JPH0441022B2 - - Google Patents
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- JPH0441022B2 JPH0441022B2 JP59064161A JP6416184A JPH0441022B2 JP H0441022 B2 JPH0441022 B2 JP H0441022B2 JP 59064161 A JP59064161 A JP 59064161A JP 6416184 A JP6416184 A JP 6416184A JP H0441022 B2 JPH0441022 B2 JP H0441022B2
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 22
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 4
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
本発明は、放射線例えばＸ線等を用いて被検体
の断層像を得るコンピユータを利用した断層撮像
装置（Computer Tomography；以下CT装置と
いう）に関する。
の断層像を得るコンピユータを利用した断層撮像
装置（Computer Tomography；以下CT装置と
いう）に関する。
（従来技術）
従来から、放射線を多数の角度方向から被検体
にスキヤン照射してその投影データを収集し、こ
れらの投影データからコンピユータによる演算処
理によつて被検体各部の放射線吸収分布を求め、
被検体の断層像を再構成するCT装置はよく知ら
れている。
にスキヤン照射してその投影データを収集し、こ
れらの投影データからコンピユータによる演算処
理によつて被検体各部の放射線吸収分布を求め、
被検体の断層像を再構成するCT装置はよく知ら
れている。
第１図はこのようなCT装置の要部を示す構成
図である。第１図において、１は放射線源として
用いられるＸ線管、２は放射線検出器として用い
られるＸ線検出器であり、被検体３を中心として
被検体３の周囲を１回転毎に回転方向を反転させ
ながら回転する。そして、回転しながら多数の角
度方向から被検体３にＸ線を照射してその投影デ
ータを収集し、これらの投影データをデイジタル
信号に変換してコンピユータ４に加え、コンピユ
ータ４は被検体３の断層画像を再構成する。これ
ら投影データの収集にあたつては。基準角度位置
P0までの助走区間において加速を終了し、基準
角度位置P0で投影データの収集を開始してまず
１回目の投影データを収集し、その後は第２図に
示すように一定速度で回転しながら一定の角度間
隔位置P0〜P1毎に投影データを収集する。
図である。第１図において、１は放射線源として
用いられるＸ線管、２は放射線検出器として用い
られるＸ線検出器であり、被検体３を中心として
被検体３の周囲を１回転毎に回転方向を反転させ
ながら回転する。そして、回転しながら多数の角
度方向から被検体３にＸ線を照射してその投影デ
ータを収集し、これらの投影データをデイジタル
信号に変換してコンピユータ４に加え、コンピユ
ータ４は被検体３の断層画像を再構成する。これ
ら投影データの収集にあたつては。基準角度位置
P0までの助走区間において加速を終了し、基準
角度位置P0で投影データの収集を開始してまず
１回目の投影データを収集し、その後は第２図に
示すように一定速度で回転しながら一定の角度間
隔位置P0〜P1毎に投影データを収集する。
ところで、一般にこのようなCT装置では、商
用電源周波数に同期してＸ線を照射させることが
行われている。しかし、Ｘ線管１及びＸ線検出器
２が基準角度位置P0に到達したことを検出した
直後の電源電圧のピークでＸ線を照射させるとい
う従来の方法では、実際にＸ線照射を開始する角
度位置P0′は、第３図に示すように基準角度位置
P0から回転方向にL0だけずれてしまう。又、こ
れらＸ線管１及びＸ線検出器２の回転方向は１回
転毎に反転するために、往復回転間のずれは倍増
することになる。このような回転ずれは再構成し
た被検体３の断層画像にも影響を及ぼすことにな
り、好ましくない。このような回転ずれを補正す
る方法として、基準角度位置検出センサを回転ず
れが零になるようにずらして配置する方法もある
が、回転速度が低速と高速の２種類あつて、回転
方向も２種類あることから、合計４個の基準角度
位置検出センサが必要となり、調整及び制御処理
等が複雑になることから実用的ではない。
用電源周波数に同期してＸ線を照射させることが
行われている。しかし、Ｘ線管１及びＸ線検出器
２が基準角度位置P0に到達したことを検出した
直後の電源電圧のピークでＸ線を照射させるとい
う従来の方法では、実際にＸ線照射を開始する角
度位置P0′は、第３図に示すように基準角度位置
P0から回転方向にL0だけずれてしまう。又、こ
れらＸ線管１及びＸ線検出器２の回転方向は１回
転毎に反転するために、往復回転間のずれは倍増
することになる。このような回転ずれは再構成し
た被検体３の断層画像にも影響を及ぼすことにな
り、好ましくない。このような回転ずれを補正す
る方法として、基準角度位置検出センサを回転ず
れが零になるようにずらして配置する方法もある
が、回転速度が低速と高速の２種類あつて、回転
方向も２種類あることから、合計４個の基準角度
位置検出センサが必要となり、調整及び制御処理
等が複雑になることから実用的ではない。
（発明の目的）
本発明は、上記の点に鑑みてなされたもので、
その目的は、回転ずれを補正して被検体の断層画
像の位置再現性を高めることにある。
その目的は、回転ずれを補正して被検体の断層画
像の位置再現性を高めることにある。
（発明の構成）
この目的を達成する本発明は、放射線源と放射
線検出器とからなる回転部を被検体を中心として
回転させながら商用電源周波数に同期して放射線
を照射させて投影データを収集し、投影データに
基づいて被検体の断層画像を再構成するように構
成された放射線断層撮像装置において、回転部の
回転動作を制御すると共に、投影データの収集を
開始した角度と投影データの収集を開始すべき基
準角度との差をずれ角度情報として求める回転制
御部と、ずれ角度情報に基づいて放射線照射角の
補正を行い、補正された放射線照射角で投影デー
タが収集されたものとして被検体の断層画像の再
構成処理を行う再構成処理手段とを備えたことを
特徴とするものである。
線検出器とからなる回転部を被検体を中心として
回転させながら商用電源周波数に同期して放射線
を照射させて投影データを収集し、投影データに
基づいて被検体の断層画像を再構成するように構
成された放射線断層撮像装置において、回転部の
回転動作を制御すると共に、投影データの収集を
開始した角度と投影データの収集を開始すべき基
準角度との差をずれ角度情報として求める回転制
御部と、ずれ角度情報に基づいて放射線照射角の
補正を行い、補正された放射線照射角で投影デー
タが収集されたものとして被検体の断層画像の再
構成処理を行う再構成処理手段とを備えたことを
特徴とするものである。
（実施例）
以下、図面を参照し、本発明の実施例を詳細に
説明する。
説明する。
第４図は本発明の一実施例を示すブロツク図で
あつて、第１図と同一部分には同一符号を付し、
その説明は省略する。第４図において、５はＸ線
管１及びＸ線検出器２を含む回転部、６は該回転
部５の回転動作を制御する回転制御部である。回
転部５からはデータ収集装置７を介して投影デー
タSdがコンピユータ４に入力されると共に、基
準角度検出信号S1及び回転方位パルス信号S2が回
転制御部６に入力される。回転制御部６からは回
転制御信号S3が回転部５に向けて出力されると共
に、ずれ角度情報S4がコンピユータ４に入力され
る。
あつて、第１図と同一部分には同一符号を付し、
その説明は省略する。第４図において、５はＸ線
管１及びＸ線検出器２を含む回転部、６は該回転
部５の回転動作を制御する回転制御部である。回
転部５からはデータ収集装置７を介して投影デー
タSdがコンピユータ４に入力されると共に、基
準角度検出信号S1及び回転方位パルス信号S2が回
転制御部６に入力される。回転制御部６からは回
転制御信号S3が回転部５に向けて出力されると共
に、ずれ角度情報S4がコンピユータ４に入力され
る。
このように構成された装置の動作について、第
５図のタイムチヤートを用いて説明する。尚、第
５図において、ａは商用電源周波数パルスを示
し、ｂはＸ線制御信号を示し、ｃは基準角度検出
信号S1を示し、ｄは回転方位パルス信号S2を示し
ている。
５図のタイムチヤートを用いて説明する。尚、第
５図において、ａは商用電源周波数パルスを示
し、ｂはＸ線制御信号を示し、ｃは基準角度検出
信号S1を示し、ｄは回転方位パルス信号S2を示し
ている。
基準角度検出信号S1は、Ｘ線管１及びＸ線検出
器２が投影データの収集即ちＸ線の照射を開始す
べき基準角度位置に到達したことを検出すると、
回転制御部６に送出される。回転方位パルス信号
S2は、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が一定角度ずつ
回転する毎に１パルスずつ回転制御部６に送出さ
れる。本実施例では、Ｘ線管１及びＸ線検出器２
が360度回転することによつて回転方位パルス信
号S2は2880パルス送出されるものとする。即ち、
本実施例の場合、0.125度回転することにより１
個の回転方位パルス信号S2が送出されることにな
る。回転制御部６は、基準角度検出信号S1を検知
してから実際に第１回目の投影データの収集を開
始するまでの角度差を、その間に発生する回転方
位パルス信号S2のパルス数により計測し、その計
測結果をずれ角度情報S4としてコンピユータ４に
送出する。即ち、回転制御部６は、基準角度検出
信号S1を検知すると、その後のＸ線制御信号の立
ち上がりエツジまでの間に発生する回転方位パル
ス信号S2のパルス数ｎを計数してずれ角度量を求
める。本実施例では、ずれ角度量の分解能は前述
のように0.125度である。尚、この分解能は、低
速回転時におけるＸ線照射間隔角度の1/5となり、
高速回転時におけるＸ線照射間隔角度の1/10とな
る。コンピユータ４は、このようにして入力され
るずれ角度情報S4に基づいて、各回におけるＸ線
照射角の補正を行い、それぞれ補正後の角度で投
影データが収集されたものとして被検体３の断層
画像の再構成処理を行う。ここで、基準角度を
θ0、ずれ角度量の分解能をθa、Ｘ線照射間隔角度
をΔθとすると、第１回目のＸ線照射角θ1は、 θ1＝θ0＋ｎ・θa となり、第２回目のＸ線照射角θ2は、 θ2＝θ0＋ｎ・θa＋Δθ となり、第３回目のＸ線照射角θ3は、 θ3＝θ0＋ｎ・θa＋２・Δθ となる。
器２が投影データの収集即ちＸ線の照射を開始す
べき基準角度位置に到達したことを検出すると、
回転制御部６に送出される。回転方位パルス信号
S2は、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が一定角度ずつ
回転する毎に１パルスずつ回転制御部６に送出さ
れる。本実施例では、Ｘ線管１及びＸ線検出器２
が360度回転することによつて回転方位パルス信
号S2は2880パルス送出されるものとする。即ち、
本実施例の場合、0.125度回転することにより１
個の回転方位パルス信号S2が送出されることにな
る。回転制御部６は、基準角度検出信号S1を検知
してから実際に第１回目の投影データの収集を開
始するまでの角度差を、その間に発生する回転方
位パルス信号S2のパルス数により計測し、その計
測結果をずれ角度情報S4としてコンピユータ４に
送出する。即ち、回転制御部６は、基準角度検出
信号S1を検知すると、その後のＸ線制御信号の立
ち上がりエツジまでの間に発生する回転方位パル
ス信号S2のパルス数ｎを計数してずれ角度量を求
める。本実施例では、ずれ角度量の分解能は前述
のように0.125度である。尚、この分解能は、低
速回転時におけるＸ線照射間隔角度の1/5となり、
高速回転時におけるＸ線照射間隔角度の1/10とな
る。コンピユータ４は、このようにして入力され
るずれ角度情報S4に基づいて、各回におけるＸ線
照射角の補正を行い、それぞれ補正後の角度で投
影データが収集されたものとして被検体３の断層
画像の再構成処理を行う。ここで、基準角度を
θ0、ずれ角度量の分解能をθa、Ｘ線照射間隔角度
をΔθとすると、第１回目のＸ線照射角θ1は、 θ1＝θ0＋ｎ・θa となり、第２回目のＸ線照射角θ2は、 θ2＝θ0＋ｎ・θa＋Δθ となり、第３回目のＸ線照射角θ3は、 θ3＝θ0＋ｎ・θa＋２・Δθ となる。
尚、このような角度差ｎ・θaを補正しながら
被検体３の断層画像の再構成処理を行うのにあた
つて、投影データに補正を加える方法と、逆投影
処理において補正を加える方法とがある。
被検体３の断層画像の再構成処理を行うのにあた
つて、投影データに補正を加える方法と、逆投影
処理において補正を加える方法とがある。
前者の方法の例としては、隣接する投影データ
から角度差ｎ・θaに応じた線形補間による補正
を行い、基準角度θ0において第１回目のＸ線照射
がなされた投影データを作る方法がある。ｎ・
θaの角度差を生じた第ｉ回目のＸ線照射角をθi、
このときの投影データをＰ（θi）、補正した投影デ
ータをＰ（θi′）とすると、Ｐ（θi′）は、 Ｐ（θi′）＝Ｐ（θ0＋（ｉ−１）・Δθ） ＝｛（Δθ−ｎ・θa）・Ｐ（θi）＋ｎ・θa・Ｐ
（θi−１）｝／Δθ で表わすことができる。
から角度差ｎ・θaに応じた線形補間による補正
を行い、基準角度θ0において第１回目のＸ線照射
がなされた投影データを作る方法がある。ｎ・
θaの角度差を生じた第ｉ回目のＸ線照射角をθi、
このときの投影データをＰ（θi）、補正した投影デ
ータをＰ（θi′）とすると、Ｐ（θi′）は、 Ｐ（θi′）＝Ｐ（θ0＋（ｉ−１）・Δθ） ＝｛（Δθ−ｎ・θa）・Ｐ（θi）＋ｎ・θa・Ｐ
（θi−１）｝／Δθ で表わすことができる。
又、後者の方法の例としては、投影データを逆
投影演算する際、Ｘ線照射角のパラメータを角度
差ｎ・θaだけ変更して処理する方法がある。
投影演算する際、Ｘ線照射角のパラメータを角度
差ｎ・θaだけ変更して処理する方法がある。
尚、上記実施例では、放射線としてＸ線を用い
る例を説明したが、これに限るものではなく、そ
の他の放射線を用いてもよい。
る例を説明したが、これに限るものではなく、そ
の他の放射線を用いてもよい。
（発明の効果）
以上説明したように、本発明によれば、簡単な
構成で、投影データを商用電源周波数に同期して
収集し、被検体の断層画像を再構成するCT装置
における回転ずれを補正して、被検体の断層画像
の位置再現性を高めることができる。また、これ
により、同一断層面や一定間隔で複数枚の断層画
像を撮影した場合の位置指定を伴つた診断解析の
精度を大幅に改善できる。
構成で、投影データを商用電源周波数に同期して
収集し、被検体の断層画像を再構成するCT装置
における回転ずれを補正して、被検体の断層画像
の位置再現性を高めることができる。また、これ
により、同一断層面や一定間隔で複数枚の断層画
像を撮影した場合の位置指定を伴つた診断解析の
精度を大幅に改善できる。
第１図はCT装置の要部を示す構成図、第２図
及び第３図は第１図の動作説明図、第４図は本発
明の一実施例を示すブロツク図、第５図は第４図
の動作を説明するためのタイムチヤートである。 １……放射源線（Ｘ線管）、２……放射線検出
器（Ｘ線検出器）、３……被検体、４……コンピ
ユータ、５……回転部、６……回転制御部、７…
…データ収集装置。
及び第３図は第１図の動作説明図、第４図は本発
明の一実施例を示すブロツク図、第５図は第４図
の動作を説明するためのタイムチヤートである。 １……放射源線（Ｘ線管）、２……放射線検出
器（Ｘ線検出器）、３……被検体、４……コンピ
ユータ、５……回転部、６……回転制御部、７…
…データ収集装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 放射線源と放射線検出器とからなる回転部を
被検体を中心として回転させながら商用電源周波
数に同期して放射線を照射させて投影データを収
集し、投影データに基づいて被検体の断層画像を
再構成するように構成された放射線断層撮像装置
において、 回転部の回転動作を制御すると共に、投影デー
タの収集を開始した角度と投影データの収集を開
始すべき基準角度との差をずれ角度情報として求
める回転制御部と、 ずれ角度情報に基づいて放射線照射角の補正を
行い、補正された放射線照射角で投影データが収
集されたものとして被検体の断層画像の再構成処
理を行う再構成処理手段とを備えたことを特徴と
する放射線断層撮像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064161A JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064161A JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207645A JPS60207645A (ja) | 1985-10-19 |
| JPH0441022B2 true JPH0441022B2 (ja) | 1992-07-07 |
Family
ID=13250063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59064161A Granted JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207645A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005106515A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5237205A (en) * | 1989-10-02 | 1993-08-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ground plane for plastic encapsulated integrated circuit die packages |
| US8218716B2 (en) | 2009-09-14 | 2012-07-10 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Radiation tomography method |
| US8842804B2 (en) | 2011-01-12 | 2014-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computed tomography apparatus |
| JP6009767B2 (ja) * | 2011-01-12 | 2016-10-19 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59064161A patent/JPS60207645A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005106515A (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-21 | Shimadzu Corp | Ｘ線ｃｔ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60207645A (ja) | 1985-10-19 |
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