JPH0442596A - 多層回路基板の製造方法 - Google Patents
多層回路基板の製造方法Info
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は多層回路基板の製造方法に関し、更に詳しくは
、スルーホールを穿設することなく、少なくとも2個の
導体回路を層状に組込むことを可能にした多層回路基板
の製造方法に関する。
、スルーホールを穿設することなく、少なくとも2個の
導体回路を層状に組込むことを可能にした多層回路基板
の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来の片面多層回路板は概ね次のようにして製造されて
いる。すなわち、まず、絶縁基材の片面に、サブトラク
ト法によって、必要パターンの導体回路が形成される。
いる。すなわち、まず、絶縁基材の片面に、サブトラク
ト法によって、必要パターンの導体回路が形成される。
ついで、この導体回路の上に、例えばスクリーン印刷法
で、ソルダーレジストのような絶縁樹脂を所望のパター
ンで塗布したのちこれを乾燥し、更にこの上に導電性ペ
ーストの所望パターンを例えばスクリーン印刷法で塗布
する。また、最後に、この導電性ペーストの上をレベラ
ーで仕上げている場合もある。
で、ソルダーレジストのような絶縁樹脂を所望のパター
ンで塗布したのちこれを乾燥し、更にこの上に導電性ペ
ーストの所望パターンを例えばスクリーン印刷法で塗布
する。また、最後に、この導電性ペーストの上をレベラ
ーで仕上げている場合もある。
したがって、この片面多層回路板においては、基板の表
面側に導電性ペーストから成る導体回路が形成され、絶
縁基材の中に別の導体回路が形成されていて、両者の間
にはソルダーレジストが介在するという構造になってい
る。
面側に導電性ペーストから成る導体回路が形成され、絶
縁基材の中に別の導体回路が形成されていて、両者の間
にはソルダーレジストが介在するという構造になってい
る。
(発明が解決しようとする課題)
上記した片面多層回路基板の場合、導体回路間に介在す
る絶縁体はプリプレグではなくソルダーレジストである
ため、まず、価格的に安価となり、また、穴の穿設加工
が不要になるという点で工業的に有利であるという利点
を備えている。
る絶縁体はプリプレグではなくソルダーレジストである
ため、まず、価格的に安価となり、また、穴の穿設加工
が不要になるという点で工業的に有利であるという利点
を備えている。
しかしながら、基板の表面側に位置する導体回路は金属
微粒子を樹脂マトリックスに分散せしめた導電性ペース
トから成るため、外部からの力に弱く、金属導体回路に
比べて容易に破壊されるという問題がある。また、その
電気抵抗は金属導体の場合に比べて著しく高く、しかも
絶縁体や導体回路との密着強度が小さい。
微粒子を樹脂マトリックスに分散せしめた導電性ペース
トから成るため、外部からの力に弱く、金属導体回路に
比べて容易に破壊されるという問題がある。また、その
電気抵抗は金属導体の場合に比べて著しく高く、しかも
絶縁体や導体回路との密着強度が小さい。
更に、この導電性ペーストから成る導体回路に他の素子
を半田付けすることができないため、半導体素子などを
基板に表面実装することは不可能である。素子の実装を
行おうとすれば、結局、穴加工が必要になってしまう。
を半田付けすることができないため、半導体素子などを
基板に表面実装することは不可能である。素子の実装を
行おうとすれば、結局、穴加工が必要になってしまう。
本発明は、上記した問題の全てを解決し、優れた性能を
有する多層回路基板の新規な製造方法の提供を目的とす
る。
有する多層回路基板の新規な製造方法の提供を目的とす
る。
(課題を解決するための手段)
上記した目的を達成するために、本発明においては、平
板状導電基材の表面に金属薄層を形成する工程(以下、
第1工程という);前記金属薄層の上に所望パターンの
第1の導体回路を形成する工程(以下、第2工程という
);形成すべき第2の導体回路と前記第1の導体回路と
の導通個所を除いた前記第1の導体回路の一部および前
記金属薄層の表面に樹脂絶縁層を形成する工程(以下、
第3工程という);前記樹脂絶縁層の上に、形成すべき
第2の導体回路に相当するパターンで、かつ、前記第1
の導体回路と一部が接触するようにして導電性ペースト
層を形成する工程(以下、第4工程という);前記導電
性ペースト層の表面に電気めっき法で金属めっき層を形
成する工程(以下、第5工程という);前記金属めっき
層側の表面と絶縁基材とを接着して一体化する工程(以
下、第6エ程という);前記一体化物から前記平板状導
電基材のみを剥離して、前記金属めっき層、前記導電性
ペースト層、前記樹脂絶縁層、前記第1の導体回路、お
よび前記金属薄層を前記絶縁基材側に転写する工程(以
下、第7エ程という);ならびに、前記金属薄層のみを
除去する工程(以下、第8工程という);を備えている
ことを特徴とする多層回路基板の製造方法が提供される
。
板状導電基材の表面に金属薄層を形成する工程(以下、
第1工程という);前記金属薄層の上に所望パターンの
第1の導体回路を形成する工程(以下、第2工程という
);形成すべき第2の導体回路と前記第1の導体回路と
の導通個所を除いた前記第1の導体回路の一部および前
記金属薄層の表面に樹脂絶縁層を形成する工程(以下、
第3工程という);前記樹脂絶縁層の上に、形成すべき
第2の導体回路に相当するパターンで、かつ、前記第1
の導体回路と一部が接触するようにして導電性ペースト
層を形成する工程(以下、第4工程という);前記導電
性ペースト層の表面に電気めっき法で金属めっき層を形
成する工程(以下、第5工程という);前記金属めっき
層側の表面と絶縁基材とを接着して一体化する工程(以
下、第6エ程という);前記一体化物から前記平板状導
電基材のみを剥離して、前記金属めっき層、前記導電性
ペースト層、前記樹脂絶縁層、前記第1の導体回路、お
よび前記金属薄層を前記絶縁基材側に転写する工程(以
下、第7エ程という);ならびに、前記金属薄層のみを
除去する工程(以下、第8工程という);を備えている
ことを特徴とする多層回路基板の製造方法が提供される
。
以下に、本発明方法における各工程を第1図〜第8図に
則して説明する。
則して説明する。
まず、第1工程は平板状導電基材lの表面の全面に金属
薄層2を形成する工程である(第1図)。
薄層2を形成する工程である(第1図)。
この金属薄層2は、平板状導電基材1の表面に露出する
結晶欠陥のような組織欠陥を隠蔽して、次工程で形成す
る導体回路のパターン欠陥を防止するとともに、後述の
第6エ程において、絶縁基材と平板状導電基材とが直接
接着して、平板状導電基材の剥離と再使用が不可能にな
ることを防止するために形成される。
結晶欠陥のような組織欠陥を隠蔽して、次工程で形成す
る導体回路のパターン欠陥を防止するとともに、後述の
第6エ程において、絶縁基材と平板状導電基材とが直接
接着して、平板状導電基材の剥離と再使用が不可能にな
ることを防止するために形成される。
平板状導電基材1としては、例えば、ハードニング処理
を施したSUS 630のようなステンレススティール
板、ニッケル板、チタン板もしくはチタン合金板、銅板
もしくは銅合金板などをあげることができる。
を施したSUS 630のようなステンレススティール
板、ニッケル板、チタン板もしくはチタン合金板、銅板
もしくは銅合金板などをあげることができる。
金属薄層2を構成する金属としては、格別限定されるも
のではないが、通常、銅であることが好ましい。この金
属薄層2は最後の第8工程で除去される。したがって、
この除去作業が行いやすいように、その厚みは薄い方が
好ましいが、あまり薄いとピンホール発生の虞れがある
ので、通常は3〜5μm程度である。
のではないが、通常、銅であることが好ましい。この金
属薄層2は最後の第8工程で除去される。したがって、
この除去作業が行いやすいように、その厚みは薄い方が
好ましいが、あまり薄いとピンホール発生の虞れがある
ので、通常は3〜5μm程度である。
金属薄層2の形成方法としては、真空蒸着法やスパッタ
リング法のような薄膜形成法であってもよいが、工業的
には、電気めっき法であることが好ましい。その場合の
電気めっき法としては、薄層の形成が短時間で行なえて
高い生産性が得られるという点で、電流密度を40〜B
OA/dm”程度で行なう高速めっき法が好ましい。
リング法のような薄膜形成法であってもよいが、工業的
には、電気めっき法であることが好ましい。その場合の
電気めっき法としては、薄層の形成が短時間で行なえて
高い生産性が得られるという点で、電流密度を40〜B
OA/dm”程度で行なう高速めっき法が好ましい。
電気めっき法で金属薄層2を形成する場合、まず平板状
導電基材1の表面の汚れや酸化皮膜を除去し、ついで、
その表面に所望の粗面化処理が施される。
導電基材1の表面の汚れや酸化皮膜を除去し、ついで、
その表面に所望の粗面化処理が施される。
このときの表面粗度は、ここに形成される金属薄層2と
の密着強度や金属薄層2のピンホール発生状態に影響を
与える。そしてまた、後述の第7エ程において、平板状
導電基材lのみを金属薄層2から剥離する際に、その剥
離操作が容易に行なえる程度の密着強度が得られるよう
な粗度であることが好ましく、具体的には、1.5μm
以下が好ましい。このような粗面化処理は、各種の薬剤
を用いた食刻のような化学的方法、または、平板状導電
基材lの表面を化学的にクリーニングしたのち、湿式サ
ンドブラスト(液体ホーニング)等による機械的方法の
適用によって行なうことができる。
の密着強度や金属薄層2のピンホール発生状態に影響を
与える。そしてまた、後述の第7エ程において、平板状
導電基材lのみを金属薄層2から剥離する際に、その剥
離操作が容易に行なえる程度の密着強度が得られるよう
な粗度であることが好ましく、具体的には、1.5μm
以下が好ましい。このような粗面化処理は、各種の薬剤
を用いた食刻のような化学的方法、または、平板状導電
基材lの表面を化学的にクリーニングしたのち、湿式サ
ンドブラスト(液体ホーニング)等による機械的方法の
適用によって行なうことができる。
第2工程は、第1工程で形成された金属薄層2の上に、
目的とする多層回路基板の設計基準に基づく所定パター
ンの第1の導体回路3を形成する工程である(第2図)
。
目的とする多層回路基板の設計基準に基づく所定パター
ンの第1の導体回路3を形成する工程である(第2図)
。
この第1の導体回路3は、最終的に得られる多層回路基
板において、基板表面に露出した表面回路として機能す
る。したがって、第1の導体回路3の厚みは、最終的に
得られる多層回路基板における基板表面に露出した表面
回路と同じ設計基準の厚みになっている。
板において、基板表面に露出した表面回路として機能す
る。したがって、第1の導体回路3の厚みは、最終的に
得られる多層回路基板における基板表面に露出した表面
回路と同じ設計基準の厚みになっている。
この第1の導体回路3は、通常、銅で構成される。この
導体回路3は、金属薄層2の上に例えばスクリーン印刷
法またはドライフィルム法で第1の導体回路3のパター
ンとポジーネガの関係にあるレジストパターンを形成し
たのち、所定個所に上記した厚みで導体材料を堆積し、
ついでレジストパターンを剥離・除去することにより形
成される。
導体回路3は、金属薄層2の上に例えばスクリーン印刷
法またはドライフィルム法で第1の導体回路3のパター
ンとポジーネガの関係にあるレジストパターンを形成し
たのち、所定個所に上記した厚みで導体材料を堆積し、
ついでレジストパターンを剥離・除去することにより形
成される。
導体材料の堆積には、金属薄層2の形成の場合と同様の
各種の方法が適用されるが、やはり、電気めっき法を適
用することが好ましい。
各種の方法が適用されるが、やはり、電気めっき法を適
用することが好ましい。
第3工程は、第2工程で形成された第1の導体回路3を
含む表面に所定パターンの樹脂絶縁層4を形成する工程
である(第3図)。
含む表面に所定パターンの樹脂絶縁層4を形成する工程
である(第3図)。
この場合、樹脂絶縁層4のパターンは、形成すべき第2
の導体回路と第1の導体回路3との導通個所を除いた前
記第1の導体回路3の表面および金属薄層2の表面を被
覆するようなパターンである。
の導体回路と第1の導体回路3との導通個所を除いた前
記第1の導体回路3の表面および金属薄層2の表面を被
覆するようなパターンである。
この樹脂絶縁層4を形成するためには、第2工程で形成
された表面に例えばスクリーン印刷法やフォトレジスト
法などを用いて絶縁樹脂を所定のパターンで印刷塗布し
たのち、これを硬化すればよい。また、金型等で、第1
の導体回路3と第2の導体回路を接続する部分を打ち抜
いたフィルム状の絶縁樹脂を貼りつけてもよい。
された表面に例えばスクリーン印刷法やフォトレジスト
法などを用いて絶縁樹脂を所定のパターンで印刷塗布し
たのち、これを硬化すればよい。また、金型等で、第1
の導体回路3と第2の導体回路を接続する部分を打ち抜
いたフィルム状の絶縁樹脂を貼りつけてもよい。
用いる絶縁樹脂としては、金属薄層2や第1の導体回路
3との密着強度が高く、しかも絶縁抵抗。
3との密着強度が高く、しかも絶縁抵抗。
耐熱性、耐薬品性などが高い樹脂が好ましく、例えば、
エポキシ系樹脂、エポキシアクリレート系樹脂、耐熱ア
クリル系樹脂、シアネート系樹脂。
エポキシ系樹脂、エポキシアクリレート系樹脂、耐熱ア
クリル系樹脂、シアネート系樹脂。
ポリイミド系樹脂、フェノール系樹脂、ポリエステル樹
脂をあげることができる。
脂をあげることができる。
第4工程は、第3工程で形成された樹脂絶縁層4の上に
所定パターンの導電性ペースト層5を形成する工程であ
る(第4図)。
所定パターンの導電性ペースト層5を形成する工程であ
る(第4図)。
この場合、導電性ペースト層5のパターンは、形成すべ
き第2の導体回路のパターンと略同じパターンであり、
しかも、その一部は第1の導体回路3の第2の導体回路
5への導通個所にも接触している。
き第2の導体回路のパターンと略同じパターンであり、
しかも、その一部は第1の導体回路3の第2の導体回路
5への導通個所にも接触している。
この導電性ペースト層5を形成するためには、第3工程
で形成された表面に例えばスクリーン印刷法で導電性ペ
ーストを前記した所定のパターンで印刷塗布するか、ま
たは、スプレーノズル等で作画し、それを硬化させれば
よい。
で形成された表面に例えばスクリーン印刷法で導電性ペ
ーストを前記した所定のパターンで印刷塗布するか、ま
たは、スプレーノズル等で作画し、それを硬化させれば
よい。
用いる導電性ペーストとしては、可能な限り導電抵抗の
低いものが好ましく、また、樹脂絶縁層4や第1の導体
回路3、とりわけ第1の導体回路3との密着強度が高い
ものが好ましい。このような導電性ペーストとしては、
例えば、銅、銀、金。
低いものが好ましく、また、樹脂絶縁層4や第1の導体
回路3、とりわけ第1の導体回路3との密着強度が高い
ものが好ましい。このような導電性ペーストとしては、
例えば、銅、銀、金。
カーボン、白金、パラジウム、タングステン、モリブテ
ン/マンガンペーストなどをあげることができる。
ン/マンガンペーストなどをあげることができる。
第5工程は、第4工程で形成した導電性ペースト層5の
上に電気めっき法で金属めっき層6を形成する工程であ
る(第5図)。
上に電気めっき法で金属めっき層6を形成する工程であ
る(第5図)。
層6を構成する金属は、通常、銅である。この金属めっ
き層6は、第4工程で得られた基板を、平板状導電基材
1を陰極にした状態でめっき浴と接解させて電気めっき
を行なえばよい。
き層6は、第4工程で得られた基板を、平板状導電基材
1を陰極にした状態でめっき浴と接解させて電気めっき
を行なえばよい。
導電性ペースト層5と平板状導電基材1は、金属薄層2
および第1の導体回路3を介して導通しているので、導
電性ペースト層5の表面および第1の導体回路の導通個
所にはめっき浴中の金属が析出して、前記導電性ペース
ト層5と同じパターン、すなわち第2の導体回路と同じ
パターンの金属めっき層6が形成される。
および第1の導体回路3を介して導通しているので、導
電性ペースト層5の表面および第1の導体回路の導通個
所にはめっき浴中の金属が析出して、前記導電性ペース
ト層5と同じパターン、すなわち第2の導体回路と同じ
パターンの金属めっき層6が形成される。
この金属めっき層6およびその下に位置する導電性ペー
スト層5は、後述の第6エ程において、絶縁基材に埋設
され、第2の導体回路になる。
スト層5は、後述の第6エ程において、絶縁基材に埋設
され、第2の導体回路になる。
かくして、この第5工程が終了した時点では、金属薄層
2の上に、第1の導体回路3と、これに導通ずる第2の
導体回路になる金属めっき層6(および導電性ペースト
層5)ならびに第1の導体回路と第2の導体回路の間の
絶縁樹脂層4が形成される。
2の上に、第1の導体回路3と、これに導通ずる第2の
導体回路になる金属めっき層6(および導電性ペースト
層5)ならびに第1の導体回路と第2の導体回路の間の
絶縁樹脂層4が形成される。
第6エ程は、第5工程で得られた基板の導体回路側の面
に絶縁基材7を接着する工程である(第6図)。
に絶縁基材7を接着する工程である(第6図)。
絶縁基材としては、有機材料、無機材料いずれであって
もよく、例えば、ガラス、エポキシ系樹脂、フェノール
系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、シア
ネート系樹脂、ポリアラミド樹脂などの材料を用いるこ
とができる。また、鉄、アルミなどの導電性材料の表面
にホーロウ被覆したものや、アルミ表面にアルマイト処
理を施して絶縁化した材料を用いてもよい。
もよく、例えば、ガラス、エポキシ系樹脂、フェノール
系樹脂、ポリイミド系樹脂、ポリエステル系樹脂、シア
ネート系樹脂、ポリアラミド樹脂などの材料を用いるこ
とができる。また、鉄、アルミなどの導電性材料の表面
にホーロウ被覆したものや、アルミ表面にアルマイト処
理を施して絶縁化した材料を用いてもよい。
とくに、絶縁基材としては、ガラスの織布または不織布
にエポキシ樹脂のような樹脂を含浸せしめて半硬化状態
にあるプリプレグは好適である。
にエポキシ樹脂のような樹脂を含浸せしめて半硬化状態
にあるプリプレグは好適である。
この場合には、軟らかいプリプレグの中に、金属めっき
層5などの表面が埋め込まれる状態にまで両者を圧着し
のち、プリプレグを熱硬化せしめて一体化すればよい。
層5などの表面が埋め込まれる状態にまで両者を圧着し
のち、プリプレグを熱硬化せしめて一体化すればよい。
第7エ程は、第6エ程で得られた一体化物から平板状導
電基材1のみを剥離する工程である(第7図)。
電基材1のみを剥離する工程である(第7図)。
この工程を経ることによって、今までの工程によって形
成された金属めっき層6.導電性ペースト層5.樹脂絶
縁層4.第1の導体回路3.金属薄層2の全てが絶縁基
材7側に転写される。そして、全体の基板の表面は金属
薄層2で覆われた状態になる。
成された金属めっき層6.導電性ペースト層5.樹脂絶
縁層4.第1の導体回路3.金属薄層2の全てが絶縁基
材7側に転写される。そして、全体の基板の表面は金属
薄層2で覆われた状態になる。
第8工程は、第7エ程で得られた基板の表面から金属薄
層2を除去する工程である。除去方法としては、通常、
エツチング除去が行われる。
層2を除去する工程である。除去方法としては、通常、
エツチング除去が行われる。
かくして、第1の導体回路3が表面に露出し、第2の導
体回路は金属めっき層6として絶縁基材7の中に位置す
る片面2層回路基板が得られる。
体回路は金属めっき層6として絶縁基材7の中に位置す
る片面2層回路基板が得られる。
なお、絶縁基材7の両面に、第5工程を経て得られた基
板を一体化すれば、両面4層回路基板にすることもでき
る。
板を一体化すれば、両面4層回路基板にすることもでき
る。
本発明方法によって形成された片面2層回路基板を積み
重ねることにより更に多層化を実現することができる。
重ねることにより更に多層化を実現することができる。
このとき、スルーホールの加工が必要になるが、ファイ
ン多層基板になっているので回路密度が向上し、片面実
装が可能になる。
ン多層基板になっているので回路密度が向上し、片面実
装が可能になる。
また、第1工程で3〜5μmの金属薄層を形成させる代
わりに、18〜70μmの金属層を形成し、粗面化処理
を行ない、前記した第2工程を行なわずに、第3工程か
ら第7エ程を行なったのち、金属層上にドライフィルム
法またはスクリーン印刷法でレジストパターンを形成し
、ついで、エツチングによって第1の導体回路を最後に
形成させることも可能である。
わりに、18〜70μmの金属層を形成し、粗面化処理
を行ない、前記した第2工程を行なわずに、第3工程か
ら第7エ程を行なったのち、金属層上にドライフィルム
法またはスクリーン印刷法でレジストパターンを形成し
、ついで、エツチングによって第1の導体回路を最後に
形成させることも可能である。
(発明の実施例)
ハードニング処理を施したSUS 630の単板1の表
面をオシレーション付ロータリ羽布研磨装置によって研
磨して表面粗度を0.5μmにした。
面をオシレーション付ロータリ羽布研磨装置によって研
磨して表面粗度を0.5μmにした。
この単板を陰極、黒鉛板を陽極として極間距離をlロー
に保持し、極間に、浴組成が硫酸濃度200g/f、銅
濃度150 g/lのめっき浴を接液スピード5m/s
ecで供給し、電流密度80A/dm”で電解めっきを
行い、厚み2〜5μmの銅めっき層2を形成した(第1
工程)。
に保持し、極間に、浴組成が硫酸濃度200g/f、銅
濃度150 g/lのめっき浴を接液スピード5m/s
ecで供給し、電流密度80A/dm”で電解めっきを
行い、厚み2〜5μmの銅めっき層2を形成した(第1
工程)。
ついで、この銅めっき層2の上に、レジスト剤(サンフ
ォートAQ−4033,旭化成工業■製)を用いて所定
パターンのレジストマスクを形成したのち、前記第1工
程と同じ条件で電気めっきを行い、銅めっき層2の上に
厚み35μmで銅を電着し、更に2%水酸化ナトリウム
溶液中に3分間浸漬してレジストを除去した。
ォートAQ−4033,旭化成工業■製)を用いて所定
パターンのレジストマスクを形成したのち、前記第1工
程と同じ条件で電気めっきを行い、銅めっき層2の上に
厚み35μmで銅を電着し、更に2%水酸化ナトリウム
溶液中に3分間浸漬してレジストを除去した。
SUS単板単板上に所定パターンの銅回路(厚み35μ
m)3が形成されている基板が得られた(第2工程)。
m)3が形成されている基板が得られた(第2工程)。
ついで、この基板の表面にスクリーン印刷法によってエ
ポキシ系絶縁樹脂(OCR−200G。
ポキシ系絶縁樹脂(OCR−200G。
■アサヒ化学研究所製)を印刷塗布したのち、温度15
0℃で乾燥して銅めっき層2の全面と銅回路3の一部を
覆う樹脂絶縁層4を形成した(第3工程)。
0℃で乾燥して銅めっき層2の全面と銅回路3の一部を
覆う樹脂絶縁層4を形成した(第3工程)。
その後、樹脂絶縁層4の上に、スクリーン印刷法によっ
て、銅ペースト(S−5000,■三井金属製)を印刷
塗布し、温度180℃で乾燥した。
て、銅ペースト(S−5000,■三井金属製)を印刷
塗布し、温度180℃で乾燥した。
形成すべき第2の導体回路のパターンと近似し、かつそ
の一部は銅回路3と接続する導電性ペースト層5が形成
された(第4工程)。
の一部は銅回路3と接続する導電性ペースト層5が形成
された(第4工程)。
ついで、第4工程で形成された導電性ペースト層5の上
に電気めっき法で厚み10μmの銅めっき層6を形成し
た(第5工程)。
に電気めっき法で厚み10μmの銅めっき層6を形成し
た(第5工程)。
めっき条件は、電流密度10A/dm’、めっき時間1
0分であったことを除いては、第1工程の場合と同じで
ある。
0分であったことを除いては、第1工程の場合と同じで
ある。
この基板の上に、ガラスエポキシ樹脂系プリプレグ(商
品名:エドライトCCL、三菱瓦斯化学■製)7を重ね
、全体を圧25kg/ci、温度170℃で熱圧着した
(第6エ程)。
品名:エドライトCCL、三菱瓦斯化学■製)7を重ね
、全体を圧25kg/ci、温度170℃で熱圧着した
(第6エ程)。
得られた一体化物からSUS単板単板上を剥離した。プ
リプレグ7の側に銅めっき層2から層6の部分の全てが
転写された(第7エ程)。
リプレグ7の側に銅めっき層2から層6の部分の全てが
転写された(第7エ程)。
ついで、液組成が、硫酸92g/l−,過酸化水素10
体積%、液温30℃であるエッチャントに浸漬して厚み
3μmの銅めっき層2をエツチング除去した(第8工程
)。
体積%、液温30℃であるエッチャントに浸漬して厚み
3μmの銅めっき層2をエツチング除去した(第8工程
)。
表面に銅回路3が露出し、内部に銅めっき層6が第2の
回路として埋設された片面2層回路基板が得られた。
回路として埋設された片面2層回路基板が得られた。
基板表面に位置する銅回路3のビール強度は1.0−1
.9kg/l、5mm口、第2の回路の導通抵抗は、従
来の導電性ペーストから成る回路のそれよりも約1/l
O低い値であった。
.9kg/l、5mm口、第2の回路の導通抵抗は、従
来の導電性ペーストから成る回路のそれよりも約1/l
O低い値であった。
(発明の効果)
以上の説明で明らかなように、本発明方法によれば、基
板の表面に位置する回路は金属導体から成るので、従来
の導電性ペーストの場合に比べ、そのビール強度は著し
く向上する。しかも、この回路への半田付けが可能であ
るため、各種の素子を表面実装することができるように
なる。
板の表面に位置する回路は金属導体から成るので、従来
の導電性ペーストの場合に比べ、そのビール強度は著し
く向上する。しかも、この回路への半田付けが可能であ
るため、各種の素子を表面実装することができるように
なる。
また、別の回路となる導電性ペースト層は絶縁基材に埋
設された状態で位置し、しかもその表面には金属導体の
電気めっき層が形成されているので、この別の回路は外
部からの障害から防御されていると同時に導通抵抗も低
くなる。
設された状態で位置し、しかもその表面には金属導体の
電気めっき層が形成されているので、この別の回路は外
部からの障害から防御されていると同時に導通抵抗も低
くなる。
更に、本発明方法によれば、これら回路形成はスルーホ
ールの穿設を必要としないため、全体として、低コスト
で多層回路基板を製造することができる。
ールの穿設を必要としないため、全体として、低コスト
で多層回路基板を製造することができる。
第1図から第8図は、本発明方法の各工程を説明するた
めの概略部分断面図である。 1・・・平板状導電基材、2・・・金属薄層、3・・・
第1の導体回路、4・・・樹脂絶縁層、5・・・導電性
ペースト、6・・・金属めっき層、7・・・絶縁基材。
めの概略部分断面図である。 1・・・平板状導電基材、2・・・金属薄層、3・・・
第1の導体回路、4・・・樹脂絶縁層、5・・・導電性
ペースト、6・・・金属めっき層、7・・・絶縁基材。
Claims (1)
- 平板状導電基材の表面に金属薄層を形成する工程;前
記金属薄層の上に所望パターンの第1の導体回路を形成
する工程;形成すべき第2の導体回路と前記第1の導体
回路との導通個所を除いた前記第1の導体回路の一部お
よび前記金属薄層の表面に樹脂絶縁層を形成する工程;
前記樹脂絶縁層の上に、形成すべき第2の導体回路に相
当するパターンで、かつ、前記第1の導体回路と一部が
接触するようにして導電性ペースト層を形成する工程;
前記導電性ペースト層の表面に電気めっき法で金属めっ
き層を形成する工程;前記金属めっき層側の表面と絶縁
基材とを接着して一体化する工程;前記一体化物から前
記平板状導電基材のみを剥離して、前記金属めっき層,
前記導電性ペースト層,前記樹脂絶縁層,前記第1の導
体回路,および前記金属薄層を前記絶縁基材側に転写す
る工程;ならびに、前記金属薄層のみを除去する工程;
を備えていることを特徴とする多層回路基板の製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15114190A JP2922589B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 多層回路基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15114190A JP2922589B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 多層回路基板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0442596A true JPH0442596A (ja) | 1992-02-13 |
JP2922589B2 JP2922589B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=15512263
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15114190A Expired - Fee Related JP2922589B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | 多層回路基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2922589B2 (ja) |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP15114190A patent/JP2922589B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JP2922589B2 (ja) | 1999-07-26 |
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