JPH0458111A - 流量測定装置 - Google Patents
流量測定装置Info
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- JPH0458111A JPH0458111A JP16819990A JP16819990A JPH0458111A JP H0458111 A JPH0458111 A JP H0458111A JP 16819990 A JP16819990 A JP 16819990A JP 16819990 A JP16819990 A JP 16819990A JP H0458111 A JPH0458111 A JP H0458111A
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Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、気体の流量測定に適用される流量測定装置に
間するものである。
間するものである。
し従来の技術]
第9図は例えば特開昭62−30917号公報もしくは
特開昭63−31308号公報などに開示されている従
来のフルイディック壁流量測定装置の構成を示す断面図
である。同図において、1はフルイディック流量計、2
はフルイディック流量計1の胴体、3は気体が流入する
入口、4はその出口、5はノズル、6はターゲット、7
A、7Bは側壁、8A、8Bは気体圧力の増減が相反的
に変動する流路部分に開設された圧力導入孔であり、こ
れらの圧力導入孔8A、8Bには圧力センサ9が接続管
10A、IOBを介して接続されている。なお、Fは気
体の流れる方向を示す矢印である。
特開昭63−31308号公報などに開示されている従
来のフルイディック壁流量測定装置の構成を示す断面図
である。同図において、1はフルイディック流量計、2
はフルイディック流量計1の胴体、3は気体が流入する
入口、4はその出口、5はノズル、6はターゲット、7
A、7Bは側壁、8A、8Bは気体圧力の増減が相反的
に変動する流路部分に開設された圧力導入孔であり、こ
れらの圧力導入孔8A、8Bには圧力センサ9が接続管
10A、IOBを介して接続されている。なお、Fは気
体の流れる方向を示す矢印である。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、従来のフルイディック壁流量測定装置は
、フルイディック流量計1におけるフルイディック発振
の検出を圧力センサ9を用いて行っているので、この圧
力センサ9はフルイディック流量計1に加わる外部から
の振動を拾い易く、それが疑似信号となって検出されて
しまい、流層の計測が不正確となるという問題があった
。
、フルイディック流量計1におけるフルイディック発振
の検出を圧力センサ9を用いて行っているので、この圧
力センサ9はフルイディック流量計1に加わる外部から
の振動を拾い易く、それが疑似信号となって検出されて
しまい、流層の計測が不正確となるという問題があった
。
また、フルイディック発振で生じる圧力差は、極微小で
あるため、それを検出するために必要な圧力センサ9の
圧力検出ダイアフラムは薄くかつ大きいので、外部から
の小さな加速度でも変位してしまう。このため、振動を
疑似信号として検出してしまうという問題があった。
あるため、それを検出するために必要な圧力センサ9の
圧力検出ダイアフラムは薄くかつ大きいので、外部から
の小さな加速度でも変位してしまう。このため、振動を
疑似信号として検出してしまうという問題があった。
[課題を解決するための手段]
このような課題を解決するために本発明の第1の発明は
、フルイディック流星計と、このフルイディック流量計
の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設けられ
た一対の開孔と、この一対の開孔間に連通された流路と
、この流路内に設置されかつこの流路内の流速を測定す
るフローセンサとを設けたものである。
、フルイディック流星計と、このフルイディック流量計
の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設けられ
た一対の開孔と、この一対の開孔間に連通された流路と
、この流路内に設置されかつこの流路内の流速を測定す
るフローセンサとを設けたものである。
また、本発明の第2の発明は、第1の発明において、一
対の開孔、流路およびフローセンサを2組み以上設けた
ものである。
対の開孔、流路およびフローセンサを2組み以上設けた
ものである。
さらに本発明の第3の発明は、フルイディック流量計と
、このフルイディック流量計内の発振にともなって生じ
る流速の異なる位置に設置されかつ該位置の流速を測定
する一対のフローセンサとを設けたものである。
、このフルイディック流量計内の発振にともなって生じ
る流速の異なる位置に設置されかつ該位置の流速を測定
する一対のフローセンサとを設けたものである。
[作用]
本発明による流量測定装置においては、フローセンサを
検出器として用いることでフルイディック流量計の振動
などが検出されにくくなる。
検出器として用いることでフルイディック流量計の振動
などが検出されにくくなる。
[実施例]
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明による流量測定装置の一実施例による構
成の概略を示す断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、フルイディック
流量計1を構成する胴体2内の圧力増減が相反的に変動
する流路部分には、圧力導入孔8A、8Bが開設されて
おり、これらの圧力導入孔8A、8B間を結合する流路
10内には、流路10内に流れる気体の流速を測定する
フローセンサとして例えばマイクロフローセンサ11が
設置されている。
成の概略を示す断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、フルイディック
流量計1を構成する胴体2内の圧力増減が相反的に変動
する流路部分には、圧力導入孔8A、8Bが開設されて
おり、これらの圧力導入孔8A、8B間を結合する流路
10内には、流路10内に流れる気体の流速を測定する
フローセンサとして例えばマイクロフローセンサ11が
設置されている。
第2図はフローセンサとして例えばマイクロフローセン
サ11の構成を示す平面図である。同図(a)において
、例えばシリコンなどからなる半導体基板21の中央部
には、この半導体基板21に対して空隙部22を介して
熱的に絶縁された薄膜状のダイアフラム部23が形成さ
れており、このダイアフラム部23上の表面中央部分に
は、ヒータエレメント24が形成され、さらにこのヒー
タエレメント24の両側にはそれぞれ独立した測温抵抗
エレメント25.26が形成されている。また、この半
導体基板21の表面には、この半導体基板21のエツチ
ングのための多数のスリット27が開設され、ヒータエ
レメント24および測温抵抗エレメント25.26の周
辺部を、その半導体基板21の表面に開数された多数の
細かいスリット27を介して例えば異方性エツチングを
行うことにより、内側に逆台形状の空気スペースを有す
る空隙部22が形成されている。これによってこの空隙
部22の上部には、半導体基板21からダイアフラム状
に空間的に隔離され、この半導体基板21からヒータエ
レメント24および両側の測温抵抗エレメント25.2
6が熱的に絶縁されて支持されたダイアフラム部23が
形成される構造となっている。なお、27□、27z
、273.274はダイアフラム部23において、風上
側から風下に向かってそれぞれ測温抵抗エレメント25
.ヒータエレメント24.測温抵抗エレメント26の前
後に空隙部22と連通して連続的に開設されたスリット
部である。なお、28は半導体基板21上の角部に形成
された周囲測温抵抗エレメントである。
サ11の構成を示す平面図である。同図(a)において
、例えばシリコンなどからなる半導体基板21の中央部
には、この半導体基板21に対して空隙部22を介して
熱的に絶縁された薄膜状のダイアフラム部23が形成さ
れており、このダイアフラム部23上の表面中央部分に
は、ヒータエレメント24が形成され、さらにこのヒー
タエレメント24の両側にはそれぞれ独立した測温抵抗
エレメント25.26が形成されている。また、この半
導体基板21の表面には、この半導体基板21のエツチ
ングのための多数のスリット27が開設され、ヒータエ
レメント24および測温抵抗エレメント25.26の周
辺部を、その半導体基板21の表面に開数された多数の
細かいスリット27を介して例えば異方性エツチングを
行うことにより、内側に逆台形状の空気スペースを有す
る空隙部22が形成されている。これによってこの空隙
部22の上部には、半導体基板21からダイアフラム状
に空間的に隔離され、この半導体基板21からヒータエ
レメント24および両側の測温抵抗エレメント25.2
6が熱的に絶縁されて支持されたダイアフラム部23が
形成される構造となっている。なお、27□、27z
、273.274はダイアフラム部23において、風上
側から風下に向かってそれぞれ測温抵抗エレメント25
.ヒータエレメント24.測温抵抗エレメント26の前
後に空隙部22と連通して連続的に開設されたスリット
部である。なお、28は半導体基板21上の角部に形成
された周囲測温抵抗エレメントである。
第3図はフルイディック流量計1にマイクロ70−セン
サ11が設置された具体的な構成を示す図で同図(a)
は全体の展開図、同図(b)はそのセンサハウジングの
斜視図、同図(C)は同図(a)のA−A’線の断面図
であり、前述の図と同一部分には同一符号を付しである
。同図において、マイクロフローセンサ11は、まず、
同図(b)に示すように表面に導体配線パターンが形成
された例えばセラミックなどからなる基台31上に接着
配置されるとともにこのマイクロフローセンサ11を接
着した基台31の背面側には外部回路接続用ビン32が
植設されて例えばワイヤボンドなどにより電気的に接続
されてセンサハウジング33が構成されている。一方、
フルイディック流量計1は、同図(a)、(b)に示す
ようにフルイディック流量計1の胴体2にはその開口部
にパツキン34を挟んで蓋2Aが設けられており、この
i2Aのフルイディック部分を覆う上面部には溝部が設
けられ、さらにこの溝部内の両端側にはフルイディック
部分と連通ずる圧力導入孔8A、8Bが開設されている
。また、この蓋2Aの上面にはその溝部と連通ずる開口
35Aを有する流路形成用蓋35がパツキン37を挟ん
で設置されて流路10が形成されている。そして流路形
成用蓋35に開設された開口35Aにはマイクロフロー
センサ11がその検出部側を流路10内に向けてパツキ
ン36により固定配置されている。
サ11が設置された具体的な構成を示す図で同図(a)
は全体の展開図、同図(b)はそのセンサハウジングの
斜視図、同図(C)は同図(a)のA−A’線の断面図
であり、前述の図と同一部分には同一符号を付しである
。同図において、マイクロフローセンサ11は、まず、
同図(b)に示すように表面に導体配線パターンが形成
された例えばセラミックなどからなる基台31上に接着
配置されるとともにこのマイクロフローセンサ11を接
着した基台31の背面側には外部回路接続用ビン32が
植設されて例えばワイヤボンドなどにより電気的に接続
されてセンサハウジング33が構成されている。一方、
フルイディック流量計1は、同図(a)、(b)に示す
ようにフルイディック流量計1の胴体2にはその開口部
にパツキン34を挟んで蓋2Aが設けられており、この
i2Aのフルイディック部分を覆う上面部には溝部が設
けられ、さらにこの溝部内の両端側にはフルイディック
部分と連通ずる圧力導入孔8A、8Bが開設されている
。また、この蓋2Aの上面にはその溝部と連通ずる開口
35Aを有する流路形成用蓋35がパツキン37を挟ん
で設置されて流路10が形成されている。そして流路形
成用蓋35に開設された開口35Aにはマイクロフロー
センサ11がその検出部側を流路10内に向けてパツキ
ン36により固定配置されている。
このような構成において、フルイディック流量計1のノ
ズル5から矢印F方向に噴射された気体は、ターゲット
6および側壁7A、7Bにより、図示したように矢印し
方向に片寄ったときには圧力導入孔8Aの流速が圧力導
入孔8Bの流速よりも速くなるので、それぞれの位置に
おける圧力P8^、p8Bの関係はベルヌーイの法則に
より、P8A< P 8Bとなる。これに応じて流路1
0の内部には圧力導入孔8Bから圧力導入孔8Aの方向
に向かって気体の流れが生じることになる。なお、ノズ
ル5からの噴流の片寄りが圧力導入孔8Bの方向(矢印
R方向)となった場合には流路10内の流れはその逆向
きとなる。
ズル5から矢印F方向に噴射された気体は、ターゲット
6および側壁7A、7Bにより、図示したように矢印し
方向に片寄ったときには圧力導入孔8Aの流速が圧力導
入孔8Bの流速よりも速くなるので、それぞれの位置に
おける圧力P8^、p8Bの関係はベルヌーイの法則に
より、P8A< P 8Bとなる。これに応じて流路1
0の内部には圧力導入孔8Bから圧力導入孔8Aの方向
に向かって気体の流れが生じることになる。なお、ノズ
ル5からの噴流の片寄りが圧力導入孔8Bの方向(矢印
R方向)となった場合には流路10内の流れはその逆向
きとなる。
一方、流路10内に設置されたマイクロフローセンサ1
1は、第2[m(a)に示す矢印りの方向から気体が移
動すると、上流側の測温抵抗エレメント25が冷却され
て降温する。下流側の測温抵抗エレメント26は気体の
流れを媒体としてヒータエレメント24からの熱伝導が
促進され、温度が昇温するために温度差が生じる。そこ
で測温抵抗エレメント25.26をホイートストンブリ
ッジ回路に組み込むことにより、温度差を電圧に変換で
き、流速に応じた電圧出力が得られ、第2図(b)に示
すように気体の流速を検出することができる。
1は、第2[m(a)に示す矢印りの方向から気体が移
動すると、上流側の測温抵抗エレメント25が冷却され
て降温する。下流側の測温抵抗エレメント26は気体の
流れを媒体としてヒータエレメント24からの熱伝導が
促進され、温度が昇温するために温度差が生じる。そこ
で測温抵抗エレメント25.26をホイートストンブリ
ッジ回路に組み込むことにより、温度差を電圧に変換で
き、流速に応じた電圧出力が得られ、第2図(b)に示
すように気体の流速を検出することができる。
このように構成された流量測定装置において、フルイデ
ィック流量計1の圧力導入孔8Aの圧力P8^と圧力導
入孔8Bの圧力P8Bとの圧力差(P8A PaB)
が第4図(a)に示すように変化したとき、マイクロフ
ローセンサ11の測温抵抗エレメント25.26の各出
力差は第4図(b)に示すように周期がフルイディック
の発振周期と一致し、また、マイクロフローセンサ11
のし−タエレメント24を一定温度差に維持するために
必要な電圧出力は第4図(C)に示すようにフルイディ
ックの発振周期の2倍となる。なお、圧力導入孔8A、
8Bの開口面積を流路10の断面積に対して相対的に小
さくすると、ダンピング効果により、圧力変動の高周波
ノイズ成分を減衰させることができる。
ィック流量計1の圧力導入孔8Aの圧力P8^と圧力導
入孔8Bの圧力P8Bとの圧力差(P8A PaB)
が第4図(a)に示すように変化したとき、マイクロフ
ローセンサ11の測温抵抗エレメント25.26の各出
力差は第4図(b)に示すように周期がフルイディック
の発振周期と一致し、また、マイクロフローセンサ11
のし−タエレメント24を一定温度差に維持するために
必要な電圧出力は第4図(C)に示すようにフルイディ
ックの発振周期の2倍となる。なお、圧力導入孔8A、
8Bの開口面積を流路10の断面積に対して相対的に小
さくすると、ダンピング効果により、圧力変動の高周波
ノイズ成分を減衰させることができる。
第5図は本発明による流量測定装置の他の実施例による
構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、第1図と異なる
点は、マイクロフローセンサ11を、ターゲット6の上
部(場所(a))、ターゲット6と側壁7Aとの間(場
所(b))、側壁7Aの上部(場所(C))、胴体2の
内面側(場所(d))もしくは胴体2の内面と側壁7A
との間(場所(e))のいずれの場所に設置しても良い
。この場合、ノズル5からの気体の噴流による第6図(
a)に示すようなフルイディック発振に伴うマイクロフ
ローセンサ11の出力は、第6図(b)に示すようにフ
ルイディック発振の周期と一致することになる。
構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、第1図と異なる
点は、マイクロフローセンサ11を、ターゲット6の上
部(場所(a))、ターゲット6と側壁7Aとの間(場
所(b))、側壁7Aの上部(場所(C))、胴体2の
内面側(場所(d))もしくは胴体2の内面と側壁7A
との間(場所(e))のいずれの場所に設置しても良い
。この場合、ノズル5からの気体の噴流による第6図(
a)に示すようなフルイディック発振に伴うマイクロフ
ローセンサ11の出力は、第6図(b)に示すようにフ
ルイディック発振の周期と一致することになる。
第7図は本発明による流量測定装置のさらに他の実施例
による構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部
分には同一符号を付しである。同図において、第5図と
異なる点は、マイクロフローセンサ11を、ノズル5の
中心軸に対して対称な位置、すなわち場所(a”)、場
所(b’ ) 、場所(c’ ) 、場所(d’ ”)
、場所(e′)にそれぞれ−対で設置させても良い、
この場合もノズル5の噴流による第8図(a)に示すよ
うなフルイディック発振に伴う2つのマイクロフローセ
ンサ11の出力差は、第8図(b)に示すようにフルイ
ディック発振の周期と一致することになる。
による構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部
分には同一符号を付しである。同図において、第5図と
異なる点は、マイクロフローセンサ11を、ノズル5の
中心軸に対して対称な位置、すなわち場所(a”)、場
所(b’ ) 、場所(c’ ) 、場所(d’ ”)
、場所(e′)にそれぞれ−対で設置させても良い、
この場合もノズル5の噴流による第8図(a)に示すよ
うなフルイディック発振に伴う2つのマイクロフローセ
ンサ11の出力差は、第8図(b)に示すようにフルイ
ディック発振の周期と一致することになる。
なお、前述した実施例においては、フルイディック流量
計に対して1組みの一対の圧力導入孔、流路およびマイ
クロフローセンサを設置した場合について説明したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、複数組み設置
しても同様の効果が得られることは言うまでもない。
計に対して1組みの一対の圧力導入孔、流路およびマイ
クロフローセンサを設置した場合について説明したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、複数組み設置
しても同様の効果が得られることは言うまでもない。
[発明の効果]
以上、説明したように本発明によれば、フルイディック
流量計のフルイディック発振をフローセンサにより検出
するようにしたので、外部からの振動などに影響される
ことなく、精度の高い流量計測が実現可能となるという
極めて優れた効果が得られる。
流量計のフルイディック発振をフローセンサにより検出
するようにしたので、外部からの振動などに影響される
ことなく、精度の高い流量計測が実現可能となるという
極めて優れた効果が得られる。
第1図は本発明による流量測定装置の一実施例による構
成を示す断面図、第2図は本発明に係わるマイクロフロ
ーセンサの構成を示す図、第3図は本発明による流量測
定装置の具体的な構成を示す図、第4図は本発明による
流量測定装置の動作を説明するタイミング図、第5図は
本発明による流量測定装置の他の実施例による構成を示
す断面図、第6図はその動作を説明するタイミング図、
第7図は本発明による流量測定装置のさらに他の実施例
による構成を示す断面図、第8図はその動作を説明する
タイミング図、第9図は従来の流量測定装置の構成を示
す断面図である。 1・・・・フルイディック流量計、2・・胴体、2A・
・・・蓋、3・・・・入口、4・・・・出0.5・・・
・ノズル、6−・・・ターゲット、7A、7B・・・・
側壁、8A、8B・・・・圧力導入孔、10・・・・流
路、11・・・・マイクロフローセンサ、21・・・・
半導体基板、22・・・・空隙部、23・・・・ダイア
フラム部、24・・・・ヒータエレメント、25.26
・・・・測温抵抗エレメント、27・・・・スリット、
271.272.273.274・−・・スリット部、
28・・・・周囲測温抵抗エレメント、31・・・・基
台、32・・−・外部回路接続用ビン、33・・・・ハ
ウジング、34・・・・パツキン、35・・−・流路形
成用蓋、35A・・・・開口、36・・・・パツキン。 特 許 出 願 人 山武ハネウェル株式会社代 理
人 山川数構 第1図 第2図(b)
成を示す断面図、第2図は本発明に係わるマイクロフロ
ーセンサの構成を示す図、第3図は本発明による流量測
定装置の具体的な構成を示す図、第4図は本発明による
流量測定装置の動作を説明するタイミング図、第5図は
本発明による流量測定装置の他の実施例による構成を示
す断面図、第6図はその動作を説明するタイミング図、
第7図は本発明による流量測定装置のさらに他の実施例
による構成を示す断面図、第8図はその動作を説明する
タイミング図、第9図は従来の流量測定装置の構成を示
す断面図である。 1・・・・フルイディック流量計、2・・胴体、2A・
・・・蓋、3・・・・入口、4・・・・出0.5・・・
・ノズル、6−・・・ターゲット、7A、7B・・・・
側壁、8A、8B・・・・圧力導入孔、10・・・・流
路、11・・・・マイクロフローセンサ、21・・・・
半導体基板、22・・・・空隙部、23・・・・ダイア
フラム部、24・・・・ヒータエレメント、25.26
・・・・測温抵抗エレメント、27・・・・スリット、
271.272.273.274・−・・スリット部、
28・・・・周囲測温抵抗エレメント、31・・・・基
台、32・・−・外部回路接続用ビン、33・・・・ハ
ウジング、34・・・・パツキン、35・・−・流路形
成用蓋、35A・・・・開口、36・・・・パツキン。 特 許 出 願 人 山武ハネウェル株式会社代 理
人 山川数構 第1図 第2図(b)
Claims (3)
- (1)フルイディック流量計と、前記フルイディック流
量計の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設け
られた一対の開孔と、前記一対の開孔間に連通された流
路と、前記流路内に設置されかつ該流路内の流速を測定
するフローセンサとを設けたことを特徴とする流量測定
装置。 - (2)請求項1において、前記一対の開孔、流路および
フローセンサを少なくとも2組み設けたことを特徴とす
る流量測定装置。 - (3)フルイディック流量計と、前記フルイディック流
量計内の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設
置されかつ該位置の流速を測定する一対のフローセンサ
とを設けたことを特徴とする流量測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2168199A JPH07119635B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 流量測定装置 |
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JP2168199A JPH07119635B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 流量測定装置 |
Publications (2)
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JPH0458111A true JPH0458111A (ja) | 1992-02-25 |
JPH07119635B2 JPH07119635B2 (ja) | 1995-12-20 |
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ID=15863626
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JP2168199A Expired - Lifetime JPH07119635B2 (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 流量測定装置 |
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JP (1) | JPH07119635B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102022117253A1 (de) | 2022-07-11 | 2024-01-11 | Esters-Elektronik GmbH | Messvorrichtung, Anordnung, Verwendung, Fluid-Bereitstellungs-Einheit |
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-
1990
- 1990-06-28 JP JP2168199A patent/JPH07119635B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (7)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JPH07119635B2 (ja) | 1995-12-20 |
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