JPH0463586A - フアジイ制御による自動製麹方法及び装置 - Google Patents
フアジイ制御による自動製麹方法及び装置Info
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- JPH0463586A JPH0463586A JP2172769A JP17276990A JPH0463586A JP H0463586 A JPH0463586 A JP H0463586A JP 2172769 A JP2172769 A JP 2172769A JP 17276990 A JP17276990 A JP 17276990A JP H0463586 A JPH0463586 A JP H0463586A
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 10
- 238000000855 fermentation Methods 0.000 claims description 3
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- 238000004378 air conditioning Methods 0.000 claims 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、醸造工業あるいは醗酵工業におけるファジ
ィ制御理論を適用した製麹の方法及び装置に関するもの
である。
ィ制御理論を適用した製麹の方法及び装置に関するもの
である。
従来の製麹方法は、培養床上に堆積された麹基質の床上
室と床下室を＠環ダクトで連結し、その循環経路に空気
ｗＩ節装置を設け、ｔ＠環全空気麹の種類及び麹基質に
適したｍ度、湿度を所定のプログうムにしたがってコン
ピュータの指示により調整し１強制通風並びに基質の攪
拌混合（以下手入れとＺう）によって行なわ九でいた。
室と床下室を＠環ダクトで連結し、その循環経路に空気
ｗＩ節装置を設け、ｔ＠環全空気麹の種類及び麹基質に
適したｍ度、湿度を所定のプログうムにしたがってコン
ピュータの指示により調整し１強制通風並びに基質の攪
拌混合（以下手入れとＺう）によって行なわ九でいた。
しかしながら、麹の発熱経過は、麹菌の種類、麹基質の
種類及び原料処理状態、麹菌以外の微生物の増殖、外気
の温度及び湿度等により異なり、従来の空調方式では、
変化に富む麹の発熱経過に対応することが困難であった
。また製麹工程の手入操作は、所定のプログラムにした
がい、一定時間内に行なっているため１発熱経過の異な
る麹に対しては、最適の時期に手入れを行なうことが難
しかった。
種類及び原料処理状態、麹菌以外の微生物の増殖、外気
の温度及び湿度等により異なり、従来の空調方式では、
変化に富む麹の発熱経過に対応することが困難であった
。また製麹工程の手入操作は、所定のプログラムにした
がい、一定時間内に行なっているため１発熱経過の異な
る麹に対しては、最適の時期に手入れを行なうことが難
しかった。
このため製麹の技能者の経験と知識により。
自動製麹装置の制御を状況に応じて変更しなければなら
ない事態もあった。さらに出麹時期の判断は技能者によ
りなさ九るか、単に時間設定にしたがって行なっていた
。このような理由から、従来の自動製麹方法では、高品
位で一定の品質の麹を常時製造することが困難となり、
高度の知識と経験を有した技能者を必要とした。
ない事態もあった。さらに出麹時期の判断は技能者によ
りなさ九るか、単に時間設定にしたがって行なっていた
。このような理由から、従来の自動製麹方法では、高品
位で一定の品質の麹を常時製造することが困難となり、
高度の知識と経験を有した技能者を必要とした。
上述のように従来の製麹方法は、麹菌の種類、麹基質の
種類及び原料処理状態、麹菌以外の微生物の増殖、外気
の温度及び湿度１手入時期等の各種の条件により変化す
る麹製造過程における制御因子を、所定の柔軟性の無い
固定的なプログラムにしたがって制御していたことによ
り、製麹操作の技能者が行なう程度の、各々の製麹操作
に最適な制御を行なうことができなかった。また出麹時
期は、麹の品質に大きな影響を及ぼすが、その判断は技
能者以外には困難であった。さらに現状では高度の知識
と経験を有した技能者を必要とするにも拘らず、製造業
での人手不足による若手技能者の不足及び製！！操作の
技能者の高齢化により、常時安定した高品質の麹を製造
することが年々困難とな゛つている。
種類及び原料処理状態、麹菌以外の微生物の増殖、外気
の温度及び湿度１手入時期等の各種の条件により変化す
る麹製造過程における制御因子を、所定の柔軟性の無い
固定的なプログラムにしたがって制御していたことによ
り、製麹操作の技能者が行なう程度の、各々の製麹操作
に最適な制御を行なうことができなかった。また出麹時
期は、麹の品質に大きな影響を及ぼすが、その判断は技
能者以外には困難であった。さらに現状では高度の知識
と経験を有した技能者を必要とするにも拘らず、製造業
での人手不足による若手技能者の不足及び製！！操作の
技能者の高齢化により、常時安定した高品質の麹を製造
することが年々困難とな゛つている。
［Ｉ＄ｌｌ！を解決するための手段］
醸造工業あるいは醗酵工業における製麹の過程において
、麹基質の製麹環境である１品温、温度、湿度、０．濃
度、ＣＯ３濃度、風圧等の各条件が製麹の進行と共に変
化を生じる。
、麹基質の製麹環境である１品温、温度、湿度、０．濃
度、ＣＯ３濃度、風圧等の各条件が製麹の進行と共に変
化を生じる。
通常の製麹過程の変化を、−例として酒造用製麹の場合
について示すと、第１表のとおりである。
について示すと、第１表のとおりである。
第１表 酒造用製麹環境の変化
この発明は、麹菌の種類および経時変化による品温、＠
度、湿度、ＣＯ１濃度、０．濃度、風圧等を制御因子と
し、製麹操作の技能者の経験をファジィ制御理論にした
がって規則化したプログラムを使用して、コンピュータ
により制御因子を判断させ、製麹をその目的に応じて柔
軟に行ない、もって適切な製麹を行なうものである。
度、湿度、ＣＯ１濃度、０．濃度、風圧等を制御因子と
し、製麹操作の技能者の経験をファジィ制御理論にした
がって規則化したプログラムを使用して、コンピュータ
により制御因子を判断させ、製麹をその目的に応じて柔
軟に行ない、もって適切な製麹を行なうものである。
この方法によって、外気温の変化、原料処理状態の違い
による麹基質の変化、麹菌以外の混入微生物の増殖等に
よる５予測が困難な製麹状態の変化が発生した場合には
、製麹操作の技能者が行なう場合と同様な適切な処置を
コンピュータにより自動的に行なうことができ、また従
来の自動製麹方法では１時間だけを制御因子として行な
っていた手入操作（第１表の仲仕事、仕舞仕事）におい
ても。
による麹基質の変化、麹菌以外の混入微生物の増殖等に
よる５予測が困難な製麹状態の変化が発生した場合には
、製麹操作の技能者が行なう場合と同様な適切な処置を
コンピュータにより自動的に行なうことができ、また従
来の自動製麹方法では１時間だけを制御因子として行な
っていた手入操作（第１表の仲仕事、仕舞仕事）におい
ても。
麹の品温、′ａ度、湿度、風圧、Ｏ，，ＣＯ，等の複数
の制御因子を総合的に判断して、最も適した製麹時期に
行なうことが可能となる。さらに従来の自動製麹方法で
は困難であった出麹時期の判断においても、制御因子の
経時変化を総合的に判断することにより、必要とする麹
の品質に適合した時期に行なうことができる。
の制御因子を総合的に判断して、最も適した製麹時期に
行なうことが可能となる。さらに従来の自動製麹方法で
は困難であった出麹時期の判断においても、制御因子の
経時変化を総合的に判断することにより、必要とする麹
の品質に適合した時期に行なうことができる。
第１図及び第２図はこの発明を回転式自動製麹装置に適
用した例を示すものであるが。
用した例を示すものであるが。
この発明がこの型式の製麹装置に限定されるものでない
ことは言うまでもない。
ことは言うまでもない。
これら図において、ｌは断熱を施こされた培養機本体、
２は回転式の培養床で、培養機本体ｌによって形成され
る培養室は、前記培養床２を介して上室３と下室４とに
分割される。この上室３には循環ダクト５を設け、その
経路内に循環用ファン６、除湿クーラ７゜水滴除去装！
８．再熱ヒータ９を設ける。−方、上室３．下室４の間
をダクト１０で連結し。
２は回転式の培養床で、培養機本体ｌによって形成され
る培養室は、前記培養床２を介して上室３と下室４とに
分割される。この上室３には循環ダクト５を設け、その
経路内に循環用ファン６、除湿クーラ７゜水滴除去装！
８．再熱ヒータ９を設ける。−方、上室３．下室４の間
をダクト１０で連結し。
このダクトｌＯの経路内に通風ファンｉｔを設ける。上
室３内にはまた温度センサ１２と湿度センサ１３を設け
、また前記培養床２上に堆積される麹基質１４内には品
温センサ！５が挿入されている。前記除湿クーラ７には
冷水ＷＲ整タンク１６から冷水供給ポンプ１７を介して
管路１８により冷水が供給され、この管路１８内には調
節バルブ１９と電磁弁２０が介設され、かつ前記除湿ク
ーラ７からは前記冷水調整タンク１６への返還管路２１
が導出される。
室３内にはまた温度センサ１２と湿度センサ１３を設け
、また前記培養床２上に堆積される麹基質１４内には品
温センサ！５が挿入されている。前記除湿クーラ７には
冷水ＷＲ整タンク１６から冷水供給ポンプ１７を介して
管路１８により冷水が供給され、この管路１８内には調
節バルブ１９と電磁弁２０が介設され、かつ前記除湿ク
ーラ７からは前記冷水調整タンク１６への返還管路２１
が導出される。
２２は製麹操作の技能者の経験と知識をファジィ制御理
論を適用して規則化したプログラムを使用してコンピュ
ータにより制御因子を判断する綜合調整機であって、こ
の綜合調整機２２への入力ラインとしては、前記下室４
に設けた風圧センサ２３からのライン２４と、前記品温
センサ１５からのライン２５と、上室３内の０、濃度セ
ンサ２６及びＣＯ３濃度センサ２７からのライン２８及
び２９と、湿度センサ１３から湿度設定器３０を経由す
るライン３１と、温度センサ１２から温度調節機３２を
経由するライン３３とがあり、一方、出力ラインとして
は、前記通風ファン１１を制御するライン３４と、前記
循環ダクト５に設けた外気取入ダンパ３５（第２図）を
制御するライン３６と、電磁接触器３７を介して再熱ヒ
ータ９に指示を与えるライン３８と。
論を適用して規則化したプログラムを使用してコンピュ
ータにより制御因子を判断する綜合調整機であって、こ
の綜合調整機２２への入力ラインとしては、前記下室４
に設けた風圧センサ２３からのライン２４と、前記品温
センサ１５からのライン２５と、上室３内の０、濃度セ
ンサ２６及びＣＯ３濃度センサ２７からのライン２８及
び２９と、湿度センサ１３から湿度設定器３０を経由す
るライン３１と、温度センサ１２から温度調節機３２を
経由するライン３３とがあり、一方、出力ラインとして
は、前記通風ファン１１を制御するライン３４と、前記
循環ダクト５に設けた外気取入ダンパ３５（第２図）を
制御するライン３６と、電磁接触器３７を介して再熱ヒ
ータ９に指示を与えるライン３８と。
前記電磁弁１０を介して除湿クーう７に指示を与えるラ
イン３９と、Ｗｉ環ラフアン６指示を与えるうイン４０
とがある。なお第１図に４１は培養床２上の麹基質１４
の手入作業部を示す。
イン３９と、Ｗｉ環ラフアン６指示を与えるうイン４０
とがある。なお第１図に４１は培養床２上の麹基質１４
の手入作業部を示す。
上記構成において、各々所定の個所に設置された各セン
サから製麹過程において得られる複数のデータを前記綜
合調整機２２に取り込み、ファジィ制御理論に沿って作
成された経験的制御規則により判断された指令が各部の
装置に伝達され、適切な製麹が行なわれるのである。し
たがってこの発明によって製造された麹は、従来の自動
製麹装置によって製造された麹と比較して、常時安定し
た高品質の麹とすることができ、この場合１通常の作業
員のみでよく、技能者を必要としなくなった。
サから製麹過程において得られる複数のデータを前記綜
合調整機２２に取り込み、ファジィ制御理論に沿って作
成された経験的制御規則により判断された指令が各部の
装置に伝達され、適切な製麹が行なわれるのである。し
たがってこの発明によって製造された麹は、従来の自動
製麹装置によって製造された麹と比較して、常時安定し
た高品質の麹とすることができ、この場合１通常の作業
員のみでよく、技能者を必要としなくなった。
【効果Ｊ
従来の製麹操作は、たとえ自動製麹装置を使用したとし
ても、１！１麹の技能者の経験と勘に依存する場合があ
り１重要な操作である品温の制御１手入れ、出麹等は所
定の複数のプログラムから技能者の判断により選択し自
動化するか、技能者により手動で行なうのが主流であっ
た。さらに従来の制御は、麹の品温（現実には最も多く
採用されている）、必要によっては、これに湿度を加え
た程度の少数の制御因子により行なわれていたが、この
発明は品温、Ｉｉ度、ａ！度、 ｃｏｔ ｓｘ、 ａｔ
濃度。
ても、１！１麹の技能者の経験と勘に依存する場合があ
り１重要な操作である品温の制御１手入れ、出麹等は所
定の複数のプログラムから技能者の判断により選択し自
動化するか、技能者により手動で行なうのが主流であっ
た。さらに従来の制御は、麹の品温（現実には最も多く
採用されている）、必要によっては、これに湿度を加え
た程度の少数の制御因子により行なわれていたが、この
発明は品温、Ｉｉ度、ａ！度、 ｃｏｔ ｓｘ、 ａｔ
濃度。
風圧等を制御因子として、製麹操作の技能者と同程度に
総合的な判断と基に各種製麹操作を進行させることによ
り、適切な製麹操作が技能者を必要とすることなく可能
となり、高度な専門的知識と経験を有する技能者及び作
業人員の省人化、並びに品質の安定と向上に期するとこ
ろ大なるものがある。
総合的な判断と基に各種製麹操作を進行させることによ
り、適切な製麹操作が技能者を必要とすることなく可能
となり、高度な専門的知識と経験を有する技能者及び作
業人員の省人化、並びに品質の安定と向上に期するとこ
ろ大なるものがある。
第１図はこの発明を実施するための装置の一例を示す構
成図で、第２−例は第１図の一部分の横断面図である。 手続補正書（自発） 明 細 書（訂正） 平成２年８月３日
成図で、第２−例は第１図の一部分の横断面図である。 手続補正書（自発） 明 細 書（訂正） 平成２年８月３日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）醸造工業あるいは醗酵工業における製麹装置におい
て、品温、温度、湿度、Ｏ＿２濃度、ＣＯ＿２濃度、風
圧のうちの少なくとも一つの条件及びそれらの経時変化
等を制御因子としてとらえ、製麹操作の技能者の経験と
知識をファジィ制御理論を適用して規則化したプログラ
ムを使用してコンピュータにより制御因子を判断させ、
製麹をその目的に応じて柔軟に行ない、もつて適切な製
麹を行なうことを特徴とする、ファジィ制御による自動
製麹方法。 ２）品温、温度、湿度、Ｏ＿２濃度、ＣＯ＿２濃度、風
圧のうちの少なくとも一つの条件及びそれらの経時変化
等を制御因子としてとらえ、製麹操作の技能者の経験と
知識をファジィ制御理論を適用して規則化したプログラ
ムを使用してコンピュータにより制御因子を判断する綜
合調整機を備え、この綜合調整機によつて、麹基質の経
時変化に対応しつつ、空調を行なうようにしたことを特
徴とするファジィ制御による自動製麹装置。 ３）品温、温度、湿度、Ｏ＿２濃度、ＣＯ＿２濃度、風
圧のうちの少なくとも一つの条件及びそれらの経時変化
等を制御因子としてとらえ、製麹操作の技能者の経験と
知識をファジィ制御理論を適用して規則化したプラグラ
ムを使用してコンピュータにより制御因子を判断する綜
合調整機を備え、この綜合調整機によつて適切な手入時
期を見いだし、麹手入を行なう指示を与え自動的に手入
れを行なう請求項２記載の自動製麹装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2172769A JPH0463586A (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | フアジイ制御による自動製麹方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2172769A JPH0463586A (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | フアジイ制御による自動製麹方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0463586A true JPH0463586A (ja) | 1992-02-28 |
Family
ID=15947996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2172769A Pending JPH0463586A (ja) | 1990-07-02 | 1990-07-02 | フアジイ制御による自動製麹方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0463586A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008073038A (ja) * | 2006-09-20 | 2008-04-03 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム |
-
1990
- 1990-07-02 JP JP2172769A patent/JPH0463586A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008073038A (ja) * | 2006-09-20 | 2008-04-03 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | 試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム |
| US8249727B2 (en) | 2006-09-20 | 2012-08-21 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Control system for influencing test-environment parameters, method for controlling a microscope system and computer control program for same |
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