JPH045924B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH045924B2
JPH045924B2 JP29700286A JP29700286A JPH045924B2 JP H045924 B2 JPH045924 B2 JP H045924B2 JP 29700286 A JP29700286 A JP 29700286A JP 29700286 A JP29700286 A JP 29700286A JP H045924 B2 JPH045924 B2 JP H045924B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit light
signal
image
joint
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP29700286A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63149505A (ja
Inventor
Kohei Nishikawa
Toshihiko Nishimura
Nobuyuki Oodera
Koichi Nishine
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kobe Steel Ltd filed Critical Kobe Steel Ltd
Priority to JP29700286A priority Critical patent/JPS63149505A/ja
Publication of JPS63149505A publication Critical patent/JPS63149505A/ja
Publication of JPH045924B2 publication Critical patent/JPH045924B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、継目の継目部分にスリツトを投光
してそのスリツトを撮像装置で撮像し、撮像装置
から画像信号を信号処理して上記継目部分の位置
を検出する継目検出方法および装置に関する。
〔従来の技術〕
この種の装置としては、従来、例えば、特開昭
59−202006号公報に記載されたものがあり、その
基本的構成を第7図に示す。同図は溶接母材1a
の平面上に溶接母材1bをT字形に溶接する開先
のない水平すみ肉溶接を行う場合を示している。
3はレーザ投光器の如きスリツト光投光器であつ
て、継目部(溶接線)2にスリツト光3aを該溶
接線2と交叉する向きに投射し、溶接母材1a,
1b上に溶接線2を切断する向きのスリツト光像
(光切断線像)3bを作成する。4は撮像装置で
あつて、上記スリツト光像3bを撮像してそのス
リツト光画像(第10図に、1例をA−B−Cで
示す)を含む画像信号(ビデオ信号)を第8図に
示す信号処理部10に送出する。この信号処理部
10は信号前処理部11と演算処理部12からな
る。なお、第10図のスリツト光画像は開先のな
い継目部に対するスリツト光画像であつて、屈曲
点Bが溶接線2の位置に対応する。
第8図に示した信号前処理部11の水平同期信
号発生回路13と垂直同期信号発生回路14は撮
像装置4と信号処理部10との同期を取るための
ものであり、ビデオ信号は低域ろか回路15を通
して高周波ノイズ等を除去したのちピークホール
ド回路16に供給される。ピークホールド回路1
6は一水平走査間におけるホールド値から最輝度
レベルを検出し、この最輝度レベルを示す信号を
A/D変換回路17およびx座標カウンタ18へ
送出する。19は比較回路であつて、A/D変換
回路17が出力するデジタルビデオ信号に基づい
て、前記最輝度レベルが予め設定された、スリツ
ト光画像における輝度レベルとなるしきい値を越
えた場合にx座標カウンタ18へトリガ信号を出
力して該x座標カウンタ18の計数動作を停止さ
せる。このx座標カウンタ18は一水平走査間に
所定数のパルスを発生するパルス発生回路20の
パルスを計数する。x座標カウンタ18は上記停
止時の計数値を最輝度レベル点のx座標アドレス
として演算処理部12に入力する他、ピークホー
ルド回路16からの最輝度レベル信号をデジタル
信号に変換して演算処理部12に入力する。y座
標カウンタ21は水平同期信号のパルス数を計数
し、この計数値を演算処理部12に出力する。な
お、x座標カウンタ18は水平同期信号によつて
クリアされ、y座標カウンタ21は垂直同期信号
によつてクリアされる。演算処理部12はx座標
カウンタ18およびy座標カウンタ21からの計
数値に基づいて溶接線2の形状に関するパラメー
タを抽出するもので、第9図に示すように、x座
標アドレスを記憶する記憶回路12a、上記x座
標アドレスと隣り合うアドレス間の差分を演算す
る差分回路12bおよび比較回路12cを有して
いる。比較回路12cは差分値が基準値を越えた
場合に、前記屈曲点Bのアドレス信号を送出す
る。第7図の22はトーチ7の位置を制御するた
めの駆動装置である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
このように従来の継目検出は、撮像装置4が送
出するビデオ信号から第10図に示す如きスリツ
ト光画像A−B−Cを抽出し、抽出したスリツト
光画像A−B−Cの屈曲点Bの位置を継目位置と
して検出するものであるため、スリツト光画像に
屈曲点がない場合、例えば、第1図に示すよう
に、溶接母材1a,1bを同面にルートギヤツプ
零に突き合わせて溶接するような場合には、これ
に照射したスリツト光像30aのスリツト光画像
30bには撮像画像Fの一フレーム分を示す第3
図に見られるように屈曲点がなく、継目部2aを
検出することができないという問題があつた。
この発明は上記した問題を解消するためになさ
れたもので、スリツト光画像に屈曲点が形成され
ない継手の継目を該スリツト光画像から信号処理
により容易に精度良く検出することができる継目
検出方法および装置を得ることを目的とする。
〔問題を解決するため手段〕
この発明は上記目的を達成するため、画像信号
が含むスリツト光画像をしきい値を用いて抽出し
てその抽出タイミングからx、y座標位置を特定
することにより上記スリツト光画像の位置情報を
作成すると同時に上記x、y座標位置における明
度の大きさを検出して上記スリツト光画像の長手
方向の明度分布を作成し、上記継目位置を、上記
明度分布の最暗部位置として検出する構成とした
ものである。
〔作用〕
この発明では、上記したように、スリツト光画
像の長手方向の明度分布中の最暗部の位置が継目
部位置として検出されるから、スリツト光画像に
前記した屈曲を生ぜしめることができず、従来法
では検出不能であつたルートギヤツプ零の継手の
継目部位置を検出することができる。
〔実施例〕
以下、この発明の一実施例を図について説明す
るが、その前に、この発明の基本的な技術思想を
開示する。
上記第1図に示したルートギヤツプ零の突き合
せ継手では、そのスリツト光画像には前記したよ
うに形状変化が生じないが、該スリツト光画像の
長手方向の明度分布を見ると、第4図に示すよう
に、継目部に対応する部分に最暗部Pが生じてい
る。これは継目部において、母材切断部の微少変
形による反射強度の低下に起因する。この発明
は、画像信号を処理し、継目部2aとしてこの最
暗部Pの位置を検出するものである。
第2図において、スリツト投光器3は、ルート
ギヤツプ零に突き合わせた第1図の継手の継目部
(溶接線)2aにスリツト光3aを投光してスリ
ツト光像30aを作る。撮像装置4はこのスリツ
ト光像を撮像して画像信号(ビデオ信号)を送出
する。第3図に撮像画像Fの一フレーム分を示
す。30bはスリツト光像30aの画像である。
100は信号処理部であり、該信号処理部100
と撮像装置4との間の同期を取るために水平同期
信号発生回路13、垂直同期信号発生回路14を
有している。20aは前記したパルス発生回路と
同様のパルス発生回路であつて、そのパルスは後
述するx座標カウンタ32に送出される。31は
比較回路であつて、撮像装置4が送出するビデオ
信号Ivを取り込んで、一水平走査線毎に、その信
号レベルを、予め設定されたスリツト光画像抽出
用しきい値Ioと比較し、IvIoである間、Hレベ
ルの信号Vwを送出する。この比較回路31の出
力信号Vwはx座標カウンタ32、y座標カウン
タ33およびスリツト光画像30bの巾方向明度
を加算平均する加算平均回路34に導入される。
x座標カウンタ32およびy座標カウンタ33は
比較回路31からの出力信号Vwを受けると、そ
の立上りで、それまでの計数値xおよびyをそれ
ぞれx座標アドレスおよびy座標アドレスとして
記憶回路35に入力する。加算平均回路34は、
撮像装置4が送出するビデオ信号Ivを取り込み、
一走査線毎に、上記出力信号Vwが到来している
間、入力であるビデオ信号Ivの信号レベル(明度
の大きさ)を加算平均して、即ち、スリツト光画
像30bの巾方向の明度加算平均値を演算して記
憶回路35に送出する。加算平均するのは、母材
表面性状やスペツクルパターンによる高周波ノイ
ズを除去するためである。この結果、記憶回路3
5は、撮像画像Fの一フレームにおけるスリツト
光画像の位置情報(x座標アドレス、y座標アド
レス)と各x座標アドレスにおける明度、即ち、
スリツト光画像30bの長手方向の明度分布(第
4図)を格納することになる。この記憶回路35
に格納された上記明度分布は、信号として平滑化
回路36と減算回路37に読み出される。減算回
路37は明度分布信号と平滑化回路36で平滑化
された平滑化明度分布信号との差を演算してスリ
ツト投光器3の照度分布に起因する低周波ノイズ
を除去し、ノイズ除去後のスリツト光画像30b
の明度分布信号を最暗部検出回路38に送出され
る。最暗部検出回路38は入力された明度分布信
号の最少レベル位置(前記した最暗部Pの位置)
を検出し、該最少レベル位置を継目部2aの位置
情報として出力する。
第5図はこの発明の他の実施例を示したもので
あつて、撮像装置4が送出するビデオ信号Ivを
A/D変換回路40を通してデジタルビデオ信号
(濃淡画像情報)に変換し、画像メモリ41に格
納させる。この画像メモリ41に格納された上記
濃淡画像情報をマイクロプロセツサ42に読み出
させて該マイクロプロセツサ42により、第6図
に示す継目検出フローを実行させる構成としたも
のである。
上記した実施例の装置では、スリツト光画像3
0bの座標位置を取り出す動作と、明度を取り出
す動作を有しているので、例えば、第5図のマイ
クロプロセツサを用いる装置では、第6図の検出
フローの他に、この座標位置を用いて前記した屈
曲点Bを検出するための検出フローを用意して置
けば、同じ装置で、第8図に示すT字継手や、ま
た、重ね継手の継目位置をも検出することが可能
となる。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明した通り、スリツト光画像
の長手方向の明度分布を取り出し、該明度分布に
おける最暗部の座標位置を継目位置として検出す
るものであるから、スリツト光画像に屈曲点が生
じないルートギヤツプ零の突き合せ継手の継目位
置を容易に精度良く検出することができる上、ス
リツト光画像の明度を取り出すに際してx、y座
標位置も取り出すので、上記最暗部を検出する検
出アルゴリズムの他に、このスリツト光画像の位
置情報を利用して上記屈曲点を検出するための検
出アルゴリズムを設けておけば、アルゴリズムを
切り換えるだけで、T字継手や重ね継手の継目位
置をも検出することが可能となる利点がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の原理を説明するためのルー
トギヤツプ零の突き合せ継手を示す図、第2図は
この発明の実施例を示すブロツク図、第3図は上
記実施例における撮像画像の一フレームを示す
図、第4図は上記実施例におけるスリツト光画像
の明度分布を示す図、第5図はこの発明の他の実
施例を示す図、第6図は上記他の実施例における
継目検出フローを示す図、第7図は従来の継目検
出装置を示すブロツク図、第8図は上記従来装置
における信号処理部のブロツク図、第9図は上記
信号処理部における演算処理部のブロツク図、第
10図は上記従来例における撮像画像の一フレー
ムを示す図である。 1a,1b……母材、2a……継目部(溶接
線)、4……撮像装置、13……水平同期信号発
生回路、14……垂直同期信号発生回路、20a
……パルス発生回路、30b……スリツト光画
像、31……比較回路、32……x座標カウン
タ、33……y座標カウンタ、34……加算平均
回路、35……記憶回路、36……平滑化回路、
37……減算回路、38……最暗部検出回路、4
0……A/D変換回路、41……画像メモリ、4
2……マイクロプロセツサ、P……最暗部。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 継手の継目位置部分に向けてスリツト光を投
    射するスリツト光投光器と、投射された上記スリ
    ツト光像を撮像する撮像装置と、該撮像装置が送
    出する画像信号を信号処理部で信号処理して所要
    の位置情報を作成する継目検出方法において、上
    記画像信号が含むスリツト光画像をしきい値を用
    いて抽出してその抽出タイミングからx、y座標
    位置を特定することにより上記スリツト光画像の
    位置情報を作成すると同時に上記x、y座標位置
    における明度の大きさを検出して上記スリツト光
    画像の長手方向の明度分布を作成し、上記継目位
    置を、上記明度分布の最暗部位置として検出する
    ことを特徴とする継目検出方法。 2 継手の継目位置部分に向けてスリツト光を投
    射するスリツト光投光器と、投射された上記スリ
    ツト光像を撮像する撮像装置と、撮像装置が送出
    する画像信号を取り込みしきい値と比較して比較
    信号を送出する比較回路、一水平走査間に所定数
    のパルスを発生するパルス発生回路のパルスを計
    数し上記比較信号の到来により該到来タイミング
    における計数値を記憶回路に送出するx座標カウ
    ンタ、上記画像信号の水平同期信号を垂直同期信
    号の発生間毎に計数し上記比較信号の到来により
    計数値を上記記憶回路に送出するy座標カウン
    タ、撮像装置が送出する画像信号を取り込み上記
    比較信号の入力期間に亘つて上記画像信号の明度
    を加算平均しその加算平均値を上記記憶回路に送
    出する加算平均回路、上記記憶回路に格納された
    上記スリツト光画像の長手方向明度分布を該スリ
    ツト光画像の上記位置情報とともに取り込んでそ
    の最暗部を検出し、該最暗部の位置情報を上記継
    目の位置情報として送出することを特徴とする継
    目検出装置。
JP29700286A 1986-12-13 1986-12-13 継目検出方法および装置 Granted JPS63149505A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29700286A JPS63149505A (ja) 1986-12-13 1986-12-13 継目検出方法および装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP29700286A JPS63149505A (ja) 1986-12-13 1986-12-13 継目検出方法および装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63149505A JPS63149505A (ja) 1988-06-22
JPH045924B2 true JPH045924B2 (ja) 1992-02-04

Family

ID=17840975

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP29700286A Granted JPS63149505A (ja) 1986-12-13 1986-12-13 継目検出方法および装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63149505A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63149505A (ja) 1988-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0532257B1 (en) Weld bead quality determining apparatus
US9889528B2 (en) Infrared vision sensing detection method and device for narrow-gap weld seam deviation
JPS62279931A (ja) 片面段ボ−ルの不良検出装置
CN109702293B (zh) 一种基于视觉检测的焊接熔透质量实时控制方法
WO1988000508A1 (en) Method of detecting position data in arc welding
JP2885040B2 (ja) レーザ溶接の溶接品質管理方法
JPH045924B2 (ja)
Agapakis et al. Vision sensing and processing system for monitoring and control of welding and other high-luminosity processes
JP2989384B2 (ja) アークの状況判断方法
JPS595071B2 (ja) 可視ア−ク溶接の倣い方法
JPH0483105A (ja) 溶接位置検出方法及びその装置
JPH0660809B2 (ja) 継手検出方法
JPS6153643B2 (ja)
JP2667841B2 (ja) 溶接装置
JPS635880A (ja) 作業線自動検出装置
JP2515143B2 (ja) 画像処理による開先検出法
JPS6320179A (ja) 溶接開先位置検出方法
JP3449917B2 (ja) 溶接開先部の検出方法
JP2909314B2 (ja) 溶融池の状況判断方法
JPS60194868A (ja) 原稿端縁座標の検出回路
JPH10272566A (ja) 隅肉継手開先のルートギャップ検出方法
JPH0619258B2 (ja) 光切断像位置検出装置
JPH085350A (ja) 溶接開先位置及び形状の測定方法
JPS5877609A (ja) 形状検出装置
JPH0221202A (ja) 画像処理による開先検出法