JPH0437901Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0437901Y2 JPH0437901Y2 JP12896988U JP12896988U JPH0437901Y2 JP H0437901 Y2 JPH0437901 Y2 JP H0437901Y2 JP 12896988 U JP12896988 U JP 12896988U JP 12896988 U JP12896988 U JP 12896988U JP H0437901 Y2 JPH0437901 Y2 JP H0437901Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gas
- gas nozzle
- nozzle
- cvd
- reaction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 80
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 239000012265 solid product Substances 0.000 claims description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 claims 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 claims 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 9
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 4
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000006227 byproduct Substances 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本考案は、Si等、半導体デバイスの製造プロセ
スで用いられるCVD装置のガスノズルに関する。
スで用いられるCVD装置のガスノズルに関する。
従来、Si等半導体のデバイス製造プロセスにお
いては、エピタキシヤル成長を行つたり、poly,
Si膜,SiN膜,SiO2膜等の生成を行うために、第
1図の様なCVD装置が広く用いられている。
いては、エピタキシヤル成長を行つたり、poly,
Si膜,SiN膜,SiO2膜等の生成を行うために、第
1図の様なCVD装置が広く用いられている。
この装置において、ウエハ1は、サセプタ
(SiCコート・カーボン)2の上に載置される。
サセプタ2は下部から、高周波誘導加熱、若しく
は抵抗加熱等の加熱方法により加熱され、ウエハ
1はサセプタ2からの熱伝達により加熱される。
次に、ガスノズル3から原料ガスをキヤリアガス
(例えばH2,N2,Ar等)と共に流すことにより、
ウエハ1の表面にCVD膜が生成される。ノズル
3は、例えば、第3図の様に、上端が閉じた円筒
の周りに、多数のガス噴出孔4のあいた構造とな
つたものが用いられる。ガスノズル3のガス噴出
孔4から出た反応ガスは、ウエハ1上にCVD膜
を生成すると同時に、反応副生成物として、粉末
状のポリマーが生成され、これは反応室5(ベル
ジヤ)の内壁やガスノズル3の外壁部等の比較的
温度の低い部分に多く付着する。
(SiCコート・カーボン)2の上に載置される。
サセプタ2は下部から、高周波誘導加熱、若しく
は抵抗加熱等の加熱方法により加熱され、ウエハ
1はサセプタ2からの熱伝達により加熱される。
次に、ガスノズル3から原料ガスをキヤリアガス
(例えばH2,N2,Ar等)と共に流すことにより、
ウエハ1の表面にCVD膜が生成される。ノズル
3は、例えば、第3図の様に、上端が閉じた円筒
の周りに、多数のガス噴出孔4のあいた構造とな
つたものが用いられる。ガスノズル3のガス噴出
孔4から出た反応ガスは、ウエハ1上にCVD膜
を生成すると同時に、反応副生成物として、粉末
状のポリマーが生成され、これは反応室5(ベル
ジヤ)の内壁やガスノズル3の外壁部等の比較的
温度の低い部分に多く付着する。
特に、ガスノズル3のガス噴出孔4の周囲に
は、ポリマーがヒゲ状に付着し易く、生成時間の
経過と共に、それが成長し、0.5〜2mm以上の長
さになると吹飛ばされて、ウエハ1の上に付着す
る。ウエハ1に付着したポリマーは、CVD膜に
欠陥を生じ、デバイスの歩留りを著しく低下させ
る。
は、ポリマーがヒゲ状に付着し易く、生成時間の
経過と共に、それが成長し、0.5〜2mm以上の長
さになると吹飛ばされて、ウエハ1の上に付着す
る。ウエハ1に付着したポリマーは、CVD膜に
欠陥を生じ、デバイスの歩留りを著しく低下させ
る。
従来は、この様な問題を解決するため、ガスノ
ズル3を頻繁に洗浄し、連続的に長時間使用しな
い等の方法が用いられてきた。
ズル3を頻繁に洗浄し、連続的に長時間使用しな
い等の方法が用いられてきた。
しかしながら上記従来にあつては、ガスノズル
3を頻繁に洗浄せねばならないため、膜生成のス
ループツトが低下したり、膜厚分布等の再現性が
充分得られない等の課題があつた。
3を頻繁に洗浄せねばならないため、膜生成のス
ループツトが低下したり、膜厚分布等の再現性が
充分得られない等の課題があつた。
本考案ガスノズルは第1,第2図示のように
CVD装置の反応室5内に反応ガスを供給するガ
スノズル3において、このガスノズル3を,上端
密封型の内,外管6,8よりなる2重構造とし、
内管6の周りに反応ガスを噴出するガス噴出孔1
0を設け、このガス噴出孔10の周りを取り囲む
外管8の部分に、反応による固体生成物を生じな
いガスを噴出する第2のガス噴出孔9を設けてな
る構成としたものである。
CVD装置の反応室5内に反応ガスを供給するガ
スノズル3において、このガスノズル3を,上端
密封型の内,外管6,8よりなる2重構造とし、
内管6の周りに反応ガスを噴出するガス噴出孔1
0を設け、このガス噴出孔10の周りを取り囲む
外管8の部分に、反応による固体生成物を生じな
いガスを噴出する第2のガス噴出孔9を設けてな
る構成としたものである。
本考案ガスノズルはこのような構成であるか
ら、内管6の下部から内管6内を通つてきた反応
ガスとキヤリアガスの混合ガスは、内管6の周り
に設けられたガス噴出孔10から反応室5内に噴
出される。
ら、内管6の下部から内管6内を通つてきた反応
ガスとキヤリアガスの混合ガスは、内管6の周り
に設けられたガス噴出孔10から反応室5内に噴
出される。
一方、内管6と外管8の間を通つてきたパージ
ガスは、外管8の周りに設けられた第2のガス噴
出孔9より反応室5内に噴出される。
ガスは、外管8の周りに設けられた第2のガス噴
出孔9より反応室5内に噴出される。
このようなガスノズルを用いた場合には、ガス
噴出孔10の周囲はパージガスにより反応ガスの
濃度が低くなり、従つてガス噴出孔10の部分へ
のポリマー付着は起こらず、ウエハ1上へのポリ
マー付着は極端に減少するから、CVD膜の欠陥
は著しく低減することになる。
噴出孔10の周囲はパージガスにより反応ガスの
濃度が低くなり、従つてガス噴出孔10の部分へ
のポリマー付着は起こらず、ウエハ1上へのポリ
マー付着は極端に減少するから、CVD膜の欠陥
は著しく低減することになる。
以下図面に基づいて本考案の実施例を説明す
る。
る。
第1図は本考案に係るCVD装置の一例を示す
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図である。
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図である。
第1図のCVD装置については既に説明したの
で、ここでは省略する。第1図のCVD装置のガ
スノズルにおいて、ガスノズル3は、内,外管
6,8よりなる2重構造になつており、その上端
は密封されている。内管6の周りには外方に向つ
て多数の細管7が取付けられており、この各細管
7の先端開口はガス噴出孔10となつている。
で、ここでは省略する。第1図のCVD装置のガ
スノズルにおいて、ガスノズル3は、内,外管
6,8よりなる2重構造になつており、その上端
は密封されている。内管6の周りには外方に向つ
て多数の細管7が取付けられており、この各細管
7の先端開口はガス噴出孔10となつている。
外管8の周りには各細管7の直径よりも幾分大
きな直径の第2のガス噴出孔9があけられ、各細
管7の中心軸と各第2のガス噴出孔9の中心は略
一致するようになつており、各細管7のガス噴出
孔10は各第2のガス噴出孔9付近まで延びてい
る。
きな直径の第2のガス噴出孔9があけられ、各細
管7の中心軸と各第2のガス噴出孔9の中心は略
一致するようになつており、各細管7のガス噴出
孔10は各第2のガス噴出孔9付近まで延びてい
る。
内管6内へのガス供給系と、内管6と外管8の
間へのガス供給系は別になつており、ガスの種類
や流量を独立に変えることができる構造となつて
いる。
間へのガス供給系は別になつており、ガスの種類
や流量を独立に変えることができる構造となつて
いる。
上記の構成において内管6の下部から内管6内
を通つてきた反応ガス,例えばSiH4ガスとキヤ
リアガス,例えばH2ガスの混合ガスは、内管6
の周りに取付けられた多数の細管7を通りその先
端のガス噴出孔10から反応室5内に噴出され
る。
を通つてきた反応ガス,例えばSiH4ガスとキヤ
リアガス,例えばH2ガスの混合ガスは、内管6
の周りに取付けられた多数の細管7を通りその先
端のガス噴出孔10から反応室5内に噴出され
る。
一方、内管6と外管8の間を通つてきたパージ
ガス,例えばH2ガスは外管8の周りにあけられ
た多数の第2のガス噴出孔9と各細管7のガス噴
出孔10との間から反応室5内に噴出される。
ガス,例えばH2ガスは外管8の周りにあけられ
た多数の第2のガス噴出孔9と各細管7のガス噴
出孔10との間から反応室5内に噴出される。
このようなガスノズルを用いた場合には、各ガ
ス噴出孔10の周囲は各第2のガス噴出孔9より
流出するパージガスにより反応ガスの濃度が低く
なり、従つて各ガス噴出孔10の部分へのポリマ
ーの付着は起らず、ウエハ1上へのポリマーの付
着は極端に減少するから、第3図示の従来ガスノ
ズルに比べてCVD膜の欠陥は著しく低減するこ
とになる。
ス噴出孔10の周囲は各第2のガス噴出孔9より
流出するパージガスにより反応ガスの濃度が低く
なり、従つて各ガス噴出孔10の部分へのポリマ
ーの付着は起らず、ウエハ1上へのポリマーの付
着は極端に減少するから、第3図示の従来ガスノ
ズルに比べてCVD膜の欠陥は著しく低減するこ
とになる。
第2のガス噴出孔9から流すガスとしては、
H2,N2,He,Ar,HCl等のガス若しくはこれ
らの混合ガスを用いることができる。
H2,N2,He,Ar,HCl等のガス若しくはこれ
らの混合ガスを用いることができる。
上述のように本考案によれば、本考案ガスノズ
ルをCVD装置に使用することにより、ウエハ1
上へのポリマーの付着を、従来ガスノズルに比
べ、極めて少なくでき、デバイスの歩留りを、著
しく向上することができるばかりでなく、ガスノ
ズルを洗浄する頻度も少なくなることから、スル
ープツトを向上でき、膜厚分布等の再現性も良く
なるという効果を奏する。
ルをCVD装置に使用することにより、ウエハ1
上へのポリマーの付着を、従来ガスノズルに比
べ、極めて少なくでき、デバイスの歩留りを、著
しく向上することができるばかりでなく、ガスノ
ズルを洗浄する頻度も少なくなることから、スル
ープツトを向上でき、膜厚分布等の再現性も良く
なるという効果を奏する。
第1図は本考案に係るCVD装置の一例を示す
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図、第3図は従来ガスノズル
の一例を示す縦断面図である。 3……ガスノズル、5……反応室(ベルジヤ)、
6……内管、7……細管、8……外管、9……第
2のガス噴出孔、10……ガス噴出孔。
縦断面図、第2図は本考案ガスノズルの一実施例
の構成を示す縦断面図、第3図は従来ガスノズル
の一例を示す縦断面図である。 3……ガスノズル、5……反応室(ベルジヤ)、
6……内管、7……細管、8……外管、9……第
2のガス噴出孔、10……ガス噴出孔。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) CVD装置の反応室5内に反応ガスを供給す
るガスノズル3において、このガスノズル3
を,上端密封型の内,外管6,8よりなる2重
構造とし、内管6の周りに反応ガスを噴出する
ガス噴出孔10を設け、このガス噴出孔10の
周りを取り囲む,外管8の部分に反応による固
体生成物を生じないガスを噴出する第2のガス
噴出孔9を設けてなるCVD用ガスノズル。 (2) 内管6の周りには先端開口をガス噴出孔10
とする細管7を設けた実用新案登録請求の範囲
第1項記載のCVD用ガスノズル。 (3) 第2のガス噴出孔9より噴出するガスはH2,
N2,He,Ar,HCl等のガスまたはこれらの混
合ガスである実用新案登録請求の範囲第1項,
第2項のいずれかに記載のCVD用ガスノズル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12896988U JPH0437901Y2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP12896988U JPH0437901Y2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0251261U JPH0251261U (ja) | 1990-04-10 |
JPH0437901Y2 true JPH0437901Y2 (ja) | 1992-09-04 |
Family
ID=31382803
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP12896988U Expired JPH0437901Y2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0437901Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012253134A (ja) * | 2011-06-01 | 2012-12-20 | Hitachi Kokusai Electric Inc | 基板処理装置 |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP12896988U patent/JPH0437901Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0251261U (ja) | 1990-04-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR950012910B1 (ko) | 기상성장장치 | |
JPH0517696B2 (ja) | ||
EP1386981B1 (en) | A thin film-forming apparatus | |
JPS615515A (ja) | 化学気相成長装置 | |
JPH09246192A (ja) | 薄膜気相成長装置 | |
JPH04164895A (ja) | 半導体結晶膜の成長方法 | |
JPH0437901Y2 (ja) | ||
US20010021593A1 (en) | Chemical vapor deposition apparatus and chemical vapor deposition process | |
JPH11240794A (ja) | エピタキシャル成長装置 | |
JP2001284269A (ja) | 気相成長装置及び方法 | |
JPH0530350Y2 (ja) | ||
JP3198956B2 (ja) | GaNの薄膜気相成長方法と薄膜気相成長装置 | |
JPS6058613A (ja) | エピタキシャル装置 | |
JPH0773099B2 (ja) | 半導体気相成長装置 | |
JP2582105Y2 (ja) | 化学気相成長装置 | |
JPS63199412A (ja) | 気相成長装置 | |
JPS58116725A (ja) | Cvd装置 | |
JPH03232794A (ja) | 気相成長装置 | |
JPS62158867A (ja) | Cvd薄膜形成装置 | |
JPH05299351A (ja) | 気相成長装置 | |
JPH02224222A (ja) | 気相成長装置 | |
JPS61120416A (ja) | 化学気相成長装置 | |
JPS6376334A (ja) | Cvd薄膜形成装置 | |
JPS63202016A (ja) | 気相成長装置 | |
JPH0727868B2 (ja) | 気相成長装置 |