JPS6135751B2 - - Google Patents

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JPS6135751B2
JPS6135751B2 JP53085516A JP8551678A JPS6135751B2 JP S6135751 B2 JPS6135751 B2 JP S6135751B2 JP 53085516 A JP53085516 A JP 53085516A JP 8551678 A JP8551678 A JP 8551678A JP S6135751 B2 JPS6135751 B2 JP S6135751B2
Authority
JP
Japan
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memory
signal
sensitivity
correction
output
Prior art date
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Expired
Application number
JP53085516A
Other languages
English (en)
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JPS5511683A (en
Inventor
Joji Tajima
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP8551678A priority Critical patent/JPS5511683A/ja
Publication of JPS5511683A publication Critical patent/JPS5511683A/ja
Publication of JPS6135751B2 publication Critical patent/JPS6135751B2/ja
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  • Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、MOS又はCCDなどの一次元又は二
次元に素子が配列されており各画素を個別の素子
で受光し、電気信号に変換するシリコンタイプイ
メージセンサの各素子毎の感度などの不均一性を
デイジタル的に補正する装置に関するものであ
る。
従来画像の撮像には電子管タイプのものがひろ
く利用されているが、近年、半導体技術の進歩に
伴ない固体のイメージセンサが耐久性、及び集積
度などの利点によつて実用段階に入つている。し
かし、これらのイメージセンサの特徴として一次
元又は二次元に配列された各素子が各画素を構成
し、その各素子が製造工程により必ずしも均一に
製造されないため暗電流及び感度に不均一性が現
われる欠点がある。一例として第1図に35素子の
一次元センサの出力信号例を示す。V0(t)は
各素子tに関する暗時出力であり、V1(t)は
同じく明時出力である。これは、各素子毎に、暗
電流及び明電流がまちまちであることを示す。第
2図に例としてt1,t2,t3の3素子の入射光量I
と出力電圧Vの関係を示す。即ち、シリコンタイ
プのイメージセンサに於いては、IとVの関係は
線型ではあるがI=o(入射光なし)の場合の出
力V0(t)、及び感度を示す傾きが各素子毎に異
なつている。このような出力信号をA/D変換器
を用いて例えば8ビツトのデイジタル信号に変換
し、信号処理を行う場合、可能なだけの情報を信
号から得るためには第3図に示すような構成をと
る必要がある。即ち、イメージセンサ2からの出
力信号は増巾器3、A/D変換器4を介し、デイ
ジタル化されたのち、センサ補正装置1により補
正され、信号処理装置5で利用される。6は駆動
回路である。このセンサ補正装置の最も一般的な
構成は第4図に示すようなものである。ここでセ
ンサは例として2048素子CCDとする。センサ補
正装置1はメモリ装置12から成る。メモリ装置
12は2048個の補正テーブルの集まりと考えるこ
とができる。即ち、各センサ素子について、1つ
の補正テーブルが対応する。補正テーブルには
A/D変換器4からのデイジタル信号(8ビツト
の値)に対する真のレベル値(8ビツト)が記憶
されており、デイジタル信号がアドレス母線10
1に加えられることにより真の値が出力される。
各センサ素子は互いに異なる感度を持つている
可能性があるため、上記の補正テーブルは2048個
必要であり、各補正テーブルは現在アドレス母線
101に入力されている信号の元となつたセンサ
素子のアドレスを駆動回路6が与えることにより
選択される。補正テーブルが2048個あるため、補
正テーブル選択のためのアドレス母線102は11
ビツト必要である。補正結果は共通の出力線10
3上に出力され、信号処理装置5に送られる。
以上の構成のセンサ補正装置の場合、各補正テ
ーブルは入力の8ビツトに対応して256バイトの
容量を持ち、これが2048個必要なため、全体とし
て512kバイトのメモリ装置12が必要となる。
このように各々の素子の各々の値に対する補正値
をメモリ装置12に持てば完全に信号を補正する
ことができる。しかしこのためには、2048素子の
イメージセンサの信号の補正のために4メガビツ
トの大容量のメモリ装置を必要とし、装置の価格
が異常に高くなる。
本発明の目的は補正精度を保つたままこのメモ
リ装置の容量を削減し安価なセンサ補正装置を提
供することにある。
本発明はイメージセンサの各素子の暗信号レベ
ルを記憶する暗信号メモリとセンサ出力をA/D
変換した出力から前記暗信号メモリの出力を減算
する減算回路と、各素子の感度を記憶する感度メ
モリと、前記感度メモリの出力及び前記減算回路
の出力によりアドレスされる補正メモリとから構
成されセンサ補正を実行するものである。
以下に本発明の動作を第5図の実施例を参照し
て説明する。例としては前述と同様2048素子の
CCDの場合を考える。また理解を容易にするた
めにこのCCDは各素子の暗時出力が帯域の5%
以下の値の不均一性を持ち、感度も同じく5%以
下の不均一性を持つとする。言いかえるとA/D
変換の出力は0〜255の値をとるが、25の5%は
12.75であるため、各素子の暗時出力V0(t)は
例えば0〜13の14通りの値しかとらない。このと
き飽和光量を与えた場合にも、各素子の、暗時出
力を含めた出力値が255を越えないようにするに
は、高々242(=255−13)を光量に比例する出力
の最大値となるようにする。各素子の、飽和光量
に対する比例部分の出力値 V2(t)=V1(t)−V0(t) …(1) は、やはり高々5%以内の不均一性を持つので、
229〜242の14通りの値しかとらない。暗信号メモ
リ13は、各素子tに対するV0(t)を記憶し
ており、感度メモリ15は第(2)式により与えられ
る、各素子tに対するV2′(t)は0〜13の値を
とる。これは各素子の感度の識別番号と考えるこ
とができる。そして、同じV2′(t)を持つ素子
はすべて同じ感度を持つので、感度は2048の全素
子に亘つて14通りのみ存在する。
V2′(t)=V2(t)−229 …(2) 減算回路14により、A/D変換器の出力線1
01のデータから暗信号メモリ13の出力データ
を減算し、出力は信号線140に出力される。暗
信号メモリ13のアドレスはCCDのスキヤンに
従つてアドレス母線102によりスキヤンされ
る。この結果暗電流の不均一性の補正が行われ
た。感度メモリ15は同様にアドレス母線102
によりアクセスされ各素子の感度に対応して予め
測定され、格納されている感度の識別番号
V2′(t)が信号線150に出力される。感度は
14通りしかないので信号線150は4ビツト巾で
よい。補正メモリ16は、信号線140及び15
0の12ビツトの信号線をアドレス母線とするメモ
リであり、感度の識別番号の数だけの補正テーブ
ルから成ると考えられる。各補正テーブルは、信
号線140上の暗電流補正の行われた結果に対し
真の値を出力する256バイトのメモリであり、使
用される補正テーブルは4ビツトの感度の識別番
号V2′(t)により選択される。補正結果はデー
タ信号線103に出力される。この結果出力信号
は第4図の構成の場合とほとんど同様の精度の補
正結果となる。このとき使用されたメモリの容量
は暗信号メモリ13に2048×4ビツト、感度メモ
リ15に同じく2048×4ビツト、補正メモリ16
に16×256×8ビツト、総計48キロビツトであ
り、第4図の構成に比較して約85分の1になつて
おり、大幅な削減効果が得られ、装置の価格を低
下させることができる。この場合減算回路が使用
されているが、減算回路の遅延時間はメモリアク
セスに比較して長いとは言えないので、時間特性
の劣化を伴なうこともない。また補正メモリ16
の容量は上記では感度メモリ15の出力4ビツト
のすべての16個の補正テーブルを持つように計算
しているが、実際には上例では0〜13の14の値し
か持たないので14×256×8ビツトでよく更に削
減することができる。
以上の実施例では暗信号の各素子毎の不均一性
を補正するために暗信号メモリと減算回路を構成
に含んでいるが、今後CCDなどの製造技術及び
駆動技術の進歩により暗信号の不均一性は無視で
きる程小さくなる可能性があり、その場合には上
記暗信号メモリ、減算回路を構成に含まずにセン
サ補正装置を構成することができる。その結果、
上の例の場合には更に8キロビツトのメモリの削
減が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は本発明により補正の対象と
なるイメージセンサの入射光量と出力信号の説明
図、第3図は本発明のイメージセンサ系における
位置づけの説明図、第4図は一般的なセンサ補正
位置の説明図、第5図は本発明の実施例である。 なお図において、1は本発明のセンサ補正装
置、2はイメージセンサ、3は増幅器、4はA/
D変換器、5は信号処理装置、6は駆動回路、1
3は暗信号メモリ、14は減算回路、15は感度
メモリ、16は補正メモリである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数の素子から成るイメージセンサの各素子
    の感度をあらかじめ記憶する感度メモリと、前記
    イメージセンサ出力信号をA/D変換した出力信
    号および前記イメージセンサの各素子に対応して
    読み出される前記感度メモリ出力信号の両方によ
    りアドレスされた補正された信号を出力する補正
    メモリとから構成されセンサ補正を実行するセン
    サ補正装置。 2 複数の素子からなるイメージセンサの各素子
    の暗信号レベルをあらかじめ記憶する暗信号メモ
    リと、前記イメージセンサ出力信号をA/D変換
    した出力信号から前記イメージセンサの各素子に
    対応して読み出される前記暗信号メモリの出力信
    号を減算する減算回路と、各素子の感度をあらか
    じめ記憶する感度メモリと、前記感度メモリの出
    力信号および前記減算回路の出力信号の両方によ
    りアドレスされ補正された信号を出力する補正メ
    モリとから構成されセンサ補正を実行するセンサ
    補正装置。
JP8551678A 1978-07-12 1978-07-12 Sensor correction device Granted JPS5511683A (en)

Priority Applications (1)

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JP8551678A JPS5511683A (en) 1978-07-12 1978-07-12 Sensor correction device

Applications Claiming Priority (1)

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JP8551678A JPS5511683A (en) 1978-07-12 1978-07-12 Sensor correction device

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JPS5511683A JPS5511683A (en) 1980-01-26
JPS6135751B2 true JPS6135751B2 (ja) 1986-08-14

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JP8551678A Granted JPS5511683A (en) 1978-07-12 1978-07-12 Sensor correction device

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JPS4979733A (ja) * 1972-11-13 1974-08-01

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