JPH0463540B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0463540B2
JPH0463540B2 JP56032894A JP3289481A JPH0463540B2 JP H0463540 B2 JPH0463540 B2 JP H0463540B2 JP 56032894 A JP56032894 A JP 56032894A JP 3289481 A JP3289481 A JP 3289481A JP H0463540 B2 JPH0463540 B2 JP H0463540B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron
channel
electrons
layer
channels
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP56032894A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57147272A (en
Inventor
Noriaki Tsukada
Takashi Nakayama
Masahiro Nunoshita
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP56032894A priority Critical patent/JPS57147272A/ja
Publication of JPS57147272A publication Critical patent/JPS57147272A/ja
Publication of JPH0463540B2 publication Critical patent/JPH0463540B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Bipolar Transistors (AREA)
  • Junction Field-Effect Transistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は新しい原理に基づく超高速の電子ス
イツチおよび電子論理演算機能を有する半導体素
子を提供することを目的としている。
以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第1図において、1はガリウム・ヒ素
(GaAs)基板、2a,2b,2cおよび3a,
3bはそれぞれGaAs基板1上に連続的にエピタ
キシヤル成長で形成されたガリウム・アルミニウ
ム・ヒ素(GaxAl1-xAs)層とGaAs層、4a,
4b,4c,4dは電流注入用に形成された不純
物(例えば亜鉛)拡散領域、5a,5b,5c,
5dは電流注入用電極、6a,6bは制御用電極
である。
次に、本発明による素子の基本原理について説
明する。第1図に示した5つのエピタキシヤル層
2a,2b,2c,3a,3bの各層の不純物ド
ーピング量と電子移動度の関係および伝導帯のバ
ンドエツジエネルギーの変化を第2図に示す。第
2図aに示すように、GaAlAs層2a,2b,2
cへのドーピング量をGaAs層3a,3bのドー
ピング量より十分大きくすると、電子移動度は、
ドーピング量に対応して、第2図bに示すよう
に、GaAs層3a,3bで大きく、GaAlAs層2
a,2b,2cは非常に小さくなる。一方、伝導
帯のバンドエツジエネルギーは、第2図cに示す
様に、GaAs層3a,3bで低く、GaAlAs層2
a,2b,2cで高くなる。従つて、異る2つの
層のフエルミレベルが一致するまで、GaAlAs層
2a,2b,2cの電子は、ポテンシヤルの低い
GaAs層3a,3bへこぼれおちる。この結果、
GaAlAs層2a,2b,2cには伝導電子が無く
なり、この層は絶縁層と見做すことができる。
次に、第1図の電極5a,5bに電圧を印加
し、電子チヤンネル層を構成するGaAs層3aに
電子を注入する場合を考える。電子の平均自由行
程に較べ電子チヤンネル層3aの厚さが十分小い
場合には、電子チヤンネル層3a内の電子のふる
まいは、電子波動関数で記述できる。すなわち、
光波の光導波路中の伝搬と同様に取り扱うことが
出来る。2つの電子チヤンネル層3a,3bにト
ンネル効果による結合がある場合には、これらの
電子チヤンネル中を伝搬する電子波のふるまい
は、下記の結合波方程式で記述できる。すなわ
ち、2本の電子チヤンネル層3a,3bを伝搬す
る電子波の存在確率振幅をA(Z),B(Z)とす
ると、それらの伝搬(Z方向)に対する変化は次
式で与えられる。
dA(Z)/dZ=KB(Z)e−i△z ……(1) dB(Z)/dZ=−KA(Z)e+i△z ……(2) ここで、△は2本の電子チヤンネルの伝搬電子波
の波数のz成分の差(すなわち2本の電子チヤン
ネルの位相整合からのずれ)を表わし、2本の電
子チヤンネルがそれぞれ独立(互いにトンネル効
果による結合がない)に存在するとき、その中を
伝搬する電子波の伝搬定数をβa,βbとすれば △=βa−βb ……(3) で与えられる。Kは2本の電子チヤンネル間の結
合係数で、チヤンネルの厚さ、チヤンネル間の距
離およびポテンシヤルの関数である。△=0、す
なわち位相整合条件のもとでは、式(1)、(2)の解は
次式で与えられる。
A(Z)=Ao cos(Kz) ……(4) B(Z)=Ao sin(Kz) ……(5) ここで、境界条件として電子チヤンネル3aのみ
に電子を注入すると仮定したので、z=0でA
(0)=A0、B(0)=0とおいた。各電子チヤン
ネルを流れる電流は Ia(z)=(A(z))2=A02cos2(Kz) ……(6) Ib(z)=(B(z))2=A02sin2(Kz) ……(7) となる。上式より、電子チヤンネル結合部の始端
において電子チヤンネル3aに注入された電子
は、チヤンネル結合部を伝搬するに従つて、しだ
いに電子チヤンネル3bに移行し、z=π2Kの
距離において電子チヤンネル3aの電子は完全に
電子チヤンネル3bへ移る。その後は逆に電子チ
ヤンネル3bの電子が電子チヤンネル3aのほう
に再移行され、前と同じ距離だけ伝搬すると、電
子チヤンネル3bの電子は完全にもとの電子チヤ
ンネル3aへ戻る。以下、周期的に電子チヤンネ
ル3a,3b間で電子の授受がくりかえされる。
電子チヤンネル間の電子の交換周期がπ/2K
であることから、電子チヤンネル間の結合係数K
をなんらかの手段で変化できれば、チヤンネル結
合部の始端において電子チヤンネル3aに注入さ
れた電子をそのままチヤンネル3aから取り出し
たり、チヤンネル3bから取り出したり出来る。
これは、電子チヤンネルの途中に制御用電極6
a,6bを設けることにより可能となる。すなわ
ち、制御用電極6a,6bのいずれか一方、ある
いはその両方に電圧を印加することにより、電子
チヤンネル3a,3bおよびその間の障壁2bの
ポテンシヤルを変えることができる。このポテン
シヤル変化は、結局、電子チヤンネル間の結合係
数Kを変えるので、上述の様に、2つの電子チヤ
ンネル間の電子(電流)のスイツチングが可能と
なる。また、制御用電極6a,6bへの印加電圧
(情報)に対応して、複数の電子チヤンネル間の
電子移行も可能で、これを利用して電子論理演算
素子として機能させることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による半導体素子
の構成を示す断面側面図、第2図はこの発明の原
理を説明するための図である。 1……ガリウム・ヒ素(GaAs)基板、2a,
2b,2c……ガリウム・アルミニウム・ヒ素
(GaAlAs)層、3a,3b……ガリウム・ヒ素
(GaAs)層(電子チヤンネル層)、4a〜4d…
…不純物拡散領域、5a〜5d……電流注入用電
極、6a,6b……制御用電極。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 伝導帯のバンドエツジエネルギーが低く、始
    端から注入された電子が終端に向かつて伝搬する
    2つの電子チヤンネル層及びこれらの電子チヤン
    ネル層間に形成された伝導帯のバンドエツジエネ
    ルギーが高い障壁層を有し、電子チヤンネル層を
    伝搬する電子のふるまいが下記式で表される多層
    半導体層と、この多層半導体層の表面に形成さ
    れ、前記2つの電子チヤンネル層のそれぞれに前
    記電子を供給する複数の電流注入用電極と、前記
    多層半導体層の表面に形成され、この多層半導体
    層に電圧を印加し、前記電子チヤンネル間にチヤ
    ンネル結合部を形成する長さπ/2Kの制御用電
    極とを備え、前記チヤンネル結合部において、あ
    るチヤンネル層を伝搬する電子を他のチヤンネル
    層へ移行することを特徴とする半導体素子。 dA(Z)/dZ=KB(Z)e-iz ……(1) dB(Z)−/dZ=KA(Z)e+iz ……(2) ここで、A(Z)、B(Z):2つの電子チヤンネル
    層を伝搬する電子波の存在確率振幅 K:2つの電子チヤンネル間の結合係数 △:2つの電子チヤンネルを伝搬する電子波の伝
    搬定数の差 Z:電子の伝搬方向
JP56032894A 1981-03-06 1981-03-06 Semiconductor element Granted JPS57147272A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56032894A JPS57147272A (en) 1981-03-06 1981-03-06 Semiconductor element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56032894A JPS57147272A (en) 1981-03-06 1981-03-06 Semiconductor element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS57147272A JPS57147272A (en) 1982-09-11
JPH0463540B2 true JPH0463540B2 (ja) 1992-10-12

Family

ID=12371589

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56032894A Granted JPS57147272A (en) 1981-03-06 1981-03-06 Semiconductor element

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS57147272A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60231367A (ja) * 1984-04-28 1985-11-16 Fujitsu Ltd 半導体装置
JPS63501841A (ja) * 1985-12-20 1988-07-28 ジ・アップジョン・カンパニ− 組織プラスミノ−ゲンアクチベ−タ−(tpa)同族体
GB9226847D0 (en) * 1992-12-23 1993-02-17 Hitachi Europ Ltd Complementary conductive device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52105785A (en) * 1976-02-27 1977-09-05 Max Planck Gesellschaft Multiilayer semiconductor element

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52105785A (en) * 1976-02-27 1977-09-05 Max Planck Gesellschaft Multiilayer semiconductor element

Also Published As

Publication number Publication date
JPS57147272A (en) 1982-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4711858A (en) Method of fabricating a self-aligned metal-semiconductor FET having an insulator spacer
US4984036A (en) Field effect transistor with multiple grooves
US4903090A (en) Semiconductor device
US4047215A (en) Uniphase charge coupled devices
DE3472036D1 (en) Small area thin film transistor
JPS57176772A (en) Semiconductor device and manufacture thereof
JPS5776879A (en) Semiconductor device
JPH0463540B2 (ja)
JPS63316484A (ja) 量子効果半導体装置
US4942437A (en) Electron tuned quantum well device
EP0242652B1 (en) Electron tuned quantum well device
US4672423A (en) Voltage controlled resonant transmission semiconductor device
EP0107039B1 (en) Resonant transmission semiconductor device and circuit including such a device
JPH03196572A (ja) 半導体装置
JP3159339B2 (ja) 電子波干渉装置
JPS6252957B2 (ja)
JP3204421B2 (ja) 電子波干渉装置
JP2902812B2 (ja) 半導体装置
JPS56110288A (en) Semiconductor laser element
KR950009803B1 (ko) 박막 트랜지스터의 제조방법
JPH0218967A (ja) 薄膜半導体装置
JPS5558576A (en) Mis structure semiconductor device
JPH05315367A (ja) 電子波干渉トランジスタ
GB1454928A (en) Charge coupled devices
EP0487922B1 (en) High speed switching electron device