JPH0458111A - 流量測定装置 - Google Patents

流量測定装置

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JPH0458111A
JPH0458111A JP16819990A JP16819990A JPH0458111A JP H0458111 A JPH0458111 A JP H0458111A JP 16819990 A JP16819990 A JP 16819990A JP 16819990 A JP16819990 A JP 16819990A JP H0458111 A JPH0458111 A JP H0458111A
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fluidic
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flow sensor
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Shigeru Aoshima
滋 青島
Tetsuo Hisanaga
哲生 久永
Mitsuhiko Osada
光彦 長田
Shoji Jounten
昭司 上運天
Takashi Gunji
郡司 貴司
Setsuo Kubodera
久保寺 節男
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、気体の流量測定に適用される流量測定装置に
間するものである。
し従来の技術] 第9図は例えば特開昭62−30917号公報もしくは
特開昭63−31308号公報などに開示されている従
来のフルイディック壁流量測定装置の構成を示す断面図
である。同図において、1はフルイディック流量計、2
はフルイディック流量計1の胴体、3は気体が流入する
入口、4はその出口、5はノズル、6はターゲット、7
A、7Bは側壁、8A、8Bは気体圧力の増減が相反的
に変動する流路部分に開設された圧力導入孔であり、こ
れらの圧力導入孔8A、8Bには圧力センサ9が接続管
10A、IOBを介して接続されている。なお、Fは気
体の流れる方向を示す矢印である。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来のフルイディック壁流量測定装置は
、フルイディック流量計1におけるフルイディック発振
の検出を圧力センサ9を用いて行っているので、この圧
力センサ9はフルイディック流量計1に加わる外部から
の振動を拾い易く、それが疑似信号となって検出されて
しまい、流層の計測が不正確となるという問題があった
また、フルイディック発振で生じる圧力差は、極微小で
あるため、それを検出するために必要な圧力センサ9の
圧力検出ダイアフラムは薄くかつ大きいので、外部から
の小さな加速度でも変位してしまう。このため、振動を
疑似信号として検出してしまうという問題があった。
[課題を解決するための手段] このような課題を解決するために本発明の第1の発明は
、フルイディック流星計と、このフルイディック流量計
の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設けられ
た一対の開孔と、この一対の開孔間に連通された流路と
、この流路内に設置されかつこの流路内の流速を測定す
るフローセンサとを設けたものである。
また、本発明の第2の発明は、第1の発明において、一
対の開孔、流路およびフローセンサを2組み以上設けた
ものである。
さらに本発明の第3の発明は、フルイディック流量計と
、このフルイディック流量計内の発振にともなって生じ
る流速の異なる位置に設置されかつ該位置の流速を測定
する一対のフローセンサとを設けたものである。
[作用] 本発明による流量測定装置においては、フローセンサを
検出器として用いることでフルイディック流量計の振動
などが検出されにくくなる。
[実施例] 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明による流量測定装置の一実施例による構
成の概略を示す断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、フルイディック
流量計1を構成する胴体2内の圧力増減が相反的に変動
する流路部分には、圧力導入孔8A、8Bが開設されて
おり、これらの圧力導入孔8A、8B間を結合する流路
10内には、流路10内に流れる気体の流速を測定する
フローセンサとして例えばマイクロフローセンサ11が
設置されている。
第2図はフローセンサとして例えばマイクロフローセン
サ11の構成を示す平面図である。同図(a)において
、例えばシリコンなどからなる半導体基板21の中央部
には、この半導体基板21に対して空隙部22を介して
熱的に絶縁された薄膜状のダイアフラム部23が形成さ
れており、このダイアフラム部23上の表面中央部分に
は、ヒータエレメント24が形成され、さらにこのヒー
タエレメント24の両側にはそれぞれ独立した測温抵抗
エレメント25.26が形成されている。また、この半
導体基板21の表面には、この半導体基板21のエツチ
ングのための多数のスリット27が開設され、ヒータエ
レメント24および測温抵抗エレメント25.26の周
辺部を、その半導体基板21の表面に開数された多数の
細かいスリット27を介して例えば異方性エツチングを
行うことにより、内側に逆台形状の空気スペースを有す
る空隙部22が形成されている。これによってこの空隙
部22の上部には、半導体基板21からダイアフラム状
に空間的に隔離され、この半導体基板21からヒータエ
レメント24および両側の測温抵抗エレメント25.2
6が熱的に絶縁されて支持されたダイアフラム部23が
形成される構造となっている。なお、27□、27z 
、273.274はダイアフラム部23において、風上
側から風下に向かってそれぞれ測温抵抗エレメント25
.ヒータエレメント24.測温抵抗エレメント26の前
後に空隙部22と連通して連続的に開設されたスリット
部である。なお、28は半導体基板21上の角部に形成
された周囲測温抵抗エレメントである。
第3図はフルイディック流量計1にマイクロ70−セン
サ11が設置された具体的な構成を示す図で同図(a)
は全体の展開図、同図(b)はそのセンサハウジングの
斜視図、同図(C)は同図(a)のA−A’線の断面図
であり、前述の図と同一部分には同一符号を付しである
。同図において、マイクロフローセンサ11は、まず、
同図(b)に示すように表面に導体配線パターンが形成
された例えばセラミックなどからなる基台31上に接着
配置されるとともにこのマイクロフローセンサ11を接
着した基台31の背面側には外部回路接続用ビン32が
植設されて例えばワイヤボンドなどにより電気的に接続
されてセンサハウジング33が構成されている。一方、
フルイディック流量計1は、同図(a)、(b)に示す
ようにフルイディック流量計1の胴体2にはその開口部
にパツキン34を挟んで蓋2Aが設けられており、この
i2Aのフルイディック部分を覆う上面部には溝部が設
けられ、さらにこの溝部内の両端側にはフルイディック
部分と連通ずる圧力導入孔8A、8Bが開設されている
。また、この蓋2Aの上面にはその溝部と連通ずる開口
35Aを有する流路形成用蓋35がパツキン37を挟ん
で設置されて流路10が形成されている。そして流路形
成用蓋35に開設された開口35Aにはマイクロフロー
センサ11がその検出部側を流路10内に向けてパツキ
ン36により固定配置されている。
このような構成において、フルイディック流量計1のノ
ズル5から矢印F方向に噴射された気体は、ターゲット
6および側壁7A、7Bにより、図示したように矢印し
方向に片寄ったときには圧力導入孔8Aの流速が圧力導
入孔8Bの流速よりも速くなるので、それぞれの位置に
おける圧力P8^、p8Bの関係はベルヌーイの法則に
より、P8A< P 8Bとなる。これに応じて流路1
0の内部には圧力導入孔8Bから圧力導入孔8Aの方向
に向かって気体の流れが生じることになる。なお、ノズ
ル5からの噴流の片寄りが圧力導入孔8Bの方向(矢印
R方向)となった場合には流路10内の流れはその逆向
きとなる。
一方、流路10内に設置されたマイクロフローセンサ1
1は、第2[m(a)に示す矢印りの方向から気体が移
動すると、上流側の測温抵抗エレメント25が冷却され
て降温する。下流側の測温抵抗エレメント26は気体の
流れを媒体としてヒータエレメント24からの熱伝導が
促進され、温度が昇温するために温度差が生じる。そこ
で測温抵抗エレメント25.26をホイートストンブリ
ッジ回路に組み込むことにより、温度差を電圧に変換で
き、流速に応じた電圧出力が得られ、第2図(b)に示
すように気体の流速を検出することができる。
このように構成された流量測定装置において、フルイデ
ィック流量計1の圧力導入孔8Aの圧力P8^と圧力導
入孔8Bの圧力P8Bとの圧力差(P8A  PaB)
が第4図(a)に示すように変化したとき、マイクロフ
ローセンサ11の測温抵抗エレメント25.26の各出
力差は第4図(b)に示すように周期がフルイディック
の発振周期と一致し、また、マイクロフローセンサ11
のし−タエレメント24を一定温度差に維持するために
必要な電圧出力は第4図(C)に示すようにフルイディ
ックの発振周期の2倍となる。なお、圧力導入孔8A、
8Bの開口面積を流路10の断面積に対して相対的に小
さくすると、ダンピング効果により、圧力変動の高周波
ノイズ成分を減衰させることができる。
第5図は本発明による流量測定装置の他の実施例による
構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部分には
同一符号を付しである。同図において、第1図と異なる
点は、マイクロフローセンサ11を、ターゲット6の上
部(場所(a))、ターゲット6と側壁7Aとの間(場
所(b))、側壁7Aの上部(場所(C))、胴体2の
内面側(場所(d))もしくは胴体2の内面と側壁7A
との間(場所(e))のいずれの場所に設置しても良い
。この場合、ノズル5からの気体の噴流による第6図(
a)に示すようなフルイディック発振に伴うマイクロフ
ローセンサ11の出力は、第6図(b)に示すようにフ
ルイディック発振の周期と一致することになる。
第7図は本発明による流量測定装置のさらに他の実施例
による構成を説明する断面図であり、前述の図と同一部
分には同一符号を付しである。同図において、第5図と
異なる点は、マイクロフローセンサ11を、ノズル5の
中心軸に対して対称な位置、すなわち場所(a”)、場
所(b’ ) 、場所(c’ ) 、場所(d’ ”)
 、場所(e′)にそれぞれ−対で設置させても良い、
この場合もノズル5の噴流による第8図(a)に示すよ
うなフルイディック発振に伴う2つのマイクロフローセ
ンサ11の出力差は、第8図(b)に示すようにフルイ
ディック発振の周期と一致することになる。
なお、前述した実施例においては、フルイディック流量
計に対して1組みの一対の圧力導入孔、流路およびマイ
クロフローセンサを設置した場合について説明したが、
本発明はこれに限定されるものではなく、複数組み設置
しても同様の効果が得られることは言うまでもない。
[発明の効果] 以上、説明したように本発明によれば、フルイディック
流量計のフルイディック発振をフローセンサにより検出
するようにしたので、外部からの振動などに影響される
ことなく、精度の高い流量計測が実現可能となるという
極めて優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による流量測定装置の一実施例による構
成を示す断面図、第2図は本発明に係わるマイクロフロ
ーセンサの構成を示す図、第3図は本発明による流量測
定装置の具体的な構成を示す図、第4図は本発明による
流量測定装置の動作を説明するタイミング図、第5図は
本発明による流量測定装置の他の実施例による構成を示
す断面図、第6図はその動作を説明するタイミング図、
第7図は本発明による流量測定装置のさらに他の実施例
による構成を示す断面図、第8図はその動作を説明する
タイミング図、第9図は従来の流量測定装置の構成を示
す断面図である。 1・・・・フルイディック流量計、2・・胴体、2A・
・・・蓋、3・・・・入口、4・・・・出0.5・・・
・ノズル、6−・・・ターゲット、7A、7B・・・・
側壁、8A、8B・・・・圧力導入孔、10・・・・流
路、11・・・・マイクロフローセンサ、21・・・・
半導体基板、22・・・・空隙部、23・・・・ダイア
フラム部、24・・・・ヒータエレメント、25.26
・・・・測温抵抗エレメント、27・・・・スリット、
271.272.273.274・−・・スリット部、
28・・・・周囲測温抵抗エレメント、31・・・・基
台、32・・−・外部回路接続用ビン、33・・・・ハ
ウジング、34・・・・パツキン、35・・−・流路形
成用蓋、35A・・・・開口、36・・・・パツキン。 特 許 出 願 人  山武ハネウェル株式会社代 理
 人 山川数構 第1図 第2図(b)

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)フルイディック流量計と、前記フルイディック流
    量計の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設け
    られた一対の開孔と、前記一対の開孔間に連通された流
    路と、前記流路内に設置されかつ該流路内の流速を測定
    するフローセンサとを設けたことを特徴とする流量測定
    装置。
  2. (2)請求項1において、前記一対の開孔、流路および
    フローセンサを少なくとも2組み設けたことを特徴とす
    る流量測定装置。
  3. (3)フルイディック流量計と、前記フルイディック流
    量計内の発振にともなって生じる流速の異なる位置に設
    置されかつ該位置の流速を測定する一対のフローセンサ
    とを設けたことを特徴とする流量測定装置。
JP2168199A 1990-06-28 1990-06-28 流量測定装置 Expired - Lifetime JPH07119635B2 (ja)

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JP2168199A JPH07119635B2 (ja) 1990-06-28 1990-06-28 流量測定装置

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JPH0458111A true JPH0458111A (ja) 1992-02-25
JPH07119635B2 JPH07119635B2 (ja) 1995-12-20

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