛は反射防止膜である。
本実施例の動作について説明する。活性層3(領域工)
のαパラメータの符号を正とし、3゛(領域■)のそれ
を負とする。いま、第5図(a)〜(e)のタイムチャ
ートに示したごとく、領域■及び■への注入電流密度を
同図(a)のように各々J、、J、からJt’、 JQ
’へ変化させることにより、キャリア密度は同図(b)
のように各々ΔN1(>0)、ΔN2 (<o)だけ変
化させたとする。この場合は、第2図に示した++モー
ドであり、各領域の屈折率は第5図(c)のようにとも
にnoからno’へ増加する。尚、この動作前の両領域
の屈折率は、活性層厚、量子井戸を用いた場合はバリア
層厚等の導波路パラメータを調整することより一致させ
ることが出来る。従って、回折格子の周期と屈折率で決
まる発振波長は、第5図(d)のようにλ。からλ。°
へ変化させることができる。一方、このような屈折率変
化に対して全体の光学利得をほぼ一定に保つことができ
るため、光出力に関してもほぼ一定値P。に維持させる
ことができる。逆に、各領域の注入電流密度をJ1’、
  J2°からJl、J2に戻した場合は、−一モード
により屈折率は共にn。′から00に戻るため、発振波
長もλ。′からλ0に戻り、と同時に光出力は第5図(
e)のように一定値P。のまま変化しない。すなわち、
各領域への注入電流に応して、光出力は一定で発振周波
数のみ変調する、いわゆるFMレレーが実現される。ま
た別の観点からは、波長可変レーザとして動作させるこ
ともてきる。この際、注入電流密度変化量は、全体の利
得は一定でかつ各領域での屈折率変化量がほぼ同じにな
るように調整される。
(実施例2) 第4図は、2領域の場合について示したが、第6図に示
したように3領域を配置しても実施例1とまったく同様
の効果を実現することがてきる。
この場合、構造的に対称であると同時に、λ/4シフト
の部分は領域工に設けられるため、λ/4シフト周辺で
の均一性に優れていると共に、利得調整も行い易い。領
域IとHの位置を逆にしても効果が同じであることは言
うまでもない。
また、これと同じ原理で、領域数を更に増やすことも可
能である。
(実施例3) 本発明を分布反射型レーザに適用した場合の実施例を第
7図に示す。αパラメータの符号の異なる領域工及び■
から成る活性領域の光の進行方向の延長線上にInGa
AsPから成る受動導波路13及び13°が配置される
と同時に、その上に分布反射器用回折格子14及び14
”が設けられ、各領域におけるαパラメータの符号が反
対となる動作波長を選択する。
第8図(a)〜(e)は、本実施例の動作を説明するた
めのタイムチャートである。各領域への注入キャリア密
度なJl、J2からJl“、J2゛へと共に増加させた
場合、各キャリア密度は増加する。
しかし、各々のαパラメータの符号が反転しているため
、屈折率は領域■に関しては増加、領域については減少
する。すなわち、+−モードとなる。その屈折率変化量
をΔnu、Δn2とすると、分布反射型レーザにおける
活性領域の位相変化量は、各領域の長さをLl、L2と
してΔn1・L1+Δn2 ・L2て与えられるが、Δ
n、とΔn2の符号が反対であるため、それらを適度な
値に調整することにより、位相変化量がOを維持したま
まにすることかできる。発振波長は、レーザ共振器の位
相条件で決まるが、上述のように変化しないため、従っ
て発振波長もλ0のまま変化しない。一方、両領域とも
キャリア密度を増加させているため、光出力はPoから
P。゛に増加する。
逆に、各領域の注入電流密度を減少させた場合、各変化
量はその符号が前述と逆になるだけで、位相変化量はO
lすなわち発振波長は変化しない。
すなわち、本実施例は、発振波長か一定て、光強度のみ
変調される極低チャーブのAMレレーとして動作する。
他方、第5図のタイムチャートに示した++モードもし
くはm−モードも行わさせることかできる。すなわち、
FMレレーとしても動作させることができる。
(実施例4) 以上の実施例1〜3では、αパラメータの符号の異なる
2種類の領域が光の進行方向に対して直列に配置された
03AP素子を含む構造について述べたが、並列に配置
させて08AP素子を用いても同じ効果が得られる。そ
の実施例を第9図に示す。窓構造λ/4シフト分布帰還
型で、(a)は光の進行方向の断面図、(b)はその直
角方向の断面図である。
ここに、αパラメータの符号の異なる活性層3(領域■
)及び3“(領域■)は、第9図(b)よりわかるよう
にお互いに並列に配置され、一つのストライプを形成し
ている。従って、光の横モードはこのストライプを包含
して進行する。15は半絶縁性InPクラッド層、16
及び16°はp −InP層であり、各領域へは、図中
矢印で示したように各々の電極9及び9°を通じて独立
にキャリアを注入することができる。
本実施例では、前述と同じ原理を用いて第5図及び第8
図で述べたすべてのモードで動作させることかでき、A
Mレレー、FMレレー、波長可変レーザな実現すること
ができる。本実施例の特徴は、領域工及び■が光の進行
方向に並列に配置されているため、光が同時に両領域の
利得ないし、は屈折率変化を経験し、光の進行に伴う動
作の遅れやバラツキの除去された、より効果的な各種動
作を行わせることができる。
なお、領域工及び■は積層方向(上下方向)に並列配置
されていても同様の効果が得られる。
(実施例5) 本発明による05AP素子を、波長可変レーザ用の波長
可変反射型フィルタに適用した場合の実施例を第10図
に示す。本実施例は、活性領域、位相調整領域、狭帯域
ブラッグ反射器領域の3つの領域からなる。反射器とし
て、伝搬定数のほぼ等しい2本の先導波路が近接して平
行に配置された方向性結合器が用いられ、一方の導波路
上にλ/4シフト回折格子を形成し、他方の導波路から
光入出力を行う。λ/4シフト回折格子の設けられた導
波路の屈折率を変化させることにより反射中心波長を可
変することができる。
狭帯域ブラッグ反射器領域については、101はn −
InP基板、102はn −InGaAsP低損失導波
路層、103はn −1nP層、104及び104゛は
各々αパラメータの符号が反転した領域I及び■から成
る活性層、105はp −InGaAsP層で、この上
にフィルタ用のλ/4シフト回折格子106か設けられ
ている。なお、107はλ/4シフトである。108は
p−InPクラット層、109はInGaAsPキャッ
プ層て、各領域へのキャリア注入用に各々p側電極11
0゜110°並びに亜鉛拡散領域111 、111°、
そしてn側電極112が形成されている。活性領域は活
性層113を含み、この組成は104もしくは104°
のどちらかの活性層と同じであっても、また異なってい
てもかまわない。位相調整領域は、前述のn−InGa
AsP導波路102とp −InPクラッド層108等
から成る。
本実施例の狭帯域ブラッグ反射型フィルタは、基本的に
は活性層104及び104゛より上の構造に関しては第
6図に示した実施例と同じ機能を行うものであり、++
モードもしくは一一モードにより、その光学利得をほぼ
一定に維持したまま全体の屈折率を均一に変化させるこ
とがてきる。第6図と異なっている点は、この活性層と
方向性結合器の原理で結合した他の導波路102を有す
る点て、位相調整領域から進行した光は、狭帯域ブラッ
ク反射器領域内において活性層104及び104゛に結
合する。然るに、よく知られているように、λ/4シフ
ト回折格子は、そのブラッグ波長に対しては極めてよく
光を閉じ込める性質を有しており、閉じ込められた光は
元の導波路102に再び結合され、左方向に出射される
。すなわち、ブラッグ波長のみ反射する狭帯域反射器と
して動作する。ブラッグ波長は、回折格子の周期と導波
路の屈折率て決まるため、上述の++モードないしm−
モードにより、その反射率自体は一定に保ったまま、反
射波長を可変とすることができる。このブラッグ波長が
発振するように、活性領域において十分の利得が与えら
れ、また、位相調整領域によって位相調整される。なを
、位相調整には、本実施例で用いたように、逆電圧印加
v1よる電気光学効果を利用することにより過剰な損失
増加を避けることができるが、電流注入によっても同様
の効果は得られる。このように、本発明による波長可変
レーザは、極めて波長選択性が優れていると共に、波長
可変動作によっても過剰なしきい値の増加を伴わないた
め、狭スペクトル線幅レーザに適用した場合にも、その
スペクトル特性か波長可変動作によって劣化することは
無い。すなわち、優れた狭線幅・波長可変レーザが実現
される。
03AP素子は、各々適当なエネルギー禁制帯幅となる
ような組成の調整と、回折格子による波長の選択によっ
て得られるが、通常のバルク状の半導体のみならず、量
子井戸、量子細線、量子箱を用いることにより、最適な
動作波長を特定し易く、かつ注入レベルの変化時にもそ
の偏移を少なく抑えることができるため、広い波長範囲
においても効果的に動作させることができる。
尚、材料については波長1.5μm用のInGaAsP
系について述べたが、これ以外にAlGaAs系、Al
InGaAs系、AIGaInP系、AlGaAsSb
系などの他の材料について適用が可能である。
(発明の効果) (1)以上詳細に説明したように、本発明はキャリア密
度変化に伴う利得変化に対する屈折率変化の比であるα
パラメータの符号か第1の領域と第2の領域とで正負反
対で、かつ光学的に結合するように構成することにより
、極低チャープレーザ、理想的なFMレレー、高性能波
長可変レーザなどの半導体光素子が実現てきる。
(2)第1及び第2の領域か光の進行方向に対し直列に
配置することにより、波長選択用の回折格子を内蔵した
分布帰還型レーザを実現することかてきる。
(3)第1及び第2の領域が光の進行方向に対し直列て
、かつ一方の領域が他方の領域の両側に配置することに
より、対称構造の波長選択用の回折格子を内蔵した分布
帰還型レーザを実現することができる。
(4)第1及び第2の領域が光の進行方向に対し並列に
配置することにより、製作が容易で特性のバラツキが少
ない波長選択用の回折格子を内蔵した分布帰還型レーザ
を実現することができる。
(5)第1及び第2の領域のαパラメータの符号が各々
正負反対になるような波長を選択するために、第1及び
第2の領域に沿って回折格子を形成することにより、回
折格子の周期と屈折率とで定まる波長を発振する分布帰
還型レーザな実現することかできる。
(6)第1及び第2の領域のαパラメータの符号が各々
正負反対になるような波長を選択するために、第1及び
第2の領域の外側に波長選択用の回折格子を形成するこ
とにより、分布反射型レーザな実現することができる。
(7)第1及び第2の領域が低損失導波路とが並列に光
結合して構成することにより、波長可変レーザ用の波長
可変反射型フィルタを実現することができる。
(8)第1及び第2の領域が、量子井戸、もしくは量子
細線、もしくは量子箱、もしくは該量子構造の組み合わ
せで構成することにより、広い波長範囲ても効果的に動
作する半導体光素子を実現することができる。
従って、本発明は、光フアイバ通信において、直接変調
−強度検波もしくはコヒーレント方式による長距離大容
量化、更に、光多重通信用の光源として極めて有望であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は本発明の詳細な説明するため
のスペクトル図であり、αパラメータの符号が反転した
2種類の半導体への注入キャリアを共に増加、もしくは
一方を増加及び他方を減少させた各場合の利得、屈折率
、αパラメータの各スペクトル図、 第4図は本発明による第1の実施例で、2種類の半導体
を光の進行方向に対し直列に配置して波長選択用の回折
格子を内蔵した分布帰還型レーザの模式図、 第5図は実施例1の動作を説明するためのタイムチャー
ト、 第6図は本発明による第2の実施例て、2種類の半導体
を3領域に配置した分布帰還型レーザの模式図、 第7図は本発明による第3の実施例で、波長選択用の回
折格子を内蔵した分布反射型レーザの模式図、 第8図は実施例3の動作を説明するためのタイムチャー
ト、 第9図は本発明のよる第4の実施例で、2種類の半導体
を光の進行方向に対し並列に配置した波長選択用の回折
格子を内蔵した分布帰還型レーザの模式図、 第10図は本発明による第5の実施例で、2種類の半導
体を低損失導波路とが並列に光結合させた狭帯域ブラッ
グ反射器を用いた波長可変レーザの模式図である。 1 、101 ・・・n −InP基板、2−−− n
 −InGaAsP層、 3.3°、 104 、104°・・・αパラメータの
符号が反転したInGaAsP活性層、 4 、108 ・−p −InPクラッド層、5 、1
09−−− p −InGaAsPキャップ層、6・・
・半絶縁性InP埋め込み層、 7.106・・・λ/4シフト回折格子、8.107・
・・λ/4シフト、 9.9°、110.110°、 114 、116・・
・p側電極、10、10°、111.111°、 11
5 、117・・・亜鉛拡散領域11、112・・・n
側電極、 12、12°・・・反射防止膜、 13、13°、102−・・低損失InGaAsP導波
路層、14、14°・・・回折格子、 15・・・半絶縁性InPクラッド層、16・・・p 
−InP層、 103 ・・・n −InP中間層、 105 ・・・p −InGaAsP層、113−−−
InGaAsP活性層。 第11 第2図 第 図 第4 仄 一一−」 第 図 莞 図 第 図

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光信号を発振する活性層または該光信号を導波す
    る光導波路層を有する半導体光素子において、 前記活性層または前記光導波路層がキャリア密度変化に
    伴う利得変化に対する屈折率変化の比であるαパラメー
    タの符号が第1の領域と第2の領域とで正負反対で、か
    つ該第1の領域と該第2の領域とが光学的に結合するよ
    うに構成されていることを特徴とするαパラメータ符号
    を反転させた半導体素子。
  2. (2)前記第1及び第2の領域が光の進行方向に対し直
    列に配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載のαパラメータ符号を反転させた半導体素子。
  3. (3)前記第1及び第2の領域が光の進行方向に対し交
    互で、かつ一方の領域が少なくとも複数個配置されてい
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のαパラ
    メータ符号を反転させた半導体素子。
  4. (4)前記第1及び第2の領域が光の進行方向に対し並
    列に配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    1項記載のαパラメータ符号を反転させた半導体素子。
  5. (5)前記第1及び第2の領域のαパラメータの符号が
    各々正負反対になるような波長を選択するために、前記
    第1及び第2の領域に沿って回折格子を形成したことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のαパラメータ符
    号を反転させた半導体素子。
  6. (6)前記第1及び第2の領域のαパラメータの符号が
    各々正負反対になるような波長を選択するために、前記
    第1及び第2の領域の外側に回折格子を形成したことを
    特徴とする特許請求の範囲第1項記載のαパラメータ符
    号を反転させた半導体素子。
  7. (7)前記第1及び第2の領域が低損失導波路と並列に
    光結合して構成されていることを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載のαパラメータ符号を反転させた半導体
    素子。
  8. (8)前記第1及び第2の領域が、量子井戸、もしくは
    量子細線、もしくは量子箱、もしくは該量子構造の組み
    合わせから成ることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載のαパラメータ符号を反転させた半導体素子。
JP2189330A 1990-07-19 1990-07-19 αパラメータ符号を反転させた半導体素子 Expired - Fee Related JP2689698B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2189330A JP2689698B2 (ja) 1990-07-19 1990-07-19 αパラメータ符号を反転させた半導体素子
DE69104429T DE69104429T2 (de) 1990-07-19 1991-07-17 Optisches Halbleiterbauelement.
EP91401995A EP0467781B1 (en) 1990-07-19 1991-07-17 A semiconductor optical element
US07/732,284 US5208822A (en) 1990-07-19 1991-07-18 Semiconductor element having opposite signs of α parameter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2189330A JP2689698B2 (ja) 1990-07-19 1990-07-19 αパラメータ符号を反転させた半導体素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0476979A true JPH0476979A (ja) 1992-03-11
JP2689698B2 JP2689698B2 (ja) 1997-12-10

Family

ID=16239545

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2189330A Expired - Fee Related JP2689698B2 (ja) 1990-07-19 1990-07-19 αパラメータ符号を反転させた半導体素子

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5208822A (ja)
EP (1) EP0467781B1 (ja)
JP (1) JP2689698B2 (ja)
DE (1) DE69104429T2 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH057056A (ja) * 1990-11-21 1993-01-14 Toshiba Corp 半導体レーザ装置及びその製造方法
JP2015056515A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 日本オクラロ株式会社 半導体光素子及び光通信モジュール

Families Citing this family (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0738204A (ja) * 1993-07-20 1995-02-07 Mitsubishi Electric Corp 半導体光デバイス及びその製造方法
JPH07326820A (ja) * 1994-05-30 1995-12-12 Mitsubishi Electric Corp 波長可変半導体レーザ装置
JPH08172237A (ja) * 1994-12-17 1996-07-02 Canon Inc 半導体レーザ、その変調方式およびそれを用いた光通信システム
US5657157A (en) * 1995-06-23 1997-08-12 Sdl, Inc. Semiconductor optical amplifying media with reduced self-focusing
US5822486A (en) * 1995-11-02 1998-10-13 General Scanning, Inc. Scanned remote imaging method and system and method of determining optimum design characteristics of a filter for use therein
JP2822994B2 (ja) * 1996-09-11 1998-11-11 日本電気株式会社 モード同期半導体レーザ
US6650671B1 (en) * 2000-01-20 2003-11-18 Trumpf Photonics, Inc. Semiconductor diode lasers with improved beam divergence
US7057256B2 (en) 2001-05-25 2006-06-06 President & Fellows Of Harvard College Silicon-based visible and near-infrared optoelectric devices
US7442629B2 (en) 2004-09-24 2008-10-28 President & Fellows Of Harvard College Femtosecond laser-induced formation of submicrometer spikes on a semiconductor substrate
GB2388708B (en) * 2002-05-15 2005-05-25 Bookham Technology Plc Tunable laser
GB0206441D0 (en) * 2002-03-19 2002-05-01 Bookham Technology Plc Tuneable laser
GB2388707B (en) * 2002-05-15 2005-06-22 Bookham Technology Plc Tunable laser
GB2388706A (en) * 2002-05-15 2003-11-19 Bookham Technology Plc Tunable laser
AU2003234002A1 (en) * 2002-05-15 2003-12-02 Bookham Technology Plc Tuneable laser
JP2007525012A (ja) * 2003-06-27 2007-08-30 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 低ジッタのパルス型量子ドットレーザシステム
JP2005353761A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Mitsubishi Electric Corp 分布帰還型半導体レーザ
US20060222024A1 (en) * 2005-03-15 2006-10-05 Gray Allen L Mode-locked semiconductor lasers with quantum-confined active region
US20060227825A1 (en) * 2005-04-07 2006-10-12 Nl-Nanosemiconductor Gmbh Mode-locked quantum dot laser with controllable gain properties by multiple stacking
US7835408B2 (en) * 2005-12-07 2010-11-16 Innolume Gmbh Optical transmission system
US7561607B2 (en) * 2005-12-07 2009-07-14 Innolume Gmbh Laser source with broadband spectrum emission
JP2009518833A (ja) * 2005-12-07 2009-05-07 インノルメ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 広帯域スペクトル発光を有するレーザ光源
US8212327B2 (en) * 2008-03-06 2012-07-03 Sionyx, Inc. High fill-factor laser-treated semiconductor device on bulk material with single side contact scheme
GB0805786D0 (en) * 2008-03-31 2008-04-30 Filtronic Plc Methods of modulating a quantum dot laser and a multisection dot laser
EP2371044B1 (en) * 2008-12-03 2019-08-28 Innolume GmbH Semiconductor laser with low relative intensity noise of individual longitudinal modes and optical transmission system incorporating the laser
US9911781B2 (en) 2009-09-17 2018-03-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
US9673243B2 (en) 2009-09-17 2017-06-06 Sionyx, Llc Photosensitive imaging devices and associated methods
US8692198B2 (en) 2010-04-21 2014-04-08 Sionyx, Inc. Photosensitive imaging devices and associated methods
JP5614090B2 (ja) * 2010-05-07 2014-10-29 富士通株式会社 半導体光増幅器及び光増幅装置
EP2583312A2 (en) 2010-06-18 2013-04-24 Sionyx, Inc. High speed photosensitive devices and associated methods
US9496308B2 (en) 2011-06-09 2016-11-15 Sionyx, Llc Process module for increasing the response of backside illuminated photosensitive imagers and associated methods
JP2014525091A (ja) 2011-07-13 2014-09-25 サイオニクス、インク. 生体撮像装置および関連方法
US9064764B2 (en) 2012-03-22 2015-06-23 Sionyx, Inc. Pixel isolation elements, devices, and associated methods
JP6466346B2 (ja) 2013-02-15 2019-02-06 サイオニクス、エルエルシー アンチブルーミング特性を有するハイダイナミックレンジcmos画像センサおよび関連づけられた方法
US9939251B2 (en) 2013-03-15 2018-04-10 Sionyx, Llc Three dimensional imaging utilizing stacked imager devices and associated methods
WO2014209421A1 (en) 2013-06-29 2014-12-31 Sionyx, Inc. Shallow trench textured regions and associated methods

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS645088A (en) * 1987-06-29 1989-01-10 Toshiba Corp Semiconductor laser device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4775980A (en) * 1983-12-14 1988-10-04 Hitachi, Ltd. Distributed-feedback semiconductor laser device
DE3873398T2 (de) * 1987-04-27 1993-03-18 Nippon Telegraph & Telephone Phasenverschobener halbleiterlaser mit verteilter rueckkopplung.
US4908833A (en) * 1989-01-27 1990-03-13 American Telephone And Telegraph Company Distributed feedback laser for frequency modulated communication systems
EP0390200B1 (en) * 1989-03-31 1994-06-08 Canon Kabushiki Kaisha Semiconductor laser element selectively emitting lights of different wavelengths

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS645088A (en) * 1987-06-29 1989-01-10 Toshiba Corp Semiconductor laser device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH057056A (ja) * 1990-11-21 1993-01-14 Toshiba Corp 半導体レーザ装置及びその製造方法
JP2015056515A (ja) * 2013-09-12 2015-03-23 日本オクラロ株式会社 半導体光素子及び光通信モジュール

Also Published As

Publication number Publication date
EP0467781A3 (en) 1992-09-16
EP0467781A2 (en) 1992-01-22
JP2689698B2 (ja) 1997-12-10
DE69104429D1 (de) 1994-11-10
DE69104429T2 (de) 1995-04-27
US5208822A (en) 1993-05-04
EP0467781B1 (en) 1994-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2689698B2 (ja) αパラメータ符号を反転させた半導体素子
US4904045A (en) Grating coupler with monolithically integrated quantum well index modulator
US7447246B2 (en) Q-modulated semiconductor laser
US5022730A (en) Wavelength tunable optical filter
EP0735635B1 (en) Optical semiconductor apparatus, driving method therefor, light source apparatus and optical communication system using the same
US4829535A (en) Variable wavelength semiconductor laser
US8306433B2 (en) Optical modulation signal generating device and optical modulation signal generating method
JPH0632332B2 (ja) 半導体レ−ザ装置
US5757832A (en) Optical semiconductor device, driving method therefor and light source and opitcal communication system using the same
JPH06194613A (ja) 同調光フィルタデバイス
US20060104321A1 (en) Q-modulated semiconductor laser with electro-absorptive grating structures
US6920253B2 (en) Optical modulator based on a microdisk resonator
US4743087A (en) Optical external modulation semiconductor element
CN100377453C (zh) 带有电吸收光栅结构的q-调制半导体激光器
US4976513A (en) Tunable wavelength filter
US4817106A (en) Coupled waveguide injection laser
JP2011181789A (ja) 半導体光源
GB2437593A (en) A q-modulated semiconductor laser
JPS60260017A (ja) 光変調素子
JP3123672B2 (ja) 光半導体素子
Matsuo et al. Stable and fast wavelength switching in digitally tunable laser using chirped ladder filter
JPH058878B2 (ja)
WO2023228403A1 (ja) 光デバイス
JP2706315B2 (ja) 光導波路型位相変調器
US20240039242A1 (en) Wavelength Tunable Laser

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees