JPH0437819A - 液晶パネル試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （概　要） 液晶パネルのダイナミック点灯試験用試験装置に関し、 試験装置を高精度、低価格に且つ容昌に構成して生産性
の向上を図ることを目的とし、片面の対向する二辺近傍
の信号入出力用電極端子が複数の電極端子群として形成
されている２個の角形電極基板の該電極形成面を、各電
極端子群が直交して露出するように液晶板を介して対向
配置した液晶パネルの試験装置であって、液晶パネルの
各露出する電極端子面に対応して該電極端子面近傍に配
設する試験ヘッドと、該試験ヘッドに装着する上記液晶
パネルとの接続端子の他端側に接続されるドライブ回路
系と、該各ドライブ回路系を制御するコントローラおよ
び該コントローラに繋がるマイクロコンピュータとで構
成し、複数の上記電極端子群に対応する数の接続端子搭
載台を具えた上記試験ヘッドが該各接続端子搭載台を電
極端子群を横切る方向に個々に移動できる手段を具えて
いると共に、該各接続端子搭載台には対向する電極端子
群に対応する製品用ＴＡＢ端子がその露出する接続電極
を該電極端子群と平行に且つ該電極端子群に対面させて
添着して構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は液晶パネルのダイナミック点灯試験工程に係り
、特に試験装置と液晶パネルとの接続部分を改変するこ
とで試験装置を高精度、低価格に且つ容易に構成し往産
性の向上を図った液晶パネルの試験装置に関する。

液晶パネルの試験工程の一つにダイナミック点灯表示試
験がある。

特にこの試験では、液晶パネル全面を点灯させる必要が
あるため該パネルの周囲に配置されている多数の入出力
用電極端子と試験装置の各対応する接続電極との間を完
全に接続させなければならないが、この接続を確実にす
るのに両者の接続作業に工数がかかったり該接続部に費
用が掛かる等のことからその解決が強（望まれている。

〔従来の技術〕

第２図は従来の液晶パネルの試験方法の一例を説明する
概念図であり、（１）は被検パネルを示す図、（２）は
試験装置への装着状態を示す図である。

図（１）で、液晶パネル（以下単にパネルとする）１は
数μｍのギャップを保って配置された例えばセグメント
側の電極基板２ａとコモン側の電極基板２ｂとの間に液
晶板３が封入された構成になっている。

特にこの場合の電極基板２ａ、２ｂは、その長手方向に
沿って等間隔ピッチで平行する綿状型ｆｆ１２ａ’２ｂ
“が形成されている電極面を該線状電極２ａ２ｂ’が互
いに直交して対面し且つ上記各線状電極２ａ’、２ｂ“
の両端に位置する電極端子が電極端子群２ａ９７　、２
ｂＩＴとしてそれぞれ露出するように配置されているが
、該露出領域での電極端子群２ａ°゛２ｂパは通常は数
１０本程度ずつ複数個（図では３個の場合を例としてい
る）にグルービング化され各グループ間に所定幅（例え
ば７ｍｍ程度）の空間領域Ａが設けられている。

従って、例えば電極基板２ａでは電極基板２ｂの幅１両
側にグルービング化された電極端子群２８″が露出し、
電極基板２ｂでは電極基板２ａの幅方向両側に上記同様
にグルービング化された電極端子群２ｂ″が直交した方
向に露出することになる。

なお（１−１）は、上記の線状電極２ａＺ２ｂ’が電極
基板２ａで９６０本程変形電極基板２ｂで４００本程変
形成されている場合の電極端子群２ａ９７　、２ｂ　１
１部分の端子形状を２ａ′′を例として拡大表示したも
のであり、例えば幅Ｗが９０μｍ程度、ピッチＰが１８
０μｍ位になっている。

かかるパネル１をダイナミック点灯試験する場合を示す
（２）で、パネル１は（１）同様に図面下側に位置する
セグメント側の電極基板を２８とし、また上側のコモン
側の電極基板を２ｂとしている。

図の５．５“は上記電極基板２ａの各電極端子群２ａ″
と対応する位置に該電極端子群２ａ″の各電極端子と接
触する接続電極が図示されない裏面側にパターニング形
成されているプリント基板であり６および６′は該プリ
ント基板５および５′からの信号を制御するセグメント
側のドライブ回路系である。

同様に、７，７゛は電極基板２ｂの各電極端子群２ｂ′
′に対応して接触する接続電極が形成されているプリン
ト基板であり、８および８′は該プリント基板７および
７“に緊がるコモン側のドライブ回路系である。

更に該各ドライブ回路系６．６′と８．８′はコントロ
ーラ９を経てマイクロコンピュータ１０に接続されてい
る。

そこで、上記のプリント基板５．５′を矢印Ｂのように
移動させて該プリント基板５，５“の接続電極と電極基
板２ａの対応する電極端子群２８パの電極端子とを接触
させると共に、プリント基板７゜７°を矢印Ｃのように
移動して該プリント基板７゜７゛の接続電極と電極基板
２ｂの対応する各電極端子群２ｂ′の電極端子とを接触
させ、マイクロコンピュータ１０に繋がるコントローラ
９を動作させると該パネル１が全面で点灯する。

この場合、該パネル１が良品で且つ該パネル１の各電極
端子とプリント基板の対応する接続電極が完全に合致し
ていると、該パネルｌはその全面で一様に点灯する。

しかし、パネル１が不良であったり、パネル１の各電極
端子とプリント基板の対応する接続電極が完全に対応し
ていないと、該パネル１の点灯６！域に不点灯部分があ
ったり点灯領域に濃淡等のムラが生ずる。

この場合パネル１が不良のときには、各プリント基板の
接続電極とパネル１の各電極端子とが如何に完全に対応
していても不点灯部分や点灯領域のムラをな（すことは
できない。

そこで、上記の各プリント基板５．５”、７゜７°を図
示り方向に個々に少しずつずらし、その際の該パネル１
の点灯状態の変化を確認することで該パネル１の良否を
検知することができる。

かかる試験方法では、パネル１の各電極端子に対応する
プリント基板を試験治具として使用するため能率の良い
試験作業を行うことができる。

しかし、パネル１の大きさは例えば１８０＋ａｍ＋　Ｘ
　１Ｂ０１程度であり、また各電極端子群２ｂ′′の電
極端子間の幅Ｗやピッチｐは上記（１−１）で説明した
如く狭小である。

このことは試験治具となるプリント基板５，５７．７′
の接続電極を約１８０ｍｍの全長にわたってミクロンオ
ーダの精度でパターン形成しなければならないことを意
味するが、通常のパターン形成技術では１８０ｍｎ＋位
の長さで±１００μｍ程度のバラツキが生ずることがあ
るためパネルの各電極端子と各プリント基板の対応する
接続電極との位置合わせ作業が難しいと共に、各プリン
ト基板５゜５“、７．７’を図示り方向に個々に移動さ
せても不点灯部分や点灯領域のムラがな（ならない場合
にパネル１に起因する不良かプリント基板に起因する不
良かの判定ができず、結果的にパネル１を誤判定する等
試験精度の低下を誘起する欠点がある。

なお上述のプリント基板を使用する他に、パネル１の各
電極端子と対応する位置に一般に市販されているスプリ
ングプローブビンやワイヤプローブビンを配置した試験
治具を使用する方法があるが、この場合には価格が高く
なる欠点がある。

〔発明が解決しようとする課題］ 従来のパネルの試験方法では、プリント基板を試験治具
として使用する場合にはパネルの各電極端子と各プリン
ト基板の対応する接続電極との位置合わせ作業が難しい
と共にパネルに対する試験精度が低下するため生産性の
向上が期待できないと言う問題があり、またスプリング
プローブビンやワイヤプローブビンを使用した試験治具
による場合には価格的に高くなって生産性の向上が期待
できないと言う問題があった。

〔課題を解決するための手段］ 上記問題点は、片面の対向する二辺近傍の信号入出力用
電極端子が複数の電極端子群として形成されている２個
の角形電極基板の該電極形成面を、各電極端子群が直交
して露出するように液晶板を介して対向配置した液晶パ
ネルの試験装置であって、液晶パネルの各露出する電極
端子面に対応して該電極端子面近傍に配設する試験ヘッ
ドと、該試験ヘッドに装着する上記液晶パネルとの接続
端子の他端側に接続されるドライブ回路系と、該各ドラ
イブ回路系を制御するコントローラおよび該コントロー
ラに繋がるマイクロコンピュータとで構成し、複数の上
記電極端子群に対応する数の接続端子搭載台を具えた上
記試験ヘッドが該各接続端子搭載台を電極端子群を横切
る方向に個々に移動できる手段を具えていると共に、該
各接続端子搭載台には対向する電極端子群に対応する製
品用ＴＡＢ端子がその露出する接続電極を該電極端子群
と平行に且つ該電極端子群と対面させて添着されている
液晶パネル試験装置によって解決される。

〔作　用〕

液晶パネルを使用した液晶表示装置では、液晶パネルの
グルーピング化された電極端子群毎に別々のＴＡＢ　（
Ｔａｐｅ　Ａｕｔｏｍａｔｅｄ　Ｂｏｎｄｉｎｇ）端子
を使用して装置主要部と接続するようにしている。

一般にかかるＴＡＢ端子は自動接続を主眼としているた
め、端子間すなわち電極間ピッチは通常のプリント基板
等より精度よくパターン形成されている。

そこで本発明では試験治具としてのプリント基板の代わ
りに、液晶パネルの各電極端子群毎に配置した該電極端
子と直交する方向の移動手段を具えた接続端子搭載台に
ＴＡＢ端子を添着した試験ヘッドを使用し、該試験ヘッ
ドを液晶パネルの各電極端子露出面に配設することで試
験装置を構成している。

このことは、寸法のバラツキが例えば±３０μ園以下程
度にパターン形成されている製品用ＴＡＢ端子を電極端
子群毎に対応させているため従来のプリント基板で発生
していたパターン寸法のバラツキが抑制できることを意
味しており、結果的に各電極端子と該ＴＡＢ端子の各接
続電極とを精度よく確実に接続させることができる。

従って、パネルの各電極端子とＴＡＢ端子との位置合わ
せ作業が容易になると共にパネルに対する試験精度を低
下させることがなくなって生産性の向上を期待すること
ができる。

〔実施例］ 第１図は本発明になる試験装置の構成例を説明する図で
あり、（Ａ）は全体構成図、（Ｂ）は主要部の構成拡大
図である。

第１図（＾）、（Ｂ）で、１は第２図で説明した液晶パ
ネル（以下単にパネルとする）であり、電極基板２ａ、
２ｂの両端露出領域には複数個（図では３個）のグルー
ピング化された電極端子群２ａ”＋２ｂ“（２ｂ”は図
示されない）が所定領域Ａを隔てて露出している。

従って、例えば電極基板２ａでは電極基板２ｂの幅方向
両側にグルーピング化された電極端子２８′′が露出し
、電極基板２ｂでは電極基板２ａの幅方向両側にグルー
ピング化された電極端子２ｂ”が互いに直交した状態で
露出している。

また図の１１は上述した各電極端子露出面に対応して配
置されている試験ヘッドを示している。

以下に該試験ヘッド１１を（Ｂ）で説明するが、図では
理解し易くするため該パネル１の電極基板２ｂの片側露
出領域に対応して配置されている試験ヘッドを例として
説明する。

特にこの場合の試験ヘッド１１は（Ｂ）で示すように、
側面視′°ｕ”形でその底面１２ａの長手方向の上記パ
ネル１の図示されない電極端子群２ｂ″間のピッチと等
しい間隔位置３箇所に該底面１２ａから両端壁面１２ｂ
−＋　、　１２ｂ−ｚと平行に突出する壁１２ｃｍ　、
　。

１２ｃｍ　２　、１２ｃｍ　３を具えると共に両端壁面
１２ｂ−、，１２ｂ−２の上辺近傍の両端部に該両端壁
面１２ｂ−＋　、　１２ｂ−。

を繋ぐ２個のアリ１２ｄが装着されている筐体１２と、
上面１３ａが平坦で該面１３ａの両側壁面に上記アリ１
２ｄと嵌合するアリ溝１３ｂを具えると共に下面側に該
下面からほぼ垂直に突出長の異なる壁１３ｃｍ１３Ｃ−
ｍ＋　１３ｃｍ：ｌを具えた３個の接続端子搭載台１３
１３−ｚ、　１３．＋と、上記筐体１２０片側の壁面１
２ｂ−＋の所定位置に該壁面を貫通して装着される長さ
の異なる３個の回転微動軸１４−＋、　１４−Ｚ＋　Ｉ
Ｌ３とを主要構成部品とするものである。

なお該回転微動軸１４−．．　＋４−ｚ、　１４−：＋
は、壁面１２ｂ−１の外側に位置する端部（図ではロー
レット形成部）を回転すると該壁面１２ｂ−１の内側に
位置する先端部が軸に沿って前後進するマイクロメータ
ヘッド状のものである。

そこで、筐体１２の壁面１２ｂ−＋と壁１２ｃｍ、との
間に上記突出長が一番短い壁１３ｃｍ、が位置するよう
に該壁１３ｃｍ、を具えた接続端子搭載台１３−１をア
リ１２ｄを嵌合させて装着した後、筐体１２の壁面１２
ｂ１に長さが一番短い回転微動軸１４．、、をその先端
が該搭載台１３−１の壁１３ｃｍ＋の壁面に接触するよ
うに装着し、更に該搭載台１３−１の壁１３ｃｍ＋と筐
体１２の上記壁１２ｃ、−Ｉとの間にコイルバネ１５を
挿入すると、該搭載台１３−１の壁１３ｃｍ　＋が回転
微動軸１４−６の先端とコイルバネ１５で挟まれるため
壁面１２ｂ−１の外部で該回転微動軸１４−Ｉを回転す
ることで接続端子搭載台工３−１を上記アリエ２ｄに沿
う方向に微動させることができる。

また、筐体１２の壁１２ｃｍ＋と壁１２Ｃ−２との間に
長さが中間の壁１３ｃｍ　２が位置するように該壁１３
ｃｍｚを具えた接続端子搭載台１３−２をアリ１２ｄに
嵌合させて装着した後、回転微動軸の先端が筐体１２の
壁１２ｃｍ＋を貫通して該搭載台１３−２の壁１３Ｃ−
ｚの壁面に接触するような中間の長さを持つ回転微動軸
１４２を筐体１２の壁面１２ｂ−＋に装着し、更に壁１
３Ｃ−２と上記壁１２ｃｍｚとの間にバネ１５を挿入す
ると、該回転微動軸１４．を回転することで接続端子搭
載台１３、を上記７１月２ｄに沿う方向に微動させるこ
とができる。

同様に、筺体１２の璧１２ｃ４と壁１２ｃｍｚとの間に
最も長い壁１３ｃｍ、が位置するように該壁１３Ｃ−３
を具えた接続端子搭載台１３弓を７１月２ｄに嵌合させ
て装着した後、回転微動軸の先端が筺体１２の壁１２ｃ
ｍ　１と壁１２Ｃ−２を貫通して該搭載台１３−１の壁
１３ｃ−１に接触するような最も長い回転微動軸１４−
１を筺体１２の壁面−１２ｂ−＋に装着し、更に壁１３
ｃｍ、と上記壁１２ｃｍａとの間に上記同様のバネＩ５
を挿入すると、上記同様に該回転微動軸１４−３の回転
で接続端子搭載台１３−３を上記アリ１２ｄに沿う方向
に微動させることができる。

そこで、該各接続端子搭載台１３−＋、　１３−ｚ、　
１３−３上に接続電極が露出したＴＡＢ端子１６をその
電極が露出するように端部を揃えて両面接着テープ等で
添着し、その他端側を第２図同様の（Ａ）で示すドライ
ブ回路系１７に接続した後、第２図のＣ同様にＤのよう
に該試験ヘッド１１を移動させることで電極基板２ｂの
片側の各電極端子を該ドライブ回路系１７に翳がるコン
トローラ１８を経てマイクロコンピュータ１９に接続す
ることができる。

この際の電極基板２ｂの各電極端子群とＴＡＢ端子１６
との位置的なズレは上述した各回転微動軸１４１＋　１
４−−、１４−ｚの回転で容易に修正できるが、両者が
接触した状態で該修正作業を行うとＴＡＢ端子１６にダ
メージを与えるので該修正作業は試験ヘッド１１を電極
端子群から離して行うようにしている。

以下、パネル１の露出する３箇所の電極端子について同
様の操作を行い、ＤおよびＥ方向に該試験ヘッド１１を
移動させることで該パネル１の総ての電極端子をマイク
ロコンピュータ１９に接続できるので、第２図で説明し
たように該パネルｌのグイナミノク点灯表示試験を行う
ことができる。

特にこの場合には、ＴＡＢ端子のピッチ精度がよいため
回転微動軸によるパネル１の各電極端子群とＴＡＢ端子
１６との合致作業が容易且つ確実であり、パネル１に不
点灯部分や点灯領域のムラが生じたときにはパネル１の
不良と限定できるので結果的にパネル１の試験精度を向
上させることができる。

更に試験ヘッド１１に使用するＴＡＢ端子１６は液晶表
示装置用として量産されているため補充・交換等のメン
テナンスが容易であると共に、一部のＴＡＢ端子のみの
りペアが可能であると言うメリットがある。

（発明の効果〕 上述の如く本発明により、試験装置を高精度低価格に構
成して生産性の向上を図った液晶パネルの試験装置を提
供することができる。

なお本発明の説明では電極端子群が３個の場合について
行っているが、該電極端子群が更に多い場合でも回転微
動軸を増やすことで同等の効果を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明になる試験装置の構成例を説明する図、 第２図は従来の液晶パネルの試験方法の一例を説明する
概念図、 である。図において、 １は液晶パネル、　　　２ａ、２ｂは電極基板、２ａ”
、２ｂ”は電極端子群、 １１は試験ヘッド、　　　１′２は筐体、１２ａは底面
、　　　　　１２ｂ−＋　、　１２ｂ−、は壁面、１２
ｃｍ＋＋１２ｃｍｇ＋１２ｃｍ３は壁、　１２ｄはアリ
、１３−＋、　１３−ｔ、　１３−＋は接続端子搭載台
、１３ａは上面、　　　　　１３ｂはアリ溝、１３ｃｍ
　＋　＋　１３ｃｍ　ｚ　＋　１３ｃｍ　ｚは壁、１４
−１．１４−２．１４−３は回転微動軸、１５はコイル
バネ、　　　１６はＴＡＢ端子、１７はドライブ回路系
、１８はコントローラ、１９はマイクロコンピュータ、 をそれぞれ表わす。 冬を氷Ｏ看晶バネＩＩ／／）試験うＪｏ−介＋ｌＨ説Ｂ
片する浪χを口跡　　２　　図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 片面の対向する二辺近傍の信号入出力用電極端子が複数
   の電極端子群として形成されている２個の角形電極基板
   の該電極形成面を、各電極端子群が直交して露出するよ
   うに液晶板を介して対向配置した液晶パネルの試験装置
   であって、 液晶パネル（１）の各露出する電極端子面に対応して該
   電極端子面近傍に配設する試験ヘッド（１１）と、該試
   験ヘッド（１１）に装着する上記液晶パネルとの接続端
   子の他端側に接続されるドライブ回路系（１７）と、該
   各ドライブ回路系（１７）を制御するコントローラ（１
   ８）および該コントローラ（１８）に繋がるマイクロコ
   ンピュータ（１９）とで構成し、複数の上記電極端子群
   に対応する数の接続端子搭載台（１３＿−＿１、１３＿
   −＿２、１３＿−＿３）を具えた上記試験ヘッド（１１
   ）が該各接続端子搭載台（１３＿−＿１、１３＿−＿２
   、１３＿−＿３）を電極端子群を横切る方向に個々に移
   動できる手段を具えていると共に、該各接続端子搭載台
   （１３＿−＿１、１３＿−＿２、１３＿−＿３）には対
   向する電極端子群に対応する製品用ＴＡＢ端子（１６）
   がその露出する接続電極を該電極端子群と平行に且つ該
   電極端子群と対面させて添着されていることを特徴とし
   た液晶パネル試験装置。