JPH0447609A - 透明導電体 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
「産業上の利用分野]
本発明は、キャリアーテープおよびそのカバーテープ等
の電子部品などの包装材料やオーバーへッドブロジエク
タ用フィルム、スライドフィルムなどの電子写真記録材
料等の帯電防止フィルム、さらには透明タッチパネル、
エレクトロルミネッセンスデイスプレィ、液晶デイスプ
レィなどの入力および表示デバイス表面の帯電防止や透
明電極として利用される透明導電体に関するものである
。
の電子部品などの包装材料やオーバーへッドブロジエク
タ用フィルム、スライドフィルムなどの電子写真記録材
料等の帯電防止フィルム、さらには透明タッチパネル、
エレクトロルミネッセンスデイスプレィ、液晶デイスプ
レィなどの入力および表示デバイス表面の帯電防止や透
明電極として利用される透明導電体に関するものである
。
[従来の技術]
従来の透明導電性フィルムまたは透明感電性ガラスとし
ては、プラスチックフィルムまたはガラス上にイオンビ
ームスパッタ装置や真空蒸着装置を用いて、金、白金な
どの金属薄膜または酸化インジウム・すず(以下IT○
と呼ぶ)などの金属酸化物薄膜を形成したものが用いら
れている。また、帯電防止を目的とする透明感電性フィ
ルムとしては、透明もしくは半透明な界面活性剤、つま
りはアニオン系活性剤、カチオン系活性剤、非イオン系
活性剤、両性活性剤などをプラスチックフィルム中に練
り込んだり、プラスチックフィルムおよびガラス表面に
コーティングすることにより、親水性とイオン性を与え
て基材表面に導電性を付与したものが使用されている。
ては、プラスチックフィルムまたはガラス上にイオンビ
ームスパッタ装置や真空蒸着装置を用いて、金、白金な
どの金属薄膜または酸化インジウム・すず(以下IT○
と呼ぶ)などの金属酸化物薄膜を形成したものが用いら
れている。また、帯電防止を目的とする透明感電性フィ
ルムとしては、透明もしくは半透明な界面活性剤、つま
りはアニオン系活性剤、カチオン系活性剤、非イオン系
活性剤、両性活性剤などをプラスチックフィルム中に練
り込んだり、プラスチックフィルムおよびガラス表面に
コーティングすることにより、親水性とイオン性を与え
て基材表面に導電性を付与したものが使用されている。
[発明が解決しようとする課題]
しかして、上記透明導電体において金属や金属酸化物の
薄膜を形成したものは、その薄膜を形成するイオンビー
ムスパッタ装置や真空蒸着装置が高価であるとともに、
該薄膜が金、白金などの貴金属薄膜やTTO薄膜などで
あるために高価であり、したがって得られる透明導電性
フィルムも高価なものであった。また界面活性剤を用い
た透明導電体では、その導電機構が基材表面に親水性と
イオン性を付与し、大気中の水分を吸着して導電性を得
ているためにその導電性が大気中の湿度の影l!lll
を受は易く、しかも単位面積だ当り10gΩ以下の導電
性を得ることができないという問題があった。
薄膜を形成したものは、その薄膜を形成するイオンビー
ムスパッタ装置や真空蒸着装置が高価であるとともに、
該薄膜が金、白金などの貴金属薄膜やTTO薄膜などで
あるために高価であり、したがって得られる透明導電性
フィルムも高価なものであった。また界面活性剤を用い
た透明導電体では、その導電機構が基材表面に親水性と
イオン性を付与し、大気中の水分を吸着して導電性を得
ているためにその導電性が大気中の湿度の影l!lll
を受は易く、しかも単位面積だ当り10gΩ以下の導電
性を得ることができないという問題があった。
このような問題に対し、バインダー樹脂中に7゜7.8
.8−テI〜ラシアノキノジメタン錯体(以ドTCNQ
錯体と呼ぶ)を配合し、この配合物を電気絶縁性高分子
フィルムの表面に形成することによって透明導電化する
方法が特開昭63−276815に提案されている。こ
の方法によって得られる透明導電性フィルムは、その導
電機構が針状結晶の析出による網目状の導電径路による
ものであるため、その表面抵抗が大気の湿度等に影響さ
れることがなく、比較的高い導電性を有する透明導電性
フィルムが得られるという利点がある。
.8−テI〜ラシアノキノジメタン錯体(以ドTCNQ
錯体と呼ぶ)を配合し、この配合物を電気絶縁性高分子
フィルムの表面に形成することによって透明導電化する
方法が特開昭63−276815に提案されている。こ
の方法によって得られる透明導電性フィルムは、その導
電機構が針状結晶の析出による網目状の導電径路による
ものであるため、その表面抵抗が大気の湿度等に影響さ
れることがなく、比較的高い導電性を有する透明導電性
フィルムが得られるという利点がある。
しかし、この網目状の導電径路は析出した針状結晶の接
触によるものであるため、この結晶成長の状態が溶剤の
揮発速度や乾燥時の温度分布の影響を受は易く、これに
よって単位面積中の導電径路数が不均一となるため表面
抵抗のばらつきが大きく、均一な表面抵抗が得られない
。しかも高温(たとえば140℃の加熱)または高温高
湿条件(例えば60℃、95%RH)の条件下において
、該針状結晶の結合点が少しでも劣化するとその導電径
路が著しく減少して導電性が大幅に低下するという問題
があった。
触によるものであるため、この結晶成長の状態が溶剤の
揮発速度や乾燥時の温度分布の影響を受は易く、これに
よって単位面積中の導電径路数が不均一となるため表面
抵抗のばらつきが大きく、均一な表面抵抗が得られない
。しかも高温(たとえば140℃の加熱)または高温高
湿条件(例えば60℃、95%RH)の条件下において
、該針状結晶の結合点が少しでも劣化するとその導電径
路が著しく減少して導電性が大幅に低下するという問題
があった。
すなわち、上記”1.’ CN Q tfft体として
、例えばN−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体
を単独で用い、上記高分子マトリックスの溶媒溶液中に
該高分子マ+−リックスの固形分100重量部に対して
3〜100重量部溶解して、透明基材の面」二にグラビ
アコーター、ロールコータ−1またはスピンコーターな
どを用いて薄膜を形成させると、該薄膜内にTCNQ錯
体が微細な針状結晶とじて析出し、第5図のように網目
状の連鎖である感電径路が成長して導電性が得られる。
、例えばN−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体
を単独で用い、上記高分子マトリックスの溶媒溶液中に
該高分子マ+−リックスの固形分100重量部に対して
3〜100重量部溶解して、透明基材の面」二にグラビ
アコーター、ロールコータ−1またはスピンコーターな
どを用いて薄膜を形成させると、該薄膜内にTCNQ錯
体が微細な針状結晶とじて析出し、第5図のように網目
状の連鎖である感電径路が成長して導電性が得られる。
しかし、この場合、結晶成長の状態が溶剤の揮発速度や
乾燥時の温度分布の影響を受けるため、単位面積あたり
の導電径路数が不均一となって表面抵抗のばらつきが大
きくなるとともに、網目状連鎖である導電径路の結晶の
結合点が高温高湿条件下において劣化を受け、著しく抵
抗が」二昇するという問題点が認められた。
乾燥時の温度分布の影響を受けるため、単位面積あたり
の導電径路数が不均一となって表面抵抗のばらつきが大
きくなるとともに、網目状連鎖である導電径路の結晶の
結合点が高温高湿条件下において劣化を受け、著しく抵
抗が」二昇するという問題点が認められた。
これらの問題点を解決するために、本発明者らは先に7
.7,8.8−テトラシアノキノジメタン錯体納品を含
む高分子膜を形成させた透明導電体において、上記7,
7,8.8−テトラシアノキノジメタン錯体を2種以上
の結晶形の異なる錯体とすることを特徴とする特願平1
.−206845を提案している。この方法は、高分子
マトリックス中に例えば針状、板状など2種以上の結晶
形の異なるU’ CN Q錯体を配合することによって
、該導電性高分子膜において、前記の形状とは異なる形
状の結晶が密に析出し、従来知られている結晶形が針状
形のみである配合と比較して、単位面積中における結晶
相互の接触点数が増大し、導電性高分子膜の体積固有抵
抗および表面固有抵抗を低くすることができるとともに
、」二記接触点数の増大により、表面抵抗のばらつきが
小さくなり、さらには高温または高温高湿条件下におけ
る抵抗値の」二昇も少なくなるというものである。しか
して、上記した非置換の7.7.8.8−テ1へラシア
ノキノジメタン錯体は、N、N−ジメチルホルムアミド
、ジメチルスルホキシドおよびシクロヘキサノンなどの
強極性プロトン溶剤以外のほとんどの溶剤に対し、常温
で不溶ないし難溶であり、実際の加工において塗工液と
する場合にはこれらの強極性プロトン溶剤を使用せざる
を得ず、その塗工液の設計における自由度がいちじるし
く小さいものであると同時に、これらの強極性プロ1〜
ン溶剤が一般の汎用溶剤に比較して高価であることから
、得られる透明導電性フィルムのコストが高くつくとい
う問題点があった。さらにはこれら強極性プロ1−ン溶
剤がその極性から吸水性が高く、溶剤が吸水することに
より、この水分が7,7゜8,8−テトラシアノキノジ
メタン錯体の解離を促進する触媒の機能を有することか
ら、塗工液の寿命が短く、長期の保存における表面抵抗
の安定性がないという問題点があった。
.7,8.8−テトラシアノキノジメタン錯体納品を含
む高分子膜を形成させた透明導電体において、上記7,
7,8.8−テトラシアノキノジメタン錯体を2種以上
の結晶形の異なる錯体とすることを特徴とする特願平1
.−206845を提案している。この方法は、高分子
マトリックス中に例えば針状、板状など2種以上の結晶
形の異なるU’ CN Q錯体を配合することによって
、該導電性高分子膜において、前記の形状とは異なる形
状の結晶が密に析出し、従来知られている結晶形が針状
形のみである配合と比較して、単位面積中における結晶
相互の接触点数が増大し、導電性高分子膜の体積固有抵
抗および表面固有抵抗を低くすることができるとともに
、」二記接触点数の増大により、表面抵抗のばらつきが
小さくなり、さらには高温または高温高湿条件下におけ
る抵抗値の」二昇も少なくなるというものである。しか
して、上記した非置換の7.7.8.8−テ1へラシア
ノキノジメタン錯体は、N、N−ジメチルホルムアミド
、ジメチルスルホキシドおよびシクロヘキサノンなどの
強極性プロトン溶剤以外のほとんどの溶剤に対し、常温
で不溶ないし難溶であり、実際の加工において塗工液と
する場合にはこれらの強極性プロトン溶剤を使用せざる
を得ず、その塗工液の設計における自由度がいちじるし
く小さいものであると同時に、これらの強極性プロ1〜
ン溶剤が一般の汎用溶剤に比較して高価であることから
、得られる透明導電性フィルムのコストが高くつくとい
う問題点があった。さらにはこれら強極性プロ1−ン溶
剤がその極性から吸水性が高く、溶剤が吸水することに
より、この水分が7,7゜8,8−テトラシアノキノジ
メタン錯体の解離を促進する触媒の機能を有することか
ら、塗工液の寿命が短く、長期の保存における表面抵抗
の安定性がないという問題点があった。
よって、本発明は表面抵抗のばらつきが小さく、かつ高
温高湿条件下においても導電性低下が少ないと同時に、
塗工液の寿命が長く、溶剤選択の自由度が大きいことか
ら、より低コス1〜の透明導電性フィルムを供給するこ
とを目的とする。
温高湿条件下においても導電性低下が少ないと同時に、
塗工液の寿命が長く、溶剤選択の自由度が大きいことか
ら、より低コス1〜の透明導電性フィルムを供給するこ
とを目的とする。
[課題を解決するための手段]
木登明考らは、かかる課題を解決するために、透明導電
性高分子膜の組成について種々の検討を行なった結果、
プラスチックフィルムの一面にTCNQN体結晶を含有
する高分子膜を形成した透明導電体において、該錯体結
晶が少なくとも2種以上の結晶形錯体から成り、該錯体
の少なくとも]種がアルキル基置換7,7,8.8−テ
トラシアノキノジメタンであることを特徴とする透明導
電体とすればよいことを見出し本発明を完成させた。
性高分子膜の組成について種々の検討を行なった結果、
プラスチックフィルムの一面にTCNQN体結晶を含有
する高分子膜を形成した透明導電体において、該錯体結
晶が少なくとも2種以上の結晶形錯体から成り、該錯体
の少なくとも]種がアルキル基置換7,7,8.8−テ
トラシアノキノジメタンであることを特徴とする透明導
電体とすればよいことを見出し本発明を完成させた。
[発明の構成]
以下、本発明を図面を用いて詳細に説明する。
本発明に用いるアルキル基置換7,7,8.8−テトラ
シアノキノジメタン錯体(以下R−TCNQfAt体と
呼ぶ)はアルキル置換算7,7,8゜8−テ1へラシア
ノキノジメタン(R−TCNQo)と適当なるドナー(
Dl)の種類によって体積固有抵抗が10−3〜10+
6Ω・Cの広い範囲にわたることが知られている。ここ
で、アルキル基とは炭素数1〜3の低級アルキル基を意
味し、具体的にはメチル−T CN Q、エチル−TC
NQ、n −プロピル−TCNQ、イソ−プロピル−T
CNQである。これらアルキル基が炭素数が4以」二の
高級アルキル基であるR−T CN Q多IY体では、
その疎水性および汎用溶剤への溶解性が向」ニする反面
、アルキル基の分子構造が嵩高くなることにより錯体の
結晶性が悪く、フィルム」二に塗工した際の結晶化が起
こりにくくなり、導電性が低下してしまうことから好ま
しくない。また同様に、アルキル基以外の疎水性官能基
としてパーフロロアルキル基やオルガノシリル基か考え
られるが、これらの官能基を導入することは非常に難し
く、得られるR−TCN Qが非常に高価なものとなる
とともに、上記した分子の大きさの理由から、その導電
性が低下するためあまり好ましくない。本発明のドナ(
D+)は、テトラチオフルバレンに代表される化合物が
数多く知られているが、熱安定性および導電性の優れた
キノリン、イソキノリン、2゜2−ビピリジル、4,4
−ビピリジル、またはそのN位を炭素数1〜8のアルキ
ル基で置換した化合物が好ましく、さらにはキノリン、
イソキノリンのN位を炭素数1へ・8のアルキル基で置
換した化合物が好ましい。本発明に用いるこのようなR
−r CN Q 81体としては、N−メチル(イソ)
キノリニウム−メチル−TCNQ鉗体、錯体メチル(イ
ソ)キノリニウム−エチル−T CN Q 錯体、N−
メチル(イソ)キノリニウム−n−プロピルrcNQt
lt体、N−エチル(イソ)キノリニウム−メチル−T
CNQ鉗体、錯体エチル(イソ)キノリニウム−エチル
−TCNQ鉗体、錯体エチル(イソ)キノリニウム−D
−プロピル=TCNQflt体、N−n−プロピル(イ
ソ)キノリニウムメチル−TCNQ錯体、N −n−プ
ロピル(イソ)キノリニウム−エチル−T CN Q
錯体、Nn−プロピル(イソ)キノリニウム−n−プロ
ピル−T CN Q錯体、N−イソ−プロピル(イソ)
キノリニウム−メチル−TCNQ鉗体、錯体イソプロピ
ル(イソ)キノリニウム−エチル−’I” CN1lt
体、N−イソ−プロピル(イソ)キノリニウム−n−プ
ロピル−T CN Q錯体、N −n−ブチル(イソ)
キノリニウム−メチル−T CN Q tit体、N
−n−ブチル(イソ)キノリニウム−エチル−7I”
CN Q tilt体、N −n−ブチル(イソ)キノ
リニウム−n−プロピル−’「CN Q錯体、Nブチル
(イソ)キノリニウム−イソ−プロピルT CN Q
錯体、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウム−メチル
−TCNQ錯体、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウ
ム−エチル−]”CN Q 余i−を体、N−イソ−ブ
チル(イソ)キノリニウム−nプロピル−TCNQ錯体
、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウム−イソ−プロ
ピル−TCNQ t4を体、N−n−アミル(イソ)キ
ノリニウムーメチルーゴCNQ錯体、N−n−アミル(
イソ)キノリニウムエチルー1’ CN Q鉛体、N−
nアミル(イソ)キノリニウム−n−プロピル−TCN
Q It体、N−n−アミル(イソ)キノリニウムー
イソーブロピルーゴCN Q鉛体、N−イソ−アミル(
イソ)キノリニウム−メチル−TCNQ錯体、N−イソ
−アミル(イソ)キノリニウムエチル−1’ CN Q
鉛体、N−イソ−アミル(イソ)キノリニウム−T1−
プロピル−TCNC1t体、Nイソ−アミル(イソ)キ
ノリニウム−イソ−プロピル−TCNQ錯体、N−n−
オクチル(イソ)キノリニウム−メチル−T CN Q
tla体、N−nオクチル(イソ)キノリニウム−エ
チル−TCNQ tuff体、N−n−オクチル(イソ
)キノリニウム−n−プロピル−T” CN Q錯体、
N−n−オクチル(イソ)キノリニウム−イソ−プロピ
ル−TCNの錯体が例示され、さらには上記したアルキ
ルイソキノリニウム系R−T CN Q t’lt体の
アルキルイソキノリニウムをアルキルモルホリニウム、
およびアルキル−α−ピコリニウムの各ドナーに置き換
えたアルキルモルホリニウム系R−TCNQ錯体、およ
びアルキル−α−ピコリニウム系R’I’CNQffi
バ体が例示される。R−]’ CN Q鉛体は電子供与
体であるドナー(D”″)と電子受容体のモル比が1=
1と1:2のものがあり、(イソ)キノリン系化合物を
電子受容体とするR −T CNQrJ体は1:2錯体
がより感電性が大きいことから好ましい。なお上記例示
中で(イソ)キノリンはキノリンおよびイソキノリンを
意味する。2モルのR−TCNQ錯体はR−TCNQア
ニオンラジカル1モルと電気的に中性のR−TCNQI
モルから成っている。本発明において、より導電性を安
定させるためには中性分子のR−TCNQを0.1〜1
0重量%過剰に添加するのが好ましい。
シアノキノジメタン錯体(以下R−TCNQfAt体と
呼ぶ)はアルキル置換算7,7,8゜8−テ1へラシア
ノキノジメタン(R−TCNQo)と適当なるドナー(
Dl)の種類によって体積固有抵抗が10−3〜10+
6Ω・Cの広い範囲にわたることが知られている。ここ
で、アルキル基とは炭素数1〜3の低級アルキル基を意
味し、具体的にはメチル−T CN Q、エチル−TC
NQ、n −プロピル−TCNQ、イソ−プロピル−T
CNQである。これらアルキル基が炭素数が4以」二の
高級アルキル基であるR−T CN Q多IY体では、
その疎水性および汎用溶剤への溶解性が向」ニする反面
、アルキル基の分子構造が嵩高くなることにより錯体の
結晶性が悪く、フィルム」二に塗工した際の結晶化が起
こりにくくなり、導電性が低下してしまうことから好ま
しくない。また同様に、アルキル基以外の疎水性官能基
としてパーフロロアルキル基やオルガノシリル基か考え
られるが、これらの官能基を導入することは非常に難し
く、得られるR−TCN Qが非常に高価なものとなる
とともに、上記した分子の大きさの理由から、その導電
性が低下するためあまり好ましくない。本発明のドナ(
D+)は、テトラチオフルバレンに代表される化合物が
数多く知られているが、熱安定性および導電性の優れた
キノリン、イソキノリン、2゜2−ビピリジル、4,4
−ビピリジル、またはそのN位を炭素数1〜8のアルキ
ル基で置換した化合物が好ましく、さらにはキノリン、
イソキノリンのN位を炭素数1へ・8のアルキル基で置
換した化合物が好ましい。本発明に用いるこのようなR
−r CN Q 81体としては、N−メチル(イソ)
キノリニウム−メチル−TCNQ鉗体、錯体メチル(イ
ソ)キノリニウム−エチル−T CN Q 錯体、N−
メチル(イソ)キノリニウム−n−プロピルrcNQt
lt体、N−エチル(イソ)キノリニウム−メチル−T
CNQ鉗体、錯体エチル(イソ)キノリニウム−エチル
−TCNQ鉗体、錯体エチル(イソ)キノリニウム−D
−プロピル=TCNQflt体、N−n−プロピル(イ
ソ)キノリニウムメチル−TCNQ錯体、N −n−プ
ロピル(イソ)キノリニウム−エチル−T CN Q
錯体、Nn−プロピル(イソ)キノリニウム−n−プロ
ピル−T CN Q錯体、N−イソ−プロピル(イソ)
キノリニウム−メチル−TCNQ鉗体、錯体イソプロピ
ル(イソ)キノリニウム−エチル−’I” CN1lt
体、N−イソ−プロピル(イソ)キノリニウム−n−プ
ロピル−T CN Q錯体、N −n−ブチル(イソ)
キノリニウム−メチル−T CN Q tit体、N
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CN Q tilt体、N −n−ブチル(イソ)キノ
リニウム−n−プロピル−’「CN Q錯体、Nブチル
(イソ)キノリニウム−イソ−プロピルT CN Q
錯体、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウム−メチル
−TCNQ錯体、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウ
ム−エチル−]”CN Q 余i−を体、N−イソ−ブ
チル(イソ)キノリニウム−nプロピル−TCNQ錯体
、N−イソ−ブチル(イソ)キノリニウム−イソ−プロ
ピル−TCNQ t4を体、N−n−アミル(イソ)キ
ノリニウムーメチルーゴCNQ錯体、N−n−アミル(
イソ)キノリニウムエチルー1’ CN Q鉛体、N−
nアミル(イソ)キノリニウム−n−プロピル−TCN
Q It体、N−n−アミル(イソ)キノリニウムー
イソーブロピルーゴCN Q鉛体、N−イソ−アミル(
イソ)キノリニウム−メチル−TCNQ錯体、N−イソ
−アミル(イソ)キノリニウムエチル−1’ CN Q
鉛体、N−イソ−アミル(イソ)キノリニウム−T1−
プロピル−TCNC1t体、Nイソ−アミル(イソ)キ
ノリニウム−イソ−プロピル−TCNQ錯体、N−n−
オクチル(イソ)キノリニウム−メチル−T CN Q
tla体、N−nオクチル(イソ)キノリニウム−エ
チル−TCNQ tuff体、N−n−オクチル(イソ
)キノリニウム−n−プロピル−T” CN Q錯体、
N−n−オクチル(イソ)キノリニウム−イソ−プロピ
ル−TCNの錯体が例示され、さらには上記したアルキ
ルイソキノリニウム系R−T CN Q t’lt体の
アルキルイソキノリニウムをアルキルモルホリニウム、
およびアルキル−α−ピコリニウムの各ドナーに置き換
えたアルキルモルホリニウム系R−TCNQ錯体、およ
びアルキル−α−ピコリニウム系R’I’CNQffi
バ体が例示される。R−]’ CN Q鉛体は電子供与
体であるドナー(D”″)と電子受容体のモル比が1=
1と1:2のものがあり、(イソ)キノリン系化合物を
電子受容体とするR −T CNQrJ体は1:2錯体
がより感電性が大きいことから好ましい。なお上記例示
中で(イソ)キノリンはキノリンおよびイソキノリンを
意味する。2モルのR−TCNQ錯体はR−TCNQア
ニオンラジカル1モルと電気的に中性のR−TCNQI
モルから成っている。本発明において、より導電性を安
定させるためには中性分子のR−TCNQを0.1〜1
0重量%過剰に添加するのが好ましい。
本発明に使用する錯体は、」1記したエバ体のうち結晶
形の異なる2種以七の錯体を混合して用いることにより
その効果を得ることができるが、これら結晶形の異なる
T G N Q鉛体の組み合せの具体例としては、 (,1,)l記の例示錯体におけるアルキル(イソ)キ
ノリウム系R−T CN Q錯体の少なくとも1種とア
ルキルモルホリニウム系R−TCNQ錯体の少なくとも
1種から成る混合錯体、 (2)」―記の例示錯体におけるアルキル(イソ)キノ
リウム系R−T CN Q鉛体の少なくとも1種とアル
キル−α−ピコリニウム系R−TCNQm体の少なくと
も1種から成る混合錯体、(3)」―記の例示錯体にお
けるアルキルモルホリニウム系R−′r CN Q #
j体の少なくとも1種とアルキル−α−ピコリニウム系
R−T CN Qm体の少なくとも1種から成る混合錯
体、 (4)に記例示(1)〜(3)に示された2種のR−T
CN Q錯体の各組み合せにおいて、そのどちらか一
方がアルキル基未置換のTCNQ錯体である混合錯体が 例示される。また、1−記した同一系列のR−TCN
Q 錯体のなかにおいても、結晶形の異なるものがある
ことから、これらを絹み合せても良い。
形の異なる2種以七の錯体を混合して用いることにより
その効果を得ることができるが、これら結晶形の異なる
T G N Q鉛体の組み合せの具体例としては、 (,1,)l記の例示錯体におけるアルキル(イソ)キ
ノリウム系R−T CN Q錯体の少なくとも1種とア
ルキルモルホリニウム系R−TCNQ錯体の少なくとも
1種から成る混合錯体、 (2)」―記の例示錯体におけるアルキル(イソ)キノ
リウム系R−T CN Q鉛体の少なくとも1種とアル
キル−α−ピコリニウム系R−TCNQm体の少なくと
も1種から成る混合錯体、(3)」―記の例示錯体にお
けるアルキルモルホリニウム系R−′r CN Q #
j体の少なくとも1種とアルキル−α−ピコリニウム系
R−T CN Qm体の少なくとも1種から成る混合錯
体、 (4)に記例示(1)〜(3)に示された2種のR−T
CN Q錯体の各組み合せにおいて、そのどちらか一
方がアルキル基未置換のTCNQ錯体である混合錯体が 例示される。また、1−記した同一系列のR−TCN
Q 錯体のなかにおいても、結晶形の異なるものがある
ことから、これらを絹み合せても良い。
さらに、具体的な組み合せとしては、
(i)N−n−ブチル(イソ)キノリニウムメチル−T
CNQ錯体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウ
ム−メチル−T CN Q 錯体の混合錯体、 (ji)N−n−ブチル(イソ)ギノリニウムメチルー
TCNQ錯体とN−n−ブチル−α−ピコリニウムーメ
チルーゴ”CNQ錯体の混合錯体、(iii)N−ロー
ブチル−N−メチルモルホリニウム−メチル−T CN
Q鉛体とN−n−ブチルα−ピコリニウム−メチル−
T CN Q rJ体の混合錯体、 (iv)N−n−ブチル(イソ)キノリニウムメチル−
TCNQtiit体とN−n−オクチル(イソ)キノリ
ニウム−メチル−T CN Q 錯体の混合錯体、(v
)N−n−ブチル(イソ)キノリニウムTCN Q N
t体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウム−メ
チル−T CN Q rJ体の混合錯体、(vi)N−
n−ブチル(イソ)キノリニウムメチル−1’ CN
Q錯体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウA
T CN Q 1171体の混合錯体、などか挙げられ
、」―記6例以外の結晶形の異なる3種以」二のL”
CN Q 錯体を組み合せても良い。
CNQ錯体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウ
ム−メチル−T CN Q 錯体の混合錯体、 (ji)N−n−ブチル(イソ)ギノリニウムメチルー
TCNQ錯体とN−n−ブチル−α−ピコリニウムーメ
チルーゴ”CNQ錯体の混合錯体、(iii)N−ロー
ブチル−N−メチルモルホリニウム−メチル−T CN
Q鉛体とN−n−ブチルα−ピコリニウム−メチル−
T CN Q rJ体の混合錯体、 (iv)N−n−ブチル(イソ)キノリニウムメチル−
TCNQtiit体とN−n−オクチル(イソ)キノリ
ニウム−メチル−T CN Q 錯体の混合錯体、(v
)N−n−ブチル(イソ)キノリニウムTCN Q N
t体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウム−メ
チル−T CN Q rJ体の混合錯体、(vi)N−
n−ブチル(イソ)キノリニウムメチル−1’ CN
Q錯体とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウA
T CN Q 1171体の混合錯体、などか挙げられ
、」―記6例以外の結晶形の異なる3種以」二のL”
CN Q 錯体を組み合せても良い。
また、上記したアルキル基置換7,7,8.8−テI〜
ラシアノキノジメタン錯体は、その導電性が)′ルキル
基未置換のT CN Q錯体に比較して低ドする傾向が
あるために、必要な導電性を満足することができない場
合などにおいては、上記したい)〜(jv)の各組み合
せに未置換の7,7゜8.8−テトラシアノキノジメタ
ン錯体、例えばN −n−フ゛チル(イソ)キノリニウ
ムTCNQ錯体なとはその導電性が高く、比較的安価で
あることから、これを添加することによって目的とする
導電性を得れば良く、さらには1−記例示の(V)、(
■1)のように用いるR−rcNQm体の組み合せの−
・方を結晶形の異なるアルキル基未置換のTc N C
,! M1体としても良い。
ラシアノキノジメタン錯体は、その導電性が)′ルキル
基未置換のT CN Q錯体に比較して低ドする傾向が
あるために、必要な導電性を満足することができない場
合などにおいては、上記したい)〜(jv)の各組み合
せに未置換の7,7゜8.8−テトラシアノキノジメタ
ン錯体、例えばN −n−フ゛チル(イソ)キノリニウ
ムTCNQ錯体なとはその導電性が高く、比較的安価で
あることから、これを添加することによって目的とする
導電性を得れば良く、さらには1−記例示の(V)、(
■1)のように用いるR−rcNQm体の組み合せの−
・方を結晶形の異なるアルキル基未置換のTc N C
,! M1体としても良い。
次しこ、結晶形の異なるR−TCNQ鉗錯体組み合わせ
る時のこれらの配合比率の効果について説明する。高分
子71−リックスへのR−1’ CN Q錯体混合物の
配合割合を、例えば高分子71〜リツクス100重量部
に対してR−T CN Q rJ体混合物80重量部と
一定にして、N−n−ブチル(イソ)キノリニウム−メ
チル−TCN Q tilt体とN−Dブチル−N−メ
チルモルホルニウム−メチル−TCN Q 1171体
、およびN−n−ブチル(イソ)キノリニウム−メチル
−1’ CN Q Sit体とN−n−ブチル−N−メ
チルモルホリニウムi” CN Q錯体と各組み合せに
おいて、その配合比率を変化させたものをそわぞれ基板
」―にコーティングして塗工膜厚Q、17zmの高分子
膜を形成させたとき、これら上記絹み合せにおける2種
のR−TCNQ鉗体お錯体R−T CN Q 錯体とT
CN Q 611体の配合比率と、得られた基板の表
面抵抗との関係は第1a図および第1−b図に示すとお
りである。横軸の錯体■はN−n−ブチルイソキノリウ
ム−メチル−TCNQ錯体の量の割合、錯体■はN−n
−ブチル−Nメチルモルホリニウム1−メチルー−r
CN Q fat体の址の割合である。第2図に、透明
基材1の」二に透明導電性高分子膜2を形成した透明導
電体3の縦断面を示す。これら結晶形の異なるR−TC
NQ錯体およびR−T CN Q @体とTCNQ鉗体
の錯体比率は、混合によって最も低い表面抵抗が得られ
るように選定すればよい。本発明者らの実験結果によれ
ば、結晶形の異なる2種のR−TCNQおよびR−T
CN QとTCNQ錯体の配合比率は重量比で1:9〜
9:1−の範囲、好ましくは2:8〜8:2の範囲であ
る。
る時のこれらの配合比率の効果について説明する。高分
子71−リックスへのR−1’ CN Q錯体混合物の
配合割合を、例えば高分子71〜リツクス100重量部
に対してR−T CN Q rJ体混合物80重量部と
一定にして、N−n−ブチル(イソ)キノリニウム−メ
チル−TCN Q tilt体とN−Dブチル−N−メ
チルモルホルニウム−メチル−TCN Q 1171体
、およびN−n−ブチル(イソ)キノリニウム−メチル
−1’ CN Q Sit体とN−n−ブチル−N−メ
チルモルホリニウムi” CN Q錯体と各組み合せに
おいて、その配合比率を変化させたものをそわぞれ基板
」―にコーティングして塗工膜厚Q、17zmの高分子
膜を形成させたとき、これら上記絹み合せにおける2種
のR−TCNQ鉗体お錯体R−T CN Q 錯体とT
CN Q 611体の配合比率と、得られた基板の表
面抵抗との関係は第1a図および第1−b図に示すとお
りである。横軸の錯体■はN−n−ブチルイソキノリウ
ム−メチル−TCNQ錯体の量の割合、錯体■はN−n
−ブチル−Nメチルモルホリニウム1−メチルー−r
CN Q fat体の址の割合である。第2図に、透明
基材1の」二に透明導電性高分子膜2を形成した透明導
電体3の縦断面を示す。これら結晶形の異なるR−TC
NQ錯体およびR−T CN Q @体とTCNQ鉗体
の錯体比率は、混合によって最も低い表面抵抗が得られ
るように選定すればよい。本発明者らの実験結果によれ
ば、結晶形の異なる2種のR−TCNQおよびR−T
CN QとTCNQ錯体の配合比率は重量比で1:9〜
9:1−の範囲、好ましくは2:8〜8:2の範囲であ
る。
本発明において透明導電性高分子膜の形成に使用される
高分子71−リックスとしては、使用される基材との密
着性、および透明性が高いことが必要であり、ざらに該
高分子膜を形成する手法は後述のようにコーティングに
より形成されることから、該高分子71−リツグスは汎
用溶剤に溶解するものである必要がある。このような高
分子マトリックスとしては、エポキシ樹脂、フェノール
樹脂、ポリアクリレ−1〜、ポリエステル、アルキド樹
脂、ポリビニルブチラール、ポリウレタン、ポリカーボ
ネート、シリコーン樹脂、ポリ塩化ビニル、ボリスチレ
ン、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、スチレン
−ブタジェン−スチレン共重合樹脂、エチレン−酢酸ビ
ニル共重合樹脂の使用が好ましい。
高分子71−リックスとしては、使用される基材との密
着性、および透明性が高いことが必要であり、ざらに該
高分子膜を形成する手法は後述のようにコーティングに
より形成されることから、該高分子71−リツグスは汎
用溶剤に溶解するものである必要がある。このような高
分子マトリックスとしては、エポキシ樹脂、フェノール
樹脂、ポリアクリレ−1〜、ポリエステル、アルキド樹
脂、ポリビニルブチラール、ポリウレタン、ポリカーボ
ネート、シリコーン樹脂、ポリ塩化ビニル、ボリスチレ
ン、ポリ酢酸ビニル、ポリビニルアルコール、スチレン
−ブタジェン−スチレン共重合樹脂、エチレン−酢酸ビ
ニル共重合樹脂の使用が好ましい。
」二記高分子マトリックスとR−T CN Q混合錯体
とを溶解して溶液を得るための溶剤は、従来の未置換T
CNQ鉗体を錯体する溶剤であるジメチルホルムアミド
、ジメチルアセ1〜アミド、プロピレンカーボネート、
γ−ブチロラク1−ン、ジメチルスルフオキシド、スル
ホラン、フォルムアマイド、N−メチル−2−ピロリド
ン、アセトニトリル、プロピオニ1〜リル、シクロヘキ
サノン、メチルエチルケ1〜ンなどに加えて、汎用溶剤
であるベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族系炭
化水素溶剤、塩化メチレン、クロロホルム、ジクロロエ
タン等のハロゲン化炭化水素溶剤、メチルアルコール、
エチルアルコールなどのアルコール系溶剤、テトラヒド
ロフラン、]、4ジオキサンなどのエーテル系溶剤、酢
酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミルなどのエステル系溶
剤等の単一または混合溶剤として、コーティング成膜時
の揮発性などを考慮して選択すればよく、さらには錯体
の安定性の面から、脱水・蒸留し精製したものを使用す
るのが望ましい。
とを溶解して溶液を得るための溶剤は、従来の未置換T
CNQ鉗体を錯体する溶剤であるジメチルホルムアミド
、ジメチルアセ1〜アミド、プロピレンカーボネート、
γ−ブチロラク1−ン、ジメチルスルフオキシド、スル
ホラン、フォルムアマイド、N−メチル−2−ピロリド
ン、アセトニトリル、プロピオニ1〜リル、シクロヘキ
サノン、メチルエチルケ1〜ンなどに加えて、汎用溶剤
であるベンゼン、トルエン、キシレンなどの芳香族系炭
化水素溶剤、塩化メチレン、クロロホルム、ジクロロエ
タン等のハロゲン化炭化水素溶剤、メチルアルコール、
エチルアルコールなどのアルコール系溶剤、テトラヒド
ロフラン、]、4ジオキサンなどのエーテル系溶剤、酢
酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミルなどのエステル系溶
剤等の単一または混合溶剤として、コーティング成膜時
の揮発性などを考慮して選択すればよく、さらには錯体
の安定性の面から、脱水・蒸留し精製したものを使用す
るのが望ましい。
前記高分子マトリックスを上記溶剤に溶解し、高分子マ
トリックス100重量部に対して、結晶形の異なる2種
以上のR−TCNQ錯体またはR−TCNQ錯体とTC
NQ錯体の錯体混合物(以下混合錯体と呼ぶ)2〜20
0重量部、好ましくは5〜]、 O0重量部を分散溶解
させる。この際、スパイラルミキサー、プラネタリ−ミ
キサー、ディスパーサ−、ハイブリッドミキサーなどの
ブレード型攪拌混練装置が好適に用いられる。なお、こ
の後さらにボールミル、振動ミル、サンドミルなどのポ
ール型混線装置を用いて分散溶解を徹底化するのが望ま
しい。これらの混練装置は、もしこれが鋼鉄性または調
合金製などの場合には該錯体がキレートを形成して変質
し、製膜後の表面抵抗がいちじるしく高くなるので、ク
ロムめっき製またはステンレス鋼製の装置を使用するこ
とが望ましい。この高分子マトリックス−溶剤−混合錯
体の混合溶液(以下TQ塗工液と呼ぶ)は、グラビアコ
ーターなどを使用し、透明基材にコーティングすること
ができるが、この塗工機のコーティングヘッドも」二と
同様の理由でクロムめっき製とするのがよい。TQ塗工
液を後述する厚さにコーティングするには、その粘度1
000cP以下、望ましくは1〜1000P、固形分量
1〜20重量%の範囲に設定しておくことが好ましい。
トリックス100重量部に対して、結晶形の異なる2種
以上のR−TCNQ錯体またはR−TCNQ錯体とTC
NQ錯体の錯体混合物(以下混合錯体と呼ぶ)2〜20
0重量部、好ましくは5〜]、 O0重量部を分散溶解
させる。この際、スパイラルミキサー、プラネタリ−ミ
キサー、ディスパーサ−、ハイブリッドミキサーなどの
ブレード型攪拌混練装置が好適に用いられる。なお、こ
の後さらにボールミル、振動ミル、サンドミルなどのポ
ール型混線装置を用いて分散溶解を徹底化するのが望ま
しい。これらの混練装置は、もしこれが鋼鉄性または調
合金製などの場合には該錯体がキレートを形成して変質
し、製膜後の表面抵抗がいちじるしく高くなるので、ク
ロムめっき製またはステンレス鋼製の装置を使用するこ
とが望ましい。この高分子マトリックス−溶剤−混合錯
体の混合溶液(以下TQ塗工液と呼ぶ)は、グラビアコ
ーターなどを使用し、透明基材にコーティングすること
ができるが、この塗工機のコーティングヘッドも」二と
同様の理由でクロムめっき製とするのがよい。TQ塗工
液を後述する厚さにコーティングするには、その粘度1
000cP以下、望ましくは1〜1000P、固形分量
1〜20重量%の範囲に設定しておくことが好ましい。
」二記TQ塗工液を塗工する透明基材としては透明性の
高い汎用のプラスチックフィルムまたはガラス板が用い
られる。これらプラスチックフィルムとしてはたとえば
ポリエチレンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリ
プロピレンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエチ
レンテレフタレートフィルム、ポリカーボネー1−フィ
ルム、ボリアリレー1−フィルム、ポリフッ化ビニリデ
ンフィルム、ポリアミドフィルムなどがある。これらプ
ラスチックフィルムは、少なくともその一面に透明感電
性高分子膜を形成するため、該高分子膜の密着性を向」
ニさせる目的で」二記表面をコロナ放電処理またはプラ
ズマ処理を行なうことが好ましい。
高い汎用のプラスチックフィルムまたはガラス板が用い
られる。これらプラスチックフィルムとしてはたとえば
ポリエチレンフィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリ
プロピレンフィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエチ
レンテレフタレートフィルム、ポリカーボネー1−フィ
ルム、ボリアリレー1−フィルム、ポリフッ化ビニリデ
ンフィルム、ポリアミドフィルムなどがある。これらプ
ラスチックフィルムは、少なくともその一面に透明感電
性高分子膜を形成するため、該高分子膜の密着性を向」
ニさせる目的で」二記表面をコロナ放電処理またはプラ
ズマ処理を行なうことが好ましい。
また、TQ塗工液によって形成される透明導電性高分子
膜は、その厚さが大きいと得られる透明導電体の透明性
が低下するので、なるべく薄いことが好ましく、サブミ
クロンから10μmの範囲、好ましくは0.1〜1μ■
の範囲とするのが良い。
膜は、その厚さが大きいと得られる透明導電体の透明性
が低下するので、なるべく薄いことが好ましく、サブミ
クロンから10μmの範囲、好ましくは0.1〜1μ■
の範囲とするのが良い。
以下実施例および比較例により、本発明を具体的に説明
する。
する。
[実施例−1コ
透明基材として厚さ75μmのポリエステルフィルム「
ルミラー Tタイプ] (東しく株)製、商品名)を使
用した。高分子マトリックスとして、ガラス転移点90
′C,環球法軟化点185℃の飽和共重合ポリエステル
「エリ−チル UE−3690」 (ユニチカ(株)製
、商品名)10重量部を、シクロへキサノン/トルエン
(70/30)の混合溶剤500重量部に高速ディスパ
ーサ−を用いて溶解し、この中にN−n−ブチルイソキ
ノリニウム−メチル−TCNQtllt体(日東化学工
業(株)製、試作品)5.3重量部と、N −n−ブチ
ル−N−メチルモルホリニウム−メチル−TCNQ錯体
(日東化学工業(株)製、試作品)2゜7重量部を添加
し、ディスパーサ−を用いて攪拌溶解後、サンドミル処
理を行い、さらに濾紙(ワラ1〜マンフイルターペーパ
ーNo、3)によって濾過を行なった。得られた液10
0重量部に1〜ルエンジイソシアネートートリメチルプ
ロパンアダクトプレポリマー「コロネートT、J(日本
ポリウレタン工業(株)製、商品名)0.25重量部と
ブロッキング防止剤「モディパーFJ (日本油脂(
株)製、商品名)0.1重量部を添加した後、再度ディ
スパーサ−で攪拌し、粘度20cPの、コテイング溶液
を調整した。
ルミラー Tタイプ] (東しく株)製、商品名)を使
用した。高分子マトリックスとして、ガラス転移点90
′C,環球法軟化点185℃の飽和共重合ポリエステル
「エリ−チル UE−3690」 (ユニチカ(株)製
、商品名)10重量部を、シクロへキサノン/トルエン
(70/30)の混合溶剤500重量部に高速ディスパ
ーサ−を用いて溶解し、この中にN−n−ブチルイソキ
ノリニウム−メチル−TCNQtllt体(日東化学工
業(株)製、試作品)5.3重量部と、N −n−ブチ
ル−N−メチルモルホリニウム−メチル−TCNQ錯体
(日東化学工業(株)製、試作品)2゜7重量部を添加
し、ディスパーサ−を用いて攪拌溶解後、サンドミル処
理を行い、さらに濾紙(ワラ1〜マンフイルターペーパ
ーNo、3)によって濾過を行なった。得られた液10
0重量部に1〜ルエンジイソシアネートートリメチルプ
ロパンアダクトプレポリマー「コロネートT、J(日本
ポリウレタン工業(株)製、商品名)0.25重量部と
ブロッキング防止剤「モディパーFJ (日本油脂(
株)製、商品名)0.1重量部を添加した後、再度ディ
スパーサ−で攪拌し、粘度20cPの、コテイング溶液
を調整した。
上記該塗工液を線数180メツシユ、深度351I11
のグラビア版をグラビアコーターに設置し、前記ポリエ
ステルフィルムの一面にコーティングし、乾燥塗膜の厚
さが0.1μmの透明導電性高分子膜を形成させた。得
られたフィルムを加温エイジング(60℃×72時間)
した後、DClooVを印加して表面抵抗を測定したと
ころ、単位面積当たり平均値が2.5XiO’Ω、最大
値が3.0×106Ω、最小値が2.2X106Ωであ
って非常に安定しており、その光線透過率は90%、ヘ
イズは10以下であった。第4図は実施例−1で得られ
た透明導電性高分子膜中に析出したR−TCNQ#lf
体の結晶構造を示す偏向顕微鏡写真(倍率=200倍)
である。
のグラビア版をグラビアコーターに設置し、前記ポリエ
ステルフィルムの一面にコーティングし、乾燥塗膜の厚
さが0.1μmの透明導電性高分子膜を形成させた。得
られたフィルムを加温エイジング(60℃×72時間)
した後、DClooVを印加して表面抵抗を測定したと
ころ、単位面積当たり平均値が2.5XiO’Ω、最大
値が3.0×106Ω、最小値が2.2X106Ωであ
って非常に安定しており、その光線透過率は90%、ヘ
イズは10以下であった。第4図は実施例−1で得られ
た透明導電性高分子膜中に析出したR−TCNQ#lf
体の結晶構造を示す偏向顕微鏡写真(倍率=200倍)
である。
[実施例−2]
実施例−1で用いた飽和共重合ポリエステル10重量部
に対し、実施例−1で用いた2種類のRT CN Q
fit体のうち、N−n−ブチルイソキノリウム−メチ
ル−T CN Q錯体をアルキル基未置換のN−n−ブ
チルイソキノリウムTCNQ錯体とし、その他は実施例
−1と同様にして処理した。
に対し、実施例−1で用いた2種類のRT CN Q
fit体のうち、N−n−ブチルイソキノリウム−メチ
ル−T CN Q錯体をアルキル基未置換のN−n−ブ
チルイソキノリウムTCNQ錯体とし、その他は実施例
−1と同様にして処理した。
厚さ0.1μmの透明導電膜の形成されたフィルムを実
施例−1と同様にして測定したところ1表面抵抗は単位
面積当たり平均値が7.7X105Ω、最大値が8.4
XiO’Ω、最小値が7.5X105Ωであった。
施例−1と同様にして測定したところ1表面抵抗は単位
面積当たり平均値が7.7X105Ω、最大値が8.4
XiO’Ω、最小値が7.5X105Ωであった。
[比較例−1−]
実施例−1で用いた飽和共重合ポリエステル10重量部
に対し、実施例−1で用いた2種類のR−”I’ CN
Q錯体に代えてアルキル基未置換のNn−ブチルイソ
キノリニウムTCNQ錯体(日東化学工業(株)製、試
作品)5.3重量部とNn−ブチル−N−メチルモルホ
リニウムTCNQ錯体(日東化学工業(株)製、試作品
)2.7重量部を添加し、使用溶剤としてシクロヘキサ
ノン/メチルエチルケトン(80/20)の混合溶剤と
して、その他の条件は実施例−1−と同様として乾燥被
膜の厚さがQ、171mの透明導電性高分子膜を形成さ
せた。得られたフィルムを実施例−1と同様にして測定
したところ、その表面抵抗は単位面積当たり平均値が4
.8X105Ω、最大値が5.0X10”Q、最小値が
4..7X105Qであった・ 上記実施例−1と実施例−2および比較例−]−で得ら
れた各TQ塗工液を25℃55%RHの雰囲気中に投入
し、所定の時間ごとに各T”Q塗工液を上記した方法と
同様の方法にて塗工し、0.1/jm透明導電性被膜を
形成して、その表面抵抗の経過日数による変化を測定し
た結果を第3図に示す。
に対し、実施例−1で用いた2種類のR−”I’ CN
Q錯体に代えてアルキル基未置換のNn−ブチルイソ
キノリニウムTCNQ錯体(日東化学工業(株)製、試
作品)5.3重量部とNn−ブチル−N−メチルモルホ
リニウムTCNQ錯体(日東化学工業(株)製、試作品
)2.7重量部を添加し、使用溶剤としてシクロヘキサ
ノン/メチルエチルケトン(80/20)の混合溶剤と
して、その他の条件は実施例−1−と同様として乾燥被
膜の厚さがQ、171mの透明導電性高分子膜を形成さ
せた。得られたフィルムを実施例−1と同様にして測定
したところ、その表面抵抗は単位面積当たり平均値が4
.8X105Ω、最大値が5.0X10”Q、最小値が
4..7X105Qであった・ 上記実施例−1と実施例−2および比較例−]−で得ら
れた各TQ塗工液を25℃55%RHの雰囲気中に投入
し、所定の時間ごとに各T”Q塗工液を上記した方法と
同様の方法にて塗工し、0.1/jm透明導電性被膜を
形成して、その表面抵抗の経過日数による変化を測定し
た結果を第3図に示す。
その結果実施例−2では抵抗上昇が少なく、151」経
過しても実用」二の帯電防止フィルムに必要な単位面積
当たり10′Ωの表面抵抗を維持しており、さらに実施
例−」では30日経過しても単位面積当たり107Ωの
表面抵抗を維持していたのに対し、比較例−1では10
日経過時に単位面積当たり1010Ω以上であり、15
日経過時には単位面積当たり10gΩ以上の表面抵抗で
あった。
過しても実用」二の帯電防止フィルムに必要な単位面積
当たり10′Ωの表面抵抗を維持しており、さらに実施
例−」では30日経過しても単位面積当たり107Ωの
表面抵抗を維持していたのに対し、比較例−1では10
日経過時に単位面積当たり1010Ω以上であり、15
日経過時には単位面積当たり10gΩ以上の表面抵抗で
あった。
[発明の効果]
本発明で得られる透明導電体は、電子部品などの包装材
料、オーバーへラドプロジェクタ用フィルム、スライド
フィルムなどの電子写真記録材料等の帯電防止フィルム
、さらには透明タッチパネル、エレクI−ロルミネッセ
ンスディスプレイ、液晶デイスプレィなどの入力および
表示デバイス表面の帯電防止や透明電極として利用され
る透明導電性フィルムあるいは透明導電性ガラスなどと
して使用することができる。
料、オーバーへラドプロジェクタ用フィルム、スライド
フィルムなどの電子写真記録材料等の帯電防止フィルム
、さらには透明タッチパネル、エレクI−ロルミネッセ
ンスディスプレイ、液晶デイスプレィなどの入力および
表示デバイス表面の帯電防止や透明電極として利用され
る透明導電性フィルムあるいは透明導電性ガラスなどと
して使用することができる。
第1a図は高分子マトリックスに対するR−TCNQ錯
体による混合錯体の配合部数を一定として、結晶形の異
なる2種の錯体の混合比率と表面抵抗との関係図を示す
。第1b図は高分子マトリックスに対するR −T”
CN Q 錯体とT CN Q tjlf体による混合
錯体の配合部数を一定として、結晶形の異なる2種の錯
体の混合比率と表面抵抗との関係図を示す。第2図は本
発明の透明導電体の縦断面図を示す。第3図は実施例−
]−と実施例−2および比較例−1の各塗工液の25℃
55%RHにおける経過日数に対する表面抵抗の変化図
を示す。 第4図は本発明の実施例−1で得られた透明導電性高分
子膜中に析出したR −T CN Q 錯体の結晶構造
を示す偏向顕微鏡写真(倍率:200倍)である。第5
図はN −n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体を
単独で用いた場合の透明導電性高分子膜中に析出したT
CNQ錯体の結晶構造を示す偏向顕微鏡写真(倍率:
200倍)である。 ・・透明基材、 透明導電性高分子膜、 透明導電体。 第 図 第 口’37 /゛比較例−1 第 図 第 図 経過日数(日)
体による混合錯体の配合部数を一定として、結晶形の異
なる2種の錯体の混合比率と表面抵抗との関係図を示す
。第1b図は高分子マトリックスに対するR −T”
CN Q 錯体とT CN Q tjlf体による混合
錯体の配合部数を一定として、結晶形の異なる2種の錯
体の混合比率と表面抵抗との関係図を示す。第2図は本
発明の透明導電体の縦断面図を示す。第3図は実施例−
]−と実施例−2および比較例−1の各塗工液の25℃
55%RHにおける経過日数に対する表面抵抗の変化図
を示す。 第4図は本発明の実施例−1で得られた透明導電性高分
子膜中に析出したR −T CN Q 錯体の結晶構造
を示す偏向顕微鏡写真(倍率:200倍)である。第5
図はN −n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体を
単独で用いた場合の透明導電性高分子膜中に析出したT
CNQ錯体の結晶構造を示す偏向顕微鏡写真(倍率:
200倍)である。 ・・透明基材、 透明導電性高分子膜、 透明導電体。 第 図 第 口’37 /゛比較例−1 第 図 第 図 経過日数(日)
Claims (1)
- 透明な基材の少なくとも一面に、7,7,8,8−テ
トラシアノキノジメタン錯体結晶を含む導電性高分子膜
を形成させた透明導電体において、該錯体結晶が少なく
とも2種の結晶形錯体から成り、該錯体の少なくとも1
種がアルキル基置換7,7,8,8−テトラシアノキノ
ジメタン錯体であることを特徴とする透明導電体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15299690A JPH0447609A (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 透明導電体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15299690A JPH0447609A (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 透明導電体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0447609A true JPH0447609A (ja) | 1992-02-17 |
Family
ID=15552676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15299690A Pending JPH0447609A (ja) | 1990-06-12 | 1990-06-12 | 透明導電体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0447609A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016054316A (ja) * | 2001-12-05 | 2016-04-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
-
1990
- 1990-06-12 JP JP15299690A patent/JPH0447609A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016054316A (ja) * | 2001-12-05 | 2016-04-14 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
JP2017112388A (ja) * | 2001-12-05 | 2017-06-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
JP2018142718A (ja) * | 2001-12-05 | 2018-09-13 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
JP2019208035A (ja) * | 2001-12-05 | 2019-12-05 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
JP2021002674A (ja) * | 2001-12-05 | 2021-01-07 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 有機太陽電池 |
US11217764B2 (en) | 2001-12-05 | 2022-01-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic semiconductor element |
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