JPH04506202A - 結晶成長装置制御システムおよびそのメルト補充システム - Google Patents

結晶成長装置制御システムおよびそのメルト補充システム

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 結晶成長=3¥置制御システムおよびそのメルト補充システム(発明の背景) 本願は、1987年5月5日出願の米国特許出願第046,991号、現在の米 国特許第、 号に基く一部継続出願である。
本発明は、結晶を成長させる装置に関し、特にメルトから結晶体心を成長させる 装置のための制御システムに関する。
半導体デバイスの製造において使用されるシリコン板は、多角形の断面形状を持 つ管状の結晶体心、例えば中空のへ角または九角形状の体心の平坦側面から得る ことができる。この管状の体心は、その隅部で切られて実質的に同じ大きさの複 数の平坦板を得る。
米国特許第454.528号に記載される形式の装置は、エツジ残し薄膜成長法 (edge−defined、film−fed growth proces s)により、中空の結晶体心を製造するため使用されてきた。要約すれば、通常 このような装置は、成長させる材料(例えば、シリコン)のメルトを保持するた めのるつぼと、成長した結晶の形態および形状を決定する毛管ダイと、るつぼお よびダイを加熱してダイおよびメルトの温度を制御する加熱手段と、結晶を成長 させる際使用される種を支持する種支持組立体と、この種支持組立体に結合され て管状結晶体心をメルトから引き出す引出し機構とを含む。
商業的に良好なシリコン基板を製造し、結晶成長過程がダイにより供給されるメ ルトから取外すことによるか、あるいは管状結晶体心の凝固により時期尚早に終 了されないことを保証するためには、成長する体心の肉厚が厳密に制御されるこ とが重要である。米国特許第454.528号に開示される形式の毛管ダイ装置 の使用に関して、成長する結晶体心の肉厚がダイの頂部と成長する体心の底部と の間に形成されるメニスカスの大きさおよび形状と共に変化することがよ(知ら れている。肉厚とメニスカスの幾何学的特性との間のこのような関係を用いて、 米国特許第4,239,583号に開示されたものの如き光学系を内蔵する種々 のデバイスが結晶成長装置の動作を制御するために開発されてきた。これらの光 学系に基くシステムは、メニスカスの高さおよび形状を観察するための光学組立 体を含んでいる。光学系に基くシステムにより得られるメニスカスの形態につい ての情報を用いて、オペレータは、所要の肉厚を持つ結晶体心を生じるように結 晶成長装置の動作を調整することができる。
このような光学的監視システムの使用に関しては、幾つかの制約が存在する。
第1に、オペレータは、メニスカスの形態を連続的に監視して、観察するものに 基いて結晶成長装置の動作を調整しなければならない。人間の誤りを避け、結晶 の成長速度を上げ、技術者の起用と関連するコストを減少するためには、結晶成 長操作全体を自動化することが望ましい。第2に、公知の光学的制御システムに よれば、メニスカス全体の比較的小さな部分のみが観察可能である。この小さな 部分の形態は、必ずしもメニスカス全体の全形態を表わすものではない。
米国特許第454.528号に示された形式の公知の結晶成長装置においては、 約2mより大きな長さを持つ結晶体心を成長させることは難しく実用的でなかっ た。このような問題は、一部は、結晶体心をアルゴンの如き不活性気体で充填す ることにより成長する管状結晶体心の内部から空気を抜(ことを必要とすること 、また一部は、内部に存在する大きな温度差により成長する体心の内容積内に対 流が生じる事実が原因である。
更に、周囲の空気を体心の内部から除くように、典型的にはアルゴンである不活 性気体が成長する結晶体心内部に注入される。アルゴンの如き不活性気体は周囲 空気より重いため、約2mより大きな長さを持つ結晶体心においては、体心内部 の不活性気体柱が充分な長さく従って、充分な重さ)となり、その結果この気体 柱は吸い込み(sink)を生じようとし、これにより周囲空気が体心の頂部か ら体心内に引込まれることを許容する。
結晶体心の頂端部に蓋をするなどによる周囲空気が結晶体心に流入することを阻 止する手段がとられる時は、体心内部に生じる対流の有害な効果は著しく増大す る。チューブが蓋をされると、このような対流は結晶体心内部の圧力の変動を生 じ、これが結晶成長装置の動作の制御を困難にする。その結果、均一な肉厚およ び約2mより大きな長さを持つ結晶体心の成長は問題を生じる。結晶体心を成長 させるに要する全時間の大半が、成長工程のための結晶成長装置の準備において 消費される。その結果、プロセスの効率を改善するためには、約2mより大きな 長さを持つ結晶体心を成長させることが望ましい。長い中空の結晶体心、例えば 2mより大きい長さを持つ体心を成長させることは、成長中にるつぼ内のメルト の補充が行われなければ達成不能である。
米国特許第4,544.528号に開示される形式の結晶成長装置におけるメル トの補充を行うシステムは公知である。このようなシステムについては、「地上 用太陽電池のためのEFG結晶成長技術の現状(The Current 5t aLus of EFG Crystal Growth Technol。
gy for Terrestrial 5olar cells)Jなる論文 O,Kalejs、T、5urekおよびV、Tatarchenk。
編集、North Ho1land Publishtng Co、、アムステ ルダ1−11987年)においてTaylor等によって記載されている。この Taylor等のシステムは、成長する結晶体心の重さを測定する第1の秤量ト ランスジューサと、原料物質の中実粒子、例えばシリコン粒子を貯蔵する容器と 、原料物質粒子をこの容器から結晶成長装置のるつぼへ選択的に送る分配器組立 体と、前記容器内のシリコン粒子の重さを測定する第2の秤量トランスジューサ と、差信号を生じるように前記第1および第2の秤量トランスジューサの出力を 合成するコントローラとを含んでいる。このコントローラは、差信号を予め定め た設定点と比較し、この比較に基いて、コントローラが制御信号を分配器組立体 へ送出し、ある期間中この組立体に選定量のシリコン粒子をるつぼへ分配させる 。
Taylor等により開示される形式のメルト補充システムは、公知の結晶成長 装置に関して先に述べた圧力の変動問題から免れない。特に、成長する結晶体心 における対流は、瞬間的にこの体心を僅かに持ち上げ、これにより第1の秤量ト ランスジューサ(成長する結晶体心の重量を測定する)をして体心の真の重さを 表わさない出力信号を生じさせる。この出力信号がシリコン分配器組立体に与え られる制御信号の生成に用いられるため、誤った制御信号がしばしば分配器組立 体へ与えられるおそれがある。その結果、分配器組立体は、与えられた期間中に 多すぎるあるいは少なすぎるシリコン粒子を供給するおそれがあり、これが更に 最適でない特性を持つ結晶体心の生成を招き、あるいは極端な場合には、不適性 なメルトの補充速度により結晶の成長プロセスの停止を招くことがあり得る。
(発明の目的および要約) 本発明の一目的は、管状結晶を成長させる装置におけるメルトの補充を行う機構 を制御するための公知の制御システムと関連する上記の短所を克服することにあ る。
本発明の別の目的は、管状結晶体心を成長させる装置におけるメルトの補充を制 御する改善されたシステムの提供にある。
本発明の更に別の目的は、(1)管状結晶体心成長装置、および(2)同装置に おけるメルトの補充機構の動作を制御する改善された制御システムの提供にある 。
本発明の他の目的は、結晶体心の重量および結晶体心の内部における圧力に関し てセンサにより与えられる情報に基いて、管状結晶体心成長装置におけるメルト を補充する機構の動作を制御する改善された制御システムの提供にある。
本発明の上記および他の目的は、成長する中空の結晶体心における圧力の変動を 補償する制御システムを備えた結晶成長装置を提供することにより達成される。
本発明の望ましい実施態様においては、制御システムは、管状結晶シリコン体心 の内部における圧力を測定する圧力センサと、管状シリコン体心およびこの体心 が支持される種ホルダー組立体の組合わせ重量を測定する重さセンサと、管状体 心の長さを測定する長さセンサと、圧力センサおよび重さセンサと接続されて管 状体心の真の重量を計算する真重量回路と、長さセンサおよび真重量回路により 与えられる情報に応答するように接続されたコントローラとを含む1゜上記の制 御システムは、粒状形態の別の原料物質(例えば、シリコン粒子)を結晶成長装 置のメルト支持るつぼへ供給するメルト補充システムを制御するために使用され る。このメルト補充システムは、ある量の原料物質を蓄える容器即ち貯溜手段と 、この容器手段から原料物質を正確量分配する電気的に制御される分配手段と、 この分配手段から原料物質を受取りこの受取った原料物質を前記るつぼへ送るよ うに構成された供給機構と、前記容器手段に蓄えられた原料物質の重量を測定し てこの重量を表わす信号を生じる秤量手段と、この秤量手段の信号出力を前記コ ントローラへ与える手段とを含む。このコントローラは、更に、真の重量回路お よび秤量手段の信号出力を合成して分配手段の動作を制御するため使用される制 御信号を生じる。
構造に応じて、メルト補充システムは、連続モードあるいは間欠即ち不連続モー ドで動作することができる。メルト補充システムが連続モードで動作する時、分 配手段がシリコン粒子を分配する速度を制御する供給速度情報を含むように制御 信号が生成される。メルト補充システムが不連続モードで動作する時は、制御信 号が分配手段を固定された期間だけ間欠的にトリガーし、これによりこの分配手 段がトリガーされる都度固定量のシリコン粒子を分配させられる。
更にまた、本制御システムは、結晶成長装置の加熱手段の動作を制御するために 使用することもできる。制御システムの信号出力を用いて加熱手段の熱出力を制 御することにより、成長する結晶体心とEFGダイとの間に存在するメニスカス の形態を制御することが可能であり、またこれにより、(1)成長する結晶体心 の肉厚を制御し、また(2)比較的長い(即ち、6m以上)体心が成長し得るよ うに連続的な成長を保証することが可能である。
本発明の性質および目的を更によく理解するために、添付図面に関して以降の詳 細な説明を参照されたい。
(図面の簡単な説明) 図1は、本発明の望ましい実施態様の一部断面による概略図、図2は、結晶の真 重量に関する本発明の圧力センサおよび重量センサの時間的な出力を示すチャー ト、 図3は、本発明の望ましい実施態様において用いられた真重量回路の回路図、図 4は、結晶成長装置で使用されるよう設計されたメルト補充システムの動作の制 御において本発明の制御システムにより使用される1つのプログラムの゛ノフト ウエアのフロー図、 図5は、結晶成長装置で使用されるよう設計されたメルト補充システムの動作の 制御において本発明の制御システムにより使用される別のプログラムのソフi・ ウェアのフロー図、 図6は、本発明の別の実施態様の一部断面による概略図、および図7は、結晶成 長装置の動作の制御において本発明の制御システムにより行われる種々の動作を 示すソフトウェアのフロー図である。
(実施例) 図1において、本発明は、(1)半導体材料の管状結晶体心22を成長させる装 置20におけるメルトを補充するシステム18の動作、および(2)装置20の るつぼヒータを制御する制御システムを含む。
詳細には示さないが、本装置20は、米国特許第4.544.528号、同第4 .239,583号、同第4.267.151号および同第4.318.769 号において記載され示される形式の炉を含む。更に、装置20は、結晶させるべ き半導体物質のメルトを保有するるつぼ24と、メルトを加熱するヒータ・コイ ル26と、結晶体心22を形成するための所要の形状の毛管ダイ28とを含む。
この0管ダイは色々な形態をとり得るが、丸いあるいは選定された多角形、例え ば9角または8角の形状の中空の体心を成長させるように整形されたことを除い て、米国特許第4.544,528号の図1に示される形状であることが望まし い。固定された]対の平行レール29とこの上を摺動運動するように取付けられ たフレーム30とが、メルトから結晶体心22を引出す際に使用されるように設 けられている。フレーム30には孔32(図参照)が設けられ、取付は板34が この孔に隣接してフレームに対して固定されている。当技術において周知の形式 の引張り機構35が、これから軸方向に離れた固定量lでるつぼ24上方に支持 され、またこのケーブルをレール29に沿ってるつぼ24から遠去かるよ引こ略 々一定の速度で引張るように、取付は板34およびケーブル37を介してフレー ム30に対して結合されている。フレーム30には、種ホルダー36が結合され ている。このホルダーは、結晶体心22が成長させられる種結晶39(図1)と 機械的に結合されている。
装置20の上記の簡単な説明は、本発明の制御システムおよびメルト補充システ ム18の以降の記述のための背景として行った。適当な装f120の事例のこれ 以上詳細な説明については、参考のため本文に引用されるStormont等に 発行された前掲の米国特許第4,544,528号を参照されたい。
更に図1によれば、本発明の制御システムの望ましい実施態様は、重さセンサ1 00と、長さセンサ101と、圧力センサ102と、真重量回路104と、コン トローラ105とを含む。この望ましい実施態様において、種ホルダー36は、 成長する中空の体心の内部からその上端部を経て漏れ得る流体量を制限するよう この体心の上端部を実質的に流体圧で閉鎖するように構成される。種ホルダー3 6は、管状結晶体心22の軸心と直角に延びる面37と、結晶体心22の内部を 種ホルダーの外部と流通自在に結合する導管路38とを含む。
種ホルダー36および種結晶39が上記の如(結晶体心22の端部をほとんど完 全に閉鎖するように種ホルダーを構成することにより、体心内部の圧力の変動の 大きさは、前掲の米国特許第4.544,528号に開示された装置による成長 する形式の非密閉結晶の内部に生じる変動と比較して非常に増加させられる。
このような圧力変動の結果の重量測定における誤差は、圧力センサ102および 真重量回路104の必要ならびに使用を動機付ける。
重量センサ100は、取付は板34に対して固定され、また種ホルダー36に対 して軸方向に延長し得るロッド106により結合されかつこの種ホルダーを支持 している。重量センサ100は、ロッド106および種結晶39を含む結晶体心 22および種ホルダー36の重量を測定する。重量センサ100の出力は、真重 量回路104に対して線108により送られる。重量センサ100は、従来の歪 み計ロード・セルでよい。
限定しない事例として、固定されたるつぼ24に対するフレーム30の変位を測 定するため長さセンサ101が設けられる。長さセンサ101は、固定された対 象物、望ましくはるつぼ24上方に配置された引張り機構35に対して取付けら れる。長さセンサ101は、フレーム30に接続されたケーブル103を持つ従 来のドラム/ケーブル長さ測定トランスジューサを含む。引張り機構35がケー ブル37を介してフレーム30をレール29に沿って引張るように働く時、ケー ブル103はドラム(図示せず)の周囲に巻取られる。ドラムに巻き付けられる ケーブル量は、結晶の長さに対応し、ドラムと結合されたポテンショメータによ りドラムの回転に対して測定される。長さセンサ101のポテンショメータの出 力は、線109によりコントローラ105へ送られる。
圧力センサ102は、種ホルダーの面37に対して上方向に働く結晶体心22の 内部圧力を測定するため設けられる。圧力センサ102は、チューブ116によ り種ホルダー36に設けられた導管路38と、従って結晶体心22の内部と流通 するように接続される。圧力センサ102は、取付は板34または他の適当な要 素に取付けることができる。圧力センサ102の出力は、線118により真重量 回路104へ送られる。必ずしもそうでなくてもよいが、圧力センサ102は容 量型センサであることが望ましく、真重量回路において使用される電気信号を生 じる。
次に図1乃至図3において、真重量回路104は、結晶成長過程において選定さ れた間隔で成長する結晶体心22の真の重量を表わす信号を連続的に生じるため に設けられている。簡単に述べれば、真nut回路104は、重量センサ100 および圧力センサ102の出力を合成して、成長する結晶体心22、種ホルダー 36および種結晶39の真の重量を表わす「真の重量」信号を生じる。次に、オ フセット電圧信号(以下において説明する)が真の重量信号から差し引かれて、 成長する結晶体心22のみの「真の重量」を表わす信号を生じる。
成長する結晶体心22の真の重量は、種ホルダーの面37に対して上方向に慟( 体心内部に生じる流体圧力により、重量センサ100では直接測定することがで きない。面37に働く圧力が増加すると、成長する結晶体心22は重力の作用に 抗して押し上げられて重量センサ100の出力信号を生じ、これは図2において 下方への山132Aにより示される如く減少する結晶体心22の重量を表わす、 。
同様に、面37上に働く作用力が減少すると、重量センサ100は、図2におけ る上方への山132Bにより示される如く、結晶体心22の重量における増加を 検出する。重量センサ100の出力信号におけるこのような変動は、コントロー ラ105へ送られる制御情報の精度を低下させる。圧力センサ102により測定 される結晶体心22の内部の圧力の変動は、重量センサ100により行われる重 量の測定とは逆の関係で変化する。いかに更に詳細に述べるように、重量センサ 100押し上げ圧力センサ102の信号出力をそれぞれ合計することにより、図 2の線133により示される結晶体心22の真の重量を表わす「真の重量」信号 は、真重量回路104により生成することができる。
次に図3において、重量センサ100の出力は、線108を介して演算増幅器1 34に接続される。増幅器134は、線136により重量較正ポテンショメータ 138に接続される。このポテンショメータは、加算増幅器146の負の接合点 に接続される。抵抗148の1つの端子は、線152により増幅器146の正の 入力接合点に接続され、抵抗148の他方の端子は接地される。抵抗150の1 つの端子もまた、線152を介して増幅器146の正の接合点と接続される。
抵抗150の他方の端子は、以下に述べるように真重量回路104の別の部分と 接続される。増幅器146の出力は、線156によりフィルタ158と接続され 、このフィルタの出力は線160上をコントローラ105へ送られる。フィード バック抵抗162は、加算増幅器に対する従来の形態における増幅器146の負 の入力端子と出力線156の間に接続される。
上記の要素134〜162は、当技術において周知のとおり、重量センサ100 の出力の信号条件付けを行う。重量較正ポテンショメータ138は、重量センサ 100の感度出力を較正して、重量センサ100の感度における変動を許容する ように真重量回路104の出力の較正のため使用される。
圧力センサ102の出力は、線118により演算増幅器170へ供給される。
この増幅器は、線172により較正ポテンショメータ174と接続され、このポ テンショメータは加算増幅器182の負の入力接合点と接続されている。増幅器 182の正の接合点は接地されている。オフセット電圧ソース192は、加算増 幅器182の負の入力接合点と抵抗186により接続されている。オフセット電 圧ソース192は、従来のポテンショメータ193と適当な電位195を含む。
抵抗194は、抵抗186を増幅器182の出力端子と、また加算増幅器の従来 の形態における増幅器146の正の入力端子と抵抗150を介して接続している 。
オフセット電圧ソース192の出力信号の極性は、前者の信号が増幅器182お よび関連する抵抗186.194および150を経て重量センサ100の出力信 号に加算される時、以下本文において更に詳細な述べるように、後者の信号の大 きさは減少させられる。線200上の増幅器182の出力は、線202を介して 接地され、また抵抗150の一方の端子とも接続されている。上記の通り、抵抗 150の端子は、線152を介して増幅器146の正の接合点と接続される。
電圧ソース192から抵抗186を介してえられるオフセット信号は、圧力セン サ102の出力信号と組合わされ、結果として得る信号は増幅器182により増 幅される。増幅器182の出力信号は、加算増幅器146において重量センサ1 00の出力信号と加算される。重量較正ポテンショメータ138および圧力較正 ポテンショメータ174は、それぞれ重量センサ100および圧力センサ102 の出力信号のスケール変更のため調整され、如何なる時点においても線172上 の圧力信号の大きさが種ホルダー面37に働く圧力の結果として生じる線136 上の重量信号の部分と方向が反対で等しくなるようにする。例えば、選定された 測定間隔においては、増幅器134およびポテンショメータ138によりスケー ル変更される如く重量センサ100の出力信号は+1.5vとなり、増幅器17 0.182および関連する抵抗によりスケール変更される如き圧力センサ102 の出力信号は、−0,5Vとなる。増幅器146における重量センサ100およ び圧力センサ102の出力を加算することにより、出力信号の和が得られ、即ち +1.OVであり、これは選定された測定間隔における結晶体心22、種結晶3 9および種ホルダー36の真の fflを表わしている。
増幅器182により増幅されるオフセット電圧ソース192の出力信号は、結果 として一定のバイアス補正信号を生じ、これは、増幅器146に加えられると、 その出力を種結晶39および種ホルダー36の重量に相当する量だけ減少させる 。
その結果、増幅器146の出力信号は、結晶体心22の真の重量を表わす。
線156上の真の重量信号は、フィルタ回路158を介して処理され、この回路 は重量センサ内に生じた機械的振動および電気的なノイズから生じる望ましくな い成分を減衰させる。次に、この信号は、線160を介してコントローラ105 と接続される。以下本文において更に詳細に述べるように、コントローラ105 (例えば、産業プロセス・ディジタル・ミニコンピユータを含む種々の形態の1 つをとり得る)は、この真の重量信号をメルト補充組立体の動作の制御において 使用する1゜ 続いて図1において、メルト補充システム18は、中実シリコン粒子を貯蔵する 容器302を含む。容器302は、導管304と前記容器の底壁における開口( 図示せず)を介する結合されている。導管304は、その全長に沿って中空であ り両端で開口している。
システム18はまた、選定された期間中容器内に貯蔵された選定量のシリコン粒 子を前記容器の底部開口を経て導管304内へ送らせるため容器302と結合さ れた分配器306を含む。分配器306は、例えば、振動フィーダ、空圧フィー ダあるいは他の公知のフィーダ・システムを含み、唯1つの要件は、分配器30 6によりある期間にわたり分配される粒子量が正確に制御可能であることである 。分配器306は、線308を介してコントローラ105と接続されている。
周知のとおり、中実粒子、例えばシリコン粒子用の振動フィーダは、一般に連続 モードで作動され、フィーダにより単位時間当たり分配される粒子量はこれに与 えられる制御信号と共に変化し、即ち、振動フィーダに対する電気制御信号の振 幅が変化させられて粒子を供給する速度を変化する。あるいはまた、フィーダは 、予め定めた値の動作信号が与えられる毎に固定量のシリコン粒子が振動フィー ダにより供給される不連続モードで動作させてもよい。このため、不連続モード においては、選定された間隔で振動フィーダにより供給されるシリコン粒子の総 量は、この選定間隔において振動フィーダにより受取られる動作信号の数に依存 し得る。
容器302に貯蔵された中実シリコン粒子の重量を表わす出力信号を生じる電子 秤量器312が設けられている。容器302、ならびに典型的には分配器306 は、秤量器312により支持される。秤量器312は、容器302に貯蔵された 中実シリコン粒子の重量のみを表わし、かつ容器および分配器306の重量は表 わさないように、その出力信号の値を調整するための調整手段(図示せず)を含 む。秤量器312により生成される出力信号は、線314上でコントローラ10 5へ送られる。
メルト補充システム18は更に、中実シリコン粒子をるっぽ24へ送るためのフ ィーダ機構320を含む。フィーダ機構320は、フィーダ機構の側壁の開口( 図示せず)を介して導管304の内部と結合される中空内部322を有する。
フィーダ機構320は容器302の下方に配置され、その結果導管304が容器 302からフィーダ機構に対して下方へ傾斜している。フィーダ機構320は、 その頂壁部に取付けられた中空パイプ324を含み、フィーダ機構の頂壁部の開 口(図示せず)を介してフィーダ機構の内部322と接続されている。パイプ3 24がるつぼの中央を経て上方へ延びるっぽ24に含まれるメルトの面上で終る ことを可能にするように、パイプのサイズが決められ、フィーダ機構320がる つぼ24の真下に配置されている。
フィーダ機構320は、中実シリコン粒子がパイプの頂端部から排出即ち放出さ れるように、その内部322に存在する中実シリコン粒子をパイプ324を運っ て上方に搬送する11次いで、重力の作用により放出された粒子がるっぽ24に 保有されるメルト中に落下する。フィーダ機構320として異なる多数の装置が 使用でき、その−例は米国特許第4.661,324号に開示されている(以下 、゛ 324フイーダと呼ぶ)、’324フィーダは、その粒子受取りチャンバ に存在するシリコン粒子を規則的な間隔でパイプ324を介して上方に機械的に 放出する。フィーダ機構がシリコン粒子をるっぽ24へ分配器306から受取る 速度と一致する速度で供給する限り、他のフィーダ機構も良好に使用できる。
次に、コントローラ105は、図1乃至図5において、与えられる入力信号情報 を用いて、結晶体心22の成長の結果として溶解シリコンがるっぽ24から消費 されると略々同じ速度で中実シリコン粒子がメルトへ供給されるように、2っの 機械制御ソフトウェア・プログラムの1つに従ってメルト補充システム18の動 作を制御する。図4および図5のフロー図により示されるこれらのソフトウェア ・プログラムは、このソフトウェア・プログラムにより行われる諸動作の論理的 概要を提供する。ソフトウェア・プログラムのライン毎のコーディングは、通常 の実施知識内に含まれるものと見做され、またソフトウェアを実行するため使用 されるコンピュータに従って異なるため、本文には示さない。
図4に示されるソフトウェア・プログラムは、連続モードで動作されるシリコン 分配器を備えたメルト補充システムを制御するように設計される。図5に示され るソフトウェア・プログラムは、不連続モードで動作されるシリコン分配器を備 えたメルト補充システムを制御するように設計されている。
図4に示されるソフトウェア・フロー図について最初に説明し、次いで図5に示 されるソフトウェア・フロー図の説明を行う。
メルト補充システム18が図4に示されたソフトウェア・フロー図に従って動作 される時、分配器306は振動フィーダに与えられる制御信号におけるフィーダ の速度情報に依存する速度で容器302から原料物質を連続的に供給する振動フ ィーダであることが望ましい。あるいはまた、分配器306は、空圧作動フィー ダへ与えられる制御信号における供給速度情報に依存する速度で容器302から 原料物質を連続的に供給する空圧作動フィーダでもよい。
図4に示されるソフトウェアのフロー図における最初のステップとして、本発明 の制御システムは、ステップ400により示される如くメルト補充システム18 の動作の制御を開始するように操作される。同時に、装置20は結晶体心22の 成長を開始するように操作される。
次いで、ステップ401において、コントローラ105は初期制御信号を分配器 306へ送る。この制御信号を受取ると同時に、分配器306は選定された速度 で容器302から原料物質(例えば、中実シリコン粒子)を供給する。この初期 制御信号における供給速度情報は、装置20が結晶体心22の形成において溶解 シリコンを消費すると予期される速度に関する実験データに基いて選定される。
ステップ401で与えられる制御信号に含まれる供給速度情報が不正確でありか つ装置20が溶解シリコンを消費する速度を越えるかあるいはこれより小さい速 度で分配器306により原料物質が与えられる場合は、このような不正確さは以 下に述べるように、プログラムの以降のステップにおいて訂正される。
次に、ステップ402において、コントローラ105は線160上で真重量回路 104により与えられる結晶体心22のその時の真の重量を読出す。この回路の 構造および動作は先に述べた。その時の真の重量値は、ステップ403により示 される如く次のサイクルのため記憶される。
その後、容器302内の原料物質、例えばシリコン粒子のその時の重量を表わす 秤量器312の出力は、ステップ404により示されるように、コントローラ1 05により線3】4上で読み込まれる。次にステップ405において、原料物質 のその時の重量は次のサイクルのため記憶される。
ステップ402および404は、有意義な真の重量データおよび供給材料の重量 データが以下に述べるようにステップ406〜420に示されるソフトウェア・ プログラムの最初の反復申分配器306の動作を制御する制御信号を生成する際 に使用するように与えられることを保証するため提供される初期化ルーチンの一 部である。
次に、ステップ406において、選定量の結晶成長が生じる時間的遅延が導入さ れる。この時間的遅延は、全ての実際の目的のため、分配器に対する制御信号を 生成する際使用される重量データの連続的な読取り間の測定間隔と等しい。この 間隔は、以下本文では、「時間間隔X」または「測定間隔X」と呼ぶ。
次に、ステップ407においては、真重量回路104により与えられる結晶体心 22のその時の真の重量が読み込まれる。この時の真の重量値は、ステップ40 2において読み込まれた真の重量値とは異なるが、これはステップ406におけ る時間的遅延に生じた結晶の成長の間に結晶体心22が重量を増やした故である 。、ステップ407において読み込まれたその時の真の重量情報は、ステップ4 03により示される如く次のサイクルのため記憶される。ステップ407におい て読み込まれステップ403において記憶されたその時の真の重量情報は、ステ ップ403において前に記憶されたステップ402で与えられるその時の真の重 量情報と共に記憶される。
その後、ステップ408において、秤量器312により生成された供給材料重量 値が読み込まれる。この供給材料の重量は、ステップ404において生じた供給 材料重量とは異なるが、これはステップ406における時間的遅延において生じ る結晶の成長中にある供給材料が消費された故である。ステップ408において 生じた供給材料重量情報は、ステップ405で示される如く、次のサイクルのた め記憶される。ステップ408において読み込まれステップ405で記憶された この供給材料重量情報は、ステップ404において生じステップ405において 前に記憶された供給材料重量情報と共に記憶される。
次に、ステップ410において、測定間隙X中の結晶体心22の真の重量の変化 が計算される。この導出過程は、ステップ407で読み込まれたその時の真の重 量データ、およびステップ402で読み込まれた前の測定サイクルからの真の重 量データを用いて行われる。その時の真の重量データは直接真重量回路104か ら与えられ、前のサイクルの真の重量データはステップ412に示される如く、 ステップ403で記憶されたデータを用いて読み込まれる。結晶体心22が常に 重量を増しつつあるため、真の重量の計算におけるこのような変化の結果は常に 正となる。測定間隔Xは、約10秒と3分の間におよぶことが望ましい。測定間 隔Xは、固定された設定点としてコントローラ105において記憶することがで き、あるいはこの間隔は結晶成長操作の始めにおける制御変数として入力するこ とができる。
次に、ステップ414に示されるように時間間隔Xにおける容器302における 原料物質の重量の変化が計算される。この導出過程はステップ404で読み込ま れたその時の原料物質重量データ、およびステップ404で読み込まれた前の測 定サイクルからの原料物質重量データを用いて行われる。その時の原料物質重量 データは、中の秤量器312から与えられ、前のサイクルからの原料物質重量デ ータは、ステップ416により示されるように、ステップ405で記憶されたデ ータを用いて読み込まれる。容器302における原料物質の重量は常に減少しつ つあり、原料物質の重量におけるこの変化の結果は常に負となる。ステップ41 4において使用された時間間隔Xは、ステップ410において使用された時間間 隔Xと同じであり、即ちXは約10秒から3分にわたることが望ましい。
ステップ418においては、ステップ414で計算された原料物質の重量の変化 はステップ410で計算された真の重量における変化に加算される。時間間隔X における結晶体心22の重量の増加が時間間隔Xにおける容器302の原料物質 の重量の減少に等しい時、この計算の結果はゼロとなる。結晶体心22が時間間 隔Xにおいて間隙Xにおける容器302における原料物質の減少より多いか少な い重量を増やす時、ステップ418において行われた計算結果は正または負の符 号となり、ゼロではない大きさを持つことになる。
次に、ステップ420においては、コントローラ105は制御信号を分配器30 6へ送る。この制御信号は、ステップ418において行われた計算結果の符号お よび大きさと共に変化する供給速度情報を含む。ステップ418で行われた計算 結果がゼロに等しい時、分配器306に与えられた制御信号に含まれる供給速度 情報は、その時の供給速度における原料物質の供給を継続することを指令する。
ステップ418で行われた計算結果が負の符号を持つ時、制御信号に含まれる供 給速度情報は、分配器306に対して減少した供給速度で原料物質を供給するこ とを指令し、この減少した供給速度はステップ418において得た結果の大きさ に比例する1、ステップ418で行われた計算結果が正の符号を持つ時、制御信 号に含まれる供給速度情報は、分配器306に対して増加した供給速度で原料物 質を供給することを指令し、この増加した供給速度はステップ418において生 じた結果の大きさに比例する。
分配器306により容器302から供給される供給材料は、導管304を経てフ ィーダ機構320の内部322に向かって下方へ移動する。次いで、粒子は中空 パイプ324を通って上方へ強制的に送られ、このパイプの頂端部から放出され る32重力の作用下で、放出された粒子はるつぼ24に支持された溶解シリコン 中へ落下する。
ステップ420の後、プログラムは再びステップ406へ戻り、時間的遅延が再 び生じる。
上記は、図4に示されたソフトウェアのフロー図により示されるプログラムの最 初の繰返しの説明である。このプログラムの2回目および以降の繰返しは、幾つ かの観点において最初の繰返しとは異なる。第1に、2回目および以降の繰返し においては、ステップ410で計算された真の重量における変化は、ステップ4 07でその時生じつつある真の重量の情報、およびステップ407において前に 生じ、ステップ403において記憶され、ステップ412において与えられた真 の重量の情報に基いて計算される。第2に、この2回目および以降の繰返しにお いて、ステップ414で計算される供給材料重量における変化は、(1)ステッ プ408でその時生じつつある供給材料の重量情報、および(2)ステップ40 5で記憶されたソフトウェアの前の繰返しの間ステップ408で生じる供給材料 の重量情報に基いて計算され、ステップ416において与えられる。このため、 2回目および以降の繰返しにおいて、ステップ402および404で生じた情報 は使用されない。
メルト補充システム18が不連続モードで動作される時、図5のフロー図により 示されるソフトウェア・プログラムが用いられる。メルト補充システム300が 図5に示されたソフトウェアのフロー図に従って動作される時、分配器306は 、コントローラ105からの操作信号の受取りと同時に、容器302から固定量 の原料物質を供給する空圧作動フィーダであることが望ましい。あるいはまた、 分配器306は、コントローラ105からの操作信号の受取りと同時に容器30 2から固定量の原料物質を供給する振動フィーダでもよい。
図5に示されたソフトウェアのフロー図における最初のステップとして、本発明 の制御システムは、ステップ400により示されるように、メルト補充システム 18の動作制御を開始するように操作される。このステップは、図4に示され先 に述べたプログラムの最初のステップと同じものである。同時に、装fit20 は、るつぼ24内のメルトからの結晶体心22の成長を開始するように操作され る。
次いで、ステップ501において、コントローラ105は、初期動作信号の受取 りと同時に、分配器306は容器302から固定量の原料物質を供給する。この 固定量の原料物質の重量は、るつぼ24内のメルトの体積、原料物質力くメルト に送られる方法および他の要因を考慮に入れることにより選定される。Llずれ の場合も、固定量の原料物質の重量は比較的小さく、従ってこの量の物質の装置 20のメルトへの追加がメルトにおける許容し得ない大きな熱的な摂動を生じる ことはない、1 次に、図5に示されたソフトウェア・プログラムは、図旧こ示された′メルトr シェア・プログラムにおいて使用されるステップ402〜418を含み、これ曇 こ従う。ステップ402〜418の説明については、図4に示された゛メルトi シェア・プログラムの前の説明を参照されたい。
次いで、ステップ418に続いて、ステップ520により示されるように、ステ ップ418で計算された和がゼロより小さいかあるいはこれと等しも)力Aiこ つし)て判定が行われる。もしステップ418で計算された和がゼロより小さく 1力\あるいはこれと等しければ、コントローラ105は動作信号を線308に より分配器306へ送り、これがステップ522において示されるように分配器 を作動させて固定量の原料物質を容器302から導管304へ送らせる。もしス テップ418で計算された和がゼロより小さいかあるいは等しければ、ステップ 524で示されるように、コントローラ105は動作信号を分配器306へ送ら なシ1..その結果、原料物質は容器302から供給されない。
最後に、図5のソフトウェアのフロー図は、図4のソフトウェア−フロー図と同 様に終了する、即ち、プロゲラt、はステ・ンプ406へ戻り時間的遅延を生じ る。
図6および図7に示される別の実施例においては、本発明の制御システムLL、 装置20メルト補充システム18ならびにるつぼヒータ26を制御するようにな っている。
図3、図6および図7に関して、この別の実施例では、るつ(ぼヒータ26およ び温度コントローラ582として図6に示される従来の閉ル−プ温度制御システ ムは、線580を介してコントローラ105と接続される。線5801のコント ローラ105からの出力信号に基いて、温度コントローラ582(ま、装置20 1こおける温度を結晶体心22が略々均一な肉厚を持つことを保証するように選 定される正確な基準値に維持するようにるつぼヒータ26に対する電力入力を変 化させる。
望ましい実施態様の目的のためには、ヒータ26に対する電力入力はまた従来の 電力コントローラ(図示せず)、即ち制御信号に比例するヒータ26への電力入 力を変化させるデバイスによって制御することができる。電力コントローラがヒ ータ26の制御のため用いられる時は、この電力コントローラは温度コントロー ラ582に代わり、温度コントローラと同じようにコントローラ105およびヒ ータ26と接続される。電力コントローラおよび温度コントローラ582の双方 は同様な結果を達成する。即ち、これらはヒータ26の熱出力従って装置20の 加熱された部分の温度をコントローラ105により与えられる制御信号に基いて 変化させて、成長する結晶体心22が略々均一な肉厚を持つことを保証するよう にする。。
本発明のこの代替例においては、制御システムが図1乃至図5に示された望まし い実施態様に関して先に述べた方法でメルト補充システム18の動作を制御する 。従って、この代替例の以降の記述は、望ましい実施態様の動作モードの先に述 べた記述を参照して行う、3 本発明の代替例によれば、引張り機構35は、一定の速度でるつぼ24から結晶 体心22を引出すように制御される。このため、装置20から成長させられる結 晶の肉厚は専らるつぼヒータ26の出力を調整することにより制御することがで き、これが更に成長区間即ちメニスカスにおける温度を制御する。
コントローラ105は、るつぼヒータ26のこのような調整を行うため使用され る温度制御信号を提供する。
コントローラ105は、これに与えられる入力信号情報を用いて、機械の制御ソ フトウェア・プログラムに従ってるつぼヒータ26の動作を制御する51図7に 示されたソフトウェアのフロー図は、ソフトウェア・プログラムにより行われる 諸動作の論理的輪郭を提供する。ソフトウェア・プログラムの行単位のコーディ ングは、このようなコーディングが充分に当技術の通常の知識内にあるものと見 做されかつソフトウェアの実行に用いられるコンピュータに従って変化するため 、本文では示さない。
フロー図における最初のステップとして、本発明の制御システムは、ステップ6 00により示されるように、装置面20の動作の制御を開始するように作動され る。次に、コントローラ105が、ステップ601によ・り示されるように、結 晶体心22のその時の長さを読み込む。長さトランスジューサ101が、この時 の長さの情報を線109によりコントローラ105へ送る。次に、ステップ60 2において、その時の長さ情報が次のサイクルのため記憶される。その後、コン トローラ105は、ステップ603で示されるように、結晶体心のその時の重量 を読み込む。この時の重量の情報は、真の重量回路104により生成され、線1 60によりコントローラ105へ与えられる。次に、ステップ604において、 その時の重さ情報は次のサイクルのため記憶される。
ステップ601および603は、以下本文に述べるように、ステップ606〜6 28に示されるソフトウェア・プログラムの最初の繰返しの間、その時の全長さ 測定データおよび真の重量データがるっぽヒータ26の動作を制御する制御信号 を生成する際に使用されるように与えられることを保証するため設けられる初期 化ルーチンの一部である。
次に、ステップ605において、選定された量の結晶の成長が生じる間に時間的 遅延が生じる。この時間的遅延は、るつぼヒータに対する制御信号の生成時に使 用されるようにデータが収集される測定間隔Xと略々等しい。
次いで、ステップ606において、結晶体心22のその時の長さが読み込まれる 。この時の長さ情報は、結晶体心22がステップ605における時間的遅延の間 に生じた結晶成長中に長さが増したため、ステップ601において読み込まれた 長さの情報とは異なる。ステップ606において読み込まれたその時の長さ情報 は、ステップ602に示されるように、次のサイクルのため記憶される。ステッ プ606で読み込まれステップ602で記憶されたその時の長さ情報は、ステッ プ602において前に記憶されたステップ601で与えられるその時の長さ情報 と共に記憶される。
その−、ステップ608において、結晶体心22のその時の真の重量が読み込ま れる。その時の真の重量は、結晶体心22の重量がステップ605における時間 的遅延の間に生じる結晶の成長中に増えるため、ステップ603において生成さ れた真の重量とは異なることになる。ステップ608において生成した真の重量 情報は、ステップ604に示されるように、次のサイクルのため記憶される。
ステップ608で読み込まれステップ604において記憶されたこの真の重量の 情報は、ステップ603で生成されステップ604で前に記憶された真の重量の 情報と共に記憶される。
その後、ステップ612により示されるように、測定間隔Xにおける結晶体心2 2の長さの変化が計算される。この誘導は、ステップ606において読み込まれ たその時の長さデータ却よびステップ601において読み込まれた前の測定サイ クルからの長さデータを用いて行われる。その時の長さデータは中に長さトラン スジューサ101から与えられ、前サイクルの長さデータは、ステップ614に 示されるように、ステップ602で記憶されたデータを用いて読み込まれる。
測定間隔Xは、約30秒乃至3分の範囲にわたることが望ましい。測定間隔Xは 、固定された設定点としてコントローラ105に記憶することができ、あるいは この間隔は結晶の成長操作の初めにおける制御変数として入力することができる 1、 次に、測定間隔Xにわたる結晶体心22の重量の変化は、ステップ616に示さ れるように計算される。この誘導は、ステップ608で読み込まれたその時のf f1ffiデータ、およびステップ603で読み込まれた前の測定サイクルから の重量データを用いて行われる。その時の重量データは、真重量回路104がら 直接与えられ、前のサイクルの重量データは、ステップ604で記憶されたデー タを用いてステップ618により示されるように読み込まれる。ステップ616 において用いられた測定間隔Xは、ステップ612で用いられた測定間隔Xと同 じであり、即ち、Xが約30秒乃至3分の範囲にあることが望ましい。
次いで、ステップ620において、結晶体心22の実際の肉厚は、定数Kをステ ップ616で計算された結晶体心の重量の変化で乗じ、次いでこの積をステップ 612で計算された体心22の長さの変化で除すことにより計算される。当業者 には認識されるように、Kは、物質の密度、成長する結晶体心の周囲および重量 センサ100および真重量回路104の出力信号の大きさに基いて選定される肉 厚の変換係数である。
次に、所要の肉厚情報がステップ622により示されるようにメモリーから読出 される。その後、ステップ624において、ステップ620で計算された実際の 肉厚がステップ622で読み込まれた所要の肉厚と比較されて、実際の肉厚が所 要の肉厚より大きいかあるいはこれと等しいかを判定する。もし実際の肉厚が所 要の肉厚より大きいか等しければ、フロー図はステップ626へ進み、ここでコ ントローラ105が線580によりるつぼヒータ26へ与えられる温度上昇信号 を生じる。この上昇信号の受取りと同時に、るつぼヒータ26はメルトの温度を 上昇させるように動作し、これが更に結晶体心22の肉厚を減少させることにな る。もし実際の肉厚が所要の肉厚より大きくないかあるいはこれと等しくなけれ ば、フロー図はステップ628へ進み、ここでコントローラは線630によりる つぼヒータ26へ与えられる温度低下信号を生じる。この低下信号の受取りと同 時に、るつぼヒータ26はメルトの温度を低下させるように動作し、これが更に 結晶体心22の肉厚を増加させることになる。
結果に従ってステップ626または623のいずれかの後、プログラムはステッ プ605へ戻り、別の時間的遅延が生じる。
上記は、図7に示されるソフトウェアのフロー図により示されるプログラムの最 初の縁返しの説明である。このプログラムの2回目および以降の繰返しは、幾つ かの観点において最初の繰返しとは異なる。第1に、2回目および以降の繰返し においては、ステップ612において計算された長さの変化は、ステップ602 で記憶されたソフトウェアの前の繰返しにおいてステップ606でその時生じつ つある長さの情報に基いて計算され、ステップ614において与えられる。第2 に、この2回目および以降の繰返しの間、ステップ616で計算されたその時の 重量の変化は、ステップ608でその時生じつつある真の重量情報およびステッ プ604において記憶されたソフトウェアの前の繰返しの間ステップ608で生 成された真の重量情報に基いて計算され、ステップ618において与えられる。
このため、この2回目および以降の繰返しの間に、ステップ601および603 で生成された情報は使用されない。 、Taylor等により開示されたメルト 補充システムが、種ホルダーが成長する中空の結晶体心の上端部を実質的に空圧 により閉鎖するように修正された米国特許第4.544.528号に記載された 形式の結晶成長装置と接続されると、大半の状況においては、溶解シリコンが消 費されつつあると同じ速度で中実シリコンをメルトに添加することは略々不可能 である。このようなメルトの補充は、成長する結晶体心の重量を測定するセンサ により生じる誤りのある重量情報の故に問題を生じる。先に述べたように、この ような誤った情報は、成長する体心内部の圧力の変動により生じる。重量センサ により生じる重量情報が分配器306により単位時間当たり供給される中実シリ コン量を計算する際使用される限り、この重量情報が不正確であると、メルトへ 供給されるシリコン量は要求されるものにはならない。このため、要求量以上あ るいは以下のシリコンが添加され、メルトに受入れ得ない大きな熱変位をもたら す結果となる。周知のように、熱変位は最適ではない物理的および電気的特性を もつ結晶体心の生成が結果として生じ、極端な場合には、結晶の成長プロセスの 停止を招くおそれがある。
対照的に、本発明によれば、溶解シリコンがメルトから消費されると同じ速度で シリコン粒子がるつぼ24に供給される。このため、熱的な摂動の形成が最小限 に抑えられて、結晶体心の物理的および電気的な特性が最適化される結果となる 。
メルト補充システム18を制御することに加えて、図6および図7に示した本発 明の代習例は、公知の制御システムにより典型的に達成され得るよりも高い精度 で公知の結晶成長装置20の動作を制御するようになっている。公知の結晶成長 装置の動作を正確に制御することにより、幾っがの重要な利点が達成される。
第1に、結晶体心22がグイから外れるかあるいはこれに膠着する頻度は非常に 減少する。第2に、管状結晶体心の肉厚が更に正確に制御される。第3に、6m 以上の長さをもつ結晶体心22が、本発明により制御される公知の結晶成長装宜 を用いて比較的均一な肉厚で成長させることができ、かつ成長される結晶の頂端 部を実質的に空圧的に封止するように修正することができる。例えば6mの長さ の長い結晶体心から生成されるシリコン板の材料コストは、成長した結晶の長さ に対する装置の始動時間の短縮により、公知の結晶成長装置で成長させた比較的 短い結晶体心から作られる板よりも著しく少ない。
図6および図7に示される本発明の代替例は、肉厚を制御する(引上げ速度が略 々一定に保持される)ためるつぼの加熱を変化させるように設計されるが、本発 明は、加熱即ち温度が一定に保持され引上げ速度が肉厚を制御するため変更され るように設計することができる。あるいはまた、加熱および弓しヒげ速度の双方 は、略々均一な肉厚を持つ結晶を生じるように変化させることもできる。
本発明の他にない有利な特徴は、るつぼ内のメルトの長さが略々均等な大きさお よび肉厚の管状結晶体心の成長中に予め定めた限度内に保持できるように、メル ト補充システムが制御されることである。
本発明の範囲から逸脱することなく上記の装置において変更が可能であるため、 本文に記し添付図面に示される全てのものは例示であって限定の意図はないもの とする。
旧11 1rA2] 時間−→ 1図71 1図6】 要約書 1V41 1 選択された材料の管状結晶体心(22)を成長させる装置(20)のるつぼ

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.選定された材料の管状結晶体心を成長させる装置におけるメルトを補充する ためのメルト補充システムであって、前記選定された材料のメルトを含むるつぼ と、該るつぼを加熱する加熱手段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる 成長手段とを含み、該成長手段は、(1)前記管状結晶体心が成長される種を支 持する種保持手段と、(2)該種保持手段と前記管状結晶体心を前記るつぼから 引上げる引上手段とを含むメルト補充システムにおいて、前記選定された材料の 中実粒子を貯蔵する容器と、該容器と結合されて、制御信号に応答して前記選定 された材料粒子の選定量を前記容器から前記るつぼへ移動する分配手段と、前記 容器内に貯蔵された前記選定された材料粒子の重量を表わす出力信号を生じる重 量値生成手段と、 前記成長する管状結晶体心と、前記種と、前記種保持手段の重量を表わす出力信 号を生じる重量センサ手段と、 前記結晶体心内部の圧力を表わす出力信号を生じる圧力センサ手段と、前記重量 値生成手段と、前記重量センサ手段と、前記圧力センサ手段と、前記分配手段と に接続されて、前記るつぼ内のメルトのレベルが前記管状結晶体心の成長中予め 定めた限度内に止まることを保証するように、前記重量値生成手段、前記重量セ ンサ手段および前記圧力センサ手段の出力信号に応答して前記メルト補充システ ムの動作を制御するコントローラ手段と、を含むことを特徴とするメルト補充シ ステム。
  2. 2.前記コントローラ手段が、前記重量値生成手段、前記重量センサ装置および 前記圧力センサ手段の出力信号に基いて前記制御信号を生成することを特徴とす る請求項1記載のシステム。
  3. 3.前記コントローラ手段が、前記管状結晶体心の真の重量を計算して前記管状 結晶体心の真の重量を表わす補正された出力信号を生じる手段を含み、更に前記 コントローラ手段が、前記重量値生成手段の出力信号と前記補正出力信号に応答 して前記制御信号を生成することを特徴とする請求項1記載のシステム。
  4. 4.前記計算手段が、 前記管状結晶体心および前記種保持手段の真の重量を表わす結果の信号を生じる ように、前記重量センサ手段および前記圧力センサ手段の出力信号を組合わせる 手段と、 前記種保持手段の真の重量を表わすオフセット出力信号を生じる手段と、前記管 状結晶体心の真の重量を表わす前記補正出力信号を生じるように、前記結果の信 号と前記オフセット出力信号を組合わせる手段とを含むことを特徴とする請求項 3記載のシステム。
  5. 5.前記コントローラ手段が、(a)前記選定された測定間隔xにおいて前記重 量信号生成手段により生成される前記出力信号における変化の関数として、選定 された時間間隔Xにおける前記容器に貯蔵された前記粒子の重量の変化を計算す る手段と、(b)前記選定された時間間隔Xにおける前記補正出力信号における 変化の関数として、前記選定された時間間隔Xにおける前記管状結晶体心の重量 の変化を計算する手段と、(c)重量値の結果の変化を生じるように前記シリコ ン粒子の重量の前記変化および前記管状結晶体心の重量の前記変化を加算する手 段とを含むことを特徴とする請求項3記載のシステム。
  6. 6.前記分配手段が、前記制御信号の受取りと同時に固定量のシリコン粒子を前 記容器から前記るつぼへ移動するように設計され、前記コントローラが、前記重 量値の結果の変化をゼロ値と比較して、該重量値の結果の変化が前記ゼロ値より 大きい時のみ前記制御信号を前記分配手段へ与える手段を含むことを特徴とする 請求項5記載のシステム。
  7. 7.前記選定された時間間隔Xの間、前記分配手段により前記容器から前記るつ ぼへ送られる前記シリコン粒子の選定量が、前記制御信号に含まれる供給速度情 報の関数として変化し、更に前記コントローラ手段が、重量値における前記結果 の変化の符号および大きさの関数として変化する供給速度情報を含むようにを生 じる前記制御信号を生じることを特徴とする請求項5記載のシステム。
  8. 8.選定された材料の管状結晶体心を成長させる装置におけるメルトを補充する メルト補充システムであって、前記選定された材料のメルトを保有するるつぼと 、該るつぼを加熱する加熱手段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成 長手段とを含み、該成長手段が、(1)前記結晶体心が成長させられる種を支持 する種支持手段と、(2)該種保持手段および前記管状晶体心を前記るつぼから 引上げる引上手段とを含むメルト補充システムにおいて、中実シリコン粒子を貯 蔵する容器と、 前記容器と結合されて、制御信号に応答して選定された時間間隔の間、前記選定 された材料粒子の選定量を前記容器からるつぼへ移動する分配手段と、前記容器 内に貯蔵された前記選定された材料の重量を表わす出力信号を生じる重量値生成 手段と、 前記管状結晶体心、前記種および前記種保持手段の重量を表わす出力信号を生じ る重量センサ手段と、 前記結晶体心内の圧力を表わす出力信号を生じる圧力センサ手段と、前記重量値 生成手段と、前記重量センサ手段と、前記圧力センサ手段と、前記分配手段とに 接続され、前記選定された材料の量が前記管状結晶体心の連続的な成長を支持す るに充分であることを保証するように、前記重量値生成手段、前記重量センサ手 段および前記圧力センサ手段の出力信号に応答して前記分配手段の動作を制御す るコントローラ手段と を設けることを特徴とするメルト補充システム。
  9. 9.前記管状結晶体心の真の重量を計算し、かつ前記管状結晶体心の真の重量を 表わす補正された出力信号を生成する手段(a)を更に含み、更に前記コントロ ーラ手段が、前記重量値生成手段の出力信号および前記補正出力信号に応答して 前記分配手段の動作を制御する前記制御信号を生成し、前記計算手段が、前記管 状結晶体心および前記種保持手段の真の重量を表わす結果の信号を生じるように 、前記重量センサ手段および前記圧力センサ手段の出力信号を組合わせる手段( i)と、 前記管状結晶体心の真の重量を表わす前記補正出力信号を生じるように前記結果 の信号および前記オフセット出力信号を生じる手段(ii)と、前記管状結晶体 心の真の重量を表わす前記補正出力信号を生じるように前記結果の信号および前 記オフセット出力信号を組合わせる手段(iii)とを含み、前記選定された時 間間隔Xにわたる前記補正出力信号における変化の関数として前記選定された時 間間隔Xにわたる前記管状結晶体心の加重における変化を計算する手段(c)と 、 加重値における結果として得る変化を生じるように、前記重量シリコン粒子の加 重における前記重量の変化および前記管状結晶体心の前記重量の変化を加算する 手段(d)とを更に含むことを特徴とする請求項8記載のメルト補充システム。
  10. 10.選定された材料のメルトを保有するるつぼと、該るつぼを加熱する加熱手 段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成長手段を含む形式の結晶成長 装置におけるメルトを補充するためのメルト補充システムの動作を制御する方法 であって、前記成長手段が、前記メルトと連通する前記るつぼにあって前記管状 結晶体心の形状を制御する形成手段(1)と、前記管状結晶体心が成長させられ る種を支持する種支持手段(2)と、前記管状結晶体心、前記種および前記種保 持手段を前記形成手段から引上げる引上手段(3)とを含み、前記メルト補充シ ステムが、前記選定された材料の中実粒子を貯蔵する容器と、動作信号の受取り と同時に前記粒子の固定量を該容器から前記るつぼ内のメルトへ移動する分配手 段とを含む方法において、 前記メルトからの前記管状結晶体心の成長を開始するように前記装置を動作させ 、 前記管状結晶体心の重量を測定し、 前記管状結晶体心の内部の圧力を測定し、前記管状結晶体心の測定された重量お よび該結晶体心内部の測定された圧力に基いて結晶体心の真の重量を計算して、 時間間隔Xにわたる前記管状結晶体心の真の重量における変化を表わす真の重量 値における変化を提供し、前記メルト補充システムの前記容器に貯蔵された中実 シリコン粒子の重量を測定して、前記時間間隔Xにわたる前記容器内に貯蔵され た前記シリコン粒子の重量における変化を表わす粒子の重量値における変化を提 供し、真の重量値における前記変化を粒子の重量値における変化に加算して結果 の値を生じ、 該結果の値をゼロ値と比較し、 前記結果の値が前記ゼロ値より大きい場合のみ、動作信号を生成して該動作信号 を前記分配手段へ与え、 前記動作信号の受取りと同時に前記固定量のシリコン粒子を送るように、前記分 配手段を動作させることを含む ことを特徴とする方法。
  11. 11.選定された材料のメルトを保有するるつぼと、該るつぼを加熱する加熱手 段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成長手段を含む形式の結晶成長 装置におけるメルトを補充するためのメルト補充システムの動作を制御する方法 であって、前記成長手段が、前記メルトと連通する前記るつぼにあって前記管状 結晶体心の形状を制御する形成手段(1)と、前記管状結晶体心が成長させられ る種を支持する種支持手段(2)と、前記管状結晶体心、前記種および前記種保 持手段を前記形成手段から引上げる引上手段(3)とを含み、前記メルト補充シ ステムが、前記選定された材料の中実粒子を貯蔵する容器と、制御信号の受取り と同時に選定された時間間隔において前記シリコン粒子の固定量を前記容器から 前記るつぼ内のメルトへ移動する分配手段とを含む方法において、前記メルトか ら前記管状結晶体心の成長を開始するように前記装置を動作させ、 前記管状結晶体心の重量を測定し、 前記管状結晶体心の内部の圧力を測定し、前記管状結晶体心の測定された重量お よび該結晶体心内部の測定された圧力に基いて結晶体心の真の重量を計算して、 時間間隔Xにわたる結晶体心の真の重量における変化を表わす真の重量値におけ る変化を提供し、前記メルト補充システムの前記容器に貯蔵された中実シリコン 粒子の重量を測定して、前記時間間隔Xにわたる前記容器に貯蔵された前記中実 シリコン粒子の重量における変化を表わす粒子の重量値における変化を提供し、 真の重量値における前記変化を粒子の重量値における前記変化に加算して結果の 値を生成し、 前記結果の値の符号および大きさの関数として変化する供給速度情報を含む制御 信号を生成し、 前記選定時間間隔において前記分配手段により送られるシリコン粒子の前記選定 量が前記制御信号における前記供給速度情報の関数として変化するように、前記 分配手段を動作させることを含む ことを特徴とする方法。
  12. 12.選定された材料の管状結晶体心を成長させる装置(a)と該装置における メルトを補充するメルト補充装置(b)の動作を制御する制御システムであって 、前記選定された材料のメルトを保有するるつぼと、該るつぼを加熱する加熱手 段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成長手段とを含み、該成長手段 は、前記結晶体心が成長させられる種を支持する種支持手段(1)と、前記るつ ぼから前記管状結晶体心および前記種支持手段を引上げる引上手段(2)とを含 み、材料メルト補充装置は、中実シリコン粒子を貯蔵する容器と、該容器と結合 されて動作信号の受取り同時に選定された時間間隔において前記選定された材料 の選定量の粒子を容器からるつぼへ移動する分配手段とを含む制御システムにお いて、前記容器に貯蔵された中実シリコン粒子の重量を表わす出力信号を生成す る重量値生成手段と、 前記成長する管状結晶体心の長さを表わす出力信号を生じる長さセンサ手段と、 前記管状結晶体心、前記種および前記種支持手段の重量を表わす出力信号を生じ る重量センサ手段と、 前記結晶体心内部の圧力を表わす出力信号を生じる圧力センサ手段と、前記重量 値生成手段、前記長さセンサ手段、前記重量センサ手段、前記圧力センサ手段、 前記るつぼ加熱手段および前記分配手段と接続されて、(a)前記成長する結晶 体心が実質的に均一な肉厚を持つこと、および(b)前記るつぼへ移動される前 記選定量のシリコン粒子が連続する結晶の成長を支持し、かつメルトにおける受 入れられない大きな熱的変位を生じないことを保証するように、前記重量値生成 手段、前記長さセンサ手段、前記重量センサ手段および前記圧力センサ手段の出 力信号に応答して前記結晶成長装置および前記メルト補充組立体の動作を制御す るコントローラ手段と を設けてなることを特徴とする制御システム。
  13. 13.前記コントローラ手段が前記管状結晶体心の真の重量を計算する手段を含 み、該計算手段は、 前記管状結晶体心および前記種支持手段の真の重量を表わす結果の信号を生じる ように、前記重量センサ手段および前記圧力センサ手段の出力信号を組合わせる 手段と、 前記種支持手段の真の重量を表わすオフセット出力信号を生じる手段と、前記管 状結晶体心の真の重量を表わす補正出力信号を生じるように、前記結果の信号お よび前記オフセット出力信号を組合わせる手段とを含むことを特徴とする請求項 12記載のシステム。
  14. 14.前記コントローラ手段が、選定された測定間隔で前記管状結晶体心の実際 の肉厚を計算する手段を含み、該コントローラ手段は、所要の肉厚値を提供する 手段と、 前記所要の肉厚値を前記実際の肉厚と比較して、該所要の肉厚値が前記実際の肉 厚より小さい時、前記加熱手段に対して第1の信号(1)を、また前記第1の肉 厚値が前記実際の肉厚より大きいかあるいはこれと等しい時、前記加熱手段に対 して第2の信号(2)を与える手段とを含むことを特徴とする請求項12記載の システム。
  15. 15.前記コントローラ手段が、前記選定された時間間隔Xにわたる秤量手段に より生成される前記出力信号における変化の関数として選定された時間間隔Xに わたる前記容器に貯蔵されたシリコン粒子の重量における変化を計算する手段( a)と、前記選定された時間間隔Xにわたる前記補正出力信号における変化の機 能として該選定された時間間隔Xにわたる前記管状結晶体心の重量における変化 を計算する手段(b)と、前記シリコン粒子の重量における前記変化および前記 管状結晶体心の重量における前記変化を加算して重量値における結果としての変 化を生じる手段とを含むことを特徴とする請求項12記載のシステム。
  16. 16.前記コントローラ手段が、 重量値における前記結果として生じる変化を前記ゼロ値と比較して、前記重量値 の結果として生じる変化が前記ゼロ値よりも大きい時のみ、前記動作信号を前記 分配手段に与える手段を含むことを特徴とする請求項15記載のシステム。
  17. 17.選定された材料の管状結晶体心を成長させる装置において、メルトを保有 するるつぼと、 該るつぼを加熱する手段と、 前記管状結晶体心が成長させられる種を支持して、管状結晶体心の上端部を実質 的に空圧作用的に閉鎖する種支持手段(1)と、前記管状結晶体心、前記種およ び前記種支持手段を前記るつほから引上げる引上手段(2)とを含む、管状結晶 体心を前記メルトから形成する手段と、 前記選定された材料の中実粒子を貯蔵する容器と、動作信号の受取りと同時に、 選定された時間間隔において前記容器に貯蔵された前記粒子の選定量を前記容器 から前記るつぼ内のメルトへ移動する分配手段と、 前記形成手段と接続されて、前記成長する管状結晶体心の長さを表わす出力信号 を提供する長さ測定手段と、 前記形成手段と接続されて、前記種支持手段に対して上方に作用する前記成長す る管状結晶体心内部の圧力を表わす出力信号を提供する圧力測定手段と、前記形 成手段と接続されて、前記成長する管状結晶体心の重量を表わす出力信号を提供 する重量測定手段と、 前記容器と接続されて、前記容器に貯蔵された前記シリコン粒子の重量を表わす 出力信号を提供する重量値生成手段と、前記長さ測定手段(1)と、前記圧力測 定手段(2)と、前記重量測定手段(3)と、前記重量値生成手段(4)と、前 記分配手段(5)と、前記加熱手段(6)とに接続されて、(a)前記結晶体心 が実質的に均一な肉厚を持つこと、(b)前記メルトへ移動された前記選択量の シリコン粒子が前記管状結晶体心の連続的な成長を支持するに充分であることを 保証するように、前記長さ測定手段、前記圧力測定手段、前記重量測定手段およ び前記重量値生成手段の出力信号に基いて、前記分配手段および前記加熱手段の 動作を制御するコントローラ手段とを設けてなることを特徴とする装置。
  18. 18.選定された材料の管状結晶体心を成長させる装置におけるメルトを補充す る機構の動作を制御する制御システムであって、該装置が、シリコンのメルトを 保有するるつぼと、制御信号に応答して選定された時間間隔において、前記選定 された材料の中実粒子を貯蔵する容器と該容器に貯蔵された前記粒子の選定量を 前記容器から前記るつぼ内のメルトへ移動する分配手段とを含む装置とを含む制 御システムにおいて、 前記形成手段と接続されて、前記種支持手段に対して上方に作用する前記成長す る管状結晶体心内部の圧力を表わす出力信号を生じる圧力測定手段と、前記形成 手段と接続されて、前記成長する管状結晶体心の重量を表わす出力信号を生じる 重量測定手段と、 前記容器と接続されて、前記容器に貯蔵された前記粒子の重量を表わす出力信号 を生じる秤量手段と、 前記圧力測定手段(1)と、前記重量測定手段(2)と、前記秤量手段(3)と 、前記分配手段(4)とに接続されて、前記るつぼ内のメルトに移動された前記 粒子の前記選定された量が前記メルトのレベルが前記管状結晶体心の成長中予め 定めた限度内に止まることを保証するように、前記圧力測定手段と、前記重量測 定手段と、前記秤量手段の出力信号に基いて前記秤量手段の動作を制御するコン トローラ手段と を設けてなることを特徴とする制御システム。
  19. 19.選定された材料のメルトを保有するるつぼと、該るつぼを加熱する加熱手 段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成長手段とを含む形式の結晶成 長装置におけるメルトを補充するためのメルト補充システムの動作を制御する方 法であって、前記成長手段が、前記メルトと連通する前記るつぼにあって前記管 状結晶体心の形状を制御する形成手段(1)と、前記管状結晶体心が成長させら れる種を支持する種支持手段(2)と、前記管状結晶体心、前記種および前記種 保持手段を前記形成手段から引上げる引上手段(3)とを含み、前記メルト補充 システムが、前記選定された材料の中実粒子を貯蔵する容器と、動作信号の受取 りと同時に前記粒子の固定量を前記容器から前記るつぼ内のメルトへ移動する分 配手段とを含む方法において、 前記メルトからの前記管状結晶体心の成長を開始するように前記装置を動作させ 、 前記管状結晶体心の重量を測定し、 前記管状結晶体心の内部の圧力を測定し、前記管状結晶体心の測定された重量お よび該結晶体心内部の測定された圧力に基いて結晶体心の真の重量を計算して、 時間間隔Xにわたる前記管状結晶体心の真の重量における変化を表わす真の重量 信号における変化を提供し、前記メルト補充システムの前記容器に貯蔵された中 実シリコン粒子の重量を測定して、前記時間間隔Xにわたる前記容器に貯蔵され た前記シリコン粒子の重量における変化を表わす粒子の重量値における変化を提 供し、真の重量値における前記変化を粒子の重重値における前記変化に加算して 結果の信号を生成し、 前記結果の信号をゼロ信号と比較し、 前記結果の信号が前記ゼロ信号よりも大きい場合のみ、動作信号を生成して該動 作信号を前記分配手段に与え、 前記動作信号の受取りと同時に前記固定量のシリコン粒子を移動するように、前 記分配手段を動作させる ことを含むことを特徴とする方法。
  20. 20.選定された材料のメルトを保有するるつぼと、該るつぼを加熱する加熱手 段と、前記メルトから管状結晶体心を成長させる成長手段とを含む形式の結晶成 長装置におけるメルトを補充するためのメルト補充システムの動作を制御する方 法であって、前記成長手段が、前記メルトと連通する前記るつぼにあって前記管 状結晶体心の形状を制御する形成手段(1)と、前記管状結晶体心が成長させら れる種を支持する種支持手段(2)と、前記管状結晶体心、前記種および前記種 保持手段を前記形成手段から引上げる引上手段(3)とを含み、前記メルト補充 システムが、前記選定された材料の中実粒子を貯蔵する容器と、制御信号の受取 りと同時に、選定された時間間隔において前記シリコン粒子の選定量を前記容器 から前記るつぼ内のメルトへ移動する分配手段とを含む方法において、前記メル トからの前記管状結晶体心の成長を開始するように前記装置を動作させ、 前記管状結晶体心の重量を測定し、 前記管状結晶体心の内部の圧力を測定し、前記管状結晶体心の測定された重量お よび該結晶体心内部の測定された圧力に基いて結晶体心の真の重量を計算して、 時間間隔Xにわたる前記管状結晶体心の真の重量における変化を表わす真の重量 信号における変化を提供し、前記メルト補充システムの前記容器に貯蔵された中 実シリコン粒子の重量を測定して、前記時間間隔Xにわたる前記容器に貯蔵され た前記シリコン粒子の重量における変化を表わす粒子の重量信号における変化を 提供し、真の重量値における前記変化を粒子の重量信号における前記変化に加算 して結果の信号を生成し、 該結果の信号の符号および大きさの関数として変化する供給速度情報を含む制御 信号を生成し、 前記選定された時間間隔において前記分配手段により移動されるシリコン粒子の 前記選定量が前記制御信号における前記供給速度情報の関数としてが変化するよ うに、前記分配手段を動作させる ことを含むことを特徴とする方法。
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