JPH0442013A - タイヤ有効半径測定方法 - Google Patents
タイヤ有効半径測定方法Info
- Publication number
- JPH0442013A JPH0442013A JP15018590A JP15018590A JPH0442013A JP H0442013 A JPH0442013 A JP H0442013A JP 15018590 A JP15018590 A JP 15018590A JP 15018590 A JP15018590 A JP 15018590A JP H0442013 A JPH0442013 A JP H0442013A
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- JP
- Japan
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- tire
- roller
- rotation
- effective radius
- rotation pulses
- Prior art date
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- Granted
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、車両試験で自動車用タイヤの車速に対応した
有効半径の測定方法に関し、特に、許容誤差を変更可能
な測定方法に関する。
有効半径の測定方法に関し、特に、許容誤差を変更可能
な測定方法に関する。
Ｂ３発明の概要
本発明は、車両試験で自動車用タイヤの車速に対応した
有効半径の測定方法において、所望の分周数を設定し、
その分周数に対応する数のタイヤ回転パルスが検出され
る期間のローラ回転パルスを計数することで両者の回転
数の比を演算することにより、 許容誤差を所望の段階に変更可能な技術を提供するもの
である。
有効半径の測定方法において、所望の分周数を設定し、
その分周数に対応する数のタイヤ回転パルスが検出され
る期間のローラ回転パルスを計数することで両者の回転
数の比を演算することにより、 許容誤差を所望の段階に変更可能な技術を提供するもの
である。
Ｃ１従来の技術
自動車用タイヤの半径は走行車速によって５〜４０冨菖
程度変化するので、タイヤの有効半径を測定することは
タイヤ周りを設計する上で極めて重要である。そこで、
車両試験でも車速に対応した有効半径を測定する必要が
あり、通常はシャーシーダイナモメータ上に車両を載置
し、ある単位時間のタイヤの回転とローラの回転とから
演算を行っている。第４図は、そのような−従来例の構
成図で、図中４１は演算装置、４２は自動車、４３はロ
ーラ、４４は周波数変換器である。自動車４２のタイヤ
とローラ４３とは対接して回転するようになっていて、
パルスセンサ（Ｐ／Ｐ）により検出されたタイヤ回転周
波数とローラ回転周波数とは周波数変換器４４でディジ
タル値に変換され、演算装置４１に入力される。演算装
置４１は、タイヤ回転数ｎ、及びローラ回転数ｎ２と既
知のローラ半径ｒとから、下記の演算によりタイヤ半径
Ｒを算出する。
程度変化するので、タイヤの有効半径を測定することは
タイヤ周りを設計する上で極めて重要である。そこで、
車両試験でも車速に対応した有効半径を測定する必要が
あり、通常はシャーシーダイナモメータ上に車両を載置
し、ある単位時間のタイヤの回転とローラの回転とから
演算を行っている。第４図は、そのような−従来例の構
成図で、図中４１は演算装置、４２は自動車、４３はロ
ーラ、４４は周波数変換器である。自動車４２のタイヤ
とローラ４３とは対接して回転するようになっていて、
パルスセンサ（Ｐ／Ｐ）により検出されたタイヤ回転周
波数とローラ回転周波数とは周波数変換器４４でディジ
タル値に変換され、演算装置４１に入力される。演算装
置４１は、タイヤ回転数ｎ、及びローラ回転数ｎ２と既
知のローラ半径ｒとから、下記の演算によりタイヤ半径
Ｒを算出する。
因みに、ローラ半径ｒが７９５．７７１ｍの場合、タイ
ヤ回転数ｎ１が０〜３１００ｒｐｍで、ローラ回転数ｎ
２が０〜ｇ３３ｒｐｍとなり、タイヤ半径Ｒは２２０〜
３１８冨冨である。
ヤ回転数ｎ１が０〜３１００ｒｐｍで、ローラ回転数ｎ
２が０〜ｇ３３ｒｐｍとなり、タイヤ半径Ｒは２２０〜
３１８冨冨である。
Ｄ１発明が解決しようとする課題
ところで、上記従来のタイヤ有効半径測定方法では、測
定誤差が限定されてしまうという課題がある。
定誤差が限定されてしまうという課題がある。
誤差を少なくするためには、ローラよりパルスピックア
ップする際の１パルス当たりの走行距離の最小分解能を
上げればよいのであるが、コスト面もあって、通常はロ
ーラ１回転当たり６００パルスが使用され、一方でタイ
ヤ回転側では、タイヤに反射シールを貼り付ける関係上
、１回転１パルスが普通である。ここで、ローラ半径を
１５９１ 、５ ｍｍとすると、タイヤ半径は、で、ロ
ーラ回転数ｎ２に±１の誤差が存在するとタイヤ半径の
誤差は１．３２６ｉｖになる。タイヤ半径の許容誤差は
ＩＩｍとすると、この数値は不合格であるが、仮にタイ
ヤ回転が２倍であれば、になり、タイヤ半径の誤差は０
．６６３ｍｍとなって、合格である。しかしながら、従
来の測定方法ではタイヤ回転のパルスを分周して２倍に
することはできず、タイヤとローラの回転比の異なる別
装置を使用するしかなかった。
ップする際の１パルス当たりの走行距離の最小分解能を
上げればよいのであるが、コスト面もあって、通常はロ
ーラ１回転当たり６００パルスが使用され、一方でタイ
ヤ回転側では、タイヤに反射シールを貼り付ける関係上
、１回転１パルスが普通である。ここで、ローラ半径を
１５９１ 、５ ｍｍとすると、タイヤ半径は、で、ロ
ーラ回転数ｎ２に±１の誤差が存在するとタイヤ半径の
誤差は１．３２６ｉｖになる。タイヤ半径の許容誤差は
ＩＩｍとすると、この数値は不合格であるが、仮にタイ
ヤ回転が２倍であれば、になり、タイヤ半径の誤差は０
．６６３ｍｍとなって、合格である。しかしながら、従
来の測定方法ではタイヤ回転のパルスを分周して２倍に
することはできず、タイヤとローラの回転比の異なる別
装置を使用するしかなかった。
本発明は、このような課題に鑑みて創案されたもので、
許容誤差を所望の段階に変更可能なタイヤ有効半径測定
方法を提供することを目的としている。
許容誤差を所望の段階に変更可能なタイヤ有効半径測定
方法を提供することを目的としている。
Ｅ１課題を解決するための手段
本発明における上記課題を解決するための手段は、車両
用のタイヤと測定用のローラとを対接して回転させ、そ
れらの回転数の比をローラの半径に乗算することでタイ
ヤの有効半径を測定する測定方法において、所望の分局
数を設定し、その分周数に対応する数のタイヤ回転パル
スが検出される期間のローラ回転パルスを計数すること
で両者の回転数の比を演算するタイヤ有効半径測定方法
によるものとする。
用のタイヤと測定用のローラとを対接して回転させ、そ
れらの回転数の比をローラの半径に乗算することでタイ
ヤの有効半径を測定する測定方法において、所望の分局
数を設定し、その分周数に対応する数のタイヤ回転パル
スが検出される期間のローラ回転パルスを計数すること
で両者の回転数の比を演算するタイヤ有効半径測定方法
によるものとする。
Ｆ１作用
本発明は、タイヤとローラとを対接させて回転し、それ
らの回転数の比よりタイヤの有効半径を測定する方法に
おいて、所望の分周数を設定し、その分周数だけタイヤ
が回転する間のローラ回転パルスを計数することで分解
能を段階的に高め、所望の許容誤差に対応させるもので
ある。
らの回転数の比よりタイヤの有効半径を測定する方法に
おいて、所望の分周数を設定し、その分周数だけタイヤ
が回転する間のローラ回転パルスを計数することで分解
能を段階的に高め、所望の許容誤差に対応させるもので
ある。
第１図は、実施例を兼ねて本考案の原理を示す説明図で
ある。同図において、演算装置１はカウンタ１１を内蔵
していて、前記ローラ回転パルス（例えば１回転当たり
６００パルス）を計数する。
ある。同図において、演算装置１はカウンタ１１を内蔵
していて、前記ローラ回転パルス（例えば１回転当たり
６００パルス）を計数する。
ローラ回転パルスの取り込みミスを±１とすると、分周
数Ｍを例えば２と設定し、タイヤ回転パルス（例えば１
回転当たり１パルス）を２倍にすれば、誤差は１／２に
なる。そこで、タイヤ回転パルスの周期をＭ倍に拡大し
、その立ち上がり時１．及びｔ２にカウンタ１１より計
数値（Ｎｌ及びＮ２）を取り出し、下記の如くタイヤ有
効半径Ｒ（ｍ）及び走行車速Ｖ（ｋｍ／ｈ）を演算する
。但し、φはローラ半径、ｋはローラ１回転当たりのパ
ルス数である。
数Ｍを例えば２と設定し、タイヤ回転パルス（例えば１
回転当たり１パルス）を２倍にすれば、誤差は１／２に
なる。そこで、タイヤ回転パルスの周期をＭ倍に拡大し
、その立ち上がり時１．及びｔ２にカウンタ１１より計
数値（Ｎｌ及びＮ２）を取り出し、下記の如くタイヤ有
効半径Ｒ（ｍ）及び走行車速Ｖ（ｋｍ／ｈ）を演算する
。但し、φはローラ半径、ｋはローラ１回転当たりのパ
ルス数である。
Ｒ＝ （Ｎ２−Ｎｌ）ｘφ／（２×ｋｘＭ）Ｖ＝ （Ｎ
２ Ｎ１）Ｘ＜６Ｘ３．６／ （ｋｘ （ｔ２ ｔ＋
））これは、タイヤ回転のＭパルス間のローラ回転パル
スを計数することで、ローラ回転の分解能はＭ倍になり
、許容誤差はＭ分の１でよくなる。
２ Ｎ１）Ｘ＜６Ｘ３．６／ （ｋｘ （ｔ２ ｔ＋
））これは、タイヤ回転のＭパルス間のローラ回転パル
スを計数することで、ローラ回転の分解能はＭ倍になり
、許容誤差はＭ分の１でよくなる。
Ｇ、実施例
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
第２図は、本発明の一実施例の構成図である。
同図において、２１は演算装置を兼ねたＣＰＵ。
２２は各データを格納するＲＡＭ、２３はＣＲＴデイス
プレィ、２４はキーボード、２５はタイヤ回転パルスの
入力ポート、２６はローラ回転パルスのカウンタ、２７
はバスである。ＣＲＴデイスプレィ２３は、ＣＲＴイン
ターフェイス２３ａを介してバス２７に接続され、キー
ボード２４は、キーボードインターフェイス２４ａを介
してバス２７に接続されている。
プレィ、２４はキーボード、２５はタイヤ回転パルスの
入力ポート、２６はローラ回転パルスのカウンタ、２７
はバスである。ＣＲＴデイスプレィ２３は、ＣＲＴイン
ターフェイス２３ａを介してバス２７に接続され、キー
ボード２４は、キーボードインターフェイス２４ａを介
してバス２７に接続されている。
第３図は、上記の実施例を第１図に示す如く動作させる
処理のフローチャートである。第２図の入力ポート２５
及びカウンタ２６にはタイヤ回転パルス及びローラ回転
パルスが絶えず検出されているが、ＣＰＵ２１に割り込
みがかからない限り、タイヤ有効半径の測定演算は起動
されず、ＣＰＵ２１は他の処理を行っている。第３図に
おいて、フローは、割り込み禁止の状態でタイヤ回転パ
ルスの割り込み数ｍを初期化しておき、キーボード２４
より所望の分周数Ｍを設定する。そして、割り込み禁止
を解除するとタイヤ回転パルスにより割り込みがかけら
れ、その最初の立ち上がりｔ秒でカウンタ２６の値Ｎ１
を読み込む。タイヤ回転パルスの検出は更に続けられる
が、割り込み数ｍが分周Ｍの設定数になって初めて次の
カウンタ値Ｎ２を読み込む。そして、第１図に示したタ
イヤ有効半径Ｒ（ｍ）の演算を行う。演算後は割り込み
禁止の状態に戻る。
処理のフローチャートである。第２図の入力ポート２５
及びカウンタ２６にはタイヤ回転パルス及びローラ回転
パルスが絶えず検出されているが、ＣＰＵ２１に割り込
みがかからない限り、タイヤ有効半径の測定演算は起動
されず、ＣＰＵ２１は他の処理を行っている。第３図に
おいて、フローは、割り込み禁止の状態でタイヤ回転パ
ルスの割り込み数ｍを初期化しておき、キーボード２４
より所望の分周数Ｍを設定する。そして、割り込み禁止
を解除するとタイヤ回転パルスにより割り込みがかけら
れ、その最初の立ち上がりｔ秒でカウンタ２６の値Ｎ１
を読み込む。タイヤ回転パルスの検出は更に続けられる
が、割り込み数ｍが分周Ｍの設定数になって初めて次の
カウンタ値Ｎ２を読み込む。そして、第１図に示したタ
イヤ有効半径Ｒ（ｍ）の演算を行う。演算後は割り込み
禁止の状態に戻る。
本実施例の方法で、下記のデータよりタイヤの有効半径
Ｒを演算すると、測定誤差は下表の如くになる。
Ｒを演算すると、測定誤差は下表の如くになる。
（以下余白）
−ラ半径
５９１．５
（ｍｍ）
ローラパルス
タイヤパルス
６００ （Ｐ／Ｒ）
１ （Ｐ／Ｒ）
上表でも明らかな如く、タイヤを多く回転することによ
り誤差を小さくすることができる。許容誤差がＩｍ冨以
下の場合はＭ＝２にすればよいし、０．５ｉｎ以下の場
合はＭ＝３を選択すればよく、分周数Ｍの選択により所
望の許容誤差に変更することができる。
り誤差を小さくすることができる。許容誤差がＩｍ冨以
下の場合はＭ＝２にすればよいし、０．５ｉｎ以下の場
合はＭ＝３を選択すればよく、分周数Ｍの選択により所
望の許容誤差に変更することができる。
Ｈ９発明の効果
以上、説明したとおり、本発明によれば、許容誤差を所
望の段階に変更可能なタイヤ有効半径の測定方法を提供
することができる。
望の段階に変更可能なタイヤ有効半径の測定方法を提供
することができる。
第１図は本発明の基本原理の説明図、第２図は本発明の
一実施例の構成図、第３図は本実施例の動作のフローチ
ャート、第４図は従来例の構成図である。 １・・・ＣＰＵ、２・・・ＲＡＭ、３・・・ＣＲＴ、４
・・・キーボード、５・・・入力ポート、６・・・カウ
ンタ、４１・・・演算装置、４２・・・自動車、４３・
・・ローラ、４４・・・周波数変換器。 第３図 本発明の一実施例のフｌ］−チャート
一実施例の構成図、第３図は本実施例の動作のフローチ
ャート、第４図は従来例の構成図である。 １・・・ＣＰＵ、２・・・ＲＡＭ、３・・・ＣＲＴ、４
・・・キーボード、５・・・入力ポート、６・・・カウ
ンタ、４１・・・演算装置、４２・・・自動車、４３・
・・ローラ、４４・・・周波数変換器。 第３図 本発明の一実施例のフｌ］−チャート
Claims (1)
- （１）車両用のタイヤと測定用のローラとを対接して回
転させ、それらの回転数の比をローラの半径に乗算する
ことでタイヤの有効半径を測定する測定方法において、 所望の分周数を設定し、その分周数に対応する数のタイ
ヤ回転パルスが検出される期間のローラ回転パルスを計
数することで両者の回転数の比を演算することを特徴と
するタイヤ有効半径測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2150185A JP2830387B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | タイヤ有効半径測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2150185A JP2830387B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | タイヤ有効半径測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0442013A true JPH0442013A (ja) | 1992-02-12 |
| JP2830387B2 JP2830387B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=15491373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2150185A Expired - Lifetime JP2830387B2 (ja) | 1990-06-08 | 1990-06-08 | タイヤ有効半径測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2830387B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3705867A1 (en) * | 2019-03-08 | 2020-09-09 | HORIBA, Ltd. | Specimen test apparatus |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4961181A (ja) * | 1972-05-05 | 1974-06-13 | ||
| JPS59153122A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-09-01 | Yazaki Corp | タキシ−メ−タ検定装置 |
| JPS6156840A (ja) * | 1984-08-23 | 1986-03-22 | Yamazaki Mazak Corp | 旋盤用回転工具ホルダ |
| JPS6342415A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Mitsubishi Electric Corp | 車輪径検出装置 |
-
1990
- 1990-06-08 JP JP2150185A patent/JP2830387B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4961181A (ja) * | 1972-05-05 | 1974-06-13 | ||
| JPS59153122A (ja) * | 1983-02-21 | 1984-09-01 | Yazaki Corp | タキシ−メ−タ検定装置 |
| JPS6156840A (ja) * | 1984-08-23 | 1986-03-22 | Yamazaki Mazak Corp | 旋盤用回転工具ホルダ |
| JPS6342415A (ja) * | 1986-08-08 | 1988-02-23 | Mitsubishi Electric Corp | 車輪径検出装置 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3705867A1 (en) * | 2019-03-08 | 2020-09-09 | HORIBA, Ltd. | Specimen test apparatus |
| JP2020144090A (ja) * | 2019-03-08 | 2020-09-10 | 株式会社堀場製作所 | 供試体試験装置 |
| US11255754B2 (en) | 2019-03-08 | 2022-02-22 | Horiba, Ltd. | Specimen test apparatus controlled in part based on tire diameter in deformed state |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2830387B2 (ja) | 1998-12-02 |
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