JPH0371507A - 透明導電体 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、透明導電体に関する。詳しくは、透明な基板
の面上に、?、7,8.8〜テトラシアノキノジメタン
(以下、TCNQという)錯体結晶を含んでなる導電性
高分子膜を形成させて得られる透明導電体に関する。
の面上に、?、7,8.8〜テトラシアノキノジメタン
(以下、TCNQという)錯体結晶を含んでなる導電性
高分子膜を形成させて得られる透明導電体に関する。
従来の透明導電性フィルムまたは透明導電性ガラスとし
ては、プラスチックフィルムまたはガラス上にイオンビ
ームスパソタ装置や真空蒸着装置を用いて金、白金など
の金属Fjllt!または酸化インジウム・ずず(以下
[TClという)などの金M#R化物薄膜を形成させた
ものが用いられている。また、帯電防止を目的とする透
明導電性フィルムとしては、透明もしくは半透明の界面
活性剤、つまりはアニオン系界面活性剤、カチオン系界
面活性剤。
ては、プラスチックフィルムまたはガラス上にイオンビ
ームスパソタ装置や真空蒸着装置を用いて金、白金など
の金属Fjllt!または酸化インジウム・ずず(以下
[TClという)などの金M#R化物薄膜を形成させた
ものが用いられている。また、帯電防止を目的とする透
明導電性フィルムとしては、透明もしくは半透明の界面
活性剤、つまりはアニオン系界面活性剤、カチオン系界
面活性剤。
非イオン系界面活性剤1両性界面活性剤などをプラスチ
ックフィルム中に練り込んだり、プラスチックフィルム
表面にコーティングすることにより、親木性とイオン性
を与えてフィルム表面に導電性を付与したものが使用さ
れている。
ックフィルム中に練り込んだり、プラスチックフィルム
表面にコーティングすることにより、親木性とイオン性
を与えてフィルム表面に導電性を付与したものが使用さ
れている。
しかし、金属や金属酸化物の薄膜を形成させる前記の方
法では、その薄膜を形成させるために用いられる!置が
高価であると共に、材料として用いられる金、白金など
の貴金属やITOなどが高価であり、従って得られる透
明導電体も高価なものであった。
法では、その薄膜を形成させるために用いられる!置が
高価であると共に、材料として用いられる金、白金など
の貴金属やITOなどが高価であり、従って得られる透
明導電体も高価なものであった。
また、界面活性剤を用いる方法では、その導電機構がフ
ィルム表面に付与された親水性とイオン性によって大気
中の水分を吸着して導電性を得るものであるために、そ
の導電性が大気の湿度の影響を受は易く、なおかつ単位
面積あたりの表面抵抗が10qΩ以下の導電性を得るこ
とができないという問題点があった。
ィルム表面に付与された親水性とイオン性によって大気
中の水分を吸着して導電性を得るものであるために、そ
の導電性が大気の湿度の影響を受は易く、なおかつ単位
面積あたりの表面抵抗が10qΩ以下の導電性を得るこ
とができないという問題点があった。
このような問題点に対して、バインダー樹脂中にTCN
QCN上配合し、電気絶縁性高分子フィルム表面にこの
配合物の膜を形成することによって透明導電化する方法
が、特開昭63−276815号公報において提案され
ている。この方法によって得られる透明導電性フィルム
は、その導電機構が針状結晶の析出による綱目状の導電
経路形成によるものであるため、その表面抵抗が大気中
の湿度等に影響されることがなく、比較的高い導電性を
有する透明導電性フィルムが得られるという利点がある
。
QCN上配合し、電気絶縁性高分子フィルム表面にこの
配合物の膜を形成することによって透明導電化する方法
が、特開昭63−276815号公報において提案され
ている。この方法によって得られる透明導電性フィルム
は、その導電機構が針状結晶の析出による綱目状の導電
経路形成によるものであるため、その表面抵抗が大気中
の湿度等に影響されることがなく、比較的高い導電性を
有する透明導電性フィルムが得られるという利点がある
。
しかし、該綱目状の導電経路は析出した針状結晶の接触
によるものであるため、この結晶成長の状態が溶剤の揮
発速度や乾燥時の温度分布の影響を受は易く、単位面積
あたりの導電経路数が不均一となることから表面抵抗の
バラツキが大きく、均一な表面抵抗が得られない。しか
も、高温(例えば、140℃加熱〉または高温高湿(例
えば、60”C。
によるものであるため、この結晶成長の状態が溶剤の揮
発速度や乾燥時の温度分布の影響を受は易く、単位面積
あたりの導電経路数が不均一となることから表面抵抗の
バラツキが大きく、均一な表面抵抗が得られない。しか
も、高温(例えば、140℃加熱〉または高温高湿(例
えば、60”C。
95%RH)の条件下において、該針状結晶の結合点が
少しでも劣化すると、その導電経路が著しく減少して導
電性が大幅に低下するという問題点があった。
少しでも劣化すると、その導電経路が著しく減少して導
電性が大幅に低下するという問題点があった。
ずなわち、TCNQCN上して、例えばN−n−ブチル
イソキノリニウムTCNIllf体の単独を用い、高分
子7トリクスの溶媒溶液中に該高分子マトリクスの固形
分100重量部に対し3〜100重量部溶解して、透明
基板の面上にグラビアコーターロールコータ−2または
スピンコーターなどを用いて’is膜を形成させると、
該薄膜内にTCNQti体が針状結晶として析出し、第
4図のように網目状の連鎖である導電経路が成長して導
電性が得られる。
イソキノリニウムTCNIllf体の単独を用い、高分
子7トリクスの溶媒溶液中に該高分子マトリクスの固形
分100重量部に対し3〜100重量部溶解して、透明
基板の面上にグラビアコーターロールコータ−2または
スピンコーターなどを用いて’is膜を形成させると、
該薄膜内にTCNQti体が針状結晶として析出し、第
4図のように網目状の連鎖である導電経路が成長して導
電性が得られる。
しかし、この場合、結晶成長の状態が溶剤の揮発速度や
乾燥時の温度分布の影響を受けるため、単位面積あたり
の導電経路が不均一となって表面抵抗のバラツキが大き
くなると共に、網目状連鎖である導電経路の結晶の結合
点が高温高湿の条件下において劣化を受け、著しく抵抗
が上昇するという問題点が認められた。
乾燥時の温度分布の影響を受けるため、単位面積あたり
の導電経路が不均一となって表面抵抗のバラツキが大き
くなると共に、網目状連鎖である導電経路の結晶の結合
点が高温高湿の条件下において劣化を受け、著しく抵抗
が上昇するという問題点が認められた。
したがって本発明は、表面抵抗のバラツキが小さく、か
つ高温または高温高湿の条件下においても導電性低下が
少ない透明導電体を低コストで供給することを目的とす
るものである。
つ高温または高温高湿の条件下においても導電性低下が
少ない透明導電体を低コストで供給することを目的とす
るものである。
本発明は、透明な基板の少なくとも一面上にTCNQ錯
体結晶を含む導電性高分子膜を形成させた透明導電体に
おいて、前記導電性高分子膜が結晶形の異なる2種以上
のTCNQti体を含むことを特徴とする透明導電体で
ある。
体結晶を含む導電性高分子膜を形成させた透明導電体に
おいて、前記導電性高分子膜が結晶形の異なる2種以上
のTCNQti体を含むことを特徴とする透明導電体で
ある。
(作 用)
高分子マトリクス中にTCNQCN上して針状、板状な
ど2種以上の結晶形の異なるものが配合されているので
、導電性高分子膜において前記の形状とは異なる形状の
結晶が密に析出し、従来知られている結晶形が針状形の
みである場合と比較して結晶相互の接触点数が増大し、
導電性高分子膜の体積固有抵抗および基板の表面抵抗を
低くすることができ、これによって、同一の表面抵抗を
得る場合において、膜の厚さを薄くすることが可能とな
り、透明性が向上すると共にコストを低減できるという
利点がある。また、その表面抵抗は、単位面積中におけ
る前記結晶相互の接触点数の増大によってバラツキが小
さくなり、加えて高温または高温高湿の条件下における
抵抗値の上昇も少なくなるものである。
ど2種以上の結晶形の異なるものが配合されているので
、導電性高分子膜において前記の形状とは異なる形状の
結晶が密に析出し、従来知られている結晶形が針状形の
みである場合と比較して結晶相互の接触点数が増大し、
導電性高分子膜の体積固有抵抗および基板の表面抵抗を
低くすることができ、これによって、同一の表面抵抗を
得る場合において、膜の厚さを薄くすることが可能とな
り、透明性が向上すると共にコストを低減できるという
利点がある。また、その表面抵抗は、単位面積中におけ
る前記結晶相互の接触点数の増大によってバラツキが小
さくなり、加えて高温または高温高湿の条件下における
抵抗値の上昇も少なくなるものである。
以下、本発明の詳細な説明するや
本発明で用いる↑CNQ錯体は、TCNQと適当な種類
のドナー(D4)との組合せによってその体積固有抵抗
がio−’〜10″6Ω・値の広い範囲にわたることが
できるものである。
のドナー(D4)との組合せによってその体積固有抵抗
がio−’〜10″6Ω・値の広い範囲にわたることが
できるものである。
また、結晶形の異なる2種のTCNQ措体の組合せの具
体例としては、 fl)N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQlf体
とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウムTCNQ
錯体、 (2)N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQtI体
とN−n−ブチル−α−ピコリニウムTCNQ錯体、+
31N−n−ブチル−α−ピコリニウムTCNQI体と
N−n−ブチル−N−メチルモルホリニウムTCNQ錯
体、 +41N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体と
N−n−オクチルイソキノリニウムTCNQii体、な
どが挙げられ、結晶形の異なる3種以上のTCNQ錯体
を組み合わせることもできる。
体例としては、 fl)N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQlf体
とN−n−ブチル−N−メチルモルホリニウムTCNQ
錯体、 (2)N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQtI体
とN−n−ブチル−α−ピコリニウムTCNQ錯体、+
31N−n−ブチル−α−ピコリニウムTCNQI体と
N−n−ブチル−N−メチルモルホリニウムTCNQ錯
体、 +41N−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体と
N−n−オクチルイソキノリニウムTCNQii体、な
どが挙げられ、結晶形の異なる3種以上のTCNQ錯体
を組み合わせることもできる。
次に、結晶形の異なるTCNQtW体を組み合わせる時
のこれらの配合比率の効果について説明する。
のこれらの配合比率の効果について説明する。
高分子マトリクスへのTCNQti体混合物の配合割合
を、例えば高分子マトリクス100重量部に対してTC
NQ錯体混合物80重量部と一定にして、N−n−ブチ
ルイソキノリニウムTCNQtf体とN−n−ブチル−
N−メチルモルホリニウムTCNQ錯体との配合比率を
変えたものをそれぞれ基板上にコーティングして塗膜厚
0.1μmの高分子膜を形成させたとき、これら2種の
tcNQti体の配合比率と、得られた基板の表面抵抗
との関係は第1図に示す通りである。
を、例えば高分子マトリクス100重量部に対してTC
NQ錯体混合物80重量部と一定にして、N−n−ブチ
ルイソキノリニウムTCNQtf体とN−n−ブチル−
N−メチルモルホリニウムTCNQ錯体との配合比率を
変えたものをそれぞれ基板上にコーティングして塗膜厚
0.1μmの高分子膜を形成させたとき、これら2種の
tcNQti体の配合比率と、得られた基板の表面抵抗
との関係は第1図に示す通りである。
結晶形の異なるTCNQ錯体の配合比率は、混合によっ
て最も低い表面抵抗が得られるように選定すればよく、
これは実験的に求めればよい。本発明者らの実験結果に
よれば、2種のTCNQ錯体を組み合わせる場合の配合
比率は重量比で1:9〜9:1の範囲、好ましくは2:
8〜8:2の範囲である。
て最も低い表面抵抗が得られるように選定すればよく、
これは実験的に求めればよい。本発明者らの実験結果に
よれば、2種のTCNQ錯体を組み合わせる場合の配合
比率は重量比で1:9〜9:1の範囲、好ましくは2:
8〜8:2の範囲である。
本発明において透明導電性高分子膜の形成に使用される
高分子マトリクスは、透明性が高く、かつ用いられる透
明基板との密着性が大きいことが好ましく、更に高分子
膜を形成させる方法は後述のようにコーティング法によ
ることから、高分子マトリクスは汎用溶剤に溶解するも
のが用いられる。このような高分子マトリクスとしては
、フェノール樹脂、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、ポ
リエステル、アルキノド樹脂、ポリビニルブチラール、
ポリウレタン、ポリカーボネート、シリコーン樹脂、ポ
リ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリ酢酸ビニル、ポリビ
ニルアルコール、アクリロニトリル−ブタジェン−スチ
レン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体などが挙
げられ、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、ポリエステル
、ポリスチレンの使用が好ましい。
高分子マトリクスは、透明性が高く、かつ用いられる透
明基板との密着性が大きいことが好ましく、更に高分子
膜を形成させる方法は後述のようにコーティング法によ
ることから、高分子マトリクスは汎用溶剤に溶解するも
のが用いられる。このような高分子マトリクスとしては
、フェノール樹脂、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、ポ
リエステル、アルキノド樹脂、ポリビニルブチラール、
ポリウレタン、ポリカーボネート、シリコーン樹脂、ポ
リ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリ酢酸ビニル、ポリビ
ニルアルコール、アクリロニトリル−ブタジェン−スチ
レン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体などが挙
げられ、アクリル樹脂、メタクリル樹脂、ポリエステル
、ポリスチレンの使用が好ましい。
上記高分子マトリクスとTCNQ錯体とを溶解して溶液
を得るための溶剤は、ジメチルホルムアミド。
を得るための溶剤は、ジメチルホルムアミド。
ジメチルアセドア壽ド、ホルムアミド、プロピレンカー
ボネート、T−ブチロラクトン、ジメチルスルホキシド
、スルホラン、N−メチル−2−ピロリドン、アセトニ
トリル、プロピオニトリルシクロヘキサノン、メチルエ
チルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブなど
の中から選び、単一または混合溶剤として使用すること
ができる。
ボネート、T−ブチロラクトン、ジメチルスルホキシド
、スルホラン、N−メチル−2−ピロリドン、アセトニ
トリル、プロピオニトリルシクロヘキサノン、メチルエ
チルケトン、メチルセロソルブ、エチルセロソルブなど
の中から選び、単一または混合溶剤として使用すること
ができる。
溶媒は、特にシクロヘキサノン、メチルエチルケトン、
メチルセロソルブが好ましく、更にTCNQtt体の安
定性の面から、脱水・蒸溜し精製したものを使用するこ
とが望ましい。
メチルセロソルブが好ましく、更にTCNQtt体の安
定性の面から、脱水・蒸溜し精製したものを使用するこ
とが望ましい。
前記高分子マトリクスを上記溶剤に溶解し、高分子マト
リクス100重量部に対して、結晶形の異なる2種以上
のTCNQ錯体の混合物2〜200這量部、好ましくは
5〜100重量部を分散溶解させる。この際、スパイラ
ルミキサー、プラネタリ−ミキサー、ディスパーサ−、
ハイブリッドミキサーなどのブレード型攪拌混練装置が
好適に用いられる。なお、この後更にボールミル、振動
ミルサンドミルなどのボール型混練装置を用いて分散溶
解を徹底化するのが望ましい。
リクス100重量部に対して、結晶形の異なる2種以上
のTCNQ錯体の混合物2〜200這量部、好ましくは
5〜100重量部を分散溶解させる。この際、スパイラ
ルミキサー、プラネタリ−ミキサー、ディスパーサ−、
ハイブリッドミキサーなどのブレード型攪拌混練装置が
好適に用いられる。なお、この後更にボールミル、振動
ミルサンドミルなどのボール型混練装置を用いて分散溶
解を徹底化するのが望ましい。
高分子マトリクス−溶剤−TCNQii体の混合液(以
下TCNQ塗工液という)はグラビアコーターなどを使
用し、透明基板にコーティングする。後述する厚さの高
分子膜を得るには、TCNQ塗工液の粘度を1000c
P以下、好ましくは■〜100cPの範囲とし、固形分
′MI〜20重量%の範囲とすることが好ましい。
下TCNQ塗工液という)はグラビアコーターなどを使
用し、透明基板にコーティングする。後述する厚さの高
分子膜を得るには、TCNQ塗工液の粘度を1000c
P以下、好ましくは■〜100cPの範囲とし、固形分
′MI〜20重量%の範囲とすることが好ましい。
TCNQ塗工液を塗工する透明基板としては、透明性の
高いプラスチソクフィルムまたはガラス板が用いられる
。ブラスチンクフィルムとしては、例えばポリエチレン
フィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリプロピレンフ
ィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフィルム
、ポリカーボネートフィルム、ボリアリレートフィルム
、ポリフッ化ビニリデンフィルム、ポリアミドフィルム
などがある。これらプラスチックフィルムは、少なくと
もその一面に透明導電性高分子膜を形成させるため、該
高分子膜の密着性を向上させる目的で上記表面をコロナ
放電処理またはプラズマ処理することが好ましい。また
、TCNQ塗工液によって形成される透明導電性高分子
膜は、その厚さが大きいと得られる透明導電体の透明性
が低下するので、なるべく薄いことが要求され、す7゛
藁クロンから10μmの範囲、好ましくは0.1〜1μ
mの範囲とするのがよい。
高いプラスチソクフィルムまたはガラス板が用いられる
。ブラスチンクフィルムとしては、例えばポリエチレン
フィルム、ポリ塩化ビニルフィルム、ポリプロピレンフ
ィルム、ポリスチレンフィルム、ポリエステルフィルム
、ポリカーボネートフィルム、ボリアリレートフィルム
、ポリフッ化ビニリデンフィルム、ポリアミドフィルム
などがある。これらプラスチックフィルムは、少なくと
もその一面に透明導電性高分子膜を形成させるため、該
高分子膜の密着性を向上させる目的で上記表面をコロナ
放電処理またはプラズマ処理することが好ましい。また
、TCNQ塗工液によって形成される透明導電性高分子
膜は、その厚さが大きいと得られる透明導電体の透明性
が低下するので、なるべく薄いことが要求され、す7゛
藁クロンから10μmの範囲、好ましくは0.1〜1μ
mの範囲とするのがよい。
本発明で得られる透明導電体は、電子部品などの包装材
料、オーバーへソドブロジ五りタ用フィルム、スライド
フィルムなどの電子写真記録林料等の帯電防止フィルム
、更には透明タッチパネル。
料、オーバーへソドブロジ五りタ用フィルム、スライド
フィルムなどの電子写真記録林料等の帯電防止フィルム
、更には透明タッチパネル。
エレクトロルミネノセンスディスプレイ、液晶デイスプ
レィなどの入力および表示デバイス表面の帯電防止や透
明電極として利用される透明導電性フィルムあるいは透
明導電性ガラスなどとして使用することができる。
レィなどの入力および表示デバイス表面の帯電防止や透
明電極として利用される透明導電性フィルムあるいは透
明導電性ガラスなどとして使用することができる。
以下−1実施例および比較例により、本発明を具体的に
説明する。
説明する。
〔実施例−1〕
透明基板として厚さ75μmのポリエステルフィルム「
ルミラーITタイプ」 (東し曲製商品名)を使用した
。
ルミラーITタイプ」 (東し曲製商品名)を使用した
。
高分子マトリクスとして、ガラス転移点90’C1環球
法軟化点185℃の飽和共重合ポリエステル「エリ−チ
ル” X、l−7539J (ユニチカ■製商晶名)
10重量部を、シクロヘキサノン/メチルエチルケトン
(80/20)の混合溶剤500徂量部に高速ディスパ
ーサ−を用いて溶解し、この中にNn−ブチルイソキノ
リニウムTCNII錯体(日東化学工業■製)5.3重
量部、およびN−n−ブチルN−メチルモルホリニウム
TCNQ錯体(日東化学工業[J)2.7重量部を添加
し、ディスパーサ−を用いて攪拌溶解後、サンドミル処
理を行い、ついで濾紙(ワットマンフィルターペーパー
臘3)を用いて濾過を行った。得られた液100重量部
にトルエンジイソシアネート・トリメチルプロパンアダ
ク[プレポリマー「コロネートLJ (日本ポリウレ
タン工業al製商品名)0.25重量部乙、ブロッキン
グ防止剤「モディバーFJ (日本油脂特製商品名)
0.1重蟹部を添加した後、再度ディスパーサ−で撹拌
し、粘度15cPのTCNQ塗工液を調製した。
法軟化点185℃の飽和共重合ポリエステル「エリ−チ
ル” X、l−7539J (ユニチカ■製商晶名)
10重量部を、シクロヘキサノン/メチルエチルケトン
(80/20)の混合溶剤500徂量部に高速ディスパ
ーサ−を用いて溶解し、この中にNn−ブチルイソキノ
リニウムTCNII錯体(日東化学工業■製)5.3重
量部、およびN−n−ブチルN−メチルモルホリニウム
TCNQ錯体(日東化学工業[J)2.7重量部を添加
し、ディスパーサ−を用いて攪拌溶解後、サンドミル処
理を行い、ついで濾紙(ワットマンフィルターペーパー
臘3)を用いて濾過を行った。得られた液100重量部
にトルエンジイソシアネート・トリメチルプロパンアダ
ク[プレポリマー「コロネートLJ (日本ポリウレ
タン工業al製商品名)0.25重量部乙、ブロッキン
グ防止剤「モディバーFJ (日本油脂特製商品名)
0.1重蟹部を添加した後、再度ディスパーサ−で撹拌
し、粘度15cPのTCNQ塗工液を調製した。
該塗工液を線数180メツシユ、深度35μmのグラビ
アコーク−により前記ポリエステルフィルムの一面にコ
ーティングし、乾燥塗膜の厚さが0.1μmの透明導電
性高分子膜を形成させた。得られたフィルムを加温エイ
ジング(60℃、72時間)した後、DClooVを印
加して表面抵抗を測定したところ、単位面積あたりの平
均(!! 4.8×10SΩ、最大値5.0X10’Ω
、最小値4.7×105Ωであってバラツキが小さく、
その光透過率は90%以−E1ヘイズは15以下であっ
た。
アコーク−により前記ポリエステルフィルムの一面にコ
ーティングし、乾燥塗膜の厚さが0.1μmの透明導電
性高分子膜を形成させた。得られたフィルムを加温エイ
ジング(60℃、72時間)した後、DClooVを印
加して表面抵抗を測定したところ、単位面積あたりの平
均(!! 4.8×10SΩ、最大値5.0X10’Ω
、最小値4.7×105Ωであってバラツキが小さく、
その光透過率は90%以−E1ヘイズは15以下であっ
た。
実施例−lで用いた飽和共重合ポリエステル10重量部
に対し、実施例−1で用いた2種類のTCNQ錯体に代
えてN−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体のみ
を8服量部添加し、その他の条件は実施例−1と同様に
して乾燥塗膜の厚さが0.1μmの透明導電性高分子膜
を形成させた。得られたフィルムを実施例−1と同様に
して測定した表面抵抗は、単位面積あたり平均値3.8
X10’Ω、最大値4.8X10”Ω、最小値2.lX
106Ωであって、バラツキが大きかった。
に対し、実施例−1で用いた2種類のTCNQ錯体に代
えてN−n−ブチルイソキノリニウムTCNQ錯体のみ
を8服量部添加し、その他の条件は実施例−1と同様に
して乾燥塗膜の厚さが0.1μmの透明導電性高分子膜
を形成させた。得られたフィルムを実施例−1と同様に
して測定した表面抵抗は、単位面積あたり平均値3.8
X10’Ω、最大値4.8X10”Ω、最小値2.lX
106Ωであって、バラツキが大きかった。
実施例−lおよび比較例−1で得られた各々のフィルム
を、60℃、95%RHの高温高温の雰囲気中に保持し
てその表面抵抗の変化を測定した。
を、60℃、95%RHの高温高温の雰囲気中に保持し
てその表面抵抗の変化を測定した。
その結果は、第2図に示すように実施例−1で得られた
フィルムはその抵抗値の上昇が少なく、実用上の帯電防
止フィルムに必要な単位面積あたり109Ωの表面抵抗
を120時間経過しても維持し導電性が保たれていた。
フィルムはその抵抗値の上昇が少なく、実用上の帯電防
止フィルムに必要な単位面積あたり109Ωの表面抵抗
を120時間経過しても維持し導電性が保たれていた。
しかし、比較例−lで得られたフィルムは48時間経過
時に単位面積あたりの抵抗値がIQIIΩ以上に増大し
導電性が大幅に低下した。
時に単位面積あたりの抵抗値がIQIIΩ以上に増大し
導電性が大幅に低下した。
〔実施例−2〕
透明基板として、厚さ1■のガラス板を使用した。
高分子マトリクスとして、メチルメタクリレートとスチ
レンとの共重合体5重量部をシクロへキサノン95電量
部に混合溶解し、この中にN−nブチルイソキノリニウ
ムTCNQti体0.3重量部とN−n−−ブチル−α
−ピコリニウムTCNQ諸体0.7重量部とを添加し、
実施例−lに準して撹拌溶解し、TCNQCN法を得た
。
レンとの共重合体5重量部をシクロへキサノン95電量
部に混合溶解し、この中にN−nブチルイソキノリニウ
ムTCNQti体0.3重量部とN−n−−ブチル−α
−ピコリニウムTCNQ諸体0.7重量部とを添加し、
実施例−lに準して撹拌溶解し、TCNQCN法を得た
。
上記ガラス板に該TCNQCN法をスビンコー1− L
、ホットプレートで70℃、2分間乾燥したところ、厚
さ0.15μmの透明な膜が形成された。この実施例で
得られた透明導電性高分子膜中に析出したTCNQ錯体
の結晶構造を示す偏光顕微鏡写真を第3図に示す。得ら
れた透明導電体の表面抵抗は、単位面積あたり8,1x
lO’Ωであった。
、ホットプレートで70℃、2分間乾燥したところ、厚
さ0.15μmの透明な膜が形成された。この実施例で
得られた透明導電性高分子膜中に析出したTCNQ錯体
の結晶構造を示す偏光顕微鏡写真を第3図に示す。得ら
れた透明導電体の表面抵抗は、単位面積あたり8,1x
lO’Ωであった。
〔比較例−2〕
N−n−−ヘキシルイソキノリニウムTCNQ錯体を単
独で1.0重置部用いた他は実施例−2と同様にして処
理した。厚さ0.15μmの湧明膜が形成された導電体
の表面抵抗は、単位面積あたり3.7×108Ωであっ
た。
独で1.0重置部用いた他は実施例−2と同様にして処
理した。厚さ0.15μmの湧明膜が形成された導電体
の表面抵抗は、単位面積あたり3.7×108Ωであっ
た。
実施例−2および比較例−2で得られた各々の透明導電
体をホ・2ドブレートで加熱した。実施例2で得られた
導電体は140℃で2分間加熱しても単位面積あたりの
表面抵抗は2.2X10’Ωであった。しかし、比較例
−2で得られた導電体は、より低温の100℃で2分間
の加熱で申位面積あたりの表面抵抗がIQ+!Ω以上に
増大し、導電性の低下が大きかった。
体をホ・2ドブレートで加熱した。実施例2で得られた
導電体は140℃で2分間加熱しても単位面積あたりの
表面抵抗は2.2X10’Ωであった。しかし、比較例
−2で得られた導電体は、より低温の100℃で2分間
の加熱で申位面積あたりの表面抵抗がIQ+!Ω以上に
増大し、導電性の低下が大きかった。
本発明によれば、結晶形の異なる2種以上のTCNQt
W体を混合して用いることにより、高い導電性を発現し
、表面抵抗のバラツキが小さく、しかも高温または高温
高7Wの条件下においても導電性低下の少ない透明導電
体を得ることができる。
W体を混合して用いることにより、高い導電性を発現し
、表面抵抗のバラツキが小さく、しかも高温または高温
高7Wの条件下においても導電性低下の少ない透明導電
体を得ることができる。
第1図は結晶形が互いに異なる2種のTCNI)錯体の
配合比率と得られた基板の表面抵、抗との関係を示すグ
ラフ、第2図は実施例−1および比較例1で得られた各
フィルムの高温高温(60℃、95%RH)の雰囲気下
における表面抵抗の変化を示すグラフ、第3図は実施例
−2で得られた透明導電性高分子膜中に析出したTCN
Q錯体の結晶構造を示す偏光顕微鏡写真(倍率=200
倍)、第4図はN−n−ブチルイソキノリニウムTCN
Qtit体を単独で用いた場合の透明導電性高分子膜中
に析出したTCNQ錯体の結晶構造を示す偏光U4微鏡
写真(倍率;200倍〉である。
配合比率と得られた基板の表面抵、抗との関係を示すグ
ラフ、第2図は実施例−1および比較例1で得られた各
フィルムの高温高温(60℃、95%RH)の雰囲気下
における表面抵抗の変化を示すグラフ、第3図は実施例
−2で得られた透明導電性高分子膜中に析出したTCN
Q錯体の結晶構造を示す偏光顕微鏡写真(倍率=200
倍)、第4図はN−n−ブチルイソキノリニウムTCN
Qtit体を単独で用いた場合の透明導電性高分子膜中
に析出したTCNQ錯体の結晶構造を示す偏光U4微鏡
写真(倍率;200倍〉である。
Claims (1)
- (1) 透明な基板の少なくとも一面上に、7,7,8
,8−テトラシアノキノジメタン錯体結晶を含む導電性
高分子膜を形成させた透明導電体において、前記導電性
高分子膜が結晶形の異なる2種以上の7,7,8,8−
テトラシアノキノジメタン錯体を含むことを特徴とする
透明導電体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20684589A JPH0371507A (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 透明導電体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20684589A JPH0371507A (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 透明導電体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0371507A true JPH0371507A (ja) | 1991-03-27 |
Family
ID=16530012
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20684589A Pending JPH0371507A (ja) | 1989-08-11 | 1989-08-11 | 透明導電体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0371507A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8803816B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-08-12 | Qualcomm Incorporated | Multi-fold mobile device with configurable interface |
US8836611B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-09-16 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel device with configurable interface |
US8860765B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Mobile device with an inclinometer |
US8860632B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel device with configurable interface |
US8863038B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel electronic device |
US8933874B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-01-13 | Patrik N. Lundqvist | Multi-panel electronic device |
US8947320B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-02-03 | Qualcomm Incorporated | Method for indicating location and direction of a graphical user interface element |
US9009984B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-04-21 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel electronic device |
-
1989
- 1989-08-11 JP JP20684589A patent/JPH0371507A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8803816B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-08-12 | Qualcomm Incorporated | Multi-fold mobile device with configurable interface |
US8836611B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-09-16 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel device with configurable interface |
US8860765B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Mobile device with an inclinometer |
US8860632B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel device with configurable interface |
US8863038B2 (en) | 2008-09-08 | 2014-10-14 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel electronic device |
US8933874B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-01-13 | Patrik N. Lundqvist | Multi-panel electronic device |
US8947320B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-02-03 | Qualcomm Incorporated | Method for indicating location and direction of a graphical user interface element |
US9009984B2 (en) | 2008-09-08 | 2015-04-21 | Qualcomm Incorporated | Multi-panel electronic device |
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