JPH04364071A - 固体撮像素子 - Google Patents

固体撮像素子

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Publication number
JPH04364071A
JPH04364071A JP3138832A JP13883291A JPH04364071A JP H04364071 A JPH04364071 A JP H04364071A JP 3138832 A JP3138832 A JP 3138832A JP 13883291 A JP13883291 A JP 13883291A JP H04364071 A JPH04364071 A JP H04364071A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
light
solid
photoelectric conversion
shielding film
Prior art date
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Pending
Application number
JP3138832A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumi Kanesaka
金坂 和美
Akiya Izumi
泉 章也
Toshio Nakano
中野 寿夫
Takashi Isoda
高志 磯田
Tsunehisa Horiuchi
堀内 常久
Tatsuo Hamamoto
辰雄 濱本
Yoshihisa Watanabe
渡辺 芳久
Takeshi Yoshii
吉井 武志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
Japan Display Inc
Original Assignee
Hitachi Device Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Hitachi Consumer Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Device Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd, Hitachi Consumer Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Device Engineering Co Ltd
Priority to JP3138832A priority Critical patent/JPH04364071A/ja
Publication of JPH04364071A publication Critical patent/JPH04364071A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体撮像素子に係り、
特に、該素子に形成されている遮光膜による弊害を防止
した固体撮像素子に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の固体撮像素子は、まず、半導体
基板の主表面の光像投影領域に複数のフォトダイオード
がマトリックス状に形成され、光像投影の光強度に応じ
て各フォトダイオードにそれぞれ電荷が蓄積されるよう
になっている。
【0003】そして、マトリックス状に配置されたフォ
トダイオードの各列毎のフォトダイオード群にそれぞれ
近接させてCCD素子からなる電荷転送素子が形成され
、各フォトダイオードからの各電荷を前記光像投影領域
の下側に転送させるようになっている。
【0004】また、光像投影領域の下側には、行方向に
配置されたCCD素子からなる電荷転送素子があり、こ
の電荷転送素子により転送された各電荷は、電圧変換器
により電圧に変換されて出力されるようになっている。
【0005】そして、このような構成からなる固体撮像
素子は、各フォトダイオードの間の領域には遮光膜が形
成されており、フォトダイオード以外の領域に光が照射
して不要な電荷が発生するのを防止している。
【0006】また、近年、カラー用のものも開発され、
前記遮光膜から露呈される各フォトダイオードの上層に
色分解用フィルタを形成したものが知られている。
【0007】なお、従来の固体撮像素子としては、たと
えば「映像情報,INDUSTRIAL,1986.5
月号、産業開発機構KK」等で知られている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記色分解用
フィルタを形成する場合、図8に示すように、色分解用
フィルタ39を構成するレジスト膜を有機性透明保護膜
35B面の全域に形成したあと、このレジスト膜を所定
形状になるように選択的に除去することになるが、この
際に、遮光膜37による弊害が生じることが判明した。
【0009】すなわち、該レジスト膜を選択露光する際
、ガラス基板80面にクロム膜81が被着されたマスク
を介して光照射することになるが、この光が前記遮光膜
37で反射して、光照射されるべきでないレジスト膜領
域(露光がマスクされている領域)に反射光が照射して
しまっていた。
【0010】このため、形成されてはならない領域に色
分解用フィルタ39が形成されてしまうという問題点が
あった。
【0011】本発明は、このような事情に基づいてなさ
れたものであり、遮光膜による弊害を除去した固体撮像
素子を提供するものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、基本的には、請求項1記載の発明
のように、半導体基板の主表面の光像投影領域に散在的
に形成された複数の光電変換素子と、これら各光電変換
素子が形成された半導体基板の主表面に前記光電変換素
子をも覆って被着された第1の透明絶縁膜を介して前記
各光電変換素子の間の領域に形成された遮光膜と、この
遮光膜が形成された前記第1の透明絶縁膜の主表面に前
記遮光膜をも覆って被着された第2の透明絶縁膜上に前
記光電変換素子と重畳して形成した色分解用フィルタと
を備える固体撮像素子において、前記第2の透明絶縁膜
内に前記遮光膜に重畳するように光反射防止層を介在さ
せ、この光反射防止膜はボンディングパッド形成領域を
除いて半導体基板の端辺部にまで延在されていることを
特徴とするものである。
【0013】また、請求項2記載の発明のように、半導
体基板の主表面の光像投影領域に散在的に形成された複
数の光電変換素子と、これら各光電変換素子が形成され
た半導体基板の主表面に前記光電変換素子をも覆って被
着された第1の透明絶縁膜を介して前記各光電変換素子
の間の領域に形成された遮光膜と、この遮光膜が形成さ
れた前記第1の透明絶縁膜の主表面に前記遮光膜をも覆
って被着された第2の透明絶縁膜とを備える固体撮像素
子において、前記第2の透明絶縁膜内に前記遮光膜に重
畳するように光反射防止層を介在させていることを特徴
とするものである。
【0014】
【作用】請求項1記載の発明によれば、遮光膜のすぐ上
層に光反射防止膜が形成された構成となっているもので
ある。このため、色分解用フィルタを構成するレジスト
膜を形成した後、マスクを用いて選択露光した場合、特
に遮光膜の方向に照射される光は前記光反射防止膜によ
りカットされるため、該遮光膜によって反射する光は存
在しなくなる。
【0015】このため、従来見られたように、遮光膜に
よる反射光が、前記レジスト膜の光照射がなされてはな
らない領域に、照射されるというようなことはなくなる
。したがって、前記色分解用フィルタは所定領域におい
て所定形状に形成することができる。
【0016】また、請求項2記載の発明によれば、各光
電変換素子の間に照射された光は、遮光膜に入射される
のを光反射防止膜によってカットするようにしているも
のである。このようにすれば、遮光膜に反射された光が
その上方に形成されたたとえばパッケージのガラス基板
等に反射して光電変換素子の形成領域に照射されるのを
防止することができる。
【0017】
【実施例】図6は、その(a)において、本発明による
固体撮像素子が適用される固体撮像装置の一実施例を示
す平面図を示している。また(b)は、(a)のIb−
Ib線における断面図を示している。
【0018】同図において、たとえばエポキシからなる
樹脂材もしくはセラミック材の枠体1がある。この枠体
1はたとえば成形によって形成されるものである。そし
て、この枠体1は後述するガラス基板7とともに筐体を
構成するものとなっている。
【0019】枠体1は、その主表面の中央部に凹陥部2
が設けられたものとなっており、この凹陥部2内には、
固体撮像素子3が搭載されている。
【0020】この固体撮像素子3の主表面には前記ガラ
ス基板7を通して光像が結像されるようになっている。
【0021】固体撮像素子3の構成としては、後におい
ても詳述するが、その主表面の中央部において複数のフ
ォトダイオードがマトリックス状に形成され、これら各
フォトダイオードにおいて発生した電荷をたとえばCC
D素子からなるシフトレジスタにより転送して出力させ
るようになっているものである。
【0022】この固体撮像素子3の主表面の周囲には電
極4が並設されて設けられ、これら各電極4はボンディ
ングワイヤ5を介してリード6に接続されている。
【0023】このリード6は、その基部においてボンデ
ィングワイヤ5の接続部となっており、前記枠体1を貫
通して該枠体1の外部に延材されたものとなっている。
【0024】このように枠体1の外部に取り出された外
部リード6Aは、枠体1の一辺とこの一辺と対向する他
の一辺のそれぞれの側に並設されて形成されている。
【0025】さらに、固体撮像素子3の主表面に対向し
て枠体1の凹陥部2を閉塞するガラス基板7が形成され
ている。このガラス基板7は接着材を介して前記枠体1
に固着されたものとなっている。
【0026】次に、図7は、前記固体撮像素子3の一実
施例を示す概略構成図である。
【0027】同図は、一チップの半導体基板の主表面に
図示のような配列で各素子が形成されたものとなってい
る。同図において、前記半導体基板の主表面の光像投影
領域に複数のフォトダイオード21がマトリックス状に
配列されて形成されている。
【0028】また、列方向に配列されたフォトダイオー
ド21の群毎に該列方向に沿って形成された垂直レジス
タ22があり、これら各垂直レジスタ22はCCD素子
から構成されている。
【0029】これら垂直レジスタ22は、それぞれ列方
向に配列された各フォトダイオード21にて発生した電
荷を読出すとともに列方向に沿って前記光像投影領域外
に転送させるものとなっている。
【0030】なお、各フォトダイオード21から垂直レ
ジスタ22への電荷読出しは、図示しない電荷読出しゲ
ートによりなされるようになっている。
【0031】さらに、各垂直レジスタ22からそれぞれ
転送されてきた電荷は、水平シフトレジスタ24に出力
され、この水平シフトレジスタ24によって水平方向に
転送されるようになっている。この水平シフトレジスタ
24は、前記各垂直シフトレジスタ22と同様にCCD
素子により構成されている。
【0032】水平シフトレジスタ24からの出力は、出
力回路25に入力され、この出力回路25において例え
ば電圧に変換され、外部に取り出されるようになってい
る。
【0033】そして、このように各素子が形成された半
導体基板の主表面には、各フォトダイオード21が形成
されている領域において開口が形成されることにより、
各フォトダイオード21のみを露呈させる遮光膜(図示
せず)が形成されている。
【0034】図1は、図7のIII−III線における
断面を示す断面図である。
【0035】同図において、まず、P型半導体基板31
がある。このP型半導体基板31の主表面側は、光像投
影領域となっており、この光像投影領域側の前記P型半
導体基板面31には、複数のN型拡散層32が散在的に
(平面的に観た場合、マトリックス状に)形成されてい
る。
【0036】これらN型拡散層32は、それぞれ、P型
半導体基板31との間にPN接合面を形成し、フォトダ
イオードを構成するようになっている。
【0037】また、図中、N型拡散層32の間には、図
面の表面から裏面に走行する濃度の小さいN型拡散層3
3が形成されている。このN型拡散層33は、CCD素
子の電荷転送路を構成するものであり、いわゆるスミア
電流の発生を防止するためにP型半導体基板31面に形
成されたPウェル層34面に形成されている。
【0038】前記N型拡散層33の上面には透明の半導
体酸化膜35を介してたとえばポリシリコン層からなる
転送電極36(CCD素子の)が形成されている。この
転送電極36は、一つのフォトダイオード21に対して
たとえば図面表側に形成される図示しない他の転送電極
とともに2相駆動電極構造を構成するようになっている
【0039】このうち、転送電極36は、フォトダイオ
ードを構成するN型拡散層32の領域にまで延在され、
電荷読出電極を兼ねているようになっている。すなわち
、転送電極36に電圧が印加されるとPウェル層34の
表面にN型拡散層32とN型拡散層33を接続させるN
チャンネル層が形成されることになり、フォトダイオー
ド側の電荷がCCD素子側に読みだされるようになる。
【0040】そして、転送電極36が形成された半導体
酸化膜35面には、前記転送電極36をも覆って半導体
酸化膜35Aが形成され、この半導体酸化膜35A面に
は、フォトダイオード21上方領域を除いてたとえばア
ルミニュウからなる遮光膜37が形成されている。これ
により、この遮光膜37からは半導体酸化膜35Aを通
してフォトダイオードが露呈されるようになっている。
【0041】さらに、この実施例では、特に、遮光膜3
7が形成された半導体酸化膜35A面には、前記遮光膜
37をも覆って有機性透明保護膜35Bが形成され、こ
の有機性透明保護膜35B面には、前記遮光膜37に重
畳するようにして光反射防止膜38が形成されている。
【0042】この光反射防止膜38は、たとえば黒色の
着色からなる膜から構成され、たとえこの膜の表面に光
が照射されても反射されることなく吸収されてしまうも
のとなっている。
【0043】そして、この光反射防止膜38は、図2に
示すように、ボンディングパッド4(図6に示す電極4
に相当する)の形成領域を除いて固体撮像素子3の端辺
部にまで延在して(この結果、図中散点で示した領域全
域)形成されるようになっている。
【0044】さらに、光反射防止膜38が形成された半
導体酸化膜35面には、前記光防止膜38をも覆って有
機性透明保護膜35Bが形成され、この有機性透明保護
膜35B面には、フォトダイオードの上方の領域に色分
解用フィルタ膜39が形成されている。
【0045】色分解用フィルタ膜39が形成された有機
性透明保護膜35B面には、前記色分解用フィルタ膜3
9をも覆って有機性透明保護膜35Bが形成され、この
有機性透明保護膜35B面には、フォトダイオードの上
方の領域に、すなわち、前記色分解用フィルタ膜39に
重畳させてマイクロレンズ40が形成されている。
【0046】このマイクロレンズ40は、たとえばゼラ
チン等を図示のように形成した後、マイクロレンズ40
を覆って透明膜のトップコート膜41を形成し、図示の
ように曲率をもたせて形成されたものとなっている。
【0047】または、このマイクロレンズ40は有機樹
脂などを熱軟化して、図示のように曲率をもたせて形成
されたものとなっている。この場合、トップコート膜4
1は無い場合が多い。
【0048】このように構成した実施例では、図3に示
すように、色分解用フィルタ39を構成するレジスト膜
を形成した後、マスクを用いて選択露光した場合、特に
遮光膜37の方向に照射される光は光反射防止膜38に
よりカットされるため、該遮光膜37によって反射する
光は事実上無視できる程度まで減少する。
【0049】このため、従来見られたように、遮光膜3
7による反射光が、前記レジスト膜の光照射がなされて
はならない領域に、照射されるというようなことはなく
なる。
【0050】したがって、前記色分解用フィルタは所定
形状に形成することができる。
【0051】図4は、本発明による固体撮像素子の他の
実施例を説明するための断面構成図である。
【0052】同図は、上述の図1と同じ符号のものは同
材料および同機能を有するものである。
【0053】図1と異なる構成は、光反射防止膜38A
にある。すなわち、図1に示した光反射防止膜38は、
その光反射防止膜38の形成後に形成する色分解用フィ
ルタ膜39の被る弊害を防止するために、該色分解用フ
ィルタ膜39とアルミニュウムからなる遮光膜37との
間に介層させるような構成となっているものである。
【0054】図4に示す実施例では、光反射防止膜38
Aは、色分解用フィルタ膜39とマイクロレンズ40と
の間に介層させるような構成となっているものである。
【0055】すなわち、色分解用フィルタ膜39を覆う
有機性透明保護膜35Bの上面に前記光反射防止膜38
Aが遮光膜37に重畳されるようにして形成され、さら
に、この光反射防止膜38Aを覆う有機性透明保護膜3
5Bの上面にマイクロレンズ40が形成されるようにな
っている。
【0056】このように構成した固体撮像素子の効果を
図5を用いて説明する。
【0057】図5は、上述した光反射防止膜38Aが全
く形成されていない固体撮像素子を、図6に示すように
、枠体1に組み込んだ状態のものを示しており、ガラス
基板7がマイクロレンズ40の上方に位置付けられてい
る。
【0058】光が、ガラス基板7を介して、各マイクロ
レンズ40の間に照射された場合、アルミニュウムから
なる遮光膜37に入射し、その後反射されることになる
。この反射光は、マイクロレンズ40を介して前記ガラ
ス基板7に入射し、その後反射される。そして、この反
射光は、前記遮光膜37が形成されていない領域、すな
わちフォトダイオード形成領域に入射してしまうことに
なって、不要な光をとらえてしまうことになる。
【0059】しかし、図4に示すような光反射防止膜3
8Aが形成されていることにより、各マイクロレンズ4
0の間に照射される光は、即、前記光反射防止膜38A
によりカットされ、上述したようにフォトダイオード形
成領域に照射されることはなくなる。
【0060】上述した他の実施例(図4)においては、
色分解用フィルタ39は特に形成されていなくても同様
の効果が得られることから、この色分解用フィルタ39
は必ずしも存在しなくてもよいことはもちろんである。
【0061】なお、上述した実施例では、図1および図
4に示す構成を別個に説明したものであるが、これらの
各構成を一の固体撮像装置に組み込んで構成するように
してもよいことはいうまでもない。
【0062】また、本発明は、マイクロレンズが形成さ
れていなくても適用できることはもちろんである。
【0063】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による固体撮像素子によれば、遮光膜による弊害
を除去することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による固体撮像素子の一実施例を示す断
面図で、図7のIII−III線における断面図である
【図2】本発明による固体撮像素子の一実施例を示す平
面図で、光反射防止膜の形成領域を明確にするための図
である。
【図3】本発明による固体撮像素子の一実施例の効果を
説明するための説明図である。
【図4】本発明による固体撮像素子の他の実施例を示す
断面図である。
【図5】本発明による固体撮像素子の他の実施例の効果
を示す説明図である。
【図6】本発明による固体撮像素子が組み込まれる固体
撮像装置の一実施例を示す構成図で、(a)は平面図、
(b)は断面図である。
【図7】本発明による固体撮像素子の一実施例を示す概
略平面図である。
【図8】従来の固体撮像素子の問題点を明らかにした説
明図である。
【符号の説明】
36    転送電極 37    遮光膜 38    光反射防止膜 38A  光反射防止膜 39    色分解用フィルタ 40    マイクロレンズ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  半導体基板の主表面の光像投影領域に
    散在的に形成された複数の光電変換素子と、これら各光
    電変換素子が形成された半導体基板の主表面に前記光電
    変換素子をも覆って被着された第1の透明絶縁膜を介し
    て前記各光電変換素子の間の領域に形成された遮光膜と
    、この遮光膜が形成された前記第1の透明絶縁膜の主表
    面に前記遮光膜をも覆って被着された第2の透明絶縁膜
    上に前記光電変換素子と重畳して形成した色分解用フィ
    ルタとを備える固体撮像素子において、前記第2の透明
    絶縁膜内に前記遮光膜に重畳するように光反射防止層を
    介在させ、この光反射防止膜はボンディングパッド形成
    領域を除いて半導体基板の端辺部にまで延在されている
    ことを特徴とする固体撮像素子。
  2. 【請求項2】  半導体基板の主表面の光像投影領域に
    散在的に形成された複数の光電変換素子と、これら各光
    電変換素子が形成された半導体基板の主表面に前記光電
    変換素子をも覆って被着された第1の透明絶縁膜を介し
    て前記各光電変換素子の間の領域に形成された遮光膜と
    、この遮光膜が形成された前記第1の透明絶縁膜の主表
    面に前記遮光膜をも覆って被着された第2の透明絶縁膜
    とを備える固体撮像素子において、前記第2の透明絶縁
    膜内に前記遮光膜に重畳するように光反射防止層を介在
    させていることを特徴とする固体撮像素子。
JP3138832A 1991-06-11 1991-06-11 固体撮像素子 Pending JPH04364071A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100410693B1 (ko) * 2001-06-30 2003-12-18 주식회사 하이닉스반도체 이미지센서 및 그 제조 방법
US6967073B2 (en) * 2001-08-23 2005-11-22 Agilent Technologies, Inc. Bottom antireflection coating color filter process for fabricating solid state image sensors

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