JPH0437901Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0437901Y2
JPH0437901Y2 JP12896988U JP12896988U JPH0437901Y2 JP H0437901 Y2 JPH0437901 Y2 JP H0437901Y2 JP 12896988 U JP12896988 U JP 12896988U JP 12896988 U JP12896988 U JP 12896988U JP H0437901 Y2 JPH0437901 Y2 JP H0437901Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
gas nozzle
nozzle
cvd
reaction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP12896988U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0251261U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP12896988U priority Critical patent/JPH0437901Y2/ja
Publication of JPH0251261U publication Critical patent/JPH0251261U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0437901Y2 publication Critical patent/JPH0437901Y2/ja
Expired legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、Si等、半導体デバイスの製造プロセ
スで用いられるCVD装置のガスノズルに関する。
〔従来の技術〕
従来、Si等半導体のデバイス製造プロセスにお
いては、エピタキシヤル成長を行つたり、poly,
Si膜,SiN膜,SiO2膜等の生成を行うために、第
1図の様なCVD装置が広く用いられている。
この装置において、ウエハ1は、サセプタ
(SiCコート・カーボン)2の上に載置される。
サセプタ2は下部から、高周波誘導加熱、若しく
は抵抗加熱等の加熱方法により加熱され、ウエハ
1はサセプタ2からの熱伝達により加熱される。
次に、ガスノズル3から原料ガスをキヤリアガス
(例えばH2,N2,Ar等)と共に流すことにより、
ウエハ1の表面にCVD膜が生成される。ノズル
3は、例えば、第3図の様に、上端が閉じた円筒
の周りに、多数のガス噴出孔4のあいた構造とな
つたものが用いられる。ガスノズル3のガス噴出
孔4から出た反応ガスは、ウエハ1上にCVD膜
を生成すると同時に、反応副生成物として、粉末
状のポリマーが生成され、これは反応室5(ベル
ジヤ)の内壁やガスノズル3の外壁部等の比較的
温度の低い部分に多く付着する。
特に、ガスノズル3のガス噴出孔4の周囲に
は、ポリマーがヒゲ状に付着し易く、生成時間の
経過と共に、それが成長し、0.5〜2mm以上の長
さになると吹飛ばされて、ウエハ1の上に付着す
る。ウエハ1に付着したポリマーは、CVD膜に
欠陥を生じ、デバイスの歩留りを著しく低下させ
る。
従来は、この様な問題を解決するため、ガスノ
ズル3を頻繁に洗浄し、連続的に長時間使用しな
い等の方法が用いられてきた。
〔考案が解決しようとする課題〕
しかしながら上記従来にあつては、ガスノズル
3を頻繁に洗浄せねばならないため、膜生成のス
ループツトが低下したり、膜厚分布等の再現性が
充分得られない等の課題があつた。
〔課題を解決するための手段〕
本考案ガスノズルは第1,第2図示のように
CVD装置の反応室5内に反応ガスを供給するガ
スノズル3において、このガスノズル3を,上端
密封型の内,外管6,8よりなる2重構造とし、
内管6の周りに反応ガスを噴出するガス噴出孔1
0を設け、このガス噴出孔10の周りを取り囲む
外管8の部分に、反応による固体生成物を生じな
いガスを噴出する第2のガス噴出孔9を設けてな
る構成としたものである。
〔作用〕
本考案ガスノズルはこのような構成であるか
ら、内管6の下部から内管6内を通つてきた反応
ガスとキヤリアガスの混合ガスは、内管6の周り
に設けられたガス噴出孔10から反応室5内に噴
出される。
一方、内管6と外管8の間を通つてきたパージ
ガスは、外管8の周りに設けられた第2のガス噴
出孔9より反応室5内に噴出される。
このようなガスノズルを用いた場合には、ガス
噴出孔10の周囲はパージガスにより反応ガスの
濃度が低くなり、従つてガス噴出孔10の部分へ
のポリマー付着は起こらず、ウエハ1上へのポリ
マー付着は極端に減少するから、CVD膜の欠陥
は著しく低減することになる。
〔実施例〕
以下図面に基づいて本考案の実施例を説明す
る。
第1図は本考案に係るCVD装置の一例を示す
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図である。
第1図のCVD装置については既に説明したの
で、ここでは省略する。第1図のCVD装置のガ
スノズルにおいて、ガスノズル3は、内,外管
6,8よりなる2重構造になつており、その上端
は密封されている。内管6の周りには外方に向つ
て多数の細管7が取付けられており、この各細管
7の先端開口はガス噴出孔10となつている。
外管8の周りには各細管7の直径よりも幾分大
きな直径の第2のガス噴出孔9があけられ、各細
管7の中心軸と各第2のガス噴出孔9の中心は略
一致するようになつており、各細管7のガス噴出
孔10は各第2のガス噴出孔9付近まで延びてい
る。
内管6内へのガス供給系と、内管6と外管8の
間へのガス供給系は別になつており、ガスの種類
や流量を独立に変えることができる構造となつて
いる。
上記の構成において内管6の下部から内管6内
を通つてきた反応ガス,例えばSiH4ガスとキヤ
リアガス,例えばH2ガスの混合ガスは、内管6
の周りに取付けられた多数の細管7を通りその先
端のガス噴出孔10から反応室5内に噴出され
る。
一方、内管6と外管8の間を通つてきたパージ
ガス,例えばH2ガスは外管8の周りにあけられ
た多数の第2のガス噴出孔9と各細管7のガス噴
出孔10との間から反応室5内に噴出される。
このようなガスノズルを用いた場合には、各ガ
ス噴出孔10の周囲は各第2のガス噴出孔9より
流出するパージガスにより反応ガスの濃度が低く
なり、従つて各ガス噴出孔10の部分へのポリマ
ーの付着は起らず、ウエハ1上へのポリマーの付
着は極端に減少するから、第3図示の従来ガスノ
ズルに比べてCVD膜の欠陥は著しく低減するこ
とになる。
第2のガス噴出孔9から流すガスとしては、
H2,N2,He,Ar,HCl等のガス若しくはこれ
らの混合ガスを用いることができる。
〔考案の効果〕
上述のように本考案によれば、本考案ガスノズ
ルをCVD装置に使用することにより、ウエハ1
上へのポリマーの付着を、従来ガスノズルに比
べ、極めて少なくでき、デバイスの歩留りを、著
しく向上することができるばかりでなく、ガスノ
ズルを洗浄する頻度も少なくなることから、スル
ープツトを向上でき、膜厚分布等の再現性も良く
なるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係るCVD装置の一例を示す
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図、第3図は従来ガスノズル
の一例を示す縦断面図である。 3……ガスノズル、5……反応室(ベルジヤ)、
6……内管、7……細管、8……外管、9……第
2のガス噴出孔、10……ガス噴出孔。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) CVD装置の反応室5内に反応ガスを供給す
    るガスノズル3において、このガスノズル3
    を,上端密封型の内,外管6,8よりなる2重
    構造とし、内管6の周りに反応ガスを噴出する
    ガス噴出孔10を設け、このガス噴出孔10の
    周りを取り囲む,外管8の部分に反応による固
    体生成物を生じないガスを噴出する第2のガス
    噴出孔9を設けてなるCVD用ガスノズル。 (2) 内管6の周りには先端開口をガス噴出孔10
    とする細管7を設けた実用新案登録請求の範囲
    第1項記載のCVD用ガスノズル。 (3) 第2のガス噴出孔9より噴出するガスはH2
    N2,He,Ar,HCl等のガスまたはこれらの混
    合ガスである実用新案登録請求の範囲第1項,
    第2項のいずれかに記載のCVD用ガスノズル。
JP12896988U 1988-09-30 1988-09-30 Expired JPH0437901Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12896988U JPH0437901Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12896988U JPH0437901Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0251261U JPH0251261U (ja) 1990-04-10
JPH0437901Y2 true JPH0437901Y2 (ja) 1992-09-04

Family

ID=31382803

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12896988U Expired JPH0437901Y2 (ja) 1988-09-30 1988-09-30

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0437901Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012253134A (ja) * 2011-06-01 2012-12-20 Hitachi Kokusai Electric Inc 基板処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0251261U (ja) 1990-04-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR950012910B1 (ko) 기상성장장치
JPH0517696B2 (ja)
EP1386981B1 (en) A thin film-forming apparatus
JPS615515A (ja) 化学気相成長装置
JPH09246192A (ja) 薄膜気相成長装置
JPH04164895A (ja) 半導体結晶膜の成長方法
JPH0437901Y2 (ja)
US20010021593A1 (en) Chemical vapor deposition apparatus and chemical vapor deposition process
JPH11240794A (ja) エピタキシャル成長装置
JP2001284269A (ja) 気相成長装置及び方法
JPH0530350Y2 (ja)
JP3198956B2 (ja) GaNの薄膜気相成長方法と薄膜気相成長装置
JPS6058613A (ja) エピタキシャル装置
JPH0773099B2 (ja) 半導体気相成長装置
JP2582105Y2 (ja) 化学気相成長装置
JPS63199412A (ja) 気相成長装置
JPS58116725A (ja) Cvd装置
JPH03232794A (ja) 気相成長装置
JPS62158867A (ja) Cvd薄膜形成装置
JPH05299351A (ja) 気相成長装置
JPH02224222A (ja) 気相成長装置
JPS61120416A (ja) 化学気相成長装置
JPS6376334A (ja) Cvd薄膜形成装置
JPS63202016A (ja) 気相成長装置
JPH0727868B2 (ja) 気相成長装置