JPH0465819A - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

Info

Publication number
JPH0465819A
JPH0465819A JP17997290A JP17997290A JPH0465819A JP H0465819 A JPH0465819 A JP H0465819A JP 17997290 A JP17997290 A JP 17997290A JP 17997290 A JP17997290 A JP 17997290A JP H0465819 A JPH0465819 A JP H0465819A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tray
susceptor
heater
wafer
heat
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17997290A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2546414B2 (ja
Inventor
Kimito Nishikawa
公人 西川
Kiyoshi Kubota
清 久保田
Yoshitaka Setoguchi
佳孝 瀬戸口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP2179972A priority Critical patent/JP2546414B2/ja
Publication of JPH0465819A publication Critical patent/JPH0465819A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2546414B2 publication Critical patent/JP2546414B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
この発明は気相成長装置に関する。特にウェハ面内での
温度均一性と加熱効率を向上するための改良に関する。
【  従  来  の  技  術  】気相成長装置
は加熱された半導体ウェハの上に有機金属ガス、水素化
物ガス、水素ガスなどの原料ガスを流しウェハの上に単
結晶薄膜を成長させるものである。 カーボンなどのサセプタの上に半導体ウェハを置きこれ
を加熱するのであるが、加熱のために抵抗加熱、光加熱
、高周波誘導加熱などが用いられる。 このうち抵抗加熱はウェハの面内での温度均一性を高く
できて、しかもリアクタの外部が単純化されるなどとい
う利点がある。 抵抗加熱の場合、ヒータの分布によりウェハの面内での
温度分布をある程度自由に規定することができる。たた
し原料ガスに接触して腐蝕されるような材質からなるヒ
ータの場合、ヒータは耐蝕性ある容器の中に密封しなけ
ればならない。 特開昭63−196033号 特開昭63−278322号 はタンタルヒータを断熱材と共に石英製のケーシングの
中に密封し、ケーシングの上にサセプタを置くような構
造を提案している。 タンタル線はケーシングの中に密封されているので、反
応性に富む(例えばハロゲン系ガス)原料ガスがリアク
タ内に導入されてもタンタルヒータが腐蝕されないとい
う利点がある。 しかしこのようなものはサセプタ、半導体ウェハが静止
したケーシングの上に戴置されるので、ウェハとヒータ
の関係が固定的である。このためウェハの面内で温度が
均一にならない事がある。 そこで本発明者はヒータとサセプタの間が固定的でなく
、サセプタがヒータに対して回転できるようにした構造
のものを考案した。第2図によってこのような構造を説
明する。 半導体ウェハ1を装着したカーボン製のトレイ2が円筒
形のサセプタ3の上に戴置されている。 サセプタ3は上板と側板とよりなり内部に空間を有する
。この内部空間に抵抗加熱ヒータ4が設けられる。これ
はカーボンのヒータである。 円筒形のサセプタ3は下方に於いて回転シャフト5によ
って支持される。回転シャフト5は下部に回転機構(図
示せず)を有し鉛直軸の周りに回転できるようになって
いる。 ヒータ4は電極6によって支持される。これは回転しな
い。ヒータ4の直下には輻射熱を反射するためのりフレ
フタ8が設けられている。 このようなヒータ・サセプタ構造は、サセプタが回転す
るのでウェハの円周方向の温度分布が均一になるという
利点がある。
【発明が解決しようとする課題】
カーボンによってサセプタ3、トレイ2が作られている
。カーボンは熱伝導率が高い。このためトレイ2、ウェ
ハ1の周縁から大量の熱がサセプタ3の側周面へ逃げる
。トレイ2の周縁は原料ガスの流れが早いのでガスによ
って熱が奪われる。 このようにウェハ1、トレイ2の周縁から熱伝導、対流
によって大量の熱が失われる。ところがウェハ1、トレ
イ2の中心部は熱伝導による熱損失は少ない。トレイ2
の中心部の直下にはサセプタ中心部が接触しているが、
トレイ2よりサセプタ3の中心部の方が高温であるから
こちらへは熱伝導が起こらない。トレイ2の面内での熱
伝導が問題になるが、トレイの中心部周縁部の温度差は
あまり大きくない またトレイ2、ウェハ1の中心部は上方から導入された
原料ガスに対して澱み点となり流速が小さい。このため
対流による熱損失が少ない。 こういう訳でトレイ2、ウェハ1の面内の半径方向の温
度均一性はよくないことがある。ウェハの直径にもよる
が第2図のようなヒーターサセプタ構造の場合、ウェハ
の中心と周縁の温度差が20〜30℃にも達する事があ
る。このように温度差が著しいと、ウェハ上に堆積され
た薄膜の膜厚、組成、電気的特性などが不均一になって
しまう。 もうひとつの欠点はヒータによるウェハの加熱効率が必
ずしも高くないという事である。ヒータの上向きの輻射
熱はサセプタの上面を加熱するがこの熱は熱伝導によっ
てサセプタの側面へ逃げるサセプタ側面へ伝わった熱は
輻射及び対流によってリアクタ内部雰囲気へ放散される
。このためヒータで生じた熱がウェハ加熱のために有効
に利用されない。 ウェハ、トレイの面内での温度分布が均一で加熱効率の
高い気相成長装置を提供することが本発明の目的である
【課題を解決するための手段】
本発明の気相成長装置は、トレイを半径方向に内部トレ
イと外部トレイに2分割している。内部トレイと外部ト
レイが組み合わさってサセプタの上に乗っているものと
する。しかもサセプタは上壁の無い円筒形状である。さ
らに内部トレイに下向きの鍔部を設はヒータの輻射熱を
集めるように下方へ延長した形状とする。
【  作  用  】
トレイが内外2部材に分割されているので、これらの部
材間の熱伝導は極めて少なくなる。 ヒータの加熱により内部トレイが高温になる。 外部トレイはヒータからより遠いのでヒータから受ける
輻射熱が少なくより低温である。内部トレイと外部トレ
イに温度差があるのであるが、これらは2つに分割され
ており微視的には空隙があるこの空隙のために熱伝導が
著しく小さくなり、内部トレイから外部トレイへ逃げる
熱は少なくなるのである。 しかもサセプタの上壁が無いのでヒータの輻射熱が直接
にトレイに照射されこれを加熱する。サセプタの上壁を
一旦加熱してこれからトレイに熱伝導するのに比べて加
熱効率が良い。 内部トレイは強く加熱されしかも外部トレイへ簡単に熱
が逃げることが無いので、内部トレイの面内での温度分
布が均一になる。トレイの温度分布が一様であればその
上にあるウェハの温度分布も一様である。 ウェハの温度分布が一様になるので、この上に形成した
薄膜の膜厚、組成、電気的特性が面内で均一になる。
【  実  施  例  】
第1図は本発明の実施例に係る気相成長装置のサセプタ
近傍の縦断面図である。 半導体ウェハ1は略平板上のトレイ2の上に装着される
。トレイ2は円筒形のサセプタ3の上端に置かれている
。第2図のものと違ってサセプタ3は上壁の無い円筒形
である。サセプタ3か囲む円形の空間に抵抗加熱用のヒ
ータ4が設けられるこれはカーボンヒータであり、渦巻
き状の流路(図示せず)が水平に形成されている。 円筒形のサセプタ3の下端はリング杖の支持板部12を
経て回転シャフト5によって支持される。 回転シャフトは中空円筒の軸である。下方に於いて軸受
け(図示せず)により支持され、回転導入機(図示せず
)によって鉛直軸のまわりに回転するようになっている
。 回転シャフト5の内部空間には電極6が鉛直方向に設け
られる。これは抵抗加熱ヒータ4の両端に接続されてい
る。電極6を通してヒータ4に直流または交流の電流が
流される。 ヒータ4の直下には複数枚のりフレフタ8が設けられる
。これはヒータ4から下に向かう輻射熱を上方へ反射す
るものである。リフレクタ8は、電極6に対し絶縁体(
図示せず)を介して取り付けることによって支持できる
。あるいは電極6とは別に絶縁体の支柱を設けてリフレ
クタ8を支持するようにしても良い。 トレイ2、サセプタ3、ヒータ4、回転シャフト5など
は縦長円筒形のりアクタ7によって囲まれている。これ
は石英によって例えば作られる。 縦長で上方が円錐または半球吠になっており上類部に原
料ガス導入口(図示せず)がある。下方に排ガス出口(
図示せず)があって真空排気装置(図示せず)に連絡し
ている。 原料ガスは上類部から導入され下方に向かって流れる。 加熱されたウニハエに於いて気相反応し薄膜形成する。 リアクタ7の周囲には冷却水ジャケット11が設けられ
る。 本発明の特徴ある部分はトレイ2が半径方向に2分割さ
れているということである。内部トレイ9と外部トレイ
10に分割され相互に組み合わせ分離可能になったトレ
イである。 内部トレイ9と外部トレイ10の境界面13は断面がカ
ギ型になっている。これは外部トレイ10の開口縁の上
に内部トレイ9を置くようにするためである。外部トレ
イ10の端縁を持ち上げることによってトレイ2の全体
を持ち上げることができるようにこのような境界面の形
状になっている。 サセプタ3は単純な円筒壁を持つものであってもよい。 しかしこの実施例では、内外部トレイ910でサセプタ
3の上端層を挟むような形状になっている。 サセプタ3の上端層は内外に面取りが施されており、外
斜面14と内斜面15とが形成されている。 これに対応して外部トレイ10は内向斜壁16を、内部
トレイ9は外向斜壁17を有する。外部トレイ10の内
向斜壁16はサセプタ3の外斜面14に接する。内部ト
レイ9の外向斜壁17はサセプタ3の内斜面15に接す
る。 内部トレイ9の下部周縁には鍔部18が下方に向かって
延びている。これはヒータ4から出て側方に向かう輻射
熱を吸収するためである。 ヒータ4は平板状のヒータで電流路が平面上に渦巻き状
に形成されている。抵抗体であるからこれに通電するこ
とによってジュール熱が発生するこの熱は大部分は上方
または下方に向かう。これはヒータの幾何学的形状に由
来する。 ヒータ4は上方、側方を内部トレイ9により、下方をリ
フレクタ8によって仕切られている。ヒータ4から下方
に向かう輻射熱はりフレフタ8によって反射されて上方
に向かう輻射熱となる。上方に向かう輻射熱は内部トレ
イ9の下底に照射されこれに吸収される。 側方へ向かうヒータからの輻射熱は内部トレイ9の下に
延びた鍔部18によって吸収される。 このようにヒータの輻射熱はサセプタを介して(第2図
のように)ではなく、直接に内部トレイ9を加熱する。 幾何学的関係から、ヒータの輻射熱のうち僅かな割合だ
けがサセプタ3に当たることになる。ヒータの熱が極め
て有効に利用されている。加熱効率が優れている。 さてヒータの輻射は殆ど全てが内部トレイθを加熱する
ために用いられる。内部トレイ9の上にはウェハ1が置
いであるから、ウェハ1は内部トレイ9からの熱伝導に
より加熱される。内部トレイ9から、これより温度の低
い外部トレイ101サセプタ3へ熱が逃げる。しかし内
部トレイ9と外部トレイ10の間には境界面13があり
熱伝導は著しく悪くなる。 内部トレイ9とサセプタ3の間にも、内向斜壁16と外
斜画工4の空隙があるので、熱伝導が阻止される。 結局内部トレイ9から外部トレイ101サセプタ3へ逃
げる熱が少なくなる。内部トレイ9の内部に於ける熱の
移動が少なくなるという事は、内部トレイ9の内部の温
度差が小さいということである。つまり内部トレイ9の
温度は均一である。 熱的環境に於いて内部トレイ9は孤立するということが
できる。従ってウェハ1の温度も面内に於いてより均一
になる。 このようにして加熱効率が良く、ウェハの面内温度均一
性に優れた気相成長装置を実現することができる。 材質について述べる。 サセプタ3、内部トレイ9、外部トレイ10はカーボン
製で表面にSjC、またはPBNをコーティングしたも
のである。カーボンは耐熱性があり反応性ガスに対して
も強い。しかしカーボンの表面は摩擦に弱く粉が出やす
いのでコーティングしなければならない。 内部トレイ9は温度の均一性が強く要求されるので熱伝
導の高いカーボンである事が望ましい。 しかし、サセプタ3や外部トレイ10は熱伝導の低い方
が良いので石英や熱伝導率の小さなセラミックとしても
良い。石英の熱伝導率はカーボンより一桁かさい。 リフレクタ8は耐熱性があって反射率の高いものがよい
のでMOlTalWなど高融点金属の板を用いる。 ヒータ4はカーボンのヒータとすることができる。 内部トレイ9の鍔部18は特に重要であり、ヒータの熱
を鍔部18によって吸収しやすくするため、これを下方
に延長している。さらにヒータ4に接近するよう内方へ
延長するのも有用である。
【  発  明  の  効  果  】トレイを内部
トレイと外部トレイに分割し、サセプタの上壁が欠けて
いるのでヒータの熱の殆ど全てが内部トレイ加熱に利用
され、加熱効率が優れている。 内部トレイから熱伝導によって逃げる熱が少なく、内部
トレイの周縁部と中央部での温度差が小さくなる。ウェ
ハの面内温度均一性が良い。実際本発明の装置によれば
ウェハの周縁と中心部との温度差を上2゜5℃の範囲に
制御することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に係る気相成長装置のサセプタ
、トレイ、ヒータ近傍の縦断面図。 第2図は本発明者が以前に製作した気相成長装置のサセ
プタ、トレイ、ヒータ近傍の縦断面図。 1・・・・・ウェハ 2・−・・・トレイ 3・・・・・サセプタ 4・・・・・ヒータ 5・・・・・回転ンヤフト 6・・・・・電 極 7・・・・・リアクタ 8Φ611・・リフレクタ 9・・11命・内部トレイ 10・拳・・外部トレイ 11・・・・冷却水ジャケット 12・・・Φ支持板部 13・・・・境界面 14・・・・外斜面 15・・・・内斜面 16・・・・内向斜壁 17・・・・外交斜壁 発明者

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)真空に引く事ができ内部に原料ガスを流す事ので
    きるリアクタと、リアクタの内部に回転自在に設けられ
    るサセプタと、サセプタを支持する中空の回転シャフト
    と、サセプタの内部空間に設けられる抵抗加熱ヒータと
    、ヒータを支持し電流を流すための電極と、サセプタの
    上に設けられウェハを上面に装着すべきトレイとを含み
    、トレイが半径方向内外に2分割された内部トレイと外
    部トレイとよりなり、サセプタは上壁を欠く筒状である
    ことを特徴とする気相成長装置。
  2. (2)内部トレイは、ヒータ輻射熱を吸収するための下
    面周縁に下方へ延長した鍔部を有する事を特徴とする請
    求項(1)に記載の気相成長装置。
JP2179972A 1990-07-06 1990-07-06 気相成長装置 Expired - Fee Related JP2546414B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2179972A JP2546414B2 (ja) 1990-07-06 1990-07-06 気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2179972A JP2546414B2 (ja) 1990-07-06 1990-07-06 気相成長装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0465819A true JPH0465819A (ja) 1992-03-02
JP2546414B2 JP2546414B2 (ja) 1996-10-23

Family

ID=16075203

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2179972A Expired - Fee Related JP2546414B2 (ja) 1990-07-06 1990-07-06 気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2546414B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001098379A (ja) * 1999-09-28 2001-04-10 Shibaura Mechatronics Corp 気相成長装置
JP2007042844A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Furukawa Co Ltd 気相成長装置及びサセプタ
JP2007042845A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Furukawa Co Ltd サセプタ及び気相成長装置
JP2008218995A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Tera Semicon Corp 大面積基板処理システムのサセプタ・ヒータアセンブリ
JP2012109409A (ja) * 2010-11-17 2012-06-07 Ulvac Japan Ltd 基板搬送トレイ
JP2013093461A (ja) * 2011-10-26 2013-05-16 Ulvac Japan Ltd 成膜装置
JP2017126594A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 大陽日酸株式会社 気相成長装置
JP2018522401A (ja) * 2015-06-22 2018-08-09 ビーコ インストゥルメンツ インコーポレイテッド 化学蒸着のための自己心合ウエハキャリアシステム
CN117089926A (zh) * 2023-10-20 2023-11-21 杭州海乾半导体有限公司 一种用于提高碳化硅外延片均匀性的载具及其使用方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61132595A (ja) * 1984-11-28 1986-06-20 Toshiba Corp 有機金属熱分解気相結晶成長装置
JPS62118519A (ja) * 1985-11-19 1987-05-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体基板加熱装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61132595A (ja) * 1984-11-28 1986-06-20 Toshiba Corp 有機金属熱分解気相結晶成長装置
JPS62118519A (ja) * 1985-11-19 1987-05-29 Mitsubishi Electric Corp 半導体基板加熱装置

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001098379A (ja) * 1999-09-28 2001-04-10 Shibaura Mechatronics Corp 気相成長装置
JP2007042844A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Furukawa Co Ltd 気相成長装置及びサセプタ
JP2007042845A (ja) * 2005-08-03 2007-02-15 Furukawa Co Ltd サセプタ及び気相成長装置
JP2008218995A (ja) * 2007-02-28 2008-09-18 Tera Semicon Corp 大面積基板処理システムのサセプタ・ヒータアセンブリ
JP2012109409A (ja) * 2010-11-17 2012-06-07 Ulvac Japan Ltd 基板搬送トレイ
JP2013093461A (ja) * 2011-10-26 2013-05-16 Ulvac Japan Ltd 成膜装置
JP2018522401A (ja) * 2015-06-22 2018-08-09 ビーコ インストゥルメンツ インコーポレイテッド 化学蒸着のための自己心合ウエハキャリアシステム
JP2017126594A (ja) * 2016-01-12 2017-07-20 大陽日酸株式会社 気相成長装置
CN117089926A (zh) * 2023-10-20 2023-11-21 杭州海乾半导体有限公司 一种用于提高碳化硅外延片均匀性的载具及其使用方法
CN117089926B (zh) * 2023-10-20 2024-01-16 杭州海乾半导体有限公司 一种用于提高碳化硅外延片均匀性的载具及其使用方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2546414B2 (ja) 1996-10-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6001183A (en) Wafer carriers for epitaxial growth processes
US5059770A (en) Multi-zone planar heater assembly and method of operation
JP5639104B2 (ja) 成膜装置
US6554905B1 (en) Rotating semiconductor processing apparatus
JP2001522138A5 (ja)
US20160068996A1 (en) Susceptor and pre-heat ring for thermal processing of substrates
JPH11512232A (ja) 低質量サセプタ
US20010009255A1 (en) System and method for rapid thermal processing
JPS6070177A (ja) 化学的蒸着装置
US10508333B2 (en) Heating apparatus and substrate processing apparatus having the same
JP7175766B2 (ja) サセプタ支持体
JPH0465819A (ja) 気相成長装置
JP2013030758A (ja) 成膜装置および成膜方法
TW201907048A (zh) 具有改良熱均勻性的熱腔室
JP2020506290A (ja) 搬送リング
KR100375396B1 (ko) 준고온벽을갖춘반응챔버
WO2019000484A1 (zh) 蒸发源加热系统
JPH0338029A (ja) 気相成長装置
JPH05291145A (ja) 気相成長装置
JP3112672B1 (ja) 縦型加熱装置
JP2514677Y2 (ja) 薄膜気相成長装置
JP2004289012A (ja) 誘導加熱コイルユニット並びに半導体熱処理装置及び熱処理方法
CN105862013A (zh) 一种应用于小型mocvd系统的高温加热装置
CN220468249U (zh) 加热器和半导体加工设备
KR102581140B1 (ko) 열처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees