JPH0453260A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
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- JPH0453260A JPH0453260A JP2163210A JP16321090A JPH0453260A JP H0453260 A JPH0453260 A JP H0453260A JP 2163210 A JP2163210 A JP 2163210A JP 16321090 A JP16321090 A JP 16321090A JP H0453260 A JPH0453260 A JP H0453260A
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- Japan
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- substrate
- semiconductor device
- substrate voltage
- charge pump
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 40
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 235000007516 Chrysanthemum Nutrition 0.000 description 1
- 244000189548 Chrysanthemum x morifolium Species 0.000 description 1
- 101000603223 Homo sapiens Nischarin Proteins 0.000 description 1
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は基板電圧発生回路を有する半導体装置に関す
るものである。
るものである。
第5図(は従来の基板電圧発生回路と、レベルディテク
タと、基板電圧発生回路の停止手段の回路図であり、図
において、(財)、 (591はレベルディテクタで
ある。ただしレベルディテクタに)はレベルディテクタ
(59)よシ検出する基板電圧の設定値が低くなってい
る。に)、 (60)はインバータ、 (56)は
インバータ(ト)、0η、に)、旧とN01(ゲート印
より構成されるリングオシレータ、 (57)はイン
バータ(51+ 、 (521より構成される増幅回路
、(68)はインバータ(62)、 (631,(64
)より構成される増幅−」路である。ただし、増幅回路
(68)は増幅「す」路(57)より増幅作用が大きく
設定さ扛ている。(61)はNORゲト、(58)はキ
ャパシタ(53)とnチャンネルトランジスタ(54,
)、 (55)より構成されるチャージポンプ回路、
(69)はキャパシタ(65)とnチャンネルトラン
ジスタ(66)、 (67)工F)Wit成されるチャ
ージポンプ回路である。ただし、チャージポンプ回路C
69)はチャージポンプ回路(58)、r、り駆動能力
が犬きく設定されている。第6図はレベルディテクター
の回路図、第7図はレベルディテクタ(59)の(す]
路であり、(70)、 (71)、 (72)、 (7
3)、(74)、 (78)、 (79)、 (80)
(81)、 (82) 、 (83) 、 (84)
、 (88)、 (89) 、 (90) (i nチ
ャンネルトランジスタ、(75)、 (76)、 (7
7)、 (85)、 (86)、 (87)Upチャン
ネルトランジスタである。第8区は各信号、各ノードの
タイミングチャートである。
タと、基板電圧発生回路の停止手段の回路図であり、図
において、(財)、 (591はレベルディテクタで
ある。ただしレベルディテクタに)はレベルディテクタ
(59)よシ検出する基板電圧の設定値が低くなってい
る。に)、 (60)はインバータ、 (56)は
インバータ(ト)、0η、に)、旧とN01(ゲート印
より構成されるリングオシレータ、 (57)はイン
バータ(51+ 、 (521より構成される増幅回路
、(68)はインバータ(62)、 (631,(64
)より構成される増幅−」路である。ただし、増幅回路
(68)は増幅「す」路(57)より増幅作用が大きく
設定さ扛ている。(61)はNORゲト、(58)はキ
ャパシタ(53)とnチャンネルトランジスタ(54,
)、 (55)より構成されるチャージポンプ回路、
(69)はキャパシタ(65)とnチャンネルトラン
ジスタ(66)、 (67)工F)Wit成されるチャ
ージポンプ回路である。ただし、チャージポンプ回路C
69)はチャージポンプ回路(58)、r、り駆動能力
が犬きく設定されている。第6図はレベルディテクター
の回路図、第7図はレベルディテクタ(59)の(す]
路であり、(70)、 (71)、 (72)、 (7
3)、(74)、 (78)、 (79)、 (80)
(81)、 (82) 、 (83) 、 (84)
、 (88)、 (89) 、 (90) (i nチ
ャンネルトランジスタ、(75)、 (76)、 (7
7)、 (85)、 (86)、 (87)Upチャン
ネルトランジスタである。第8区は各信号、各ノードの
タイミングチャートである。
次に動作について説明する。電源が投入されると。
jングオシレータ(56)が発振を始め、チャージポン
プ回路(58)、 (69)が両方動作し、nチャンネ
ルトランジスタr54)、 (66)を通じて、基板は
負にバイアスされ始める。基板の電位がある値まで下が
ると、レベルディテクタ(59)がそれを検出し、ノー
ドCばI−owになり駆動能力の大きいチャージポンプ
回路(69)は停止する。
プ回路(58)、 (69)が両方動作し、nチャンネ
ルトランジスタr54)、 (66)を通じて、基板は
負にバイアスされ始める。基板の電位がある値まで下が
ると、レベルディテクタ(59)がそれを検出し、ノー
ドCばI−owになり駆動能力の大きいチャージポンプ
回路(69)は停止する。
基板の電位がさらに深いある値までFがると、レベルデ
ィテクターが−1:′t’l−に検出し、ノードBばt
owになシ駆動能力の小さいチャージポンプ(58)も
停止する。その後は基板電圧がリーク電圧によシ高くな
ったときにレベルディテクターがそれを検出し、ノード
BがHigh vcなり、チャージポンプ回路(58)
が再び動作し、基板電圧を設定値までFげる。このLう
に電源投入時に2つのチャージポンプ回路を使用するこ
とで、基板の電位を急速に負にバイアスし、その後、駆
動能力の大きいチャージポンプ回路(69)を停止する
ことに工p消費電力を少くしている。
ィテクターが−1:′t’l−に検出し、ノードBばt
owになシ駆動能力の小さいチャージポンプ(58)も
停止する。その後は基板電圧がリーク電圧によシ高くな
ったときにレベルディテクターがそれを検出し、ノード
BがHigh vcなり、チャージポンプ回路(58)
が再び動作し、基板電圧を設定値までFげる。このLう
に電源投入時に2つのチャージポンプ回路を使用するこ
とで、基板の電位を急速に負にバイアスし、その後、駆
動能力の大きいチャージポンプ回路(69)を停止する
ことに工p消費電力を少くしている。
従来の半導体装置は以上のようVC構成さしているので
、スタンドバイ時とアクティブ時で同一のレベルディテ
クタ全使用していた。そのため、スタンドバイ時は低消
費電力化のためアクデイプ時に比べて基板電圧全高く設
定した方が良いにもかかわらず、アクティブ時と同じ電
位に設定されていた。また増幅回路とチャージポンプが
2つずつあり、1/イアウド面積が大きくなるという問
題点があった。
、スタンドバイ時とアクティブ時で同一のレベルディテ
クタ全使用していた。そのため、スタンドバイ時は低消
費電力化のためアクデイプ時に比べて基板電圧全高く設
定した方が良いにもかかわらず、アクティブ時と同じ電
位に設定されていた。また増幅回路とチャージポンプが
2つずつあり、1/イアウド面積が大きくなるという問
題点があった。
この発明ホL、記のような問題点を解決するためになさ
れたもので、スタンドバイ時の基板電圧をアクティブ時
ニジ低く設定し、低消費電力化ケはかり、tfC,レイ
アウト面積が小さい半導体装置を得ること全目的とする
。
れたもので、スタンドバイ時の基板電圧をアクティブ時
ニジ低く設定し、低消費電力化ケはかり、tfC,レイ
アウト面積が小さい半導体装置を得ること全目的とする
。
この発明に係る半導体装置は、基板電圧のレベルディテ
クタを2つ設け、スタントノ(イ時とアクティブ時で切
り換えるようにし、また増幅回路、チャージポンプ回路
を1つずつにしたものである。
クタを2つ設け、スタントノ(イ時とアクティブ時で切
り換えるようにし、また増幅回路、チャージポンプ回路
を1つずつにしたものである。
この発明における半導体装置は、スタントノくイ時にア
クティブ時と別の基板電圧レベルディテクタを使用する
ことにLす、スタンドバイ時の基板電圧をアクティブ時
より低くして低消費電力化をはかり、また、増幅回路、
チャージポンプ回路を1つずつにし、レイアウト面積を
小さくしている0〔実施例] 以下この発明の一実施例を図について説明する。
クティブ時と別の基板電圧レベルディテクタを使用する
ことにLす、スタンドバイ時の基板電圧をアクティブ時
より低くして低消費電力化をはかり、また、増幅回路、
チャージポンプ回路を1つずつにし、レイアウト面積を
小さくしている0〔実施例] 以下この発明の一実施例を図について説明する。
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置における
基板電圧発生回路、ノベルディテクタ及ヒ基板電圧発生
回路の停止手段の回路図で1図において、 [1,)、
+5>はレベルディテクタである0′f?:、フビし
レベルディテクタ(5) flレベルディテクタfl)
に比べて検出する基板電圧の設定値が高くなっている。
基板電圧発生回路、ノベルディテクタ及ヒ基板電圧発生
回路の停止手段の回路図で1図において、 [1,)、
+5>はレベルディテクタである0′f?:、フビし
レベルディテクタ(5) flレベルディテクタfl)
に比べて検出する基板電圧の設定値が高くなっている。
t2+ 、 (61はnチャンネルトランジスタ、 (
a)、 (7)ldpチャンネルトランジスタ、 +4
)、 (9)fdインノく一タ、(8)i/;tNAN
Dゲート、ノはインバー タ(10)、 0υ、02゜
Q3NORゲートQ4) 、l:り構成されるリングオ
シレータ、Qllはインパーク(4)、aaJ:b構成
される増幅回路、Q2はキャパシタαη、nチャンネル
トランジスタ叫、09より構成されるチャージポンプ回
路である。。第2図はレベルディテクタ(1)の回路図
、第3図はレベルディテクタ(5)の回路図であp、I
23.α(至)、@、弼、(Jul、(支)、(ハ)、
(ロ)、(イ)、(至)、(ロ)、+411゜U、+4
3はnチャンネルトランジスタ、田、(支)、■(支)
、…、菊はpチャンネルトランジスタである0第4図は
各信号、各ノードのタイミングチャート図である。
a)、 (7)ldpチャンネルトランジスタ、 +4
)、 (9)fdインノく一タ、(8)i/;tNAN
Dゲート、ノはインバー タ(10)、 0υ、02゜
Q3NORゲートQ4) 、l:り構成されるリングオ
シレータ、Qllはインパーク(4)、aaJ:b構成
される増幅回路、Q2はキャパシタαη、nチャンネル
トランジスタ叫、09より構成されるチャージポンプ回
路である。。第2図はレベルディテクタ(1)の回路図
、第3図はレベルディテクタ(5)の回路図であp、I
23.α(至)、@、弼、(Jul、(支)、(ハ)、
(ロ)、(イ)、(至)、(ロ)、+411゜U、+4
3はnチャンネルトランジスタ、田、(支)、■(支)
、…、菊はpチャンネルトランジスタである0第4図は
各信号、各ノードのタイミングチャート図である。
次に動作について説明する。電源が投入されると、リン
グオシレータ囚が発振を始め、nチャンネルトランジス
タ09を通じ、基板は負にノくイアスされ始める。ここ
でアクティブ時IRAS、CAiのうちどちらか一方は
I−owであるので、 NANDゲート(8)はHig
he出力し、nチャンネルトランジスタ(2)と、pチ
ャンネルトランジスタ(3)がオンし、レベルディテク
タ11)が選択される。基板の電位がレベルディテクタ
(1)で設定された値までドがると、ノードAがLow
Kなp1チャージポンプ回路のは停止する。その後は
基板電圧がリーク電圧によp高くなったときにレベルデ
ィテクタ(1)がそれを検出し、ノードAがHighK
なす、チャージポンプ回路には再び動作し、基板電圧を
設定値まで下げる。
グオシレータ囚が発振を始め、nチャンネルトランジス
タ09を通じ、基板は負にノくイアスされ始める。ここ
でアクティブ時IRAS、CAiのうちどちらか一方は
I−owであるので、 NANDゲート(8)はHig
he出力し、nチャンネルトランジスタ(2)と、pチ
ャンネルトランジスタ(3)がオンし、レベルディテク
タ11)が選択される。基板の電位がレベルディテクタ
(1)で設定された値までドがると、ノードAがLow
Kなp1チャージポンプ回路のは停止する。その後は
基板電圧がリーク電圧によp高くなったときにレベルデ
ィテクタ(1)がそれを検出し、ノードAがHighK
なす、チャージポンプ回路には再び動作し、基板電圧を
設定値まで下げる。
一方、スタンドバイ時はRAS、CASの両方がHig
hで、sるので、N A N Dゲート(8)はLow
’t”出力し、nチャンネルトランジスタ(6)とp
チャンネルトランジスタ(力がオンし、レベルディテク
タ(5)が選択される。レベルディテクタ(5)はレベ
ルディテクタ(1)に比べて検出する基板電圧が高く設
定されているので、アクティブ時に比べて基板電圧が高
い点でノードAがLow K !す、チャージポンプが
停止する。その後は基板電圧がリーク電圧により高くな
ったときにレベルディテクタ(5)がそれを検出し。
hで、sるので、N A N Dゲート(8)はLow
’t”出力し、nチャンネルトランジスタ(6)とp
チャンネルトランジスタ(力がオンし、レベルディテク
タ(5)が選択される。レベルディテクタ(5)はレベ
ルディテクタ(1)に比べて検出する基板電圧が高く設
定されているので、アクティブ時に比べて基板電圧が高
い点でノードAがLow K !す、チャージポンプが
停止する。その後は基板電圧がリーク電圧により高くな
ったときにレベルディテクタ(5)がそれを検出し。
ノードAがHighKなp、チャージポンプ回路のは再
び動作し、基板電圧を設定値まで下げる0〔発明の効果
〕 以上のようにこの発明によれば、スタンドバイ時におけ
る基板電圧をアクティブ時より高く設定することができ
、スタンドバイ時の低消費電力化とはかることができる
。また、レイアウト面積全小さくすることができる。
び動作し、基板電圧を設定値まで下げる0〔発明の効果
〕 以上のようにこの発明によれば、スタンドバイ時におけ
る基板電圧をアクティブ時より高く設定することができ
、スタンドバイ時の低消費電力化とはかることができる
。また、レイアウト面積全小さくすることができる。
第1図はこの発明の一実施例による半導体装置における
基板電圧発生回路、レベルディテクタ及び基板電圧発生
回路の停止手段の回路図、第2図は第1図におけるレベ
ルディテクタ(1)の回路図、第;3図Cま第1図に2
けるレベルディテクタ(5)の回路図、第4図は第1図
、第2図、第3図の各信号、各ノードのタイミングチャ
ート図、第5図は従来の半導体装置に&ける基板電圧発
生回路、レベルディテクタ及び基板電圧発生回路の停止
手段の回路図、第6図は第5図におけるレベルディテク
タ(財)の回路図、第7図は第5図におけるレベルディ
テクタ(59)の回路図、第8図は第5図、第6図。 第7図における各信号、各ノードのタイミングチャート
図である。 図において、 11)、 +5)、包→、 (59)
t/よレベルディテクタ、t2+ 、 +6) 、艶、
09.乃、(至)、囚、(至)、万、θη■、 C3
3,M、 ((’8. 91. @、 +41]
、 αz、 U、 (54)、 (55)(6
6)、 (671,(70)、 (711,(72)、
(73)、 (74)、 (78)。 (79)、 (80)、 (811,(82)、 (
にう)、 (84)、 (88)、 (89)。 (90)はnチャンネルトランジスタ、 (3)、 (
71,■。 ■、■、(支)、C3f1.咽、 (75)、 (7
6)、 (77)、 (あ)。 (86)、 (87)はpチャンネルトランジスタ、+
4) 、 (9) 。 co)、 01)、 Qs6. Qa、 a5. a、
L H,M、 @7)、 −、1m。 (511,(52)、 (60)、 (62)、 (
63)、 (64)はインノく一タ、(8)はN A、
N Dゲート、04.艶、 (61)はN0II−
ゲート、(17)、 (53)、 (65)はキャパ
シタ、■、 (56)はリングオシレータ、 czl
l、 (57)、 (68) &よ増幅回路、■、
(58)。 (69)はチャージポンプ回路であるOなお、図中、同
一符号は同一、又は相当部分を示す。
基板電圧発生回路、レベルディテクタ及び基板電圧発生
回路の停止手段の回路図、第2図は第1図におけるレベ
ルディテクタ(1)の回路図、第;3図Cま第1図に2
けるレベルディテクタ(5)の回路図、第4図は第1図
、第2図、第3図の各信号、各ノードのタイミングチャ
ート図、第5図は従来の半導体装置に&ける基板電圧発
生回路、レベルディテクタ及び基板電圧発生回路の停止
手段の回路図、第6図は第5図におけるレベルディテク
タ(財)の回路図、第7図は第5図におけるレベルディ
テクタ(59)の回路図、第8図は第5図、第6図。 第7図における各信号、各ノードのタイミングチャート
図である。 図において、 11)、 +5)、包→、 (59)
t/よレベルディテクタ、t2+ 、 +6) 、艶、
09.乃、(至)、囚、(至)、万、θη■、 C3
3,M、 ((’8. 91. @、 +41]
、 αz、 U、 (54)、 (55)(6
6)、 (671,(70)、 (711,(72)、
(73)、 (74)、 (78)。 (79)、 (80)、 (811,(82)、 (
にう)、 (84)、 (88)、 (89)。 (90)はnチャンネルトランジスタ、 (3)、 (
71,■。 ■、■、(支)、C3f1.咽、 (75)、 (7
6)、 (77)、 (あ)。 (86)、 (87)はpチャンネルトランジスタ、+
4) 、 (9) 。 co)、 01)、 Qs6. Qa、 a5. a、
L H,M、 @7)、 −、1m。 (511,(52)、 (60)、 (62)、 (
63)、 (64)はインノく一タ、(8)はN A、
N Dゲート、04.艶、 (61)はN0II−
ゲート、(17)、 (53)、 (65)はキャパ
シタ、■、 (56)はリングオシレータ、 czl
l、 (57)、 (68) &よ増幅回路、■、
(58)。 (69)はチャージポンプ回路であるOなお、図中、同
一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 半導体基板に基板電圧を与える基板電圧発生回路と、
前記基板電圧を検出する2つのレベルディテクタと、前
記基板電圧が設定電圧値以下になると前記基板電圧発生
回路の動作を停止させる停止手段とを有するものにおい
て、基板電圧発生回路をリングオシレータ、増幅回路、
チャージポンプ回路で構成し、レベルディテクタをスタ
ンドバイ時と、アクティグ時で切り換えができるように
したことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2163210A JPH0453260A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2163210A JPH0453260A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 半導体装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0453260A true JPH0453260A (ja) | 1992-02-20 |
Family
ID=15769388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2163210A Pending JPH0453260A (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0453260A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08315574A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-29 | Samsung Electron Co Ltd | 基板電圧発生回路 |
US6373325B1 (en) | 1999-03-18 | 2002-04-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device with a charge pumping circuit |
-
1990
- 1990-06-20 JP JP2163210A patent/JPH0453260A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08315574A (ja) * | 1995-04-26 | 1996-11-29 | Samsung Electron Co Ltd | 基板電圧発生回路 |
US6373325B1 (en) | 1999-03-18 | 2002-04-16 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device with a charge pumping circuit |
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