JPH04503879A - 伝達特性がわかっていないプロセス制御システム、特に抵抗点溶接用プロセス制御システムについて自動的にパラメータを確定する方法、及びその方法を実施するための装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 伝達特性がわかっていないプロセス制御システム、特に抵抗点溶接用プロセス制 御システムについて自動的にパラメータを確定する方法、及び本発明は、請求の 範囲第１項の前文に記載されている方法並びに請求の範囲第５項の前文に記載さ れているその方法を実施するための装置に関する。

抵抗溶接連結部の品質を保証するためのプロセス制御システムにおいて、本来関 心をもつべき大きさであるレンズの直径は溶接プロセスの間には監視できないの で、代用の大きさを誘導関数として利用することは知られている（刊行物「ｓｃ ｈｗｅｉＢｅｎ　ｕｎｄ　５ｃｈｎｅｉｄｅｎＪ第３２巻（１９８０年）第１２ 号、４９１〜４９５ページ）。

さらに、点溶接のときのプロセス制御方法も知られている（ドイツ公開特許公報 第３７１１１７１号）が、この場合には、溶接プロセスに関してあらかじめ与え られる機械的プロセス量及び／又は電気的プロセス量を溶接中に監視し、溶接過 程の中におけるプロセス値のそれぞれの変化を複数の調整量を介して調整する、 　ことができる。制御に際しては溶接ｆｒ４域を複数の領域に分割し、それらの 領域のそれぞれに１つの評価方式を対応させる。現実の構成要素について様々な 材質及び大きさの曲線の変化を検出し、記憶する。

プロセスについて、制御システムの誘導量及び他のパラメータを確定させる数学 的−物理的モデル概念を形成することが不可能であるか又は表示されていないな らば、多くの場合、 −目標関数を達成するために制御パラメータを最適化し、プロセスに対する妨害 影響を適切なｊ置により阻止するか又は−たとえば、測定及び妨害量の除去によ り補償するプロセス制御、あるいは−目標関数をごく不十分にしか表さず、その ため、妨害や誤ったプロセスの経過を限られた状態でしか調整できないプロセス 制御という代替方式はさらに襞っている。

本発明の基礎を成す課題は、プロセスの入力の大きさと出力の大きさとの関数上 の関連が、少なくとも部分的にわかりていない特殊な技術的プロセスの制御を、 出力の大きさの特性（目標関数）の所定の限界を維持しつつ申し分なく保証する ｗＭＩこ述べた種類の方法並びにそれを実施するための装置を提供することであ る。

本発明によれば、この課題は、請求の範囲第１項又は第５項の特徴部分から明ら かである特徴により解決される。

本発明の有利な発展形態はその他の請求の範囲から明らかである。

プロセスの入力の大きさと出力の大きさとの関数上の関係が少なくとも部分的に わかっていないプロセスの特徴は、 −プロセスに可変の、すなわち、外部から変化させることのできる入力量が導入 され、その値によってプロセスが影響を受けることと、−発生とプロセスへの影 響をあらかじめ抑えることのできない妨害量がプロセスに作用することと、 −　プロセスの結果が、あらかじめ規定された所定の特性を育していなければな らない１つ又は複数の出力量であることである。

多くの場合、目ｍ５ｉｌ数は直接には測定できない大きさであるので、−「従来 の」制御回路の枠内では−　それをプロセスの入力側にフィードバックすること は不可能である。一方、目標関数と、必ずしも出力量でな（とも良い測定可能な 物理量との間には明確な相関が成立しないことが多いので、プロセス制御のため に、プロセスの状態又はプロセスの経過を十分に厳密に表示することを可能にす る１つ又は複数の誘導量を規定しなければならないという点に問題がある。

本発明の出発点を成すのは、１つ又は複数の調整量と、複数の誘導量を有するプ ロセス制御システムの構成である。誘導量は測定可能なプロセス量から導き出さ れる。この導出は、特徴抽出という意味での測定信号の情報内容を減少させるこ とを目的としている。

制御は調整量ごとに総合制御規則に従って実行される。

測定量と、そこから導き出され、計算規則として提示される量（誘導ＩＩ）とは 総合化されず、その都度のプロセスの種類にそれらを適合させなければならない 。さらに、プロセスは原則的には再現可能であるか又は周期的に進行し、時間の 経過につれて連Ｈにはならないものと仮定する。

換算係数はシステムの感度に対応し、それぞれのプロセスに適合されなければな らない。システムが様々に興なる誘導量に関して異なる感度をもって応答するな らば、誘導量ごとに１つの換算係数を導入することもできる。

本発明による方法の場合、誘導量の目標値と正規化重みづけ係数を確定するので 、それらを利用して制御を直接実行することができるのである。

正しい時点で測定すべきプロセスデータ（信号関数）を検出して、記憶する。

そこで、誘導関数を計算するのであるが、誘導関数の時間に伴った変化の経過は プロセスの経過を表わすことになる。それらの誘導関数は、信号関数を複数の測 定量の結びつきを考慮に入れながら処理することによって得られる（たとえば、 誘導関数「電気抵抗」＝信号関数「電圧」と「電流」との商）。個々の誘導関数 に関わる計算規則はプロセスの種類ごとに異なり、制御システムのユーザーによ ってあらかじめ定められる。ユーザーは任意の数の誘導関数を規定することがで きる。その場合、始めから目標関数との関係が期待されないような誘導関数を選 択することも可能である。

制御回路が開成しているとき（プロセス制御）又は閉成しているときにも起こる 可能性があり且つ信号関数が既に記録されているいくつかのプロトコル化プロセ ス経過から、誘導関数を形成し、それを統計学的に解析評価することができる。

この場合、誘導関数は、目標関数の所定の限界を維持することに関連して、プロ セスの結果に従ってカテゴリーごとに分類される。

解析の枠内で、個々の誘導関数ごとに、平均値関数と、誤り関数とを計算する。

誤り関数は、様々な試験に関する誘導関数の再現性を表わすもので、それらの試 験の結果も同様に分類される。解析の結果として、制御のために、−個々の誘導 量の目標値として制御装置に直接供給される第１のカテゴリーの平均値曲線 −第２のカテゴリーの平均値曲線の標準偏差−同様に分類される第３のカテゴリ ーの平均値曲線。

平均値曲線と、その帯域幅（標準偏差）とから個々の誘導量の重みづけ関数を計 算する。

重みづけ関数を＋１から−１までの値に正規化する。正規化の後、値ｒＯＪは一 期待すべきプロセスの結果に関して重大ではない特性関数の位置を表し、値＋１ 及び−１は最も重要性（＝誘導量と目標関数との相関性）の高い位置を明確にす る。

重みづけ関数の個々の値に付（符号は制御偏差が検出される場合に調整量が変化 してゆく方向を決定する。

本発明は、特に、上記のような周辺条件をもつプロセス制御システムを調整する 場合に、目標値関数や重みづげ関数などの制御パラメータを自動的に確定させる 補助手段が本発明によって与えられ、広範囲にわたり適用可能であるために、ユ ーザーの側で、様々に異なる技術的プロセスへの個別の適合を可能にするべく大 きなフレキシビリティを保てるという点で有利であることがわかる。

本発明による！ＩＩのセンサは、適用される場面に応じて、光学的な量、１！気 的な量１機械的な置又は濃度、密度などの物質に関わる量を光学的、化学的及び ／又は電気的に受け取る装置から形成できる。

誘導量についてはプロセス時間全体を通じてごくわずかな重みづけ係数を確定す ることができるのであるが、こあ誘導量はプロセスの制御には適していない。

従って、誘導量をより分けなければならない。そのような選択の限界をどこに設 定すべきかは、別に適切な誘導量が存在するか否か又は所定のプロセス段階にあ って制御を放棄可能であるか否かによってわかる。

制御装置の総合化制御規則、すなわち制御式に特性関数の実際の値を現在値とし て、また、平均関数を目標値として導入することは重要である。値の差をめると 、各誘導量の制御偏差が得られる。誘導量はプロセスの経過と時間的に対応させ た場合にも互いに比較してみる２様々な重要性を持つことができるので、制御偏 差を付随する貫みづけ係数　−重みづけ関数の値−と乗算する。重みつき制ｍ偏 差を加算すると総偏差が得られ、これを同様にプロセス待育の換算係数を利用し て設定量の大きさ順序に配列する。

次に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。図面中：図１は、制御パラメー タを自動的に確定するための本発明による装置の一実施形態のブロック線図。

図２は、本発明に従ってｌｌ１１ｍパラメータを自動的に確定するための制御装 置及び調整装置を含む溶接装置のブロック線図。

図３は、溶接棒の両端のオーム抵抗の典型的な変化の経過を示す図、図４は、点 溶接用タングにおける溶接棒の動きの速度変化の経過を示す図。

図５は、抵抗変化に沿った３つの品質：良品質点、粘着点、はね点の分散領域を 採用した誘導量として示す図。

図６は、速度変化に沿った３つの品質：良品質点、粘着点、はね点の分散領域を 採用した誘導量として示す図である。

図１のブロック線図が明示するように、伝達行動がわからないプロセスシステム の制御に際してぐラメータを自動的に確定するためには、３つのセンサ１により 様、々に異なる測定量を検出し、それをアナログ／デジタル変換器２に供給し、 そこで、第１のコンピュータ３に対し、検出した信号を読み取り可能な信号関数 に変換する。第１のコンビエータ３では、測定信号から誘導関数を形成し、品質 管理Ｈｒ１５に結合する分類器６にそれを供給する。第１のコンピュータ３では 、誘導関数の計算規則を融通性をもって変更できるようになっている。これによ り、１つには任意のプロセスを試験することが可能になり、さらには、誘導関数 のきわめて様々な変形を明示できる形で検査することが可能になる。Ａ／Ｄ変換 器により変換された信号を記憶すれば、全（同一のプロセスを様々な誘導関数に よってシミユレートできる。

品質偏差の場合には、生産プロセスの成果を検査する。この成果をカテゴリー別 に分類する（たとえば、エネルギー使用が少なすぎる、正規のエネルギー使用、 エネルギー使用が多すぎる）。それらのカテゴリーに基づいて誘導関数を分類す る。

分類器６は誘導関数を品質に従って順序づけた上で記憶装置７へ転送するが、記 憶装置の数（この実施例では３つ）は不可欠な品質の類別段階によって興なる第 ２のコンピュータ８は記憶装置７の出力端子にそれぞれ接続しており、各記憶装 ＠７のデータから平均値と、標準偏差とを形成し、さらに続いて、以下に記載す る方法に従って誘導関数を形成する。

第２の記憶装置１８は出力側で制御装置１４の入力端子と接続しており、この制 御装置は総合制御式に従ってプロセスを制御し、第１のコンピュータ３から入力 量として誘導関数を受信すると共に、第２のコンピュータ８からは個々の誘導関 数の目標値関数及び重みづけ関数を入力側で受信する。

制御装ｒＩ１４の次には変換器θが接続しており、この変換器により制御結果を 変換器９に後続する個々の調整部材に対応する信号（たとえば、確定電圧値）に 変換する。

調整部材１０は、制御結果に応じて、プロセスの目標値を達成することができ〉 るようにプロセスに作用を与える。

図２のブロック線図は、点溶接プロセスを例にとって、本発明による方法、すな わち、その方法を実施するための装置の構成を明示している。

この場合、センサとして、溶接棒電圧の電圧タップと、溶接電流を測定するため の、付属変換器を含むトロイドと、溶接棒の動きを確定するための速度感知器と が不可欠である。

第１のコンピュータ３では、それらから、溶接棒の両端のオーム抵抗と、溶接棒 の速度とを誘導関数として計算する。

品質管理装置５における品質検査は溶接点の離れによって行われる。耐久性と溶 接中にはねに至ったか否かによって、図５及び図６に関連して示すように、品質 に応じた分類を引き出す。

誘導関数は分類器６により品質に従って順序づけされて記憶される。最も単純な 場合には、順次常に所定の結果品質が達成され、続いて記憶されるような試験を 実行する。

記憶装［７は、たとえば、データディスク又は電子記憶媒体から形成されている 。

第２のコンピュータ８では、それぞれの記憶セルのデータから、以下に記載する 方法に従って、平均値と、標準偏差と、それに続いて誘導関数及び付随する重み づけ関数とを確定し、さらに、良好な溶接の平均値から抵抗変化及び速度変化に 関わる目標設定条件を確定する。

この場合、制御装置４は、制御式を計算し且つ溶接変圧ＨＩ■の位相進み制御の ための電流調整の位相進み角度に関わるデジタル設定値を出力するコンビエータ から構成されている。

ＩＲ寮部材１０はＩｓ接接圧圧器１１位相進み制御装置である。

図３及び図４には、溶接棒のオーム抵抗の典型的な変化の経過と、点溶接用タン グにおける溶接棒の動きの速度の変化の経過を示す。

抵抗点溶接のためのプロセス制御システムに関しては、溶接点の両端の材料のオ ーム抵抗の変化と、材料の熱膨張が原因となって起こる溶接棒の揺動速度は誘導 量として原則的には適しているものと仮定する。ただし、下記の実施例は単なる 実例であり、そこで挙げる結果は点溶接プロセスの現實の制御には適していない 。

選択した例では、溶接時間は１６０ｍ５になる。溶接は５０Ｈｚの交流によって 行われる。図３は、典型的な抵抗の変化の経過を示す（Ｉｏｎｓごとの平均抵抗 値＝溶接時間に従属する電流半波）、図４は、溶接時間にわたる溶接棒の速度の 典型的な変化の経過を示す（この場合も、１０■Ｓごとの平均値＝電流半波）、 そこで、測定システム又は計算システムにより、多数回にわたる溶接についてこ のような誘導量をめる。それに続いて、全ての溶接点の品質検査を実施する。こ のとき、点の評価（目標関数の確定）の基準には次の２つがある：１、第１の分 類： ａ）溶接点が十分な強さを育していなければ、不良品質（粘着点）ｂ）溶接点が 十分な強さを有していれば、良品質（良品質点）２、第２の分類 ａ）溶接点が十分な強さを有しておらず、溶接用レンズに導入されたエネルギー が少なすぎた（粘着点） ｂ）溶接点は十分な強さを有するが、溶接用レンズに導入されたエネルギーが多 すぎたため、はねが出来た（はね点）Ｃ）溶接点は十分な強さを有する。はねは 出来なかった（良品質点）。

他のプロセスにおいても、目標関数のこれに匹敵する区別は考えられる。これら ２つの目標関数の類別に対し、前記の方法を適用することができる。

類別を行った後、１つの品質（粘着点、良品質点又ははね点）の全ての誘導量か ら、半波ごとに、平均値と、それに付随する標準偏差とを計算する。

ｊ　−電流半波 ｓｒ　−１つの品質の抵抗変化値の標準偏差ｊ　−電流中波 ｊ　−電流半波 ｓｖ　−１つの品質の速度変化値の標準偏差ｊ　−電流半波 計算した値に基づいて、品質ごとに、時間の経過に伴う抵抗変化と、速度変化（ すなわち、推定誘導量）の平均値曲線及び分散面（この領域の中に含まれる全て の点は平均値十標準偏差と、平均値−標準偏差である）を記録する（図５及び図 ６）。個々の品質についての抵抗変化の分散面が明確に識別されるならば、目標 関数に関わる高い重要性が存在することは明らかである。そうでない場合二分散 面が部分的に又は全体にわたって重なり合っている場合には、この重要性はより 低いか又は全くゼロである。それぞれの時間区域ごとに個々の品質の分散面は互 いに興なる間隔を有しているので、プロセス時間の経過に伴うで重要性は変化す る。同様に、粘着点と良品質点との離れ具合、あるいは良品質点とはね点との離 れ具合も様々に異なっている。従って、選択した誘導量（この例では抵抗変化） によっては、はね点が良品質点とほとんど違わないことや、それに反して、粘着 点は良品質点と非常に大きく違うというようなことも起こりうる。速度変化（す なわち、その他の可能な全ての誘導量）について同様のことが当てはまる。

重みづけ係数は、分散帯域の中に入っている量の関数として計算される。３つの 品質を区別するときには、腫みづけ係数の値と共に、それらがプロセス時間の経 過と共に符号をどのように変えるかをも確定する。ユーザーは符号を自由に選択 できる唯一つのプロセス時間についてのみならず、物理的なデータにも基づいて 決定しなければならない。この場合、３つの品質に設定量の３つの方向も対応す るように品質の類骨を行うと有利である。制御Ｉ！ｉ置４は、たとえば、エネル ギーの導入、従って、エネルギー導入が多すぎるとき、少なすぎるとき及び正し いときを区別する。品質を２つしか類別しない場合には、符号の自動確定は不可 能である。

重みづけ係数は次のような基本的規則に従って計算される：ｄｉ（ｔ）は、品質 ａ（粘着点）と、品質Ｃ（良品質点）の選択した１つの誘導量Ｆｉ　（ｔ）（こ の例ではＲＪ及びｖＪｓ図５及び図６を参照）の平均値間の間隔であり、ｄａ（ ｔ）は、対応する品質Ｃ（良品質点）と、品質ｂ（はね点）との間隔である（ｄ 　ｉＲ（ｔ）＝Ｒａ　（ｔ）−Ｒｅ　（ｔ）　、ｖについても同様）。

ｄ、とｄ２の符号が興なる、すなわち、２つの負の分散帯域（粘着点及びはね点 ）が正の分散帯域（良品質点）に関して一方の側に位置しているならば、重み− づけ係数Ｗ（ｔ）は、２つの他の分散帯域が否定的な制御結果をもたらすであろ う品質に対応している場合について、値０を有する。

ｄ、及びｄ２が符号を変えると、重みづけ係数も符号を変える。この実施例にお いては、符号は： Ｗｒ　（ｔ）／ＩＷｒ　（ｔ）ｌ＝ｄｒ＋（ｔ）／Ｉｄｒ＋（ｔ）ｌ＝ｄｒ＊（ ｔ）／１ｄｒｔ（ｔ）Ｉ　及びＷｖ　（ｔ）／ｌＷｖ　（ｔ）Ｉ＝−ｄｖ＋（ｔ ）／Ｉｄｖ＋（ｔ）ｌ＝−ｄｖｚ（ｔ）／Ｉｄｖｔ（ｔ）ｌ　；ｄ、Ｗ＜＞０ に従って計算される。

他の全ての場合について評価方式を作成する。まず、誘導量ごとに２つの評価数 Ｑを計算する（図５及び図６を参照）。

続いて、評価数ごとに次のように考慮する：ｄ＋（ｔ）、ｄｔ（ｔ）＝Ｏ＝＝＞ 　１Ｗｉ（ｔ）ｌ＝ｏ。

単純な比例計算の後、重みづけ係数について次のことがわかる：ｌＷｉ　（ｔ） 　ｌ　＝１／　（Ｇｏ−Ｇｕ）ｘＱ　Ｄ）−Ｇｕ／　（Ｇｏ−Ｇｕ）。

Ｇｕ＜＝Ｑ　（ｔ）＜−Ｇ。

１Ｗｉ（ｔ）ｌ”１．　０＞Ｇ。

ｌＷｉ　（ｔ）ｌ　＝０．　Ｑ＜Ｇｕ Ｑａｃ及びＱｂｃ　を採用すると、様々な重みづけ係数が得られる。双方の品質 区別が同じようにわずかであるならば、小さ〜）はうの重みづけ係数を使用しな ければならない。そうでない場合には、より重要な区別に関して計算した重みづ け係数を使用することになる。

この実施例では、粘着点を回避することははね点を回避することより重要である 。従って、ここでは、粘着点−良品質点の区別から計算した重みづけ係数を使用 する。

特定の制ｍ装置においては、限界Ｇｕ及びＧｏ　をシフトすることが考えられる 。また、線形従属性に代えて指数従属性を利用することも有意義であるといえる 。これは、非線形性が強く、単純な方法では統制しきれない制御過程において不 可欠になるであろう。

符号の説明 １　センサ ２　Ａ／Ｄ変換器 ３　第１のコンピュータ ４　制御装置 ５　品質管理装置 ６　分類器 ７　記憶装置 ８　第２のコンピュータ ９　変換器 １０　調整部材 １１　溶接変圧器 を 手続補正書く方式） ％式％ １、事件の表示 ２、発明の名称 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 ４、代理人 国際調査報告 、ＰＣＴ／ＤＥ９０１００８０３ 国際調査報告

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. １．伝達行動がわかっておらず、プロセス量（測定量）を自動的に測定し、プロ トコル化して、プロセス制御の少なくとも１つの設定量及び少なくとも１つの誘 導量のために使用するようなプロセス制御システムについてパラメータを自動的 に確定する方法において、検出した測定量を記憶し、信号関数にアナログ／デジ タル変換し、プロセスの種類に従って与えられる、プロセスの時間に伴う経過を 表すための計算規則によってその信号関数を誘導関数に変換し、その誘導関数を 一方では設定量ごとに与えられる総合化制御規則と共に現在値として制御装置に 入力させ、他方ではプロセスシステムの出力量の所定の限界（目標関数）を維持 することに関連して複数のカテゴリーに従って分類し且つそれらを記憶し、さら には、分類した誘導関数についてプロセス時間全体にわたる平均値と、標準偏差 とを形成し、分類整理した１つのカテゴリーの平均値を目標値として制御装置に 直接入力させると共に、全てのカテゴリーの平均値及び標準偏差を重みづけ係数 を発見するためのコンピュータに入力させ、この重みづけ係数を標準偏差に現れ ている量の関数として求め、その後、自由に選択できる唯一つのプロセス時間に おける重みづけ係数の符号を確定することを経て重みづけ係数をコンピュータか ら制御装置に直接供給すると共に、調整量ごとの総合化制御規則に導入し、制御 装置の出力をプロセスに取り込むことのできる個々の調整量に変換することを特 徴とする方法。
2. ２．調整量ごとの制御は： ｄｓ−２つの制御動作の間の調整量の変化Ｕ−その都度の課題によって決まる換 算係数Ｆ−誘導関数（誘導量） Ｗ−正規化重みづけ係数 ｔ−プロセス時間（プロセス段階），連続又は不連続ｉ−ｉ番目の誘導量の指標 ｎ−誘導量の数 ｓｏｌｌ−予定値 ｉｓｔ−実際に測定された値又は測定から確定された値とするとき、▲数式、化 学式、表等があります▼ という総合化制御規則に従って実行されることを特徴とする請求項１記載の方法 。
3. ３．プロセス制御システムを抵抗点溶接に使用する場合の請求項１記載の方法に おいて、溶接点の両端の材料のオーム抵抗の変化と、材料の熱膨張が原因となっ て起こる溶接棒の旋回速度とを誘導関数として選択し、多数回にわたる溶接につ いてそれらの誘導関数を測定システム又は計算システムにより求め、続いて、少 なくとも２つの異なる溶接点評価基準（粘着点，良品質点又は粘着点，はね点， 良品質点）に従って全ての溶接点の品質検査を実行し、その後、１つの品質の全 ての誘導量から平均値及びそれに付随する標準偏差を計算すると共に、品質ごと に、時間の経過に従った平均値曲線と、分散面（その領域内の全ての点は抵抗変 化及び速度変化の平均値＋標準偏差及び平均値−標準偏差である）とを図表とし て記録し、分散帯域内に現れている量の関数として重みづけ係数を計算し、その 際、３つの品質への類別のときには、重みづけ係数の値の他に、プロセス時間の 経過に伴う重みづけ係数の符号の変化を共に確定し、その後、特性関数の実際の 値により形成される現在値と、平均値関数により形成される目標値との差から得 られる誘導量ごとの制御偏差に付随する重みづけ係数を乗算し、重みづけした制 御偏差の和をプロセス特有の換算係数を利用して調整量の大きさ順序に変換し、 それをプロセスに導入することを特徴とする方法。
4. ４．３枚の互いに重なり合う折たたみ自在の透明フィルムの上に座標を重ね合わ せて、採用した誘導量（たとえば、時間の経過に伴う速度）について良品質点又 は粘着点又ははね点という品質の分散領域と、対応する平均値曲線の図示を含む 図表を記入することと、３枚のフィルムを互いに折たたむことにより３つの図表 を重ね合わせ、時間の経過に従って記入された分散面が重ならない場合には、採 用した誘導量の重要性は高いものと記録し、それぞれ２つの重要な分散領域の間 隔ｄを機械的に検出すると共に、３つの品質について、自由に選択できる惟一の 時点の符号を図表から見出し、品質ごとに採用した誘導量に関する重みづけ係数 を確定することを特徴とする請求項３記載の方法。
5. ５．請求項１から４記載の方法を実施するための装置において、プロセスの測定 量を受け取る少なくとも１つのセンサ（１）を具備し、センサは出力側でＡ／Ｄ 変換器（２）と結合し、そのＡ／Ｄ変換器の次には第１のコンピュータ（３）が 接続しており、第１のコンピュータによりＡ／Ｄ変換器から出力された信号関数 を誘導関数に変換し、それらの誘導関数は、一方では、第１のコンピュータ（３ ）の出力端子と結合する制御装置（４）に現在値関数として入力され、また、他 方では、第１のコンピュータ（３）の次に接続し、品質管理装置（５）と結合す る分類器（６）に入力きれ、そこから品質ごとに順序づけきれて、分類器（６） と結合する複数の記憶装置（７）に分類整理することができると共に、記憶装置 に整理されているデータの平均値及び標準偏差を形成するために、記憶装置（７ ）の出力端子と結合し、出力側では制御装置（４）の入力側と結合している第２ のコンピュータ（８）により読み出し可能であり、第２のコンピュータは個々の 誘導関数についての目標値関数及び重みづけ関数を制御装置（４）の入力端子に 供給し、制御装置の総合化制御式に対応する出力は、制御装置（４）の次に接続 する変換器（９）において、変換器（９）の出力端子と結合する調整部材（１０ ）に入力されるべき信号に変換され、調整部材が調整量をプロセスに導入するこ とを特徴とする装置。
6. ６．３つの並列に接続するセンサ（１）と、３つの並列に接続する記憶装置（７ ）と、２つの並列に接続する調整部材（１０）とが設けられていることを特徴と する請求項５記載の装置。
7. ７．溶接機を制御するための請求項１から３記載の方法を実施するための請求項 ５及び６記載の装置において、３つのセンサ（１）は溶接棒の溶接電圧を検出す る溶接電圧計測装置と、溶接電流計測装置と、溶接棒の揺動速度を検出する揺動 計測装置とから形成されていることを特徴とする装置。
8. ８．分類器（６）と結合する品質管理装置（５）はキーボード付きモニターから 形成されていることを特徴とする請求項５記載の装置。