JPH0449000A - 汚泥脱水方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （１）発明の目的 ［産業上の利用分野コ 本発明は、イオン性高分子凝集剤を注入して汚泥を脱水
する汚泥脱水方法に関し、特に、汚泥脱水ケーキのゼー
タ電位を測定した結果に基づきイオン性高分子凝集剤の
注入量を管理してなる汚泥脱水方法に関するものである
。

［従来の技術］ 従来、この種の汚泥脱水方法としては、イオン性高分子
凝集剤を注入した汚泥を脱水機（たとえばベルトプレス
型の脱水機）によって脱水して得られた汚泥脱水ケーキ
の含水率を測定した結果に基づき汚泥に対するイオン性
高分子凝集剤の注入量を管理してなるものが提案されて
いた。

［解決すべき問題点］ しかしながら、従来の汚泥脱水方法では、汚泥脱水ケー
キの含水率をｉ＋＋定する必要があったので、（１）イ
オン性高分子凝集剤の注入量の管理作業が煩雑となる欠
、屯があり、ひいては（１１）イオン性高分子凝集剤の
注入量の管理作業を頻繁と実行できない欠点があり、結
果的に（ｉｉｉ）イオン性高分子凝集剤の注入量が常々
多口に管理されてしまう欠点があり、それ故（ｉｖｌイ
オン性高分子凝集剤の注入量を最適値まで削減できない
欠点があった。

そこで、本発明は、これらの欠、点を除去する目的で、
汚泥脱水ケーキのゼータ電位を測定した結果に基づきイ
オン性高分子凝集剤の注入量を管理してなる汚泥脱水方
法を提供せんとするものである。

（２）発明の構成 ［問題点の解決手段］ 本発明により提供される問題点の解決手段は、［イオン
性高分子凝集剤を注入して汚泥を脱水する汚泥脱水方法
において、 ｆａ）汚泥脱水ケーキのゼータ電位を測定するためのゼ
ータ電位測定工程と、 （ｂ）ゼータ電位測定工程によって測定されたゼータ電
位の測定結果に基づきイオン性高分子凝集剤の注入量を
管理するための注入量管理工程と を備えてなることを特徴とする汚泥脱水方法」 である。

［作用コ 本発明にかかる汚泥脱水方法は、上述の［問題声の解決
手段］に開示したごとく、イオン性高分子凝集剤を注入
して汚泥を脱水する汚泥脱水方法であって、特に、（ａ
ｔ汚泥脱水ケーキのゼータ電位を測定するためのゼータ
電位測定工程と、ｆｂ）ゼータ電位ＩＩＩ定工程によっ
て測定されたゼータ電位の測定結果に基づきイオン性高
分子凝集剤の注入量を管理するための注入量管理工程と
を備久でいるので、 （１）汚泥脱水ケーキの含水率の測定作業をゼータ電位
の測定作業によって置換して簡易化する作用 をなし、ひいては （１１）イオン性高分子凝集剤の注入量の管理精度を改
善する作用 をなし、結果的に （ｉｉｉｌ　イオン性高分子凝集剤の注入量を適正化す
る作用 をなす。

［実施例］ 次に、本発明にかかる汚泥脱水方法について、その好ま
しい実施例を挙げ、添付図面を参昭しつつ、具体的に説
明する。

しかしながら、以下に説明する実施例は、本発明の理解
を容易化ないし促進化するために記載されるものであっ
て、本発明を限定するために記載されるものではない。

換言すれば、以下に説明される実施例において開示され
る各要素は、本発明の精神ならびに技術的範囲に属する
全ての設計変更ならびに均等物置換を含むものである。

ユ孟付−皿二皿」二 第１区は、本発明にかかる汚泥脱水方法の−実絶倒を実
行するための汚泥脱水装置を示すための構成図である。

第２図は、第１図汚泥脱水装置に含まれたゼータ電位測
定装置の一例を示すための構成図であって、汚泥脱水ケ
ーキＭの表面にそって電解質液Ｗが移動されており、電
解質液Ｗの移動速度が圧力損失Ｐを測定することによっ
て求められている場合を示している。

第３図は、第１図汚泥脱水装置に含まれたゼータ電位測
定装置の他側を示すための構成図であって、汚泥脱水ケ
ーキＭの表面にそって電解質液Ｗが移動されており、電
解質液Ｗの移動速度が平均流速υを測定することによっ
て求められている場合を示している。

第４図ｆａ）　［ｂ］は、本発明にかかる汚泥脱水方法
の一具体例を説明するためのグラフであって、それぞれ
、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍと汚泥脱水ケーキ
Ｍの含水率Ｈとの間の関係と、イオン性高分子凝集剤Ｃ
の注入量ｍと汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ことの間の
関係とを示していユｘｌ団し１１朦と まず、本発明にかかる汚泥脱水方法の一実施例について
、第１図ないし第３図に示した汚泥脱水装置の構成を説
明しつつ、その構成を詳細に説明する。ここでは、説明
の都合上、汚泥Ｓは、表面が負に帯電した粒子群からな
るものとするが、これに限定されるものではない。

五り股木１迭 本発明にかかる汚泥脱水方法は、イオン性高分子凝集剤
Ｃを注入して汚泥Ｓを脱水する汚泥脱水方法であって、
汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζを測定するためのゼー
タ電位測定工程と、ゼータ電位測定工程によって測定さ
れたゼータ電位この測定結果に基づきイオン性高分子凝
集剤Ｃの注入量ｍを管理するための注入量管理工程とを
備えている。注入量管理工程は、ゼータ電位この測定結
果が適宜の範囲（たとえば−１０ｍＶ〜＋１０ｍ　Ｖ　
）となるよう実行されることが好ましい。

ここで、汚泥Ｓに対するイオン性高分子凝集剤Ｃの注入
量ｍを汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζに基づいて管理
する根拠は、イオン性高分子凝集剤Ｃを注入し汚泥Ｓ中
の粒子に吸着せしめることにより汚泥Ｓを凝集せしめて
脱水している関係上、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入量
ｍが適正であれば、汚泥Ｓ中の粒子のもつ電荷とイオン
性高分子凝集剤Ｃとが過不足なく反応するので、汚泥脱
水ケーキＭのゼータ電位ζがＯｍＶとなり、脱水特性の
良好なフロックが生成され、ひいては汚泥脱水ケーキＭ
の含水率Ｈが極小となることにある。

換言すれば、汚泥Ｓに対するイオン性高分子凝集剤Ｃの
注入量ｍを汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζに基づいて
管理する根拠は、（ｉｆ　イオン性高分子凝集剤Ｃの注
入量ｍが過剰であれば、イオン性高分子凝集剤Ｃの一部
が汚泥Ｓ中の粒子に過剰に吸着して電位が反転するか、
あるいは汚泥Ｓ中の粒子に吸着されずに残留してしまい
、このため汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位上が正方向に
増大し、汚泥Ｓ中の粒子が互いに反発してフロック形成
能力が低下するので、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入量
ｍに比べて汚泥脱水ケーキＭの含水率Ｈを低減できず、
また（ｉｉｌイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍが過少
であれば、汚泥Ｓ中の粒子の一部がイオン性高分子凝集
剤Ｃと結合されずに残留してしまい、このため汚泥脱水
ケーキＭのゼータ電位ζが負のままとなり、フロック形
成能力が低下するので、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入
量ｍを削減できても汚泥脱水ケーキＭの含水率Ｈを低減
できないことにある。

汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位この測定結果が適宜の範
囲（好ましくは一１０ｍ　Ｖ〜＋ｌＯｍ　Ｖ　）となる
ようイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍが管理される根
拠は、ｆｉｌ　−１０ｍ　Ｖ未満では、汚泥脱水ケーキ
Ｍの含水率Ｈが極度に高くなり、また（ｌｉｌ　＋　１
０ｍ　Ｖ超過では、汚泥脱水ケーキＭの含水率Ｈな低く
できてもイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍが過剰とな
ってしまうことにある。

汚泥脱水装置ｌＯ・・・（第１図） ｌＯは、本発明にかかる汚泥脱水方法を実行するだめの
汚泥脱水装置であって、汚泥Ｓを脱水するための脱水袋
Ｍ」と、脱水装置側で汚泥Ｓを脱水して得られた汚泥脱
水ケーキＭのゼータ電位ζを測定するためのゼータ電位
測定装置±と、脱水装置１００における汚泥Ｓの処理量
（すなわち汚泥流量）Ｑｌとゼータ電位測定装置上によ
って測定されたゼータ電位ことに応じて脱水装置±にお
けるイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍを管理するため
の凝集剤注入管理装置±とを備えている。

脱水装置１００（第１図） 脱水袋」」は、汚泥源（図示せず）から汚泥供給管１１
１人を介して供給された汚泥Ｓを一時的に保持するため
の汚泥貯槽１１２と、汚泥貯槽１１２がら汚泥Ｓを脱水
機１１３に向けて供給する汚泥供給管１１１Ｂに対し配
設されており脱水機１１３に向けて汚？ｌを圧送するた
めの汚泥供給ポンプ１１４とを備えている。汚泥貯槽１
１２には、脱水機１１３に向けて送出される汚泥性状を
均一化できるので、攪拌手段（図示せず）が配設されて
いることが好ましい。脱水１ｎ３は、ベルトプレス型脱
水機などの周知の脱水機を所望に応じて採用すればよい
。

脱水装置」は、また、イオン性高分子凝集剤Ｃを保持す
るための凝集剤貯槽】１５と、凝集剤貯槽１１５からイ
オン性高分子凝集剤Ｃを脱水機！１３に向けて供給する
ための凝集剤供給ｖ１１６に対して配設されており脱水
機１１３に向けてイオン性高分子凝集剤Ｃを圧送するた
めの凝集剤注入ポンプ１１７とを備えている。

ゼータｌ１ｔ（ｆｉ測定装置２００・・その１　（第２
図）ゼータ電位測定製置所は、ゼ〜り電位ζを検出すべ
き汚泥脱水ケーキＭを保持するための汚泥脱水ケーキ保
持装置Ｗと、汚泥脱水ケーキ保持装置塾に保持された汚
泥脱水ケーキＭの表面に隣接した流路にそって電解質液
Ｗを汚泥脱水ケキＭに接触せしめつつ移動せしめる電解
質液供給装置」と、電解質液供給装置２３０による電解
質液Ｗの移動速度（すなわち電解質液Ｗの流速）を測定
（ここでは圧力損失Ｐを測定して間接的に測定）しかつ
汚泥脱水ケーキＭの表面に隣接した流路の離間した２、
６間で生じる流動電位差（すなわち流動電圧）Ｅを測定
しかつ電解質液Ｗの電気伝導度λを測定することにより
後述のごとく汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζを算出す
るための測定装置２４０とを備えている。電解質液Ｗは
、汚泥脱水ケーキＭに影響を与えることのない食塩水な
どの電解ｊＩ液から選択すればよい。

汚泥脱水ケーキ保持袋」」は、−面に汚泥脱水ケーキＭ
を保持するための保持凹部２２１ａ　　が形成された保
持半体２２１と、保持半体２２１に対して汚泥脱水ケー
キＭを固定するように積層されており汚泥脱水ケーキＭ
の表面に隣接して電解質液Ｗの流路を確保するために凹
部（以下゛流路−ともいう）　２２２ａが形成された他
の保持半体２２２と、保持半体２２１の配設溝２２】ｂ
内に配設されており保持半休２２２との間のシールを確
保するためのＯリング２２３と、保持半体２２２の取付
孔２２２ｂに対して固定具２２４ａによって固定されて
おり流路すなわち凹部２２２ａに対し電解質液Ｗを供給
しかつ電極として機能するための金属バイブ２２４と、
保持半体２２２の取付孔２２２Ｃに対して固定具２２５
ａによって固定されており流路すなわち凹部２２２ａか
ら電解質液Ｗを受は取りかつ電極として機能するための
金属バイブ２２５とを包有している。金属バイブ２２４
．２２５は、電解質ｉＷによって腐食されない材料（た
とえば白金など）で形成されていることが好ましい。金
属バイブ２２４．２２５は、流路すなわち凹部２２２ａ
に配設された他の電極によって電極としての８！能を置
換されてもよい。

電解質液供給管Ｍ２３０は、電解質液Ｗを保持するため
の電解質液貯槽２３１と、電解質液貯槽２３１に対して
圧力源２３２から圧力流体（たとえば加圧空気）を供給
するための圧力流体供給管２３３および流量調節バルブ
２３４と、圧力流体供給管２３３に配設されており電解
質液貯槽２３１への圧力流体の供給量を計測するための
流量計２３５と、電解質液貯槽２３１から汚泥脱水ケー
キ保持装置２２０の金属バイブ２２４に向けて電解質液
Ｗを供給するための電解質液供給管２３６と、汚泥脱水
ケーキ保持裂置２２０の金属バイブ２２５から電解質液
Ｗを受は取り適宜の電解質液貯槽２３７に向けて使用済
の電解質液Ｗを排出するための電解質液排出管２３８と
を包有している。流量計２３５は、流量調節バルブ２３
４の開度な確認するために配設されているが、所望によ
っては、これを除去してもよい。

測定装置２４０は、圧力源２３２から電解質液貯槽２３
１に向けて供給される圧力流体の圧力と大気圧との間の
圧力差（すなわち圧力流体供給管２３３を大気に対して
開放したときの圧力損失）Ｐを測定するための圧力セン
サ２４１と、金属バイブ２２４２２５に対しそれぞれ接
続線２４２．２４３を介して接続されており汚泥脱水ケ
ーキＭによって発生された流動電圧Ｅを測定するための
流動電圧計２４４と、電解質液貯槽２３７に対して配設
されており使用済の電解質液Ｗの電気伝導度えを測定す
るための電気伝導度計２４５と、圧力センサ２４１と流
動電圧計２４４と電気伝導度計２４５とに接続されてお
り圧力流体の圧力損失Ｐ、流動電圧Ｅおよび電気伝導度
λと予め測定された電解質液Ｗの粘性係数ηおよびその
媒質の誘電率εとから次式（すなわちヘルムホルツース
モルコウスキの式）に基づきゼータ電位ζを次式のごと
く算出するための演Ｘ装置２４６とを包有している。

ゼータ電位測定装置２００・・その２（第３図）上述し
た第２図の圧力センサ２４１に代＾、汚泥脱水ケーキＭ
にそって移動する電解質液Ｗの平均流速Ｖを測定して演
算装置２４６に与えるための流速計２４１Ａが、電解質
液供給管２３６に対して配設されている。

二のため、測定装置２４０の演算装置２４６は、流速計
２４１人から与えられた電解質液Ｗの平均流速Ｖと流動
電圧計２４４から与えられた流動電圧Ｅおよび電気伝導
度計２４５から与えられた電気伝導度λとに基づき、ゼ
ータ電位ζを ζ＝にえ　Ｅ のごとく算出（ｋは定数）する。

その他の構成および作用は、上述と同一であるので、第
２図に包有された部材と同一の機能をなす部材に対し第
２図と同一の参照符号を付すことにより、それらの説明
を省略する。

凝集剤注入管理装置３００・・　（第１図）凝集剤注入
管理装置３００は、汚泥供給管１１１Ｂに対して配設さ
れており脱水機１１３に向けて供給される汚泥Ｓの流量
（すなわち汚泥流量）Ｑ６を測定するための汚泥流量計
３０１と、ゼータ電位測定装置２００の出力端と汚泥流
量計３０１の出力端とに対して入力端が接続されており
汚泥流量Ｑ、および汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζか
らイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍを算出するための
制御装置３０２とを備えている。

ユ！立輿Ω昨朋工 更に、本発明にかかる汚泥脱水方法の一実施例について
、第１図ないし第３図に示した汚泥脱水装置の作用を説
明しつつ、その作用を詳細に説明する。

工　　　（第１゛ 脱水装置１００では、汚泥供給ポンプ１１４が、汚泥滑
から汚泥供給管１１１Ａを介して汚泥貯槽１１２に与え
られた汚泥Ｓを、汚泥供給管１１１Ｂを介して脱水機１
１３に向けて圧送している。

脱水機１１３は、凝集剤貯槽１１５から凝集剤供給管＋
１６および凝集剤注入ポンプ１１７を介してイオン性高
分子凝集剤Ｃが注入されることにより、汚泥Ｓを脱水処
理して汚泥脱水ケーキＭとしたのち、汚泥排出管１１１
Ｃを介して後続の汚泥処理装置（図示せず）に向けて排
出している。

ゼータ電　測−工　・　その１　第２ ゼータ電位測定装置２００では、脱水装置＋００によっ
て汚泥Ｓを脱水することによって得られた汚泥脱水ケー
キＭのゼータ電位ζが、以下の要頓で測定される。

汚泥脱水ケーキＭは、汚泥排出管１１１Ｃから採取され
たのち、汚泥脱水ケーキ保持装置２２０に収容される。

すなわち、汚泥脱水ケーキＭは、保持半体２２１と他の
保持半体２２２とを互いに分離した状態で保持半体２２
１の保持凹部２２１ａに対して収容され、再び保持半体
２２１に対し他の保持半体２２２を積層して収容される
。汚泥脱水ケーキＭの収容ののち、金属バイブ２２４．
２２５が、それぞれ電解質液供給装置搭の電解質液供給
管２３６および電解質液排出管２３８に対して連通され
る。

電解質液供給装置」は、流量計２３５の表示で圧力流体
の供給量を確認しつつ流量調節バルブ２３４を開放する
ことにより、圧力源２３２から圧力流体供給管２３３．
流量調節バルブ２３４および流量計２３５を介して電解
質液貯槽２３１に向は圧力流体を供給し始める。圧力流
体が供給され始めると、電解質液貯槽２３１は、電解質
液Ｗを電解質液供給管２３６を介して汚泥脱水ケーキ保
持装置２２０の金属バイブ２２４へ供給し始める。汚泥
脱水ケーキ保持装置２２０の金属バイブ２２４に供給さ
れた電解質液Ｗは、汚泥脱水ケーキ保持装置上の内部に
形成された流路２２２ａ内を矢印で示すごとく移動し、
金属バイブ２２５から電解質液排出管２３８に向けて排
出され、最終的に電解質液貯槽２３７に蓄積される。こ
のとき、流量調節バルブ２３４の開度が小さければ、流
量計２３５による測定値が小さく、ひいては汚泥脱水ケ
ーキＭにそって移動される電解質液Ｗの流速（すなわち
移動速度）が小さい、また、流量調節バルブ２３４の開
度が大きければ、流量計２３５による測定値が大きく、
ひいては汚泥股木ケーキＭにそって移動される電解質液
Ｗの流速（すなわち移動速度）が大きい。

測定装置団は、電解質液供給装置履の圧力流体供給管２
３３によって供給される圧力流体の圧力損失Ｐを圧力セ
ンサ２４１によって測定しており、内蔵の増幅器によっ
て適宜に増幅して演算装置２４９に与えられている。ち
なみに、圧力センサ２４１によって測定される圧力損失
Ｐは、圧力源２３２から供給される圧力流体の圧力が一
定に維持されるとき、流量調節バルブ２３４の開度が小
さければ小さく、流量調節バルブ２３４の開度が大きけ
れば大きい、このため、圧力センサ２４１によって測定
される圧力損失Ｐは、汚泥脱水ケーキＭにそって移動さ
れる電解質液Ｗの流速（すなわち移動速度）に対応して
いる。

測定装置虱の流動電圧計２４４は、金属バイブ２２４．
２２５に対しそれぞれ接続線２４２．２４３を介して接
続されており、圧力センサ２４１によって測定される圧
力損失Ｐ（ひいては流量調節バルブ２３４の開度）を変
化せしめて電解質液Ｗの流速（すなわち移動速度）を変
化せしめつつ汚泥脱水ケーキＭの表面に隣接した流路２
２２ａの離間した２点間で生じる流動電圧Ｅを測定して
いる。

測定装置」の電気伝導度計２４５は、汚泥脱水ケーキＭ
の表面に接触している電解質液Ｗの電気伝導度を検知す
る目的で、使用済の電解質液Ｗの電気伝導度えを測定し
ている。

測定装！」の演算装置２４６では、圧力センサ２４１か
ら与太られた圧力撰失Ｐ、流動電圧計２４４から与えら
れた流動電圧Ｅおよび電気伝導度計２４５から与えられ
た電気伝導度＾と予め別途測定され設定された電解質液
Ｗ中の媒質の誘Ｗ準εおよび電解質液Ｗの粘性係数ηと
に基づき、汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζが、 ４πη　　Ｅ ζ＝　　　　　λ− ε　　　Ｐ のごとく算出される。

ゼータ　　　　エ　　　その２３ 第２図の圧力センサ２４１に代え流速計２４１人が配設
されているので、第３図に示した測定装２２４０の演算
装置２４では、流速計２４１Ａが与えられた平均流速υ
、流動電圧計２４４から与えられた流動電圧Ｅおよび電
気伝導度計２４５から与えられた電気伝導度えと予め別
途測定され設定された電解質液Ｗ中の媒質の誘電率εお
よび電解質液Ｗの粘性係数ηとに基づき、汚泥脱水ケー
キＭのゼータ電位ζが、 ζ＝にλ　Ｅ υ のごとく算出される。

゛　　　　Ｔエフ　　（第１゛ 凝集剤注入管埋装」泗は、汚泥流量計３［］１で汚泥供
給管１１１Ｂを介して脱水機［３に向けて供給されてい
る汚泥Ｓの流量（すなわち汚泥流Ｍ）Ｑ、を計渾１して
制御装置３０２に芸大でいる。

制御装置３０２では、ゼータ電位測定装置２００から与
えられた汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζの測定結果が
適宜の範囲（好ましくは一１０ｍ　Ｖ〜＋　１０ｍ　Ｖ
　）内にあるか否かを判断する。

すなわち、制御装置３０２では、汚泥脱水ケーキＭのゼ
ータ電位ζが一１０ｍ　Ｖ未満であれば、イオン性高分
子凝集剤Ｃの注入量ｍを所定量（たとえば００５％ＳＳ
）だけ増加する旨の指令を発生する。

これに対し、汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζが＋１０
ｍＶ超過であれば、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入量ｍ
を所定量（たとえば０６０５％ＳＳ）だけ削減する旨の
指令を発生する。

また、汚泥脱水ケーキＭのゼータ電位ζが一１０ｍＶ〜
＋ｌｏｍ　Ｖであれば、イオン性高分子凝集剤Ｃの注入
量ｍを維持する旨の指令を発生する。

制御装置３０２は、汚泥流量Ｑ１と汚泥脱水ケキＭのゼ
ータ電位ことに応じてイオン性高分子凝集剤Ｃの注入量
ｍを制御するための信号（すなわち注入流量Ｑｐ＝ｍＱ
、ｌを算出して凝集剤注入ポンプ１１７に与える。

凝集剤注入ポンプ１１７は、イオン性高分子凝集剤Ｃの
注入流量Ｑ、に応じて運転され、凝集剤貯槽１１５から
凝集剤供給管１１６を介して脱水機１１３に対し最適量
のイオン性高分子凝集剤Ｃを供給する。

これにより、脱水機１１３は、汚泥Ｓを好適に脱水した
のち、汚泥脱水ケーキＭとして汚泥排出管１１１Ｃを介
し後続の汚泥処理装置に向けて排出する。

ユ且体土工 併せて、本発明にかかる汚泥脱水方法の構成および作用
効果の理解を促進するために、具体的な数値などを挙げ
て説明する。ここでは、説明の都合上、ゼータ電位測定
装置において圧力損失Ｐを測定する場合について説明す
る。

！土烈土二１ 都市下水の消化汚泥（ｐＨ６，５３，５Ｓ３７．１ｇ／
ｊ、ＶＳＳ４３．２％）に対しイオン性高分子凝集剤（
荏原インフィルコ■製のエバグロースＣ１（１４６＋を
注入量ｍで注入して凝集せしめたのち、１５ｋｇｆ／ｃ
ｍ”の圧力をかけて圧搾脱水し平板状に成形することに
よ！−上−去 り、汚泥脱水ケーキを作成した。

汚泥脱水ケーキは、その含水率Ｈおよびゼータ電位こと
イオン性高分子凝集剤の注入ｆｉｍとの間の関係を測定
したところ、第１表および第４図ｉａ）　（ｂ）に示す
とおりであった。

比較盤エニｊ 実施例１〜３で使用した都市下水の消化汚泥に対し同一
のイオン性高分子凝集剤を注入量ｍで注入して凝集せし
めたのち、実施例１〜３と同一の要領で、汚泥脱水ケー
キを作成した。

汚泥脱水ケーキは、その含水率Ｈおよびゼータ電位こと
イオン性高分子凝集剤の注入量ｍとの間の関係を測定し
たところ、第１表および第４区［ａ］　（ｂ）に示すと
おりであった。

１〜３と　　例１〜５との 実施例１〜３と比較例１〜５とを比較すれば明らかなご
とく、本発明によれば、（１）汚泥脱水ケーキのゼータ
電位ζが略ＯｍＶのとき、汚泥脱水ケーキの含水率Ｈを
極小とでき、かつイオン性高分子凝集剤の注入量ｍを十
分に抑制でき、（１１）汚泥脱水ケーキのゼータ電位こ
の測定結果が一１０ｍＶ〜＋１０ｍ　Ｖの範囲にあると
き、汚泥脱水ケーキの含水率Ｈを削減でき、かつイオン
性高分子凝集剤の注入量ｍを抑制できる。

」叉五五と なお上述においては、ゼータ電位測定装置±として、汚
泥脱水ケーキＭの表面に対して電解質液を接触せしめる
ものを利用する場合についてのみ説明したが、本発明は
、これに限定されるものではなく、汚泥脱水ケーキＭに
対して電解質液を透過せしめるものをゼータ電位測定装
置として利用する場合も包摂しでいる。

（３）発明の効果 上述より明らかなように、本発明にかかる汚泥接水方法
は、上述の［問題点の解決手段〕の欄に明示したごとく
、イオン性高分子凝集剤を注入して汚泥を脱水する汚泥
脱水方法であって、特に、ｆａｌ汚泥脱水ケーキのゼー
タ電位を測定するためのゼータ電位測定工程と、（ｂ）
ゼータ電位測定工程によって測定されたゼータ電位の測
定結果に基づきイオン性高分子凝集剤の注入量を管理す
るための注入量管理工程とを備えているので、（１）汚
泥脱水ケーキの含水率の測定作業をゼータ電位の測定作
業によって置換して簡易化できる効果 を有し、ひいては （１１）イオン性高分子凝集剤の注入量の管理精度を改
善できる効果 を有し、結果的に （ｉｉｉ）イオン性高分子凝集剤の注入量を適正化でき
る効果 を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明にかかる汚泥脱水方法の一実施例を実行
するための汚泥脱水装置を示すための構成図、第２図は
第１図汚泥脱水装置に含まれたゼータ電位測定装置の一
例を示すための構成図、第３図は第１図汚泥脱水装置に
含まれたゼータ電位測定装置の他側を示すための構成図
、第４図［ａ］　［ｂ］は本発明にかかる汚泥脱水方法
の一具体例を説明するためのためのグラフである。 １１１Ａ　　ＩＩＩＢ １１Ｃ ＋１２ ＋１３ ２１ａ ２２１ａ”　　・・ ２２１ｂ　　　・ 汚泥脱水装置 ・脱水装置 汚泥供給管 汚泥排出管 汚泥貯槽 脱水機 ・汚泥供給ポンプ ・凝集剤貯槽 凝集剤供給管 凝集剤注入ポンプ ゼータ電位測定装置 汚泥脱水ケーキ保持装置 保持半休 保持凹部 凹部 ・配設溝 ２２２　・・・ ２２ａ ２２２ｂ　　２２２ｃ ２２４ａ　　２２５ａ ２３１　　・ ２３４　・・ ２３６　・ ２４２．２４３　　・ ２４５　・・・・・・ 保持半休 ・・凹部 取付孔 Ｏリング 金属バイブ 固定具 電解質液供給装置 電解質液貯槽 ・圧力源 圧力流体供給管 流量調節バルブ 流量計 電解質液供給管 電解質液貯槽 電解質液排出管 測定装置 圧力センサ 接続線 流動電圧計 ・・電気伝導度計 演算装置 ３００　・・ 凝集剤注入管理装置 汚泥流量計 ・制御装置 ・汚泥脱水ケーキ ・電解質液 特 許 出 願 人 荏原インフィルコ株式会社 株式会社　荏原総合研究所

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）イオン性高分子凝集剤を注入して汚泥を脱水する
   汚泥脱水方法において、 ［ａ］汚泥脱水ケーキのゼータ電位を測定するためのゼ
   ータ電位測定工程と、 ［ｂ］ゼータ電位測定工程によって測定されたゼータ電
   位の測定結果に基づきイオン性高分子凝集剤の注入量を
   管理するための注入量管理工程と を備えてなることを特徴とする汚泥脱水方法。
2. （２）ゼータ電位測定工程が、 ［ａ］汚泥脱水ケーキの表面にそって接触せしめつつ電
   解質液を移動せしめるための電解質液供給工程と、 ［ｂ］電解質液供給工程によって電解質液を供給しつつ
   汚泥脱水ケーキの表面にそった電解質液の流路の２点間
   で生じる流動電流もしくは流動電圧を測定するための第
   １の測定工程と、 ［ｃ］電解質液供給工程による電解質液の移動速度を測
   定するための第２の測定工程と、［ｄ］電解質液供給工
   程によって移動される電解質液の電気伝導度を測定する
   ための第３の測定工程と、 ［ｅ］第１ないし第３の測定工程でそれぞれ測定された
   流動電流もしくは流動電圧と電解質液の移動速度と電解
   質液の電気伝導度とに基づきゼータ電位を算出するため
   のゼータ電位算出工程と を包有してなることを特徴とする特許請求の範囲第（１
   ）項記載の汚泥脱水方法。