JPH04506140A - ビデオ画像におけるシェージング効果を補正するための方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ビデオ画像におけるシェージング効果を補正するための方法及び装置採逝煎光野 この発明は一般に線形ＣＣＤイメージヤ又はＣＣＤ配列を用いて電子形式で書類 の画像を捕獲する書類検索システムに、更に明確には、このシステムの二次元非 一様性特性を別々の記憶装置に記憶された二つの直交補正関数によって定義する ことに関係している。

凡呵例宵遺 書類検索システムは一般に、ディジタル形式で捕獲された書類に複雑な処理アル ゴリズムを適用している。例えば、若干のアルゴリズムは書類の背景区域を除去 するために又は露光制御のためのヒストグラムの生成のためにデータのしきい値 設定を必要とすることがある。検索システムにおける任意の非一様性は捕獲デー タに影響を与え、これらの処理アルゴリズムによる誤決定を生じることがある。

非一様性の一つのよく知られ且つよく定義された源はレンズを用いて画像を画像 捕獲装置上へ集束させることによって導入されることができる。結果として生じ る非一様性は光学技術においてよく知られている’ｅＯ３’Ｊ法則によって特徴 づけられている。

多レンズ素子、開口などからなっているような複合レンズは上述の法則に直接従 わないかもしれないが、製造工程中レンズごとに反復可能である特性を持ってい る。

よく定義されていない非一様性は他の源からも又生じることがある。若干の例は 、５〜１０％の程度であるようなＣＣＤ画素感度変化、及び電球線条によるよう な照明源において発生することのあるスポット非一様性、である。

照明システム非一様性及びＣＣＤ画素感度変化の複合効果を補正する多くの方法 が以前に開示されている。

ガルシア（Ｃａｒｅｉａ）外の名義で付与された米国特許第４，３９２，１５７ 号は二次元走査領域を複数群の画素に分割する技法を開示している。平均値から ある量より多くはすれている応答を有する群は補正される。補正されるべき群の 場所は補正された最後の群からの距離として符号化される。この方法は記憶空間 を節約して使うが、総合補正は記憶量が少ないならば幾分コースであろう。逆に 、より微細な補正分解能が適用されると記憶必要量は大きくなるであろう。

フレーム（Ｆｒａｍｅ）の名義における米国特許第４．３４３．０２１号は二次 元走査区域をやはり任意数の素子に分割する技法な開示している。補正係数は校 正走査中層素子に対して決定され、そして後続の走査中各群の応答を補正するた めに使用される。この方法も又補正分解能が増大するにつれて増大する記憶必要 量を欠点として持っている。

ピーターズ（Ｐｉｅｔｅｒｓ）外への米国特許第３，９０２，０１１号は二次元 走査区域における多数の隔１された点を標本化する技法を開示している。補正係 数は各点に対して決定される。後続の走査中、補正係数は各画素に対するより良 い補正係数に達するために補間と関連して使用される。補間は所与の記憶量に対 してフレームによって開示されたものよりも良い補正を与える。実際の非一様性 に対してより良い補正係数が必要とされるならば、記憶量も又非常に大きくなり 得るであろう。

前述の三つの特許によって例示されたような従来の技術は補正係数を記憶するた めに必要とされる記憶の１登低減しようと試みる種々の技法を例示している。

これらの技法はすべて、必要とされる記憶場所の数が線分解能の平方として増大 するということを欠点として持っている。例えば、Ｘ及びＹの再走査方向に沿っ て１０素子の分解能を持ったシステムは１００の記憶場所（ＩＯＸＩＯ）を必要 とするであろう。Ｘ及びＹ走査分解能が２０素子に倍増されたならば、記憶必要 量は４００場所（２０ｘ２０）、実に４倍、に増大するて′あろう。Ｘ及びＹ走 査分解能が４０素子に再び倍増されたならば、記憶必要量は１６００場所（４０ ×４０）、実に１６倍、に増大するであろう。

魚呵ム皿示 この発明は記憶場所の数が線分解能の平方として増大するという要件を克服する 。これは二次元非一様性特性を直交する二つの関数により定義することによって 行われる。この直交補正関数は次に決定されて別々の記憶装置に記憶される。

走査中、画素計数器はＸ記憶装置をアドレスし且つ線（ライン）計数器はＹ記憶 装置をアドレスする。このようにして得られた補正係数は現在のＸ及びＹ座標に おける画素データ値を補正するために順次適用される。データは線形又は対数形 式であればよく、そして補正係数はそれぞれ乗数又はオフセットとして適用さ図 １はこの発明の採択実施例を図解した機能的構成図であり、図２は対数変換のた めのＦ　ＲＯＭ出力対Ｐ　ＲＯＭアドレス入力の図表であり、図３は指数変換の ためのＦ　ＲＯＭ出力対ＰＲＯＭアドレス入力の図表であり、図４は入力レベル を全値に回復させるための所要対数オフセットに対する入力レベルの図表であり 、 図５は対数及び指数変換過程の組合せ誤差効果を示した線図であり、図６はこの 発明の動作時間順序を示した時間図であり、図７は複合レンズとの使用のための 二の発明の採択実施例のための機能的構成図てあり、 図８は二次元しンズ減小補正情報が別々の直交Ｘ及びＹフォールオフ関数の関数 であり得る様子を図解しておつ又 図９は補正回路が非一様性特性を知る能力を持っているこの発明の第２実施例に 対する機能的構成図である。

元型ｉ寒旌ｔゑ方法 この発明のこの説明においては、暗電流信号の影響はあらかじめ除去されている ものと仮定されている。この目的のためには従来技術において多数の技法が知ら れており、これはこの時点ては論述されない。

又照明レベルの絶対制御も考慮されないが、やはり、電荷結合素子（ＣＣＤ）画 像走査器（イメージスキャナ）と関連した露光制御に対しては技術上多くの技法 が利用可能である。

ここに開示された非一様性低減技法は絶対露光レベルに独立であり、幾つかの自 動利得制御（ＡＧＣ）形補正技法のような外部露光制御アルゴリズムと抵触しな い。

図１に言及すると、この発明の採択実施例に対する機能的構成図が示されている ０種々の計数器及びフーロダラム可能な固定記憶装置（ＰＲＯλ１）のビット解 像度は水平（Ｘ）及び垂直（Ｙ）の両方向に４８００素子の解像度を持った線形 走査器との使用のために適当に指定され且つ大きさを決められている。

種々のＰＲＯＭがこの発明と関連して論述されている。理解されるべきことであ るが、これらのＰ　ＲＯＭのそれぞれに記憶されたデータは特定の光学系及び特 定のＣＣＤ画像走査器又は二次元配列の使用に基づいて決定されている。

画像捕獲装置からの入力データは対数ＰＲＯＭｌ０によって対数形式に変換され る。入力データは線１４に現れる画素クロックの各サイクルごとに線１２により 対数ＰＲＯＭｌ０に入力される８画素クロックは約８　Ｍ　Ｈｚのレートて動作 する。対数ＰＲＯＭｌ０から出力された各対数変換の結果は次の画素クロックサ イクルにおいてへ進法ラッチ１６／＼ロードされる。

同時に、各新入力画素データの到着により画素計数器１６は増分される。画素計 数器１８の出力はＸオフセントＰＲＯＭ２０における新しい記憶場所をアドレス するために使用される。オフセットＰＲＯＭ２０におけるアドレスされた各記憶 場所は、到来画素データ値に加えられたときに、この画素場所における線形走査 器の感度変化とこの画素場所と関連した光学系照明非一様性のＸ成分との両方を 補償する。ＰＲＯＭ２０からのＸオフセット値は次の画素クロックサイクルにお いてへ進法ラッチ２２ヘロードされる。

画素計数器１８は、任意所与の走査線の期間中データよりも多くの画素クロック サイクルがあり得るので、有効なデータ標本が利用可能なときに増分することが 許されるにすぎない。これは記憶の節約を可能にする。線２４における線有効信 号は有効データ標本が利用可能て′あるときにだけ画素計数器１８を可能化する ように機能する。縁リセット信号は各走査線の終わりに線２６により画素計数器 １８を周期的にクリアするために加えられる。

ラッチ】６からの画素データ及びラッチ２２からのそれの対応する補正オフセッ ト値は同時に８ビツト加算器２８に入力される。組合せの結果はそれから次の画 素クロックサイクル中にへ進法ラッチ３０ヘロードされる。

加算器２８にあぶれが生じたならば、それによりけた上げフリップフロップ３２ はラッチ３０ヘロードされるデータと同時にセットされる。

線計数器３４は画素計数器１８がリセットされるたびごとに増分される。、線計 数器３４出力はＹオフセントＰＲＯＭ３６における記憶場所をアドレスするため に使用される。適当な記憶場所は、到来画素データに加えられたときにこの画素 における光学系照明非一様性のＹ成分を補正するオフセット値を収容している。

ＰＲＯＭ３６からの）゛オフセット値は次の画素クロックサイクル中にへ進注ラ ッチ３８ヘロードされる。

線計数器３４は書類が走査されているときに増分することが許されるだけである 。線４０におけるページ有効信号は線計数器３４を可能化する。ｔ！４２におけ る走査リセット信号は各走査線の終わりにおいて線計数器３４を同時にクリアす るために加えられる。

へ進法ラッチ３０からのデータ及びへ進法うッ千３８からの対応するＹ補正オフ セット値は８ビツト加算器４４に同時に入力される。この組合せの結果は次のク ロックサイクル中にへ進法ラッチ４６ヘロードされる９加算器４４にあぶれが生 じたならば、けた上げフリップフロップ４８がラッチ４６ヘロートされるデータ と同時にセントされる結果になるであろう。二重入力ＯＲゲート５０はより早い 補正においてあぶれが発生した場合にも又フリップフロップ４８がセットされる ことを可能にする。

へ進法ラッチ４６に存在する対数形式における補正データはへ進法二人力ＯＲ配 列５２に送られ、ここでは８ビツトはあぶれが補正過程中に発生したならば強制 的に論理値１にされることができる。この操作が行われなかったならば、結果と して生じるデータは、実際には「白より白い」ときに黒に近い点として現れるで あろう。

指数ＰＲＯＭ５４はデータを対数形式から線形形式に変換する。変換の結果は画 素クロックの次のサイクル中にへ進法うｌチ５６ヘロードされる。

クロック式へ進法ラッチ１６．２２．３０．３８．４６及び５６並びにクロック 式けた上げフリップフロップ３２及び４８の使用はディジタル処理が非常に高い 速度で処理しながら画素クロックと同期して行われることを可能にする。このよ うな技法は「パイプライン方式」と呼ばれ、ディジタル信号処理において周知で ある。

図２は図１に示された対数変換ＰＲＯＭｌ０に対する入力、／出力応答を図解し ている。画像捕獲装置からのディジタル出力データはＰＲＯＭｌ０にアドレスと して加えられる。ＰＲＯＭｌ０の入力／′出力応答は次の方程式によって記述さ れる。

☆　Ｎ　ｌ　ｏｇ＝　（２”−１）　二ＬＮ（ｐｉｘｅｌ　ｄａｔａ）／’（２ ’−１）＝ＬＮ＝自然対数関数 Ｙ＝１０を底とする対数関数及び自然対数間数間の変換係数、’１−＝ＬＮ（１ ０）。

Ｇ＝ＰＲＯＮ１１０の入力信号において利用可能なダイナミックレンジを指定す る係数。

Ｍ−画像捕獲装置Ａ／’Ｄ変換器のビット単位の解像度。

Ｎ一対数変換ＰＲＯＭ出力のビット単位の解像度。

Ｏ≦Ｎｌｏｇ≦２１−１ ０≦ｐｉｘｅｌ　ｄａｔａ≦２９−１ ＬＮ（０）は定義されていないので　・ＬＮ（０）−ＬＮ［１／（２″−１）＝ １とする 会　計算の最終結果は最も近い整数に丸められる。

Ａ／Ｄ変換器がダイナミックレンジリミッタであるならば、Ｇ＝　（６Ｍ＝１． ８）７′２０ そうでなければ、Ｇは２０て割られたＡ／′Ｄ変換器入力におけるダイナミック レンジに等しい。

例えば、Ａ７Ｄ入力における信号のダイナミックしンジが６０ｄＢであり且つＡ ／′Ｄ分解能が７ビツトであるならば、Ａ、’Ｄ変換器は明らかにダイナミ・ン クレンジリミゾタであるが、その理由はそれの信号対量子化雑音レベルが（６） Ｘ　（７）８１．８＝４３．８ｄＢであるからである。

この場合には ａ＝　（６）ｘ　（７）τ１．８／’２０＝２．１９Ｌ力化ながら、同じＡ、″ Ｄ変換Ｈ／＼の入力における信号のダイナミックレンジがわずか３０ｄＢであっ たならば、Ａ／”Ｄ変換器はもはやダイナミッタしンジリミッタではなく Ｇ＝３０／′２０＝１．５ になるであろう。

Ｇを選択するこの方法は対数変換ＦＲＯＭＩＯの全解像度がＰＲＯＭ入力信号の ダイナミックレンジに適用されることを可能にする。

図３は図１に示された指数変換ＰＲＯＭ５４の入力／出力応答を図解している。

それの機能は対数形式における補正データをその後の処理アルゴリズムにより必 要とされるような線形形式のデータに再び変換することである。入力／出力応答 は次の方程式によって特徴づけられる。

☆　Ｎ１１ｎ＝（２”　１）ＥＸＰＥＹＧＮＩｏｇ／′（２”　１）　’ＹＧ］ こ二で、０≦Ｎ１１ｎ≦２Ｌ−１ ＥＸＰ＝自然対数関数の逆である指数関数。

Ｌ−指数変換ＰＲＯＭ５４出力のビット単位の解像度。

☆　計算の最終結果は最も近い整数に丸められる。

Ｍ　Ｎ　ＮｌｏｇＹ及びＧは図１及びこれの方程式に関連して論述されたとおり である。

図５は入力レベルをこれの関数としてフルスケールに回復させるために必要とさ れるオフセット値を図示している。

図６は図１に示された採択実施例と関連して使用される種々のタイミング信号の 関係を図解している。これらの信号は図１の説明において及び後程図７において 説明される。

図７は図１に示されたシステムが複合レンズで機能するように変更され得るよう な方法を図解している。この動作は次のことを例外として図１において説明され たものと同じである。六つのレンズでの動作が説明のために仮定されている。

前の説明においては、画素計数器１８及び線計数器３４はそれぞれ各走査線又は 走査の終わりにおいてクリアされた。複合レンズでは、選択されたレンズに対す る補正オフセットを収容した記憶装置のブロックの開始アドレスを表わす計数を 持った各計数器Ｉ＼所定の計数がロードされる。

例えば、線６０に現れる３ビツトレンズ選択符号は事前設定制御論理回路５８に どのレンズが使用されているかを教示する。事前設定制御論理回路５８はそこで 各計数器１８及び３４ヘロードされるべき適当な事前設定値を決定する。

６レンズシステムに対しては、それぞれＸ及びＹオフセットのための各補正オフ セットＰＲＯＭ２０及び３６に対して２８．８にバイトの記憶量（４，８ＫＸ６ レンズ）が必要とされるであろう。次の大きさの記憶量が使用されたならば、各 計数器１８及び３４の分解能は増大したアドレス長に適応するように１５ビツト に増大され得るであろう。

図８は別々の直交Ｘ及びＹフォールオフ関数の関数としての二次元レンズフォー ルオフを非常に簡単な例で図解している。

直交座標系を用いて、特定の場所（Ｘ、Ｙ）における照明はＩ　（Ｘ、　Ｙ）＝ Ｉ　（Ｘ）ｘＩ　（Ｙ）によって記述され得るであろう。

ここで、Ｉ　（Ｘ、Ｙ）は場所（Ｘ、Ｙ）における正規化照明であり、又Ｉ　（ Ｘ）及びＩ（）勺はそれぞれ図８における線Ｙ　２４００及びＸ２４００に沿っ ての正規化フォールオフ関数である。線２４００に沿って、関数ｒ　（ｘ）はそ の最大値にあり且つ線に沿って関数はその最大値にある。

フォールオフ関数は既知であるので、逆関数はｇ　（Ｘ）及びｇ　（Ｙ）として 計算されることができて、 ｇ　（Ｘ）ＸＩ　（Ｘ、２４００＞＝１ｇ　（Ｙ）ＸＩ　（２４００，Ｙ）＝１ となる。

これらの逆関数が知られると、これを用いて所与の場所における正規化データ値 分次のように補正することができる。

Ｄ（Ｘ、Ｙ）＝ｐｉｘｅｌ　ｄａｔａ（Ｘ、’ｉ’）Ｘｇ（Ｘ）Ｘｇ（Ｙ）更に 正規化照明関数を対数形式で次のように定義することができる。

Ｉ’　（Ｘ、Ｙ）＝Ｉ’　（Ｘ）＋Ｉ’　（Ｙ）ここで Ｉ　”　（Ｘ、Ｙ）　＝Ｌｎ　二Ｉ　（Ｘ、Ｙ）　ＥＴ’　（Ｘ）＝Ｌｎ　［Ｉ 　＜Ｘ、　Ｙ）　］Ｉ　’　（Ｙ）　＝Ｌｎ　：Ｉ　（Ｙ）二正規化対数補正関 数ｇ’　（Ｘ＞及びｇ’　（Ｙ）はそこで次のように決定されることができる。

ｇ’　（Ｘ）＝Ｉ“　（Ｘ、２４００）−〇ｇ’　（Ｙ）〒Ｉ’　（２４００， Ｙ）＝０所与の場所における正しい正規化データ値はそこで次のようにめられ得 る。

Ｄ（Ｘ、Ｙ）＝ｅ（Ｌｎｆｐｉｘｅｌ　ｄａｔａ（Ｘ、Ｙ）］］’−、ｇ’（ｘ ）＋ｇ’（Ｙ）） 補正開数ｇ”　（Ｘ）及びｇ’　（Ｙ）は係数（２’−１）によって規準化され てそれぞれ図１及び７におけるＰＲＯＭ２０及び３６に記憶される。

線Ｘ２４００及びＹ　２４００に沿っての補正関数の計算は、計算されている補 正関数に直交する間数がその最大値にあるので、最良の信号対雑音を生じること になる。

採択実施例は固定校正又は複数の選択可能な固定校正を有するシステムを説明し たけれども、記憶量を節約するために直交補正関数を用いる技法がこの応用だけ に限定されないことは理解されるべきである。

技術に通じた者はこの技法を任意の形式の二次元光電子画像捕獲装置に適用する ことができるであろう。第２の実施例（図９）はこの技法が適用され得るような 方法の別の例を与える。

図１及び７に関連して前に論述されたような画像走査装置を仮定する。第２実施 例については図９に機能的構成図が示されている。この図は簡単化されており、 従って図９はこれを完全に機能的にするためには図１及び７に示されたようなデ ータラッチ、フリップフロップ及びタイミング信号を含むことになるものと理解 されるべきである。

このシステムは補正開数を記憶するためにＰＲＯＭの代わりにＲＡＭ７０及び７ ２が使用されているので図１及び７におけるものとは異なっている。別の方法と して、ＲＡＭ７０及び７２の代わりに電気的に消去可能なＰＲＯＭも又使用され る二とができるであろう。図１及び７に示されたシステムとは異なり、図９に示 されたシステムはシステム非一様性特性を：学習すること−ができ、従って校正 走査を必要とする。

操作は次のとおりて゛ある。校正走査に先立って、画像捕獲装置において最大露 光を生じさせるようなレベルでの一様な光の領域で走査区域が照明される。しか しながら、前に論述されたような非一様性の源のために、光電子走査装置の応答 は二次元走査区域の全域にわたって一様ではない。

走査中、線Ｘ＝２４００　（図８）に沿ったデータが補正開数ｇ’　（Ｙ）を決 定するために使用される。この線に沿って照明のＸ成分はその最大値にあるはず であり、最良の信号対雑音が達成される。

場所（２４００，Ｙ）における画素データは対数Ｐ　ＲＯＭ　７４によって対数 形式に変換される。逆ＰＲＯＭ７６はデータ値をフルスケールに回復させるため に所要の対数オフセットｇ’（Ｙ）を決定する。このＰＲＯＭの応答は図４に関 連して論述されたとおりである。補正値は次にその後の走査における使用のため にＹオフセット記憶装置３６（図１）に記憶される。

校正走査の過程中線Ｙ＝２４００　（図８）に到達する。線Ｙ＝２４００に沿っ て照明のＹ成分はその最大値にあるはずである。場所（Ｘ、２４００）における 画素データは次に対数Ｆ　ＲＯＭ　２４によって対数形式に変換される。逆ＰＲ ＯＭ７６はデータ値をフルスケールに回復させるために所要の対数オフセットｇ ”　（Ｘ）を決定する。これらの補正値は次にその後の走査における使用のため にＸオフセント記憶装置２０（図１）に記憶される９−１古　び産業上の適用 補正情報を記憶するために必要とされる記憶量の大きさは直交補正関数を用いる ことによって相当に低減される。加えて、この発明と関連した補正技法は周期的 校正走査を必要としない。補正データは改悪を受けやすくないので、製品信頼性 は高められる。

記憶された補正係数は通常の乗算器集積回路を用いて線形形式のデータに適用さ れるべき乗数の形式であることができる。補正係数は又通常の加算器を用いて対 数形式のデータに適用されるべきオフセットの形式であることができる。いずれ の場合でも、補正はシステムにおいて実時間レートで適用されることができる。

り士考（安ｍＦＦ？ＯＭλ力／出力之答ａ数麦簗ｒバＯＭλ刀／出〃応谷 相社的入力しペル（％） 切 補正書の翻訳文提出書 （特許法第１８４条の８） 平成　３年り１月上９日圏

Claims (13)

【特許請求の範囲】
1. １．走査線に沿っての各画素場所における光学系における二次元非一様性を補償 するための装置であって、 二つの直交軸に沿って広がる二つの直交関数を開いて二次元非一様性特性を決定 することによって多ビット補正データを確立するための装置、第１直交方向に対 する補正係数を記憶するための装置、第２直交方向に対する補正係数を記憶する ための装置、処理されている画素の座標に従って前記の記憶された補正係数をア クセスするための装置、及び 処理されている画素に対する補正値を得るために補正係数を組み合わせるための 装置、 によって特徴づけられている前記の補償するための装置。
2. ２．前記の補正係数が対数形式において記憶されている、請求項１に記載の装置 。
3. ３．前記の装置が更に、前記の補正値を再び線形形式に変換するための装置によ って特徴づけられている、請求項２に記載の装置。
4. ４．走査線に沿っての種々の画素場所において光学系に対するシェージング補正 値を与えるための装置であって、 走査線に沿っての各画素場所と関連した非一様性特性を用いて第１及び第２の直 交補正関数を確立すること、 前記の第１直交補正関数のための多ビット補正データを第１記憶装置に記憶する ための装置、 前記の第２直交補正関数のための多ビット補正データを第２記憶装置に記憶する ための装置、 前記の第１記憶装置をアドレスするための走査計数器アドレス装置、前記の第２ 記憶装置をアドレスするための線計数器アドレス装置、並びに前記の多ビット補 正データを適用して各走査線上の各Ｘ、Ｙ座標における画素データを補正するこ と、 によって特徴づけられている前記のシェージング補正値を与えるための装置。
5. ５．前記の第１及び第２の記憶装置がプログラム可能な固定記憶装置の形式をし ている、請求項４に記載の装置。
6. ６．前記の第１及び第２の記憶装置が等速呼び出し記憶装置の形式をしている、 請求項４に記載の装置。
7. ７．基準全白色面像に対する画像信号レベルが走査線に沿っての種々の位置にお いて異なっている光電画像走査器との使用のためのシェージング補正装置であっ て、 多ビット補正データを各記憶装置に記憶するための一対の等速呼び出し直交記憶 装置であって、各直交補正係数に対して各記憶装置から出力された一次元補正関 数の現在の画素位置から生じる各画素素子において、各直交値の組合せが前記の 画像信号レベルの減衰度を特定するようになっている前記の一対の等速呼び出し 直交記憶装置、及び 前記の多ビット補正値を組み合わせて各画素値に対するその特定の座標における 補正係数を与えるようにするための装置、によって特徴づけられている前記のシ ェージング補正装置。
8. ８．前記の直交記憶装置の内容が走査されている画像の性質に依存して変更され 得る、請求項７に記載のシェージング補正装置。
9. ９．走査線に沿っての各画素場所での光学系における二次元非一様性を補償する ための方法であって、 二次元非一様性特性を確立する段階、 第１及び第２の直交軸に沿っての二つの直交関数を用いて二次元非一様性を特徴 づける段階、 前記の第１直交軸と関連した補正係数を第１記憶装置に記憶する段階、前記の第 ２直交軸と関連した補正係数を第２記憶装置に記憶する段階、前記の第１及び第 ２の記憶装置における前記の記憶された補正係数を処理されている画素の座標に 従ってアクセスする段階、並びに前記の第１及び第２の記憶装置から得られた補 正係数を組み合わせてその画素場所における非一様性を補償する段階、によって 特徴づけられている前記の方法。
10. １０．走査線に沿っての種々の画素場所における光学系に対するシェージング補 正値を与える方法であって、 第１及び第２の直交補正関数を用いて走査線に沿っての各画素場所と関連した補 正関数を確立する段階、 前記の第１直交補正関数に対する補正データを第１記憶装置に記憶する段階、前 記の第２直交補正関数に対する補正データを第２記憶装置に記憶する段階、前記 の走査線に沿っての画素場所を用いて前記の第１記憶装置における記憶場所をア ドレスする段階、 画素場所と関連した線計数を用いて前記の第２記憶装置における記憶場所をアド レスする段階、 各記憶装置から得られた補正係数を組み合わせて補正されている現在の画素に対 する補正値を得る段階、 によって特徴づけられている前記の方法。
11. １１．前記の第１記憶装置に対するアドレスが補正されている画素の走査線にお けるＸ座標である、請求項１０の方法。
12. １２．前記の第２記憶装置に対するアドレスが、補正されている画素を含む走査 線の線計数であるＹ座標である、請求項１０の方法。
13. １３．基準全白色画像に対する画像信号レベルが走査線に沿っての種々の場所に おいて異なっている画像走査器に対するシェージング補正を与えるための方法で あって、 多ビット補正データを一対の直交記憶装置に記憶して、各直交値の内容が、それ ぞれ各直交記憶装置に収容された一次元補正関数から生じる各画素素子において 前記の画像信号レベルの減衰度を特定するようにする段階、補正されている画素 素子の特定の座標に基づいて各記憶装置をアドレスして各直交記憶装置から一次 元補正値を得る段階、及び多ビット補正値を組み合わせて各画素値に対するその 特定座標における補正係数を与える段階、 によって特徴づけられている前記の方法。